JP3423680B2 - 低コヒーレントリフレクトメータ - Google Patents
低コヒーレントリフレクトメータInfo
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3163—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR by measuring dispersion
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- G—PHYSICS
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光導波路や光モジ
ュール等の被測定光回路における反射率又はその分布及
び反射位置を低コヒーレント光を用いて測定する低コヒ
ーレントリフレクトメータ（反射率測定装置）に関す
る。
ュール等の被測定光回路における反射率又はその分布及
び反射位置を低コヒーレント光を用いて測定する低コヒ
ーレントリフレクトメータ（反射率測定装置）に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図８は、従来の低コヒーレントリフレク
トメータの概略構成例を示すブロック図である。図８に
おいて、１００は低コヒーレント光を出射する発光ダイ
オードからなる低コヒーレント光源である。低コヒーレ
ント光源１００の出射端には光ファイバ１０１の一端が
接続されている。１０２は４つのポート１０２ａ〜１０
２ｄを有する光カプラであり、その１つのポート１０２
ａには光ファイバ１０１の他端が接続されている。光カ
プラ１０２はポート１０２ａから入力される低コヒーレ
ント光を所定の強度比（例えば１対１）で分岐してポー
ト１０２ｂ，１０２ｃ各々から出射する。ポート１０２
ｂには光ファイバ１０３の一端が接続されている。ま
た、光ファイバ１０３の他端には、内部に反射点を有す
る測定対象としての被測定光回路１０４が接続されてい
る。
トメータの概略構成例を示すブロック図である。図８に
おいて、１００は低コヒーレント光を出射する発光ダイ
オードからなる低コヒーレント光源である。低コヒーレ
ント光源１００の出射端には光ファイバ１０１の一端が
接続されている。１０２は４つのポート１０２ａ〜１０
２ｄを有する光カプラであり、その１つのポート１０２
ａには光ファイバ１０１の他端が接続されている。光カ
プラ１０２はポート１０２ａから入力される低コヒーレ
ント光を所定の強度比（例えば１対１）で分岐してポー
ト１０２ｂ，１０２ｃ各々から出射する。ポート１０２
ｂには光ファイバ１０３の一端が接続されている。ま
た、光ファイバ１０３の他端には、内部に反射点を有す
る測定対象としての被測定光回路１０４が接続されてい
る。
【０００３】光カプラ１０２のポート１０２ｃには光フ
ァイバ１０５が接続されている。１０６は光ファイバ１
０５の端部１０５ａに焦点位置が設定されたコリメート
レンズであり、１０７はコリメートレンズ１０６を介し
て入射する光を反射する反射鏡であり、コリメートレン
ズ１０６との距離を可変するための図示しないステージ
上に設けられている。また、光カプラ１０２のポート１
０２ｄには光ファイバ１０８の一端が接続されており、
光ファイバ１０８の他端には受光信号処理部１０９が設
けられている。受光信号処理部１０９は、図示しない２
つの受光素子を備え、光ファイバ１０８から入射した光
を各々の受光素子で受光して光電変換し、各々の受光素
子で光電変換された電気信号の差分を増幅する。
ァイバ１０５が接続されている。１０６は光ファイバ１
０５の端部１０５ａに焦点位置が設定されたコリメート
レンズであり、１０７はコリメートレンズ１０６を介し
て入射する光を反射する反射鏡であり、コリメートレン
ズ１０６との距離を可変するための図示しないステージ
上に設けられている。また、光カプラ１０２のポート１
０２ｄには光ファイバ１０８の一端が接続されており、
光ファイバ１０８の他端には受光信号処理部１０９が設
けられている。受光信号処理部１０９は、図示しない２
つの受光素子を備え、光ファイバ１０８から入射した光
を各々の受光素子で受光して光電変換し、各々の受光素
子で光電変換された電気信号の差分を増幅する。
【０００４】上記構成における従来の低コヒーレントリ
フレクトメータは、まず低コヒーレント光源１００から
出射された低コヒーレント光を光カプラ１０２で分岐
し、分岐光の一方を、測定光として光ファイバ１０３を
介して被測定光回路１０４に入射させる。被測定光回路
１０４内で生じた反射光は光ファイバ１０３を介してポ
ート１０２ｂから光カプラ１０２に入力する。
フレクトメータは、まず低コヒーレント光源１００から
出射された低コヒーレント光を光カプラ１０２で分岐
し、分岐光の一方を、測定光として光ファイバ１０３を
介して被測定光回路１０４に入射させる。被測定光回路
１０４内で生じた反射光は光ファイバ１０３を介してポ
ート１０２ｂから光カプラ１０２に入力する。
【０００５】一方、光カプラ１０２の分岐光の他方は、
局発光として光ファイバ１０５を介して光ファイバ１０
５の端部１０５ａから出射され、コリメートレンズ１０
６によって平行光に変換されて反射鏡１０７に入射す
る。局発光は反射鏡１０７によって反射され、コリメー
トレンズ１０６によって集光されて端部１０５ａから光
ファイバ１０５内に入射し、光カプラ１０２に至る。
局発光として光ファイバ１０５を介して光ファイバ１０
５の端部１０５ａから出射され、コリメートレンズ１０
６によって平行光に変換されて反射鏡１０７に入射す
る。局発光は反射鏡１０７によって反射され、コリメー
トレンズ１０６によって集光されて端部１０５ａから光
ファイバ１０５内に入射し、光カプラ１０２に至る。
【０００６】光カプラ１０２はポート１０２ｂから入力
する反射光とポート１０２ｃから入力する局発光とを合
波する。ここで、測定光及び反射光の光路と局発光の光
路とが同一になれば光カプラ１０２内で干渉が生ずる。
そして、合波光の内、光カプラ１０２のポート１０２ｄ
から出射される合波光を受光信号処理部１０９が備える
図示しない受光素子で光電変換して差動増幅する。
する反射光とポート１０２ｃから入力する局発光とを合
