DE4223987C2 - Vorrichtung für großflächiges Ionenätzen - Google Patents

Vorrichtung für großflächiges Ionenätzen

Info

Publication number
DE4223987C2
DE4223987C2 DE4223987A DE4223987A DE4223987C2 DE 4223987 C2 DE4223987 C2 DE 4223987C2 DE 4223987 A DE4223987 A DE 4223987A DE 4223987 A DE4223987 A DE 4223987A DE 4223987 C2 DE4223987 C2 DE 4223987C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
cathode
anode
recipient
gas
etching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE4223987A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4223987A1 (de
Inventor
Bernhard Cord
Helmut Rauner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oerlikon Deutschland Holding GmbH
Original Assignee
Leybold AG
Balzers und Leybold Deutschland Holding AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leybold AG, Balzers und Leybold Deutschland Holding AG filed Critical Leybold AG
Priority to DE4223987A priority Critical patent/DE4223987C2/de
Priority to GB9221969A priority patent/GB2261396B/en
Priority to NL9201938A priority patent/NL9201938A/nl
Priority to JP4300763A priority patent/JPH05222554A/ja
Publication of DE4223987A1 publication Critical patent/DE4223987A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4223987C2 publication Critical patent/DE4223987C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32532Electrodes
    • H01J37/32541Shape

