DE4223616C1 - Verfahren zur Herstellung hohler Mikrostrukturen, die einseitig mit einer Membran verschlossen sind - Google Patents
Verfahren zur Herstellung hohler Mikrostrukturen, die einseitig mit einer Membran verschlossen sindInfo
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- 239000012528 membrane Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 8
- 230000008021 deposition Effects 0.000 title abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 claims 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 27
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 27
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 16
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001015 X-ray lithography Methods 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 1
- -1 urethane methacrylate ester Chemical class 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D1/00—Electroforming
- C25D1/02—Tubes; Rings; Hollow bodies
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F04—POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
- F04B—POSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
- F04B43/00—Machines, pumps, or pumping installations having flexible working members
- F04B43/02—Machines, pumps, or pumping installations having flexible working members having plate-like flexible members, e.g. diaphragms
- F04B43/04—Pumps having electric drive
- F04B43/043—Micropumps
- F04B43/046—Micropumps with piezoelectric drive
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0042—Constructional details associated with semiconductive diaphragm sensors, e.g. etching, or constructional details of non-semiconductive diaphragms
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung hohler
Mikrostrukturen, die auf einer Seite mit einer Membran ver
schlossen sind, nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Aus der EP 0 104 685 A2 ist ein Verfahren zur Herstellung einer
Maske für die Mustererzeugung in der Röntgentiefenlithographie
bekannte. Dabei werden die Absorber für die Maske (=
Mikrostrukturen) auf drei Trägerschichten aufgebaut. Das
Ergebnis des Verfahrens ist dann die auf einer Seite offene
Mikrostruktur auf einer Trägermembran.
Nachteilig bei diesem Verfahren ist, daß die Mikrostrukturen
zu einer Seite hin vollkommen offen bleiben, wodurch die Ver
wendung der Mikrostrukturen z. B. als Drucksensor nicht möglich
ist. Ein Verschließen der Mikrostrukturen mit einer Abdeck
platte ist oft nicht möglich, weil die Oberfläche der Mi
krostrukturen hierfür zu uneben ist. Eine Bearbeitung der
Oberfläche der Mikrostrukturen ist jedoch nicht ohne weiteres
möglich, da die Mikrostrukturen und die oberste Trägerschicht
durch diese Bearbeitung beschädigt werden könnten.
In Sensors and Actuators, 15 (1988) 153-167 wird von H.T.G.
van Lintel und F.C.M. van de Pol ein Herstellungsverfahren für
eine Mikropumpe beschrieben, bei dem eine Siliziumscheibe
strukturiert wird und die Strukturen auf einer Seite mit einer
Glasmembran und auf der anderen Seite mit einer Glasscheibe
verschlossen werden.
Nachteilig bei diesem Verfahren ist, daß das nachträgliche
Verschließen einer Mikrostruktur mit einer dünnen Membran nur
sehr schwer möglich ist, ohne daß sich die Membran wellt.
Außerdem läßt sich die innere mechanische Spannung in der Mem
bran, die bei manchen Anwendungen genau eingestellt werden
muß, auf diese Weise nur sehr schwer in der gewünschten Weise
beeinflussen.
Die Erfindung hat die Aufgabe, ein Verfahren der gattungsge
mäßen Art so zu modifizieren, daß hohle Mikrostrukturen herge
stellt werden können, die auf einer Seite mit einer dünnen
Membran verschlossen sind und die sich auf einfache Weise her
stellen lassen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den kennzeichnenden
Teil des Patentanspruchs 1 gelöst. Die Unteransprüche geben
vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung wieder.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 1 bis 4 und
zweier Ausführungsbeispiele näher erläutert.
Die Fig. 1 bis 4 zeigen 4 Fertigungsstufen des ersten An
wendungsbeispiels.
Die Fig. 1 zeigt schematisch den Grundaufbau der Schichten
für die Herstellung der Strukturen vor der eigentlichen Struk
turierung.
Eine Siliziumscheibe 1 ist mit einer Trennschicht 2 aus Koh
lenstoff versehen, wobei ein dünner Rand 1a der Silizium
scheibe von der Trennschicht 2 unbedeckt bleibt. Darauf folgt
eine Titanschicht 3, auf die eine röntgenempfindliche Resist
schicht 4 aufgepreßt ist, deren Dicke durch Abstandsstreifen 5
definiert ist.