波する。ここで、測定光及び反射光の光路と局発光の光
路とが同一になれば光カプラ１０２内で干渉が生ずる。
そして、合波光の内、光カプラ１０２のポート１０２ｄ
から出射される合波光を受光信号処理部１０９が備える
図示しない受光素子で光電変換して差動増幅する。
【０００７】ここで、図示しないステージを移動させて
反射鏡１０７を等速で光軸方向に移動させて空間的な光
路長を可変することにより光カプラ１０２から出射され
た局発光の光路長を変化させて、光カプラ１０２のポー
ト１０２ｂから測定光が出射され、反射光が光カプラ１
０２ｂへ入射するまでの光路長と、光カプラ１０２のポ
ート１０２ｃから局発光が出射されて光カプラ１０２ｃ
へ戻るまでの光路長とが等しいときに干渉が生じるた
め、被測定光回路１０４内における反射点の位置を計測
することができる。かかる技術の詳細については、例え
ば特開２０００−９７８５６を参照されたい。
反射鏡１０７を等速で光軸方向に移動させて空間的な光
路長を可変することにより光カプラ１０２から出射され
た局発光の光路長を変化させて、光カプラ１０２のポー
ト１０２ｂから測定光が出射され、反射光が光カプラ１
０２ｂへ入射するまでの光路長と、光カプラ１０２のポ
ート１０２ｃから局発光が出射されて光カプラ１０２ｃ
へ戻るまでの光路長とが等しいときに干渉が生じるた
め、被測定光回路１０４内における反射点の位置を計測
することができる。かかる技術の詳細については、例え
ば特開２０００−９７８５６を参照されたい。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の低コヒーレントリフレクトメータは、測定光及び被
測定光回路１０４において生じた反射光が通過する光路
は光ファイバのみで構成されている。一方、局発光の光
路は図８に示したように、光ファイバ１０５の端部１０
５ａ、コリメートレンズ１０６、及び反射鏡１０７で構
成される光路は屈折率がほぼ１の空間的な光路である。
来の低コヒーレントリフレクトメータは、測定光及び被
測定光回路１０４において生じた反射光が通過する光路
は光ファイバのみで構成されている。一方、局発光の光
路は図８に示したように、光ファイバ１０５の端部１０
５ａ、コリメートレンズ１０６、及び反射鏡１０７で構
成される光路は屈折率がほぼ１の空間的な光路である。
【０００９】このため、局発光の光路における波長の分
散値は、光ファイバのみで構成されている測定光及び反
射光の光路における波長の分散値と比較すると、光ファ
イバ１０５の端部１０５ａから射出された局発光がコリ
メートレンズ１０６に至り、反射鏡１０７で反射され
て、再びコリメートレンズ１０６を介して光ファイバ１
０５のファイバ１０５ａに至る空間的な光路の分だけ少
なくなる。このように測定光及び反射光の分散値と局発
光の分散値との間に差があるとその影響により空間分解
能が劣化してしまうという問題があった。
散値は、光ファイバのみで構成されている測定光及び反
射光の光路における波長の分散値と比較すると、光ファ
イバ１０５の端部１０５ａから射出された局発光がコリ
メートレンズ１０６に至り、反射鏡１０７で反射され
て、再びコリメートレンズ１０６を介して光ファイバ１
０５のファイバ１０５ａに至る空間的な光路の分だけ少
なくなる。このように測定光及び反射光の分散値と局発
光の分散値との間に差があるとその影響により空間分解
能が劣化してしまうという問題があった。
【００１０】上述したように、被測定光回路１０４の反
射点の位置は、反射鏡１０７を移動させることにより局
発光の空間的な光路長を可変して反射光と局発光とを光
カプラ１０２で干渉させることによって得られる訳であ
るが、この空間的な光路長が長くなるにつれ、測定光及
び反射光の分散値と局発光の分散値との差は大きくな
り、その結果空間分解能はより悪化してしまう。
射点の位置は、反射鏡１０７を移動させることにより局
発光の空間的な光路長を可変して反射光と局発光とを光
カプラ１０２で干渉させることによって得られる訳であ
るが、この空間的な光路長が長くなるにつれ、測定光及
び反射光の分散値と局発光の分散値との差は大きくな
り、その結果空間分解能はより悪化してしまう。
【００１１】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、高い空間分解能を有するとともに、局発光の空間
的な光路長の変化がある場合であっても高い空間分解能
を維持することができる低コヒーレントリフレクトメー
タを提供することを目的とする。
あり、高い空間分解能を有するとともに、局発光の空間
的な光路長の変化がある場合であっても高い空間分解能
を維持することができる低コヒーレントリフレクトメー
タを提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の低コヒーレントリフレクトメータは、光源
と、少なくとも４つのポートを有し、第１のポートから
入射する前記光源からの光を分岐し、分岐した一方の光
を測定光として第２のポートから出射し、且つ分岐した
他方の光を局発光として第３のポートから出射するとと
もに、前記第２のポートから入射する反射光及び第３の
ポートから入射する局発光を合波して第４のポートから
出射する光カプラと、前記第２のポートと被測定光回路
との間に配置される分散シフトファイバと、前記第３の
ポートから出射される局発光に対して空間的な光路を介
して反射して、前記第３のポートへ入射させる反射手段
と、前記第４のポートから出射される合波光を受光して
処理する受光信号処理部とを具備し、前記光カプラと前
記分散シフトファイバとの間、及び、前記光カプラと前
記反射手段との間は光ファイバにより接続されており、
前記分散シフトファイバの光路長は、前記反射手段にお
ける前記空間的な光路の光路長とほぼ同一に設定される
ことを特徴としている。また、本発明の低コヒーレント
リフレクトメータは、光源と、前記光源からの光のスペ
クトラムの半値全幅を調整する光バンドパスフィルタ
と、少なくとも４つのポートを有し、第１のポートから
入射する前記光源からの光を分岐し、分岐した一方の光
を測定光として第２のポートから被測定光回路へ出射
し、且つ分岐した他方の光を局発光として第３のポート
から出射するとともに、前記被測定光回路から前記第２