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für großflächi­ ges, homogenes Ionenätzen innerhalb einer Vakuumanlage, welche einen Rezipienten mit einer Gaseinlassöffnung und einer Gasauslassöffnung sowie eine flächenhaft ausgebil­ dete, auf Massepotential befindliche Anode und eine dazu weitgehend parallel angeordnete Kathode hat, wobei der gegenseitige Abstand zwischen der Oberfläche der Kathode und der Anode unterschiedlich ist.
Eine Vorrichtung der vorstehenden Art ist Gegenstand der GB 2 026 369 A. Bei der bekannten Vorrichtung sind die Anode und Kathode kreisförmig ausgebildet. Die Anode trägt die Substrate. Der Querschnitt der Anode nimmt ra­ dial nach außen zu, so dass der Abstand zwischen Anode und Kathode nach außen entsprechend abnimmt. Die Gasaus­ lassöffnung und Gaseinlassöffnung sind koaxial zueinan­ der, zentrisch zu der Anode und Kathode angeordnet.
Die US 4,425,210 beschreibt auch schon eine Vorrichtung zum Ionenätzen, bei der mit einer HF-Spannungsquelle ver­ bundene Kathoden stufenförmige Bereiche haben, so dass ihr jeweiliger Abstand zur Anode stufenförmig nach außen hin abnimmt. Jeweils eine Anode und eine Kathode bilden ein Elektrodenpaar. Die Substrate werden bei dieser Vor­ richtung zwischen den Elektrodenpaaren angeordnet, so dass sich durch die stufenförmigen Bereiche nicht der Ab­ stand zwischen den Kathoden und den Substraten verändert.
Vorrichtungen, die zum Ionenätzen geeignet sind und in­ nerhalb von Vakuumanlagen betrieben werden, in denen ebenso Sputterprozesse durchführbar sind, sind beispielsweise auch aus den Druckschriften DE 22 41 229 C2 und DE 21 49 606 bekannt. Hier sind Vorrichtungen beschrieben, die neben der Sub­ stratbeschichtung mittels Kathodenzerstäubung durch bloßes Umpolen der Elektroden auch Ionenätzen ermög­ lichen.
In der DE 22 41 229 C2 wird zum Ionenätzen von Substraten durch eine Glimmentladung ein sogenanntes geschlossenes System beschrieben, innerhalb dessen sich ein Plasma aus­ bildet, das für den Materialabtrag auf dem Substrat er­ forderlich ist und von den Elektrodenflächen weitgehend umschlossen wird. Ein steter Gasaustausch innerhalb des Plasmavolumens findet dabei nicht statt. Die Aufrechter­ haltung eines stabilen Plasmas innerhalb der geschlossenen Ätzkammer erfordert jedoch zum einen einen hochpräzisen mechanischen Einschluß, d. h. eine hochgenaue gegenseitige Anbringung der Elektrodenflächen unter Berücksichtigung genau einzuhaltender Abstandserfordernisse und zum anderen eine präzise Einstellung der Potentialverhältnisse zwi­ schen der auf Masse liegenden Kathode, an der das zu ätzende Substrat angebracht ist und der darüber befind­ lichen Anode.
Ferner ist zum gleichmäßigen Materialabtrag von der Sub­ stratfläche eine weitgehend homogene Verteilung der Plas­ madichte oberhalb des Substrats notwendig. In Verbindung mit dem herrschenden Potentialgefälle können sich aber auch durchaus unterschiedliche Ätzraten aufgrund lokaler Unterschiede in den für den Ätzprozeß bestimmenden Para­ metern (z. B. Plasmadichte, Elektrodenabstand und Span­ nungsverhältnis) auf der Substratoberfläche ausbilden.
Mit den an sich bekannten Ätzvorrichtungen, wie sie bei­ spielsweise in den vorgenannten Druckschriften beschrieben sind, können weitgehend homogene Ätzraten auf scheiben­ förmigen Substratkörpern mit einem Durchmesser von bis zu 150 mm erzielt werden. Größere Substratflächen sind jedoch mit den bisher bekannten Ätzvorrichtungen nicht in der beschriebenen Gleichmäßigkeit ätztechnisch zu behandeln, da insbesondere an den Substratrandbereichen eine ge­ ringere Abtragerate auftritt als im Mittelbereich des Substrats. Dies liegt hauptsächlich daran, daß sich das Plasma an den Substratrandbereichen aufgrund von Plasma­ ausflüssen erheblich verdünnt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung für großflächiges, homogenes Ionenätzen innerhalb einer Vakuumanlage mit einem Rezipienten, der Gasein- und Gas­ auslaßöffnungen aufweist, derart weiterzubilden, daß die Aufrechterhaltung eines stabilen Plasmas innerhalb des Rezipientengehäuses vereinfacht wird und die Gleichmäßig­ keit der Abtragerate auch bei größerflächigen Substraten, als die mit den bisher bekannten Ätzvorrichtungen bisher handhabbaren Substrate, gewährleistet werden kann.
Eine erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist im An­ spruch 1 angegeben. Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Erfindungsgemäß ist eine Vorrichtung für großflächiges, homogenes Ionenätzen innerhalb einer Vakuumanlage mit einem Rezipienten, der Gasein- und Gasauslaßöffnungen aufweist, mit wenigstens einer flächenhaft ausgebildeten und auf Massepotential befindlichen Anode und einer dazu weitgehend parallel angeordneten Kathode, die als Substrathalter vorgesehen und mit einer HF-Spannungsquelle ver­ bunden ist, derart angegeben, daß die Anodenoberfläche stufenförmige Bereiche aufweist, die jeweils unterschied­ lich weit von der Kathode beabstandet sind.
Das Prinzip des Ionenätzens mittels einer Vakuumkammer beruht darauf, daß zwischen den zwei Elektrodenflächen, von denen die Kathode den, das Substrat tragenden, nega­ tiven Pol darstellt und die Anode, die flächenhaft der Kathode gegenüberliegend angeordnet ist, Inertgas einge­ leitet wird. Zumeist handelt es sich hierbei um Argon-Gas. Zusätzlich wird an eine der beiden Elektroden eine HF- Hochspannung angelegt, damit das zwischen den Elektroden eingespeiste Inertgas ionisiert wird und sich zu einem sta­ tionären Plasma ausbildet. Die dabei entstehenden posi­ tiven Argon-Ionen werden aufgrund elektrostatischer An­ ziehung in Richtung der negativ geladenen Substratober­ fläche beschleunigt und lösen beim Aufprall auf der Sub­ stratoberfläche in Abhängigkeit von ihrer kinetischen Energie und den energetischen Oberflächenverhältnissen des Sub­ strats eine bestimmte Menge an Substratmaterial aus. In einem offenen System, in dem parallel zur Substratober­ fläche ein Gasstrom aufrecht erhalten wird, werden somit die abgesputterten Substratpartikel auf der Anode abge­ schieden oder, falls gasförmige Verbindungen entstehen, werden diese aus dem Plasmavolumen in den Gasstrom ent­ fernt, wodurch die chemische Zusammensetzung und damit verbunden die elektronischen Verhältnisse innerhalb der Plasmawolke unverändert bleiben.
Prinzipiell richtet sich die Ätzrate nach der pro Zeit auf die Substratoberfläche auftreffenden Argonionenzahl, die sich vornehmlich nach der Anzahl der über der Substratoberfläche befindlichen ionisierten Argonatome richtet. Bei gegebenem Druck des in der Anlage vorhandenen Argongases und gegebener Hochspannung zwischen der Kathode und dem Gegenpotential brennt nur dann ein Plasma, wenn der Ab­ stand zwischen den beiden Potentialen ausreichend groß ist. Der Grund hierfür besteht darin, daß Ionen und Elek­ tronen auf dem Wege zwischen den beiden Potentialen Stöße ausführen, bei denen neue Ionen und Elektronen erzeugt werden. Ist die Zahl der Stöße zu klein, beispielsweise bei zu geringem Druck oder zu geringem Abstand zwischen den beiden Potentialen, dann ist die Ionen-Elektronen­ konzentration zu gering und das Plasma erlischt.
