DE4230345A1 - Optisches niederkohaerenz-reflektometer mit optischer verstaerkung - Google Patents
Optisches niederkohaerenz-reflektometer mit optischer verstaerkungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Interfero
meter zum Messen der optischen Eigenschaften eines Gerätes
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Allgemein befaßt sich die Erfindung mit optischen Messungen
und insbesondere mit der optischen Reflektometrie.
Die zunehmende Verwendung optischer Komponenten in der Nach
richtentechnik und in Datenverarbeitungssystemen führte zu
einer erhöhten Nachfrage nach Verfahren zum Messen optischer
Inhomogenitäten in optischen Komponenten. Beispielsweise be
steht bei Nachrichtensystemen mit optischen Leitern ein Be
darf an der Messung von Splissungsverlusten und an der Mes
sung des Ortes von nicht-reflektierenden Faserbrüchen. In
ähnlicher Weise besteht ein Bedarf an einer Methodik für die
Charakterisierung optischer Komponenten, wie beispielsweise
optischer planarer Wellenleiter auf Silizium-Dioxid-Basis
und LiNbO3-Wellenleiter.
Ein Verfahren zum Analysieren von Inhomogenitäten in opti
schen Fasern besteht in der optischen Reflektometrie im
Zeitbereich. Bei diesem Verfahren wird ein Lichtpuls über
die optische Faser übertragen. Sodann wird die Rayleigh′sche
Lichtrückstreuung gemessen, die sich aus der Wechselwirkung
dieses Lichtpulses mit einer Inhomogenität in der Faser
ergibt. Die Zeitverzögerung zwischen dem einfallenden Licht
puls und dem reflektierten Licht liefert Informationen über
den Ort der Inhomogenität. Die Amplitude des rückgestreuten
Lichtsignales liefert eine Information über den Grad der
Inhomogenität. Bei üblichen gepulsten Techniken wird die
Messung des rückgestreuten Lichtes bei Erhöhung der räum
lichen Auflösung immer schwieriger. Eine höhere räumliche
Auflösung führt gleichzeitig zu niedrigeren Pegeln der rück
gestreuten Lichtleistung und zu einer erhöhten Rauschlei
stung aufgrund der zunehmenden Empfängerbandbreiten.
Interferometrie mit weißem Licht oder optische Niederkohä
renz-Reflektometrie schaffen eine Technik, welche eine Ver
besserung von einigen Größenordnungen sowohl hinsichtlich
der Empfindlichkeit als auch hinsichtlich der räumlichen
Auflösung verglichen mit bekannten Verfahren im Zeitbereich
liefern. Es wurde über räumliche Auflösungen unter Verwen
dung dieser Techniken in der Größenordnung zwischen 20 und
40 Mikrometer berichtet. Diese Auflösung gleicht einer Auf
lösung, die man bei Verwendung von Pulsbreiten von wenigen
hundert Femtosekunden bei Einsatz üblicher Pulstechniken er
halten würde. Für diese Auflösungen liegen durchschnittliche
rückgestreute Pegel bei üblichen Nachrichtenfasern in der
Größenordnung von minus 115 dB. Reflexionsempfindlichkeiten
sind auf Werte nahe der rückgestreuten Pegel aufgrund der
Rauschintensität für niederkohärente optische Quellen be
grenzt. Jedoch wurde eine Reflexionsempfindlichkeit von
minus 136 dB bei einer Wellenlänge von 1,3 Mikrometer unter
Verwendung einer Hochleistungs-Superlumineszenz-Diode und
bei Verwendung eines symmetrischen Erfassungsschemas de
monstriert, um die Rauscheffekte zu minimieren (Takada et
al., "Rayleigh Backscattering Measurements of Single-Mode
Fibers by Low Coherence Optical Time-Domain Reflectometry
With 14 µm Spatial Resolution", Appl. Phys. Lett., 59, Seite
143, 1991).
Obgleich die Niederkohärenz-Reflektometrie eine Auflösung
und Empfindlichkeit zur Durchführung der fraglichen Messun
gen liefert, kann die erforderliche Zeit aufgrund der nied
rigen Leistungspegel des rückgestreuten Lichtes hinderlich
sein. Um hinnehmbare Signal-/Rausch-Verhältnisse zu schaf
fen, werden lange Signalmittelungszeiten benötigt. Die sich
ergebenden langen Meßzeiten bilden einen hauptsächlichen
Nachteil bei der Verwendung dieser Art der Meßsysteme.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein opti
sches Interferometer zu schaffen, das verbesserte Meßeigen
schaften hat.