のポートを介して入射する反射光及び第３のポートから
入射する局発光を合波して第４のポートから出射する光
カプラと、前記第３のポートから出射される局発光に対
して空間的な光路を介して反射して、前記第３のポート
へ入射させる反射手段と、前記第４のポートから出射さ
れる合波光を受光して処理する受光信号処理部とを具備
し、前記光カプラと前記被測定光回路との間、及び、前
記光カプラと前記反射手段との間は光ファイバにより接
続されていることを特徴としている。また、本発明の低
コヒーレントリフレクトメータは、前記反射手段が、コ
リメートレンズと反射鏡とを備え、前記コリメートレン
ズは、前記第３のポートから出射される光を平行光に変
換して前記反射鏡へ入射させるとともに、前記反射鏡に
よって反射された光を集束して前記第３のポートから前
記光カプラへ入射させることを特徴としている。また、
本発明の低コヒーレントリフレクトメータは、前記反射
鏡が移動可能に構成され、前記コリメートレンズとの距
離が可変であることを特徴としている。
に、本発明の低コヒーレントリフレクトメータは、光源
と、少なくとも４つのポートを有し、第１のポートから
入射する前記光源からの光を分岐し、分岐した一方の光
を測定光として第２のポートから出射し、且つ分岐した
他方の光を局発光として第３のポートから出射するとと
もに、前記第２のポートから入射する反射光及び第３の
ポートから入射する局発光を合波して第４のポートから
出射する光カプラと、前記第２のポートと被測定光回路
との間に配置される分散シフトファイバと、前記第３の
ポートから出射される局発光に対して空間的な光路を介
して反射して、前記第３のポートへ入射させる反射手段
と、前記第４のポートから出射される合波光を受光して
処理する受光信号処理部とを具備し、前記光カプラと前
記分散シフトファイバとの間、及び、前記光カプラと前
記反射手段との間は光ファイバにより接続されており、
前記分散シフトファイバの光路長は、前記反射手段にお
ける前記空間的な光路の光路長とほぼ同一に設定される
ことを特徴としている。また、本発明の低コヒーレント
リフレクトメータは、光源と、前記光源からの光のスペ
クトラムの半値全幅を調整する光バンドパスフィルタ
と、少なくとも４つのポートを有し、第１のポートから
入射する前記光源からの光を分岐し、分岐した一方の光
を測定光として第２のポートから被測定光回路へ出射
し、且つ分岐した他方の光を局発光として第３のポート
から出射するとともに、前記被測定光回路から前記第２
のポートを介して入射する反射光及び第３のポートから
入射する局発光を合波して第４のポートから出射する光
カプラと、前記第３のポートから出射される局発光に対
して空間的な光路を介して反射して、前記第３のポート
へ入射させる反射手段と、前記第４のポートから出射さ
れる合波光を受光して処理する受光信号処理部とを具備
し、前記光カプラと前記被測定光回路との間、及び、前
記光カプラと前記反射手段との間は光ファイバにより接
続されていることを特徴としている。また、本発明の低
コヒーレントリフレクトメータは、前記反射手段が、コ
リメートレンズと反射鏡とを備え、前記コリメートレン
ズは、前記第３のポートから出射される光を平行光に変
換して前記反射鏡へ入射させるとともに、前記反射鏡に
よって反射された光を集束して前記第３のポートから前
記光カプラへ入射させることを特徴としている。また、
本発明の低コヒーレントリフレクトメータは、前記反射
鏡が移動可能に構成され、前記コリメートレンズとの距
離が可変であることを特徴としている。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態による低コヒーレントリフレクトメータについて
詳細に説明する。 〔第１実施形態〕図１は、本発明の第１実施形態による
低コヒーレントリフレクトメータの概略構成を示すブロ
ック図である。図１において、１は低コヒーレント光を
出射する発光ダイオード等からなる低コヒーレント光源
である。この低コヒーレント光源１から射出される低コ
ヒーレント光の波長は例えば１．５５μｍ帯の波長であ
る。
施形態による低コヒーレントリフレクトメータについて
詳細に説明する。 〔第１実施形態〕図１は、本発明の第１実施形態による
低コヒーレントリフレクトメータの概略構成を示すブロ
ック図である。図１において、１は低コヒーレント光を
出射する発光ダイオード等からなる低コヒーレント光源
である。この低コヒーレント光源１から射出される低コ
ヒーレント光の波長は例えば１．５５μｍ帯の波長であ
る。
【００１４】低コヒーレント光源１の出射端には光ファ
イバ２の一端が接続されている。３は４つのポート３ａ
〜３ｄを有する光カプラであり、その１つのポート３ａ
には光ファイバ２の他端が接続されている。光カプラ３
はポート３ａから入力される低コヒーレント光を所定の
強度比（例えば１対１）で分岐してポート３ｂ，３ｃ各
々から出射する。また、光カプラ３のポート３ｂには光
ファイバ４の一端が接続されている。
イバ２の一端が接続されている。３は４つのポート３ａ
〜３ｄを有する光カプラであり、その１つのポート３ａ
には光ファイバ２の他端が接続されている。光カプラ３
はポート３ａから入力される低コヒーレント光を所定の
強度比（例えば１対１）で分岐してポート３ｂ，３ｃ各
々から出射する。また、光カプラ３のポート３ｂには光
ファイバ４の一端が接続されている。
【００１５】光ファイバ４の他端には分散シフトファイ
バ（Dispersion Shifted Fiber：ＤＳＦ）５を介して被
測定光回路６が接続されている。この分散シフトファイ
バ５は、低コヒーレント光源１から出射される低コヒー
レント光の波長帯においてほぼ分散値が０となる特性を
有している。また、この分散シフトファイバ５の長さ
は、低コヒーレント光源１から出射される低コヒーレン
ト光の波長帯の光に対して光路長が後述する局発光の空
間的な光路長とほぼ同一に設定される。また、光ファイ
バ４の長さと光ファイバ７との長さも同一に設定され
る。尚、光カプラ３のポート３ｂから、光ファイバ４及
び分散シフトファイバ５を介して被測定光回路６に至
り、再び分散シフトファイバ５及び光ファイバ４を介し
てポート３ｂに至る経路は第１の光経路に相当する。