Will man umgekehrt vermeiden, daß zwischen zwei Flächen, von denen eine Hochspannung führt, ein Plasma brennt, so müssen diese Flächen so nahe zusammengerückt werden, daß nur wenig Elektronen-Ionen-Paare entstehen. Allein diese Überlegung zeigt bereits, daß man durch Variation des Abstandes zwischen den sich gegenüberliegenden Elektroden einen genau einzustellenden Regelparameter besitzt, um die Ätzrate auf der Substratoberfläche beliebig wählen zu können.
Die Erfindung wird nachstehend ohne Beschränkung des all­ gemeinen Erfindungsgedankens anhand von Ausführungsbei­ spielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung exemplarisch beschrieben, auf die im übrigen bezüglich der Offenbarung aller im Text nicht näher erläuterten erfindungsgemäßen Einzelheiten ausdrücklich verwiesen wird. Es zeigen:
Fig. 1 einen Querschnitt durch ein, die erfindungsge­ mäßen Elektroden aufweisendes Rezipientenge­ häuse,
Fig. 2 eine Draufsicht auf die erfindungsgemäße Stufen­ anode.
Fig. 3 einen weiteren Querschnitt durch ein, die erfindungsgemäßen Elektroden aufweisendes Rezipientengehäuse.
Die in Fig. 1 dargestellte Seitenansicht eines Rezipi­ entengehäuses, in dem die erfindungsgemäßen Elektroden angeordnet sind, weist eine mittig angeordnete, flächen­ hafte Elektrode 1 auf, die über ein spezielles Hochfre­ quenzanpassungsnetzwerk 5 mit einer HF-Quelle 7 mit Hoch­ spannung versorgt wird. Ihr gegenüberliegend innerhalb des Rezipientengehäuses 4 befindet sich eine stufenförmig ausgebildete Gegenelektrode 3, die vorzugsweise auf Masse­ potential liegt. Die Elektrode 1 ist dabei durch einen Kondensator mit der HF-Quelle 7 gekoppelt, ansonsten aber gegen Erdpotential isoliert ausgeführt, so daß die Elek­ trode 1 ein gegen Erdpotential von Null verschiedenes Potential aufweisen kann. Ferner weist die Elektrode 1 gegenüber der Elektrode 3 und dem Rezipientengehäuse 4 eine kleinere Oberfläche auf, so daß die Elektrode 1 stets negativ vorgespannt ist, wenn ein Plasma in dem Rezipi­ enten R gezündet wird. Durch ein Gaseinlaßventil 2 tritt Argongas in das Innere des Rezipienten R ein, überströmt dabei die Elektrodenanordnung und wird auf der gegenüber­ liegenden Seite durch ein geeignet angebrachtes Gasaus­ laßventil 6 durch eine entsprechende Vakuumpumpe (nicht dargestellt) wieder abgepumpt. Der Gaseinlaß 2 in den Re­ zipienten R ist durch ein zusätzlich angebrachtes Fluß­ meter (ebenfalls nicht dargestellt) regelbar. Der sich im Rezipienten R dabei einstellende Arbeitsdruck beträgt zwischen 10-3 und 10-2 hPa. Wegen der zwischen den Elektroden 1 und 3 anliegenden Hochspannung werden die im Zwischenraum der Elektroden befindlichen Argon-Atome ionisiert und auf die Substratoberfläche beschleunigt. Dort lösen sie aufgrund ihrer hohen kinetischen Energie in Form von Stoßprozessen Substratpartikel aus. Diese Sub­ stratpartikel werden entweder auf der gegenüberliegenden Anode erneut abgeschieden oder, falls diese mit einem zu­ gesetzten Reaktivgas eine gasförmige Verbindung eingehen durch Abpumpen aus dem Rezipienten R entfernt. Der offene Aufbau mit stetiger Gaszuführung und Gasentfernung gewähr­ leistet folglich eine weitgehend konstante Gaszusammen­ setzung innerhalb des Rezipienten R.
Die Stufenanordnung der Ätzanode 3 ist dabei derart kon­ zipiert, daß sie in der in Fig. 1 dargestellten Ausführungs­ form im Bereich des Gaseinlasses am weitesten von der Kathode beabstandet ist, da dort die frisch in das Rezi­ pientengehäuse eingeleiteten Argonatome zunächst erst ionisiert werden müssen, damit sie zum Ätzprozeß beitragen können. Erst nach einer Mindestverweildauer zwischen den Elektrodenplatten werden die Argonatome durch Stoßprozesse ionisiert, was dazu führt, daß die Argonionenkonzentration im Bereich des Gaseinlasses geringer ist als im Bereich des Gasauslasses. Ferner ist bekannt, daß die Ätzrate abhängig ist von dem Arbeitsdruck, so daß bedingt durch lokal unterschiedliche Arbeitsdrücke, z. B. im Bereich des Gaseinlasses 2 oder -auslasses 6, unterschiedliche Ätzraten auftreten können. Um diese genannten unerwünschten Effekte zu vermeiden und im gesamten Bereich der Substratfläche eine einheitliche Ätzrate zu erzielen, wird - wie bereits beschrieben - der gegenseitige Elektrodenabstand in Be­ reichen zunehmender Argonionenkonzentration verringert. Dies führt schließlich zu einer Stufenstruktur der Ätzanode, wie sie in Fig. 1 dargestellt ist.
Fig. 2 stellt die Draufsicht auf die erfingungsgemäße flächenhafte Stufenstruktur der Anode dar, wie sie bei­ spielsweise in Fig. 1 im Querschnitt wiedergegeben ist. Die treppenförmige Gestaltung der Oberfläche der Anode 3 erzeugt stufenförmige Bereiche 8, die in der Fig. 2 je­ weils durch "Höhenlinienzüge" voneinander getrennt sind. Ein die quadratische Anode 3 der Kantenlänge L, um­ gebender Rahmen 9 sorgt für eine geeignete Positionierung der Anode 3 innerhalb des Rezipientengehäuses 4.
Natürlich sind davon abweichende Stufenformanordnungen denkbar, so z. B. eine Stufenüberhöhung im Mittelbereich der Elektrodenanordnung, die zu den Randbereichen hin jeweils abfällt. Eine derartige erfindungsgemäße Anoden­ ausgestaltung gibt Fig. 3 wieder. Man hat erkannt, daß die Plasmaausdünnung speziell in den Randbereichen dadurch verringert werden kann, wenn die Elektrodenbeabstandung stufenweise zu den Randbereichen vergrößert wird. Durch eine stufenpyramidenförmige Anodenstruktur mit beliebig vielen Stufenbereichen 8' kann somit der Plasmaausdünnung entgegengewirkt werden.
Grundsätzlich kann mit der erfindungsgemäßen Ausgestaltung der Ätzanode die lokale Ätzrate durch eine Variation in der Elektrodenbeabstandung individuell eingestellt werden. Somit ist es zum ersten Mal möglich, quadratische Substrat­ flächen mit einer Seitenlänge von bis zu 50 cm in einem bisher unerreichbar homogenen Maße zu ätzen.
Gerade die Herstellung von Halbleiterbausteinen in großer Stückzahl erfordert eine nach den Maßstäben der Massenproduktion ausgelegte Prozeßführung. Um den Wechsel einer Ätzcharge zur nächsten so schnell wie möglich vornehmen zu können, ist die Kathode mit den an ihr befestigten Sub­ straten beweglich gelagert, so daß sie in die Ätzkammer fahrbar ist. Dies erleichtert erheblich den Substrat­ wechsel und sorgt für eine weitgehend optimale Ausnutzung der Ätzanlage, was sich letztlich kostenmindernd auf die Produktion auswirkt.
Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung kann die Ätztechnik derart weitergebildet werden, daß kostengünstig groß­ flächige Substrate in gewünschter Weise homogen bearbeitet werden können.