Diese Aufgabe wird durch ein Interferometer gemäß Patent
anspruch 1 gelöst.
Allgemein liefert die Erfindung eine verbesserte Vorrichtung
und ein verbessertes Verfahren für die Niederkohärenz-Re
flektometriemessungen.
Ferner liefert die Erfindung ein Niederkohärenz-Reflekto
metriesystem mit erheblich verminderter Meßzeit verglichen
mit bekannten Niederkohärenz-Reflektometriesystemen.
Die Erfindung schafft ein optisches Interferometer zum
Messen der optischen Eigenschaften eines Gerätes. Die Er
findung bedient sich eines optischen Verstärkers mit einer
Dioden-gepumpten superfluoreszenten Faser zum Schaffen eines
niederkohärenten Lichtsignales, welches in ein erstes und
ein zweites Lichtsignal aufgeteilt wird. Ein Teil des ersten
Lichtsignales wird an das Gerät angelegt, woraufhin das
durch dieses rückgestreute Licht erfaßt wird. Das rückge
streute Licht wird dann unter Verwendung eines optischen
Verstärkers verstärkt, welcher eine Dioden-gepumpte super
fluoreszente Faser umfaßt, bevor es mit dem zweiten Licht
signal gemischt wird. Bei dem bevorzugten Ausführungsbei
spiel der Erfindung wird die gleiche Dioden-gepumpte super
fluoreszente Faser sowohl für die niederkohärente Licht
quelle wie auch für den optischen Verstärker verwendet. Die
relativen optischen Wege, die von dem zweiten Lichtsignal
durchlaufen werden, und die von dem rückgestreuten Licht
durchlaufen werden, werden durch einen beweglichen Spiegel
verändert. Die Bewegungsrate des Spiegels oder eine optische
Phasenverschiebungsschaltung können verwendet werden, um
eine Taktfrequenz bzw. Schlagfrequenz zu erzeugen, um die
Erfassung der in kohärenter Weise in Wechselwirkung treten
den Signale in dem Addierer zu verbessern.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend unter Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm eines Niederkohärenz-Reflekto
meters;
Fig. 2 ein Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels eines
erfindungsgemäßen Niederkohärenz-Reflektometers;
Fig. 3 ein Blockdiagramm eines zweiten Ausführungsbei
spieles eines Niederkohärenz-Reflektometers gemäß
der vorliegenden Erfindung;
Fig. 4 ein Blockdiagramm eines vierten Ausführungsbei
spieles eines Niederkohärenz-Reflektometers gemäß
der vorliegenden Erfindung; und
Fig. 5 ein Blockdiagramm eines vierten Ausführungsbei
spieles eines Niederkohärenz-Reflektometers gemäß
der vorliegenden Erfindung.
Die Art, in der ein Niederkohärenz-Reflektometer arbeitet,
kann ohne weiteres unter Bezugnahme auf Fig. 1 verstanden
werden, wobei diese Fig. eine schematische Darstellung eines
Niederkohärenz-Reflektometers 10 zur Messung der optischen
Eigenschaften eines Gerätes 12 ist.
Eine Niederkohärenz-Lichtquelle 14 wird verwendet, um dem
Gerät 12 Licht zuzuführen. Die optische Kohärenzlänge des
Lichtes von der Lichtquelle 14 bestimmt die räumliche Auf
lösung der Messungen. Eine geeignete Lichtquelle kann auf
gebaut werden, indem man sich der verstärkten spontanen
Emission von einer Faser, die mit Erbium dotiert ist, be
dient. Derartige Fasern sind auf dem Gebiet der optischen
Technik bekannt und benötigen daher keiner weiteren Erläute
rung. Licht von der Quelle 14 wird durch den Koppler 16 auf
geteilt, der an die Quelle 14 über die Faser 13 angeschlos
sen ist. Der Koppler 16 teilt das Licht zwischen den beiden
Armen des Interferometers. Der erste Arm mit der Faser 15
liefert Licht an das Gerät 12. Die Polarisation dieses Lich
tes wird durch zwei Polarisationssteuerschleifen 18 ge
steuert. Ein optionaler Phasenschieber kann in diesem Arm
des Interferometers enthalten sein. Die Verwendung des Pha
senschiebers wird nachfolgend detailliert erläutert. Das
Rayleigh′sche rückgestreute Licht von dem Gerät 12 wird zu
dem Koppler 16 über eine Faser 15 rückgeführt. Ein Teil des
rückgestreuten Lichtes wird einem zweiten Koppler 22 über
eine Faser 20 geliefert.