バ（Dispersion Shifted Fiber：ＤＳＦ）５を介して被
測定光回路６が接続されている。この分散シフトファイ
バ５は、低コヒーレント光源１から出射される低コヒー
レント光の波長帯においてほぼ分散値が０となる特性を
有している。また、この分散シフトファイバ５の長さ
は、低コヒーレント光源１から出射される低コヒーレン
ト光の波長帯の光に対して光路長が後述する局発光の空
間的な光路長とほぼ同一に設定される。また、光ファイ
バ４の長さと光ファイバ７との長さも同一に設定され
る。尚、光カプラ３のポート３ｂから、光ファイバ４及
び分散シフトファイバ５を介して被測定光回路６に至
り、再び分散シフトファイバ５及び光ファイバ４を介し
てポート３ｂに至る経路は第１の光経路に相当する。
【００１６】また、光カプラ３のポート３ｃには光ファ
イバ７の一端が接続されている。８は光ファイバ７の端
部７ａに焦点位置が設定されたコリメートレンズであ
る。９はコリメートレンズ８を介して入射する光を反射
する反射鏡であり、コリメートレンズ８との距離を可変
するための図示しないステージ上に設けられている。
尚、光カプラ３のポート３ｃから、光ファイバ７及びコ
リメートレンズ８を介して反射鏡９に至り、再びコリメ
ートレンズ８及び光ファイバ７を介してポート３ｃに至
る経路は第２の光経路に相当する。
イバ７の一端が接続されている。８は光ファイバ７の端
部７ａに焦点位置が設定されたコリメートレンズであ
る。９はコリメートレンズ８を介して入射する光を反射
する反射鏡であり、コリメートレンズ８との距離を可変
するための図示しないステージ上に設けられている。
尚、光カプラ３のポート３ｃから、光ファイバ７及びコ
リメートレンズ８を介して反射鏡９に至り、再びコリメ
ートレンズ８及び光ファイバ７を介してポート３ｃに至
る経路は第２の光経路に相当する。
【００１７】更に、前述した光カプラ３のポート３ｄに
は光ファイバ１０の一端が接続されており、光ファイバ
１０の他端には受光信号処理部１１が設けられている。
受光信号処理部１１は、図示しない２つの受光素子を備
え、光ファイバ１０から入射した光を各々の受光素子で
受光して光電変換し、各々の受光素子で光電変換された
電気信号の差分を増幅する。
は光ファイバ１０の一端が接続されており、光ファイバ
１０の他端には受光信号処理部１１が設けられている。
受光信号処理部１１は、図示しない２つの受光素子を備
え、光ファイバ１０から入射した光を各々の受光素子で
受光して光電変換し、各々の受光素子で光電変換された
電気信号の差分を増幅する。
【００１８】上記構成における本発明の第１実施形態に
よる低コヒーレントリフレクトメータは、まず低コヒー
レント光源１から出射された低コヒーレント光を光カプ
ラ３で分岐し、分岐光の一方を測定光ＤＬとして光ファ
イバ４及び分散シフトファイバ５を介して被測定光回路
６に入射させる。被測定光回路６内で生じた反射光ＲＬ
は分散シフトファイバ５及び光ファイバ４を順に介して
ポート３ｂから光カプラ３に入力する。ここで、測定光
ＤＬ及び反射光ＲＬが光ファイバ４を通過する際には、
光ファイバ４の分散特性に応じた分散が生ずるが、分散
シフトファイバ５を通過する際には分散が生じない。
よる低コヒーレントリフレクトメータは、まず低コヒー
レント光源１から出射された低コヒーレント光を光カプ
ラ３で分岐し、分岐光の一方を測定光ＤＬとして光ファ
イバ４及び分散シフトファイバ５を介して被測定光回路
６に入射させる。被測定光回路６内で生じた反射光ＲＬ
は分散シフトファイバ５及び光ファイバ４を順に介して
ポート３ｂから光カプラ３に入力する。ここで、測定光
ＤＬ及び反射光ＲＬが光ファイバ４を通過する際には、
光ファイバ４の分散特性に応じた分散が生ずるが、分散
シフトファイバ５を通過する際には分散が生じない。
【００１９】一方、光カプラ３の分岐光の他方は局発光
ＫＬとしてポート３ｃから出射され、光ファイバ７を伝
搬して光ファイバ７の端部７ａから出射され、コリメー
トレンズ８によって平行光に変換されて反射鏡９に入射
する。局発光ＫＬは反射鏡９によって反射され、コリメ
ートレンズ８によって集光されて端部７ａから光ファイ
バ７内に入射する。光ファイバ７内に入射した局発光Ｋ
Ｌは、ポート３ｃから光カプラ３内に入射する。
ＫＬとしてポート３ｃから出射され、光ファイバ７を伝
搬して光ファイバ７の端部７ａから出射され、コリメー
トレンズ８によって平行光に変換されて反射鏡９に入射
する。局発光ＫＬは反射鏡９によって反射され、コリメ
ートレンズ８によって集光されて端部７ａから光ファイ
バ７内に入射する。光ファイバ７内に入射した局発光Ｋ
Ｌは、ポート３ｃから光カプラ３内に入射する。
【００２０】上記の光ファイバ７の端部７ａから射出さ
れた局発光は、空間中を伝搬してコリメートレンズ８に
よって平行光に変換され、更に空間中を伝搬して反射鏡
９によって反射されている。かかる光路を逆順に進み光
ファイバ７の端部７ａに入射するまでも同様に空間中を
伝搬する。よって、かかる空間的な光路を伝搬している
間は分散は生じないが、前述のように測定光ＤＬが分散
シフトファイバ５中を伝搬している間、及び反射光ＲＬ
が分散シフトファイバ５を伝搬している間は分散が生じ
ない。しかも、前述した通り、分散シフトファイバ５の
長さは、低コヒーレント光源１から出射される低コヒー
レント光の波長帯の光に対して光路長が局発光の空間的
な光路長と同程度に設定されている。よって、ポート３
ｂから光カプラ３へ入射した反射光の分散値とポート３
ｃから光カプラ３へ入射した局発光ＫＬの分散値とはほ
ぼ同一である。
れた局発光は、空間中を伝搬してコリメートレンズ８に
よって平行光に変換され、更に空間中を伝搬して反射鏡
９によって反射されている。かかる光路を逆順に進み光
ファイバ７の端部７ａに入射するまでも同様に空間中を
伝搬する。よって、かかる空間的な光路を伝搬している
間は分散は生じないが、前述のように測定光ＤＬが分散
シフトファイバ５中を伝搬している間、及び反射光ＲＬ
が分散シフトファイバ５を伝搬している間は分散が生じ
ない。しかも、前述した通り、分散シフトファイバ５の
長さは、低コヒーレント光源１から出射される低コヒー
レント光の波長帯の光に対して光路長が局発光の空間的
な光路長と同程度に設定されている。よって、ポート３