Claims (7)

1. Vorrichtung für großflächiges, homogenes Ionenätzen innerhalb einer Vakuumanlage, welche einen Rezipienten (R) mit einer Gaseinlassöffnung (2) und einer Gasaus­ lassöffnung (6) sowie eine flächenhaft ausgebildete, auf Massepotential befindliche Anode (3) und eine dazu weit­ gehend parallel angeordneten Kathode (1) hat, wobei der gegenseitige Abstand zwischen der Oberfläche der Kathode (1) und der Anode (3) unterschiedlich ist, dadurch ge­ kennzeichnet, dass die Kathode (1) als mit einer HF-Span­ nungsquelle (7) verbundener Substrathalter ausgebildet ist, dass die Gaseinlassöffnung (2) nahe eines Randes und die Gasauslassöffnung (6) nahe des gegenüberliegenden Randes der Anode (3) und Kathode (1) vorgesehen ist und zur Abstandsänderung die Oberfläche der Anode (3) stufen­ förmige Bereiche (8) hat, die jeweils unterschiedlich weit von der Kathode (1) beabstandet sind, und dass die Vorrichtung zwei sich flächenhaft gegenüberliegende An­ oden (3, 3') hat und die Kathode (1) in der Ebene mittle­ ren Abstands zwischen beiden Anoden (3, 3') vorgesehen ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Anoden (3, 3') und die Kathode (1) quadratisch sind und eine Seitenlänge (L) von bis zu 50 cm aufweisen.
3. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 oder 2, dadurch ge­ kennzeichnet, dass im Bereich des Gaseinlasses (2) der Abstand zwischen der Kathode (1) und zumindest einer An­ ode (3, 3') am größten und im Bereich des Gasauslasses (6) am geringsten ist.
4. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 oder 2, dadurch ge­ kennzeichnet, dass der Mittenbereich zumindest einer An­ ode (3, 3') stufenförmige Abschnitte (8') aufweist, die zur Kathode (1) einen kleineren Abstand aufweisen als de­ ren Randbereiche.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Arbeitsdruck innerhalb des Rezi­ pienten 10 -3 und 10 -2 hPa beträgt.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Kathode (1) zur Bestückung mit Substraten verfahrbar angeordnet ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Kathode (1) über ein HF-Anpas­ sungsnetzwerk (5) mit der HF-Spannungsquelle (7) verbun­ den ist.
DE4223987A 1991-11-13 1992-07-21 Vorrichtung für großflächiges Ionenätzen Expired - Fee Related DE4223987C2 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4223987A DE4223987C2 (de) 1991-11-13 1992-07-21 Vorrichtung für großflächiges Ionenätzen
GB9221969A GB2261396B (en) 1991-11-13 1992-10-20 A device for large-area ion etching
NL9201938A NL9201938A (nl) 1991-11-13 1992-11-05 Inrichting voor het ionenetsen over een groot oppervlak.
JP4300763A JPH05222554A (ja) 1991-11-13 1992-11-11 大面積加工物表面イオンエッチング用装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4137257 1991-11-13
DE4223987A DE4223987C2 (de) 1991-11-13 1992-07-21 Vorrichtung für großflächiges Ionenätzen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4223987A1 DE4223987A1 (de) 1993-05-19
DE4223987C2 true DE4223987C2 (de) 2001-07-05