Ein zweiter Arm des Interferometers hat eine veränderliche
Zeitverzögerung. Der Anteil des Lichtes von dem Koppler 16,
der nicht über die Faser 15 herabgeleitet wird, wird der
Faser 23 zugeführt und liefert ein Bezugslichtsignal. Dieses
Licht kann durch eine Linse 30 auf einen Spiegel 24 abge
bildet werden, der auf einer beweglichen Bühne befestigt
ist. Die Bewegung in der Z-Richtung ändert die optische Weg
länge des zweiten Armes des Interferometers. Das Licht, das
den Spiegel 24 verläßt, wird durch die Linse 31 in die Faser
26 abgebildet und dem Koppler 22 geliefert. Der Koppler 22
arbeitet als Addierer zum Kombinieren des Rayleigh′schen
rückgestreuten Lichtes von dem Gerät 12 und des Bezugssig
nallichtes von der Quelle 14. Wenn die Zeitverzögerung von
dem zweiten Arm des Interferometers mit der Zeitverzögerung
einer Reflexion von dem Gerät 12 übereinstimmt, erzeugt die
kohärente Interferenz ein Überlagerungssignal oder Schlag
signal bzw. Taktsignal von einer vorbestimmten Frequenz. Die
Leistung in dem Lichtsignal bei der Schlagfrequenz bzw.
Schwebungsfrequenz wird durch einen symmetrischen Detektor
32 mit zwei Photodioden 27, 28 und einem Addierer 33 erfaßt.
Dieses Leistungsspektrum des subtrahierten Ausgangssignales
wird durch einen Spektrum-Analysator 29 gemessen.
Die Schlagfrequenz bzw. Schwebungsfrequenz ist vorzugsweise
derart gewählt, daß sie mit einem Minimum des Rauschunter
grundes des Verstärkers übereinstimmt. Die Frequenz kann
durch eine der nachfolgenden beiden Verfahren gesteuert
werden. Bei dem bevorzugten Verfahren bedient man sich eines
Phasenschiebers 11, der über einen Bereich von 180° säge
zahnmäßig rampenartig angesteuert wird, und eine Serrodyn-
Frequenzverschiebung an dem zurückkommenden Signal erzeugt.
In diesem Fall hat das Schwebungssignal oder Schlagsignal
die Serrodyn-Frequenz mit einer Stärke, die von dem Betrag
der Reflexion abhängt. In diesem System wird der Schritt 24
schrittweise durch jede mögliche Lage bewegt und das Signal
über eine ausreichende Zeit gemittelt, um das gewünschte
Signal-/Rausch-Verhältnis zu schaffen. In Abweichung hiervon
kann der Phasenschieber 11 beseitigt werden und der Spiegel
in einer kontinuierlichen Art während der Messung bewegt
werden. Die kontinuierliche Bewegung führt zu einer Doppler
verschiebung der Frequenz des Lichtes in dem zweiten Arm des
Interferometers. Die Schlagfrequenz oder Schwebungsfrequenz
hat hier die Dopplerverschiebungsfrequenz. Unglücklicher
weise beschränken Vibrationen in dem mechanischen Teil das
Ausmaß, mit dem eine schmalbandige Dopplerfrequenzverschie
bung erzeugt werden kann, so daß die erstgenannte Technik
bevorzugt wird.
Die Koppler 16 und 22 sind übliche geklebte Koppler, die
durch Zusammenkleben zweier optischer Fasern erzeugt werden.
Derartige Koppler sind an sich im Stand der Technik bekannt
und müssen daher nicht näher erläutert werden.
Während das Interferometer 10 für viele interessierende
Messungen ein ausreichendes Signal-/Rausch-Verhältnis lie
fert, wird eine erhebliche Zeit für die Signalmittelung be
nötigt. Es werden Mittelungszeiten von mehr als eine Sekunde
pro Spiegelstellung benötigt. Diese Mittelungszeiten sind
ein Ergebnis der niedrigen Intensität des rückgestreuten
Lichtes von dem Gerät 12. Die vorliegende Erfindung vermei
det diese langen Mittelungszeiten durch Verwendung eines
Lichtverstärkers in dem optischen Weg zwischen dem Gerät 12
und dem Koppler 22.
Die Art, in der eine optische Verstärkung zur Verminderung
der Mittelungszeiten eingeführt werden kann, wird leichter
unter Bezugnahme auf Fig. 2 verstanden werden, wobei diese
Fig. ein Blockdiagramm eines Interferometers 200 gemäß der
vorliegenden Erfindung ist. Die meisten Komponenten des
Interferometers 200 dienen Funktionen, die analog zu dem
jenigen der Komponenten sind, die unter Bezugnahme auf Fig.
1 diskutiert wurden. Komponenten mit übereinstimmenden oder
analogen Funktionen sind mit Bezugszeichen bezeichnet, die
sich um 200 von dem Bezugszeichen der analogen Komponenten
in Fig. 1 unterscheiden. Um die Komplexität der Zeichnung zu
vermindern, wurde der Phasenschieber im Bereich der zu
testenden Vorrichtung fortgelassen. Jedoch ist es klar, daß
ein Phasenschieber nahe dem zu testenden Gerät vorgesehen
sein kann, um die Schlagfrequenz oder Schwingungsfrequenz
bzw. Schwebungsfrequenz zu erzeugen.
Das Interferometer 200 umfaßt einen optischen Verstärker 236
in der Faser 215. Der optische Verstärker 236 verstärkt das
rückgestreute Licht von dem Gerät 212, um auf diese Weise
die Größe des rückgestreuten Lichtsignales bei dem Koppler
222 um einen Faktor zu erhöhen, der der Verstärkung des
Verstärkers 236 entspricht. Dieses vermindert die Mitte
lungszeit um einen Faktor, der der Verstärkung des Ver
stärkers 236 gleich kommt. Für momentan verfügbare optische
Verstärker kann dies zu einer Reduktion um einen Faktor 100
bezüglich der Meßzeiten führen.
Der optische Verstärker 236 ist vorzugsweise auf einer Dio
den-gepumpten superfluoreszenten Faserquelle ähnlich der
Quellen 214 aufgebaut. Derartige Verstärker werden mit
optischen Fasern aufgebaut, die mit seltenen Erden dotiert
sind, und werden zur Verstärkung von Signalen in optischen
Nachrichtensystemen eingesetzt. Beispielsweise können
Erbium-dotierte optische Fasern für diesen Typ eines Ver
stärkers eingesetzt werden. Derartige Verstärker sind im
Bereich der optischen Technik an sich bekannt und bedürfen
daher keiner detaillierten Erläuterung. Eine Diskussion
eines derartigen Verstärkers findet sich in "High Power
Compact 1.48 µm Diode-Pumped Broadband Superfluorescent
Fiber Source at 1.55 µm", Electronics Letters, 27, Seite
261, 1991. Zusätzlich können auf Halbleiterbasis ausgeführte
optische Verstärker als Verstärker 236 eingesetzt werden.
Obgleich das Interferometer 200 eine erhebliche Verbesserung
gegenüber dem Interferometer 10 darstellt, ist die Anordnung
des optischen Verstärkers nicht optimal. Der Verstärker 236
verstärkt gleichfalls das hereinfallende Signal von der
Quelle 214. Dies kann zu einer einfallenden Lichtintensität
führen, die nicht-lineare optische Effekte in dem zu testen
den Gerät hervorruft. Ferner stellt der Verstärker 236 zu
sätzliche Systemkosten dar. Es ist natürlich wünschenswert,
diese Kosten zu vermeiden.
Die Kosten dieser zusätzlichen Komponente können dadurch
vermieden werden, daß ein optischer Verstärker in einem der
optischen Wege angeordnet wird, welche das rückgestreute
Licht durchläuft, und in dem von der Tatsache Gebrauch ge
macht wird, daß eine Dioden-gepumpte superfluoreszente
Faserquelle gleichfalls ein kontinuierliches niederkohären
tes Lichtsignal erzeugt. Daher kann der optische Verstärker
auch verwendet werden, um die Lichtquelle zu ersetzen, wo
durch im wesentlichen die zusätzlichen Kosten dieser Kompo
nente ersetzt werden.
Ein Interferometer, welches eine alternative Anordnung der
Verstärker-/Licht-Quelle nutzt, ist in Fig. 3 mit dem Be
zugszeichen 100 bezeichnet. Wiederum dienen viele Komponen
ten des Interferometers 100 analogen Funktionen, bezogen auf
die Funktionen der Komponenten, die unter Bezugnahme auf
Fig. 1 erläutert wurden. Komponenten mit analogen Funktionen
haben Bezugszeichen, die sich von den analogen Komponenten
in Fig. 1 um 100 unterscheiden. Zur Verminderung der Kom
plexität der zeichnerischen Darstellung wurde der Phasen
schieber nahe des zu testenden Gerätes fortgelassen. Es ist
jedoch klar, daß der Phasenschieber nahe des zu testenden
Gerätes vorgesehen sein kann, um die Schlagfrequenz bzw.