ｂから光カプラ３へ入射した反射光の分散値とポート３
ｃから光カプラ３へ入射した局発光ＫＬの分散値とはほ
ぼ同一である。
【００２１】光カプラ３へ入射した反射光ＲＬと局発光
ＫＬとは光カプラ３によって合波される。ここで、測定
光及び反射光の光路と局発光の光路とが同一になれば光
カプラ３内で干渉が生ずる。そして、合波光の内、光カ
プラ３のポート３ｄから出射される合波光を受光信号処
理部１１が備える図示しない受光素子で光電変換して差
動増幅する。
ＫＬとは光カプラ３によって合波される。ここで、測定
光及び反射光の光路と局発光の光路とが同一になれば光
カプラ３内で干渉が生ずる。そして、合波光の内、光カ
プラ３のポート３ｄから出射される合波光を受光信号処
理部１１が備える図示しない受光素子で光電変換して差
動増幅する。
【００２２】以上説明した本発明の第１実施形態におい
ては、分散シフトファイバの光路長を、局発光の空間的
な光路に相当する長さに設定することができれば波長分
散（以下、本発明の実施形態の説明においては、単に分
散と称する）が空間分解能に与える影響を零にすること
ができる。しかしながら、例えば被測定光回路６内に既
に光ファイバ等が付属している場合には、分散の影響を
完全に零とすることはできないが、その影響を少なくす
ることができる。
ては、分散シフトファイバの光路長を、局発光の空間的
な光路に相当する長さに設定することができれば波長分
散（以下、本発明の実施形態の説明においては、単に分
散と称する）が空間分解能に与える影響を零にすること
ができる。しかしながら、例えば被測定光回路６内に既
に光ファイバ等が付属している場合には、分散の影響を
完全に零とすることはできないが、その影響を少なくす
ることができる。
【００２３】図２は、第１実施形態の低コヒーレントリ
フレクトメータを用いて被測定光回路６に対する計測を
行った際の計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は分
散シフトファイバ５を設けない場合の計測結果を示す図
であって、（ｂ）は分散シフトファイバ５を設けた場合
の計測結果を示す図である。尚、図２（ａ）、図２
（ｂ）において、縦軸は得られる信号レベルであり、そ
の単位は［ｄＢ］である。また、横軸は被測定光回路６
内の計測領域の一部を示している。また、図２において
は、局発光の空間的な光路長を７０ｃｍに設定してい
る。
フレクトメータを用いて被測定光回路６に対する計測を
行った際の計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は分
散シフトファイバ５を設けない場合の計測結果を示す図
であって、（ｂ）は分散シフトファイバ５を設けた場合
の計測結果を示す図である。尚、図２（ａ）、図２
（ｂ）において、縦軸は得られる信号レベルであり、そ
の単位は［ｄＢ］である。また、横軸は被測定光回路６
内の計測領域の一部を示している。また、図２において
は、局発光の空間的な光路長を７０ｃｍに設定してい
る。
【００２４】図２（ａ）と図２（ｂ）とを比較すると、
図２（ａ）及び図２（ｂ）ともに反射点がある位置（図
中において符号Ｐ１を付した位置）において、信号レベ
ルがピーク値をとるが、図２（ａ）中に示されたピーク
の幅よりも、図２（ｂ）中に示されたピーク値の幅の方
が狭くなっている。これは、空間分解能が高くなってい
ることを意味する。
図２（ａ）及び図２（ｂ）ともに反射点がある位置（図
中において符号Ｐ１を付した位置）において、信号レベ
ルがピーク値をとるが、図２（ａ）中に示されたピーク
の幅よりも、図２（ｂ）中に示されたピーク値の幅の方
が狭くなっている。これは、空間分解能が高くなってい
ることを意味する。
【００２５】以上説明したように、本発明の第１実施形
態においては、低コヒーレントリフレクトメータ内に設
けられる光ファイバ中を測定光ＤＬ及び反射光ＲＬが伝
搬して生ずる分散値と、光ファイバ及び空間的な光路を
局発光ＫＬが伝搬して生ずる分散値との差を、測定光Ｄ
Ｌ及び反射光ＲＬの光路中に分散シフトファイバ５を設
けることによってほぼ零としている。よって、低コヒー
レントリフレクトメータの空間分解能を高く維持するこ
とができる。
態においては、低コヒーレントリフレクトメータ内に設
けられる光ファイバ中を測定光ＤＬ及び反射光ＲＬが伝
搬して生ずる分散値と、光ファイバ及び空間的な光路を
局発光ＫＬが伝搬して生ずる分散値との差を、測定光Ｄ
Ｌ及び反射光ＲＬの光路中に分散シフトファイバ５を設
けることによってほぼ零としている。よって、低コヒー
レントリフレクトメータの空間分解能を高く維持するこ
とができる。
【００２６】〔第２実施形態〕図３は、本発明の第２実
施形態による低コヒーレントリフレクトメータの概略構
成を示すブロック図であり、図１に示した部材と同一の
部材には同一の符号を付してその説明を省略する。図３
に示した本発明の第２実施形態による低コヒーレントリ
フレクトメータが図１に示した本発明の第１実施形態に
よる低コヒーレントリフレクトメータと異なる点は、図
１中の分散シフトファイバ５が省略されて光ファイバ４
が直接被測定光回路６に接続されている点と、低コヒー
レント光源１と光ファイバ２との間に、光ファイバ２１
及び光バンドパスフィルタ２０が設けられている点であ
る。
施形態による低コヒーレントリフレクトメータの概略構
成を示すブロック図であり、図１に示した部材と同一の
部材には同一の符号を付してその説明を省略する。図３
に示した本発明の第２実施形態による低コヒーレントリ
フレクトメータが図１に示した本発明の第１実施形態に
よる低コヒーレントリフレクトメータと異なる点は、図
１中の分散シフトファイバ５が省略されて光ファイバ４
が直接被測定光回路６に接続されている点と、低コヒー
レント光源１と光ファイバ２との間に、光ファイバ２１
及び光バンドパスフィルタ２０が設けられている点であ
る。
【００２７】かかる構成の本実施形態による低コヒーレ
ントリフレクトメータは、低コヒーレント光源１から出
射される低コヒーレント光のスペクトル幅（半値全幅）
が広いと低コヒーレントリフレクトメータの空間分解能
に影響を与える点に着目し、低コヒーレント光源１から
出射される低コヒーレント光のスペクトル幅（半値全
幅）を狭くして空間分解能への影響を軽減するものであ
る。光バンドパスフィルタ２０は、低コヒーレント光の
スペクトル（半値全幅）幅を狭くするために設けられ
る。
ントリフレクトメータは、低コヒーレント光源１から出
射される低コヒーレント光のスペクトル幅（半値全幅）
が広いと低コヒーレントリフレクトメータの空間分解能
に影響を与える点に着目し、低コヒーレント光源１から
出射される低コヒーレント光のスペクトル幅（半値全
幅）を狭くして空間分解能への影響を軽減するものであ
る。光バンドパスフィルタ２０は、低コヒーレント光の
スペクトル（半値全幅）幅を狭くするために設けられ
る。
【００２８】次に、低コヒーレント光のスペクトル幅
（半値全幅）と低コヒーレントリフレクトメータの空間
分解能との関係について説明する。低コヒーレントリフ
レクトメータを用いた測定法における空間分解能への分
散値の影響は低コヒーレント光源１のスペクトル特性及
び光ファイバ２，４，７，１０等の分散特性から以下の
（１）式に示された通りに近似されることが分かってい
る。
（半値全幅）と低コヒーレントリフレクトメータの空間
分解能との関係について説明する。低コヒーレントリフ
レクトメータを用いた測定法における空間分解能への分
散値の影響は低コヒーレント光源１のスペクトル特性及
び光ファイバ２，４，７，１０等の分散特性から以下の
（１）式に示された通りに近似されることが分かってい
る。
【数１】
【００２９】ここで、上記（１）式中におけるΔｚiは
光ファイバ２，４，７，１０等による分散の影響が全く
ないと仮定したときの低コヒーレントリフレクトメータ
の空間分解能である。この空間分解能Δｚiは以下の
（２）式で与えられる。
光ファイバ２，４，７，１０等による分散の影響が全く
ないと仮定したときの低コヒーレントリフレクトメータ
の空間分解能である。この空間分解能Δｚiは以下の
（２）式で与えられる。
【数２】
上記（２）式において、ｎは光伝送媒質（光ファイバ
２，４，７，１０等）の屈折率であり、λは低コヒーレ
ント光源１の中心波長であり、ΔλはそのＦＷＨＭ（半
値全幅）値である。
２，４，７，１０等）の屈折率であり、λは低コヒーレ
ント光源１の中心波長であり、ΔλはそのＦＷＨＭ（半
値全幅）値である。
【００３０】また、上記（１）式中のＬDは分散長と呼
ばれる分散の影響を表す特徴的な長さであり、以下の
（３）式で与えられる。
ばれる分散の影響を表す特徴的な長さであり、以下の
（３）式で与えられる。
【数３】
上記（３）式において、ｃは光の速さ、Ｄは光ファイバ
の分散パラメータである。更に、上記（１）式中のＬ
は、被測定光回路６内の反射点までの片道長であるが、
本実施形態の低コヒーレントリフレクトメータの構成
上、局発光ＫＬの光路と測定光ＤＬ及び反射光ＲＬの光
路で効果がうち消されるため、これらの光路間に分散値
の差がある区間、即ち空間光路長に相当する区間の長さ
である。
の分散パラメータである。更に、上記（１）式中のＬ
は、被測定光回路６内の反射点までの片道長であるが、
本実施形態の低コヒーレントリフレクトメータの構成
上、局発光ＫＬの光路と測定光ＤＬ及び反射光ＲＬの光
路で効果がうち消されるため、これらの光路間に分散値
の差がある区間、即ち空間光路長に相当する区間の長さ
である。
【００３１】上記（２）式及び（３）式を（１）式に代
入すると、（４）式が得られる。
入すると、（４）式が得られる。
【数４】
上記（４）式から分かるように、光伝送媒質及び光源の
中心波長が設定された場合、光ファイバ２，４，７，１
０等による分散の影響を考慮したときの空間分解能Δｚ
rは測定光ＤＬ及び反射光ＲＬの光路と局発光ＫＬの光
路との間で、分散値が相違する区間の長さ及び低コヒー
レント光源１のスペクトラムの半値全幅に依存してい
る。
中心波長が設定された場合、光ファイバ２，４，７，１
０等による分散の影響を考慮したときの空間分解能Δｚ
rは測定光ＤＬ及び反射光ＲＬの光路と局発光ＫＬの光
路との間で、分散値が相違する区間の長さ及び低コヒー
レント光源１のスペクトラムの半値全幅に依存してい
る。
【００３２】図４は、分散値が相違する区間の長さと空
間分解能Δｚrとの関係を示す図である。図４に示した
ように、分散値が相違する区間の長さが長くなると、比
例的に空間分解能Δｚrの値が大となって、空間分解能
Δｚrが悪化する。また、図５は、低コヒーレント光源
１のスペクトラムの半値全幅と空間分解能Δｚrとの関
係を示す図である。尚、図５は、低コヒーレント光源１
から出射される低コヒーレント光の波長が１．５５μｍ
の場合について図示している。図５に示したように、低
コヒーレント光源１の半値全幅が１８ｎｍ程度の場合に
空間分解能Δｚrが極小となって空間分解能Δｚrが良く
なるが、半値全幅が１０ｎｍ以下になると急激に空間分
解能Δｚrが悪化し、全値半幅が３０ｎｍ程度以上にな
ると緩やかに空間分解能Δｚrが悪化する。
間分解能Δｚrとの関係を示す図である。図４に示した
ように、分散値が相違する区間の長さが長くなると、比
例的に空間分解能Δｚrの値が大となって、空間分解能
Δｚrが悪化する。また、図５は、低コヒーレント光源
１のスペクトラムの半値全幅と空間分解能Δｚrとの関
係を示す図である。尚、図５は、低コヒーレント光源１
から出射される低コヒーレント光の波長が１．５５μｍ
の場合について図示している。図５に示したように、低
コヒーレント光源１の半値全幅が１８ｎｍ程度の場合に
空間分解能Δｚrが極小となって空間分解能Δｚrが良く
なるが、半値全幅が１０ｎｍ以下になると急激に空間分
解能Δｚrが悪化し、全値半幅が３０ｎｍ程度以上にな
ると緩やかに空間分解能Δｚrが悪化する。
【００３３】図４及び図５から分かるように、任意の長
さＬに対して空間分解能を最小にする半値全幅が存在す
る。従って、長さＬが変化する場合に、その変化に対す
る空間分解能の変化を極小にする半値全幅を選択するこ
とが可能である。図６は、半値全幅をある値に設定した
ときの分散値が相違する区間の長さと空間分解能Δｚ r
との関係を示す図である。尚、図６においては、半値全
幅を１０ｎｍに設定し、光ファイバの分散パラメータＤ
を一般的な値として１７ｐｓ／ｋｍ・ｎｍと仮定してい
る。
さＬに対して空間分解能を最小にする半値全幅が存在す
る。従って、長さＬが変化する場合に、その変化に対す
る空間分解能の変化を極小にする半値全幅を選択するこ
とが可能である。図６は、半値全幅をある値に設定した
ときの分散値が相違する区間の長さと空間分解能Δｚ r
との関係を示す図である。尚、図６においては、半値全
幅を１０ｎｍに設定し、光ファイバの分散パラメータＤ
を一般的な値として１７ｐｓ／ｋｍ・ｎｍと仮定してい
る。
【００３４】図６から分かるように、分散値が相違する
区間の長さが変化しても空間分解能Δｚrは殆ど変化し
ない。よって、低コヒーレント光源１から出射される低
コヒーレント光の中心波長が１．５５μｍである場合
に、光バンドパスフィルタ２０の通過特性を、中心波長
に対して±５ｎｍの波長の低コヒーレント光を通過させ
る特性に設定すれば反射鏡９をステージで移動させた場
合であっても空間分解能Δｚrはさほど悪化しない。
区間の長さが変化しても空間分解能Δｚrは殆ど変化し
ない。よって、低コヒーレント光源１から出射される低
コヒーレント光の中心波長が１．５５μｍである場合
に、光バンドパスフィルタ２０の通過特性を、中心波長
に対して±５ｎｍの波長の低コヒーレント光を通過させ
る特性に設定すれば反射鏡９をステージで移動させた場
合であっても空間分解能Δｚrはさほど悪化しない。
【００３５】図７は、第２実施形態の低コヒーレントリ
フレクトメータを用いて被測定光回路６に対する計測を
行った際の計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は光
バンドパスフィルタ２０の通過帯域を中心波長に対して
約±４０ｎｍに設定した場合の計測結果を示す図であっ
て、（ｂ）は光バンドパスフィルタ２０の通過帯域を中
心波長に対して約±７．５ｎｍに設定した場合の計測結
果を示す図である。尚、光バンドパスフィルタ２０の通
過帯域の中心波長は１．５５μｍに設定されている。
フレクトメータを用いて被測定光回路６に対する計測を
行った際の計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は光
バンドパスフィルタ２０の通過帯域を中心波長に対して
約±４０ｎｍに設定した場合の計測結果を示す図であっ
て、（ｂ）は光バンドパスフィルタ２０の通過帯域を中
心波長に対して約±７．５ｎｍに設定した場合の計測結
果を示す図である。尚、光バンドパスフィルタ２０の通
過帯域の中心波長は１．５５μｍに設定されている。
【００３６】図７（ａ）と図７（ｂ）とを比較すると、
図７（ａ）及び図７（ｂ）ともに反射点がある位置（図
中において符号Ｐ２を付した位置）において、信号レベ
ルがピーク値をとるが、図７（ａ）中に示されたピーク
の幅よりも、図７（ｂ）中に示されたピーク値の幅の方
が狭くなっている。これは、空間分解能が高くなってい
ることを意味する。
図７（ａ）及び図７（ｂ）ともに反射点がある位置（図
中において符号Ｐ２を付した位置）において、信号レベ
ルがピーク値をとるが、図７（ａ）中に示されたピーク
の幅よりも、図７（ｂ）中に示されたピーク値の幅の方
が狭くなっている。これは、空間分解能が高くなってい
ることを意味する。
【００３７】以上説明したように、本発明の第２実施形
態においては、低コヒーレントリフレクトメータ内に設
けられる光ファイバ中を測定光ＤＬ及び反射光ＲＬが伝
搬して生ずる分散値と、光ファイバ及び空間的な光路を
局発光ＫＬが伝搬して生ずる分散値との差による空間分
解能Δｚrの悪化を、低コヒーレント光源１から出射さ
れる低コヒーレント光の半値全幅を制限する光バンドパ
スフィルタ２０を設けることにより極力抑えている。よ
って、低コヒーレントリフレクトメータの空間分解能を
高く維持することができる。
態においては、低コヒーレントリフレクトメータ内に設
けられる光ファイバ中を測定光ＤＬ及び反射光ＲＬが伝
搬して生ずる分散値と、光ファイバ及び空間的な光路を
局発光ＫＬが伝搬して生ずる分散値との差による空間分
解能Δｚrの悪化を、低コヒーレント光源１から出射さ
れる低コヒーレント光の半値全幅を制限する光バンドパ
スフィルタ２０を設けることにより極力抑えている。よ
って、低コヒーレントリフレクトメータの空間分解能を
高く維持することができる。
【００３８】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
第１の光経路と第２の光経路との間の波長分散値に相違
がある区間があったとしても、その相違を補償する補償
手段を設けているため。空間分解能に波長分散の影響が
現れず、その結果高い空間分解能を維持することができ
るという効果がある。また、本発明によれば、従来の低
コヒーレントリフレクトメータの第１の光経路内に分散
補償光ファイバを備えるだけで高い分解能を得ることが
できるという効果がある。また、本発明によれば、光源
からの光のスペクトラムの半値全幅を調整する調整手段
を設けて波長分散が空間分解能に与える影響を最小にす
る半値全幅を設定することができるので、空間的な光路
長さが変化した場合であっても、空間分解能が殆ど変化
しないという効果がある。また、本発明によれば、光バ
ンドパスフィルタによって光源からの光のスペクトラム
の半値全幅を調整しているため、波長分散が空間分解能
に与える影響を最小にする半値全幅を簡単な構成で選択
できるという効果がある。
第１の光経路と第２の光経路との間の波長分散値に相違
がある区間があったとしても、その相違を補償する補償
手段を設けているため。空間分解能に波長分散の影響が
現れず、その結果高い空間分解能を維持することができ
るという効果がある。また、本発明によれば、従来の低
コヒーレントリフレクトメータの第１の光経路内に分散
補償光ファイバを備えるだけで高い分解能を得ることが
できるという効果がある。また、本発明によれば、光源
からの光のスペクトラムの半値全幅を調整する調整手段
を設けて波長分散が空間分解能に与える影響を最小にす
る半値全幅を設定することができるので、空間的な光路
長さが変化した場合であっても、空間分解能が殆ど変化
しないという効果がある。また、本発明によれば、光バ
ンドパスフィルタによって光源からの光のスペクトラム
の半値全幅を調整しているため、波長分散が空間分解能
に与える影響を最小にする半値全幅を簡単な構成で選択