Family

ID=6444667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4223987A Expired - Fee Related DE4223987C2 (de) 1991-11-13 1992-07-21 Vorrichtung für großflächiges Ionenätzen

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5292394A (de)
DE (1) DE4223987C2 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6228438B1 (en) * 1999-08-10 2001-05-08 Unakis Balzers Aktiengesellschaft Plasma reactor for the treatment of large size substrates
US6754536B2 (en) 2001-01-31 2004-06-22 Medtronic, Inc Implantable medical device affixed internally within the gastrointestinal tract
US20030144708A1 (en) * 2002-01-29 2003-07-31 Starkebaum Warren L. Methods and apparatus for retarding stomach emptying for treatment of eating disorders
JP4710020B2 (ja) * 2003-09-10 2011-06-29 エリコン・ソーラー・アクチェンゲゼルシャフト,トリュープバッハ 真空処理装置およびそれを用いた処理方法
US7449220B2 (en) * 2004-04-30 2008-11-11 Oc Oerlikon Blazers Ag Method for manufacturing a plate-shaped workpiece

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2149606A1 (de) * 1971-10-05 1973-04-12 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Vorrichtung zur beschichtung von substraten durch hochfrequenz-kathodenzerstaeubung
GB2026369A (en) * 1978-07-27 1980-02-06 Eaton Corp Plasma etching apparatus
DE2241229C2 (de) * 1972-08-22 1983-01-20 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Vorrichtung zum Ätzen von Substraten durch eine Glimmentladung
US4425210A (en) * 1980-11-04 1984-01-10 Fazlin Fazal A Plasma desmearing apparatus and method
EP0323620A2 (de) * 1987-12-25 1989-07-12 Tokyo Electron Limited Ätzverfahren und -gerät
EP0327253A2 (de) * 1988-02-01 1989-08-09 MITSUI TOATSU CHEMICALS, Inc. Filmherstellung, zum Beispiel von amorphem Silizium