Schwebungsfrequenz zu erzeugen.
Das Interferometer 100 unterscheidet sich dahingehend von
dem Interferometer 200, daß der optische Verstärker/die
optische Lichtquelle in eine Lage zwischen dem Strahlteiler
koppler 116 und dem Mischkoppler 122 verschoben sind. Das
von dem Verstärker 135 emittierte Licht wird durch den
Koppler 116 in zwei Strahlen aufgeteilt. Ein Strahl wird dem
Gerät 112 durch die optische Faser 115 zugeführt, während
der andere Strahl längs des zweiten Armes des Interferome
ters mit der Faser 123 und dem sich bewegenden Spiegel 124
übertragen wird. Das rückgestreute Licht von dem Gerät 112
kehrt zu dem Verstärker 137 über die Fasern 115 und 120
durch den Koppler 116 zurück. Der Verstärker 135 verstärkt
das rückgestreute Lichtsignal. Das verstärkte Signal wird
dann mit dem Bezugslichtsignal auf der Faser 126 durch den
Addierer 122 kombiniert.
Es gibt zwei weitere Positionen für den Verstärker/die
Lichtquelle, die gleichzeitig zu verminderten Mittelungs
zeiten führen. Diese sind in den Fig. 4 und 5 mit dem Be
zugszeichen 400 und 500 dargestellt. Erneut erfüllen viele
Komponenten der Interferometer 400 und 500 Funktionen, die
analog den Funktionen der unter Bezugnahme auf Fig. 1 dis
kutierten Komponente sind. Komponenten mit analogen Funktio
nen sind mit Bezugszeichen bezeichnet, die von den analogen
Komponenten in Fig. 1 sich um 400 bzw. 500 unterscheiden. Um
die Komplexität der Darstellung zu vermindern, ist erneut
der Phasenschieber nahe des zu testenden Gerätes fortgelas
sen. Wiederum ist jedoch offenkundig, daß ein Phasenschieber
nahe des zu testenden Gerätes vorgesehen sein kann, um die
Schwebungsfrequenz bzw. Schlagfrequenz zu erzeugen.
Während sämtliche Konfigurationen der Fig. 3 bis 5 ver
minderte Mittelungszeiten liefern, ist die Konfiguration
gemäß Fig. 4 bevorzugt, da sie das Rauschen verglichen mit
anderen Konfigurationen vermindert. Es sei angemerkt, daß
Licht von beiden Enden der Verstärkerlichtquelle emittiert
wird. Das Licht, das nicht in der Richtung des zu testenden
Gerätes verläuft, trägt zu dem Rauschen in dem Detektor
(232, 332 und 432) bei. Die in Fig. 4 gezeigte Konfiguration
wird als bevorzugt angesehen, da das rauschende Lichtsignal
den Addierer 422 über den sich bewegenden Spiegel 424 und
das System, daß zum Koppeln des Lichtsignales zurück in die
Faser 426 verwendet wird, erreichen muß. Dieser optische Weg
hat erhebliche Lichtverluste, so daß das Rauschen reduziert
ist.
Wie aus der obigen Beschreibung offenkundig ist, liefert das
niederkohärente Interferometer verminderte Meßzeiten. Ver
schiedene Modifikationen des beschriebenen und in den Zeich
nungen dargestellten Ausführungsbeispieles sind für Fach
leute offenkundig, so daß die Erfindung lediglich auf den
Umfang der beigefügten Ansprüche beschränkt verstanden
werden soll.
Claims (6)
1. Optisches Interferometer (100, 200, 400, 500) zum Messen
der optischen Eigenschaften eines Gerätes (112, 212),
gekennzeichnet durch:
eine Quelleneinrichtung (214, 135, 435, 535) zum Er zeugen eines niederkohärenten Lichtsignales;
eine Teilereinrichtung (116, 216, 416, 516) zum Auf teilen des niederkohärenten Lichtsignales in ein erstes und ein zweites Lichtsignal;
eine Einrichtung (215, 115) zum Anlegen eines Teiles des ersten Lichtsignales an das Gerät;
eine Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522) zum Kom binieren der Lichtsignale an einem ersten bzw. zweiten Tor derselben, um ein kombiniertes Lichtsignal zu er zeugen;
eine Erfassungs-Einrichtung (32, 232, 132, 432, 532) zum Messen der Amplitude des kombinierten Lichtsignales;
eine Einrichtung (220, 120, 420, 520) zum Erfassen eines Teiles des rückgestreuten Lichtes, das durch das Anlegen des ersten Lichtsignales an das Gerät erzeugt wird, und zum Zuführen eines Teiles des gesammelten rückgestreuten Lichtes zu dem ersten Tor der Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522);
eine Einrichtung (226, 126, 426, 526) zum Zuführen eines Teiles des zweiten Lichtsignales zu dem zweiten Tor der Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522);
eine Einrichtung (224, 124, 424, 524) zum Verändern der Differenz der optischen Weglängen, die durch das rück gestreute Licht und das zweite Lichtsignal durchlaufen werden, bevor diese in die Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522) eintreten; und
eine optische Verstärker-Einrichtung (236, 135, 435, 526) zum Verstärken des Anteiles des gesammelten rück gestreuten Lichtes, bevor der Anteil des rückgestreuten Lichtes der Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522) zugeführt wird.
eine Quelleneinrichtung (214, 135, 435, 535) zum Er zeugen eines niederkohärenten Lichtsignales;
eine Teilereinrichtung (116, 216, 416, 516) zum Auf teilen des niederkohärenten Lichtsignales in ein erstes und ein zweites Lichtsignal;
eine Einrichtung (215, 115) zum Anlegen eines Teiles des ersten Lichtsignales an das Gerät;
eine Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522) zum Kom binieren der Lichtsignale an einem ersten bzw. zweiten Tor derselben, um ein kombiniertes Lichtsignal zu er zeugen;
eine Erfassungs-Einrichtung (32, 232, 132, 432, 532) zum Messen der Amplitude des kombinierten Lichtsignales;
eine Einrichtung (220, 120, 420, 520) zum Erfassen eines Teiles des rückgestreuten Lichtes, das durch das Anlegen des ersten Lichtsignales an das Gerät erzeugt wird, und zum Zuführen eines Teiles des gesammelten rückgestreuten Lichtes zu dem ersten Tor der Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522);
eine Einrichtung (226, 126, 426, 526) zum Zuführen eines Teiles des zweiten Lichtsignales zu dem zweiten Tor der Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522);
eine Einrichtung (224, 124, 424, 524) zum Verändern der Differenz der optischen Weglängen, die durch das rück gestreute Licht und das zweite Lichtsignal durchlaufen werden, bevor diese in die Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522) eintreten; und
eine optische Verstärker-Einrichtung (236, 135, 435, 526) zum Verstärken des Anteiles des gesammelten rück gestreuten Lichtes, bevor der Anteil des rückgestreuten Lichtes der Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522) zugeführt wird.
2. Interferometer gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärker-Einrichtung (236, 135, 435, 526)
ferner eine Lichtquelle umfaßt, die als Lichtquellen-
Einrichtung arbeitet.
3. Interferometer gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärker-Einrichtung (236, 135, 435, 526) eine
Dioden-gepumpte superfluoreszente Faser umfaßt.
4. Interferometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärker-Einrichtung (236, 135, 435, 526)
einen optischen Verstärker auf Halbleiterbasis umfaßt.
5. Interferometer gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zum Verändern der Differenz der
optischen Weglängen, die von dem rückgestreuten Licht
und dem zweiten Lichtsignal zurückgelegt werden, bevor
diese in die Addierer-Einrichtung (222, 122, 422, 522)
eintreten, einen beweglichen Spiegel umfaßt, der einen
Teil des optischen Weges zwischen der Addierer-Einrich
tung (222, 122, 422, 522) und der sammelnden Einrichtung
(220, 120, 420, 520) umfaßt.
6. Interferometer gemäß Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die sammelnde Einrichtung (220, 120, 420, 520) eine Teilereinrichtung (116, 216, 416, 516) umfaßt, und
daß die Verstärker-Einrichtung (236, 135, 435, 526) zwischen der Teiler-Einrichtung (116, 216, 416, 516) und dem beweglichen Spiegel angeordnet ist.
daß die sammelnde Einrichtung (220, 120, 420, 520) eine Teilereinrichtung (116, 216, 416, 516) umfaßt, und
daß die Verstärker-Einrichtung (236, 135, 435, 526) zwischen der Teiler-Einrichtung (116, 216, 416, 516) und dem beweglichen Spiegel angeordnet ist.
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