できるという効果がある。
【図１】 本発明の第１実施形態による低コヒーレント
リフレクトメータの概略構成を示すブロック図である。
リフレクトメータの概略構成を示すブロック図である。
【図２】 第１実施形態の低コヒーレントリフレクトメ
ータを用いて被測定光回路６に対する計測を行った際の
計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は分散シフトフ
ァイバ５を設けない場合の計測結果を示す図であって、
（ｂ）は分散シフトファイバ５を設けた場合の計測結果
を示す図である。
ータを用いて被測定光回路６に対する計測を行った際の
計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は分散シフトフ
ァイバ５を設けない場合の計測結果を示す図であって、
（ｂ）は分散シフトファイバ５を設けた場合の計測結果
を示す図である。
【図３】 本発明の第２実施形態による低コヒーレント
リフレクトメータの概略構成を示すブロック図である。
リフレクトメータの概略構成を示すブロック図である。
【図４】 分散値が相違する区間の長さと空間分解能Δ
ｚrとの関係を示す図である。
ｚrとの関係を示す図である。
【図５】 低コヒーレント光源１のスペクトラムの半値
全幅と空間分解能Δｚrとの関係を示す図である。
全幅と空間分解能Δｚrとの関係を示す図である。
【図６】 半値全幅をある値に設定したときの分散値が
相違する区間の長さと空間分解能Δｚrとの関係を示す
図である。
相違する区間の長さと空間分解能Δｚrとの関係を示す
図である。
【図７】 第２実施形態の低コヒーレントリフレクトメ
ータを用いて被測定光回路６に対する計測を行った際の
計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は光バンドパス
フィルタ２０の通過帯域を中心波長に対して約±４０ｎ
ｍに設定した場合の計測結果を示す図であって、（ｂ）
は光バンドパスフィルタ２０の通過帯域を中心波長に対
して約±７．５ｎｍに設定した場合の計測結果を示す図
である。
ータを用いて被測定光回路６に対する計測を行った際の
計測結果の一例を示す図であり、（ａ）は光バンドパス
フィルタ２０の通過帯域を中心波長に対して約±４０ｎ
ｍに設定した場合の計測結果を示す図であって、（ｂ）
は光バンドパスフィルタ２０の通過帯域を中心波長に対
して約±７．５ｎｍに設定した場合の計測結果を示す図
である。
【図８】 従来の低コヒーレントリフレクトメータの概
略構成例を示すブロック図である。
略構成例を示すブロック図である。
１ 低コヒーレント光源（光源）
３ 光カプラ（分岐手段、合波手段、合分岐手段）
５ 分散シフトファイバ（補償手段）
６ 被測定光回路
８ コリメートレンズ（反射手段）
９ 反射鏡（反射手段）
１１ 受光信号処理部
２０ 光バンドパスフィルタ（補償手段、調整手段）
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 千田 健司
東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤
電気株式会社内
(72)発明者 高田 和正
東京都千代田区大手町二丁目３番１号
日本電信電話株式会社内
(56)参考文献 特開 平６−331712（ＪＰ，Ａ)
特開2000−97856（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01M 11/00 - 11/08
Claims (4)
- 【請求項１】 光源と、少なくとも４つのポートを有
し、第１のポートから入射する前記光源からの光を分岐
し、分岐した一方の光を測定光として第２のポートから
出射し、且つ分岐した他方の光を局発光として第３のポ
ートから出射するとともに、前記第２のポートから入射
する反射光及び第３のポートから入射する局発光を合波
して第４のポートから出射する光カプラと、 前記第２のポートと被測定光回路との間に配置される分
散シフトファイバと、 前記第３のポートから出射される局発光に対して空間的
な光路を介して反射して、前記第３のポートへ入射させ
る反射手段と、 前記第４のポートから出射される合波光を受光して処理
する受光信号処理部とを具備し、 前記光カプラと前記分散シフトファイバとの間、及び、
前記光カプラと前記反射手段との間は光ファイバにより
接続されており、 前記分散シフトファイバの光路長は、前記反射手段にお
ける前記空間的な光路の光路長とほぼ同一に設定される
ことを特徴とする低コヒーレントリフレクトメータ。 - 【請求項２】 光源と、 前記光源からの光のスペクトラムの半値全幅を調整する
光バンドパスフィルタと、 少なくとも４つのポートを有し、第１のポートから入射
する前記光源からの光を分岐し、分岐した一方の光を測
定光として第２のポートから被測定光回路へ出射し、且
つ分岐した他方の光を局発光として第３のポートから出
射するとともに、前記被測定光回路から前記第２のポー
トを介して入射する反射光及び第３のポートから入射す
る局発光を合波して第４のポートから出射する光カプラ
と、 前記第３のポートから出射される局発光に対して空間的
な光路を介して反射して、前記第３のポートへ入射させ
る反射手段と、 前記第４のポートから出射される合波光を受光して処理
する受光信号処理部とを具備し、 前記光カプラと前記被測定光回路との間、及び、前記光
カプラと前記反射手段との間は光ファイバにより接続さ
れていることを特徴とする 低コヒーレントリフレクトメ
ータ。 - 【請求項３】 前記反射手段は、コリメートレンズと反
射鏡とを備え、 前記コリメートレンズは、前記第３のポートから出射さ
れる光を平行光に変換して前記反射鏡へ入射させるとと
もに、前記反射鏡によって反射された光を集束して前記
第３のポートから前記光カプラへ入射させることを特徴
とする請求項１又は請求項２記載の 低コヒーレントリフ
レクトメータ。 - 【請求項４】 前記反射鏡は移動可能に構成され、前記
コリメートレンズとの距離が可変であることを特徴とす
る請求項３記載の低コヒーレントリフレクトメータ。
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