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5512733A (en) * 1978-07-14 1980-01-29 Anelva Corp Dry process etching device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2149606A1 (de) * 1971-10-05 1973-04-12 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Vorrichtung zur beschichtung von substraten durch hochfrequenz-kathodenzerstaeubung
DE2241229C2 (de) * 1972-08-22 1983-01-20 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Vorrichtung zum Ätzen von Substraten durch eine Glimmentladung
GB2026369A (en) * 1978-07-27 1980-02-06 Eaton Corp Plasma etching apparatus
US4425210A (en) * 1980-11-04 1984-01-10 Fazlin Fazal A Plasma desmearing apparatus and method
EP0323620A2 (de) * 1987-12-25 1989-07-12 Tokyo Electron Limited Ätzverfahren und -gerät
EP0327253A2 (de) * 1988-02-01 1989-08-09 MITSUI TOATSU CHEMICALS, Inc. Filmherstellung, zum Beispiel von amorphem Silizium

Also Published As

Publication number Publication date
US5292394A (en) 1994-03-08
DE4223987A1 (de) 1993-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4109619C1 (de)
EP0205028B1 (de) Vorrichtung zum Aufbringen dünner Schichten auf ein Substrat
DE4025396A1 (de) Einrichtung fuer die herstellung eines plasmas
DE69623206T2 (de) In Situ Entsorgung von Kontaminierungsstoffe von den Innenoberflächen eines Ionenimplantierers
EP0003020B1 (de) Hochfrequenz-Zerstäubungsvorrichtung
DE4301189C2 (de) Vorrichtung zum Beschichten von Substraten
EP0235770B1 (de) Vorrichtung zur Plasmabehandlung von Substraten in einer durch Hochfrequenz angeregten Plasmaentladung
DE69922816T2 (de) Oberflächenbehandlung mittels physikalischer dampfabscheidung mit kompensierung der ungleichförmigkeit
DE4039930A1 (de) Vorrichtung fuer plasmabehandlung
DE3709175A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum aufstaeuben hochohmiger schichten durch katodenzerstaeubung
EP0021140A1 (de) Ionenquelle in einer Vakuumkammer und Verfahren zum Betrieb derselben
DE4118973A1 (de) Vorrichtung zur plasmaunterstuetzten bearbeitung von substraten
DE3706698C2 (de) Verfahren und Anordnung zum Zerstäuben eines Materials mittels Hochfrequenz
EP0090067B1 (de) Reaktor für das reaktive Ionenätzen und Ätzverfahren
WO2006000862A1 (de) Beschichtungsvorrichtung zum beschichten eines substrats, sowie ein verfahren zum beschichten
DE4230291C2 (de) Mikrowellenunterstützte Zerstäubungsanordnung
DE112010002029T5 (de) Filmbildungsverfahren und Filmbildungsvorrichtung
DE1515300A1 (de) Vorrichtung zur Herstellung hochwertiger duenner Schichten durch Kathodenzerstaeubung
DE4223987C2 (de) Vorrichtung für großflächiges Ionenätzen
DE4233895C2 (de) Vorrichtung zur Behandlung von durch einen Wickelmechanismus bewegten bahnförmigen Materialien mittels eines reaktiven bzw. nichtreaktiven, durch Hochfrequenz- oder Pulsentladung erzeugten Niederdruckplasmas
DE2241229C2 (de) Vorrichtung zum Ätzen von Substraten durch eine Glimmentladung
DE102013208771B4 (de) Verfahren zur Beeinflussung der Schichtdickenverteilung auf Substraten und Verwendung einer Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE2115590A1 (en) Cathode sputtering device - has cathode with projecting rim
DE3241391A1 (de) Hochfrequenz-aetztisch mit elektrisch vorgespanntem einfassungteil
DE102005049266B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Plasmabehandlung von Objekten

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: BALZERS UND LEYBOLD DEUTSCHLAND HOLDING AG, 63450

8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: UNAXIS DEUTSCHLAND HOLDING GMBH, 63450 HANAU, DE

8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee