DE4225996A1 - Infrarot gasanalysator z1 - Google Patents

Infrarot gasanalysator z1

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis

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Description

Die Erfindung betrifft einen Infrarot-Gasanalysator zur konti­ nuierlichen Bestimmung der Konzentration eines mehratomigen nichtelementaren Gases gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein bekannter Gasanalysator (DE 35 06 372 A1) ist als Einstrahl­ photometer ausgebildet.
Nachteilig ist hier, daß die Verschmutzung der Gasküvette für das zu analysierende Gas ein fehlerbehaftetes Empfängersignal durch Änderung der Strahlungsverhältnisse und die Änderung der Strahlungsleistung der Strahlungsquelle durch Umge­ bungstemperatureinfluß fehlerbehaftete Meßergebnisse für die Gaskonzentration des zu analysierenden Gases hervorruft. In der erfindungsgemäß gelösten Aufgabe nach Anspruch 1 wird die Änderung der Strahlungsleistung der Strahlungsquelle (3) durch die Umgebungstemperatur und damit die Änderung der über die Verstärker (16, 17), Gleichrichter (22, 23), Tiefpässe (24, 25) verarbeiteten Ausgangssignale der Strahlungsempfänger (14, 15) mit einem Signal, das am Vorwiderstand (5) der Strahlungsquelle (3) abgegriffen wird und das den Zustand der Strahlungsquelle (3) kennzeichnet, über einen Verstärker (4) den Korrekturschaltungen (26) und (28) oder (1) in Verbindung mit der Quotientenschaltung (27) zugeführt. Bei Verwendung nur der Korrekturschaltung (1) ist der korrigierte Quotient der beiden Empfängersignale bei Verwendung einer Strahlungsquelle mit einer Temperatur von ca. 750 K und Temperaturschwankungen von ± 20 K mit einem Fehler von ca. 3% pro 20 K behaftet. Werden die Korrekturschaltungen (26) und (28) verwendet, läßt sich der Fehler bis unter 0,3% pro 20 K reduzieren. Die Quotientenbildung der verarbeiteten Signale der Empfänger (14, 15) mit Hilfe der Quotientenschaltung (27) bietet den Vorteil, daß bei Verschmutzung der Gasküvette (8) auftretende Änderungen der Signale der Empfänger (14, 15) in die Größe des Quotienten nicht eingehen. Da der Referenzempfänger (14) die Strahlung eines anderen Wellenlängenbandes der Strahlungsquelle (3) mißt als der Empfänger (15) zur Messung der Gaskonzentration des zu analysierenden Gases, ergeben sich bei Änderung der Strah­ lungsleistung der Strahlungsquelle (3) durch die Umgebungstempe­ ratur unterschiedliche Änderungen für die Signale der Empfänger (14, 15).
Nach dem Wien'schen Verschiebungsgesetz ergeben sich bei Änderung der Temperatur eines Strahlers unterschiedliche Intensitätsände­ rungen für die unterschiedlichen Wellenlängen der ausgesendeten Strahlung. Diese Einflüsse sind erfindungsgemäß nach Anspruch 1 korrigiert worden.
Mit einer Referenzspannungsquelle (30) und einem Spannungsteiler (29) kann erreicht werden, daß der Ausgang des Addierers (31) bei nicht vorhandener Konzentration des zu analysierenden Gases den Wert Null liefert. Mit der Quotientenschaltung (20) und einem Sensor (10), der ein Signal für die Gastemperatur in der Gasküvette (8), sowie einem Sensor (11), der ein Signal für den Gasdruck in der Gasküvette (8) liefert, können Druck- und Temperatureinfluß der Gaskonzentration des zu analysierenden Gases so korrigiert werden, daß die am Ausgang der Quotientenschaltung (20) angeschlos­ sene Meßwertanzeige (21) den druck- und temperaturunabhängigen Wert der Gaskonzentration anzeigt.
(7, 9) zeigen die strahlungsdurchlässigen Fenster der Gasküvette (8) (12, 13) zeigen die für unterschiedliche schmalbandige Wellen­ längen durchlässige Interferenzfilter.

Claims (15)

1. Infrarot-Gasanalysator zur kontinuierlichen Bestimmung der Konzentration eines mehratomigen nichtelementaren Gases mit
  • - einer Absorptionsküvette zur Aufnahme des zu analysierenden Gases,
  • - zwei Interferenzfiltern,
  • - einem Strahlungsempfänger zur Messung der Strahlungsabsorption bei Gaskonzentration des zu analysierenden Gases,
  • - einem Strahlungsempfänger zur Bildung eines Referenzsignals
  • - einer Auswerteschaltung, bestehend aus Quotientenschaltung und Addierer,
dadurch gekennzeichnet, daß die, über die Verstärker (16, 17), Gleichrichter (22, 23), Tiefpässe (24, 25) verarbeiteten Signale der Empfänger (14, 15) mit einem, den Zustand der Strahlungsquelle (3) kennzeichnenden, Signal über den Verstärker (4) mit mindestens einer Korrekturschaltung (26), (28), (1) im Zusammenwirken mit der Quotientenschaltung (27) so korrigiert werden, daß der Quotient der korrigierten Signale der Empfänger (14, 15) bei nicht vorhan­ dener Konzentration des zu analysierenden Gases und bei Änderungen der Umgebungstemperatur einen konstanten Wert hat.
2. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle (3) elektrisch durch ein Stellglied (2) getaktet ist.
3. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle (3) durch mechanische Mittel periodisch abgedeckt wird.
4. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal der Quotientenschaltung (27) über einen Spannungsteiler (29) dem Addierer (31) zugeführt wird.
5. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang der Korrekturschaltung (1) über einen Spannungs­ teller (29) dem Addierer (31) zugeführt wird.
6. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer elektrischen Taktung der Strahlungsquelle (3) diese vorgeheizt wird, so daß sich die abgegebene Strahlung zwischen zwei Leistungspegeln bewegt.
7. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Drucksensor (11) den Gasdruck in der Küvette (8) erfaßt und das Drucksignal über den Verstärker (18) mit dem Ausgangs­ signal des Addierers (31) der Quotientenschaltung (20) zugeführt wird, an deren Ausgang die Meßwertanzeige (21) liegt.
8. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Temperatursensor (10) die Temperatur des Gases in der Küvette (8) erfaßt und das Temperatursignal über den Verstärker (19) mit dem Ausgangssignal der Additionsschaltung (31) der Quotientenschaltung (20) zugeführt wird, an deren Ausgang die Meßwertanzeige (21) liegt.
9. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das verstärkte Signal des Temperatursensors (10) in Addition mit dem verstärkten Signal des Drucksensors (11) mit dem Ausgangs­ signal des Addierers (31) in der Quotientenschaltung (20) aus­ gewertet werden, an deren Ausgang die Meßwertanzeige (21) liegt.
10. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das, die Strahlungsleistung kennzeichnende Signal an einem Vorwiderstand (5) abgegriffen wird.
11. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrekturschaltungen (26), (28), (1) Quotientenschaltungen sind.
12. Infrarot-Gasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrekturschaltungen (26), (28), (1) adressierbare Lese­ speicher beinhalten.
13. Infrarotgasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die von der Strahlungsquelle (3) ausgehende Strahlung ein oder mehrere Filter (6) passieren muß.
14. Infrarotgasanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrekturschaltungen (16, 28), (1) Multiplizierer sind.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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