Das erste Anwendungsbeispiels beschreibt ein Verfahren, mit
dem die mit einer Titanmembran verschlossene Pumpenkammer als
Teil einer Mikropumpe hergestellt wurde. Wie bei dem in EP
0 104 685 A2, beschriebenen Verfahren wurde eine Siliziumscheibe 1
mit einem Durchmesser von 100 mm und einer Dicke von 625 µm
mit einer ca. 100 nm dünnen Trennschicht 2 aus Kohlenstoff
versehen. Dabei blieb ein ca. 3 mm breiter Rand 1a der Silizi
umscheibe vom Kohlenstoff unbedeckt. Auf die Siliziumscheibe
wurde durch Kathodenzerstäubung mit einer Magnetronanlage eine
2,7 µm dünne Titanschicht 3 aufgebracht. Durch eine halbstün
dige Erwärmung auf 450°C wurde in der Titanschicht eine in
nere mechanische Zugspannung von 200 N/mm2 eingestellt. Trotz
dieser Zugspannung und der Trennschicht 2 löste sich die
Titanschicht 3 nicht von der Siliziumscheibe 1 ab, da sie am
Rand direkt mit ihr verbunden war. Um andere innere Spannungen
in der Titanschicht 3 zu erzeugen, muß die Titanschicht auf
eine andere Temperatur erwärmt werden. So führt eine halbstün
dige Erwärmung auf 500°C zu einer Zugspannung von 450 N/mm2
und eine ebensolange Erwärmung auf 400°C zu 80 N/mm2 Zugspan
nung. Eine Spannung von 200 N/mm2 ist einerseits klein genug,
um eine leichte Beweglichkeit der späteren Pulpenmembran zu
gewährleisten, und andererseits groß genug, um die spätere
Trennung zwischen Siliziumscheibe 1 und Titanschicht 3 zu er
möglichen. Eine höhere innere Zugspannung der Titanschicht 3
führt dazu, daß die Pumpenmembran nur mit sehr hohen Drücken
ausgelenkt werden kann. Eine geringere Zugspannung als 200 N/mm2
vermindert die Ausbeute bei der späteren Trennung von
Siliziumscheibe 1 und Titanschicht 3.
Auf der Titanschicht wurde mit den bekannten Methoden des
LIGA-Verfahrens (E.W. Becker et al, Microelectronic Enginee
ring 4 (1986) Seiten 35 bis 56) Mikrostrukturen aus Kupfer so
hergestellt, daß sich später einseitig mit einer Membran
verschlossene Pumpenkammer ergaben. Zur Herstellung der
Mikrostrukturen wurde zunächst ein ca. 100 µm dicker, röntgen
empfindlicher Resist 4 auf die Titanschicht aufgepreßt und
auspolymerisiert. Die Dicke der aufgepreßten Resistschicht
wurde dabei durch die Dicke von Abstandsstreifen 5 definiert,
die auf die Titanschicht aufgelegt wurden. Dabei erwies es
sich als Vorteil, wenn die Trennschicht 2 zwischen Silizium
scheibe 1 und Titanschicht 3 auf einen kleineren Bereich be
grenzt wurde, so daß die Abstandsstreifen in einem Bereich der
Titanschicht aufgelegt werden konnten, der direkt mit der
Siliziumscheibe 1 verbunden war. So konnte verhindert werden,
daß nach der Beschichtung mit den Abstandsstreifen 5 auch ein
Teil der Titanschicht 3 entfernt wurde, der möglicherweise an
den Streifen 5 hängen blieb.
Die Fig. 2 zeigt den Schichtaufbau nach erfolgter Struktu
rierung. Die Resistschicht 4 ist bereits strukturiert und mit
Kupferstrukturen 6 galvanisch ausgefüllt.
Die strukturierte Resistschicht 4 mit den Kupferstrukturen ist
mit Kunststoff 7 bedeckt.
Nach der Strukturierung des Resistes 4 durch Synchrotronstrah
lung und Entwicklung und nach galvanischen Auffüllen der Re
siststrukturen mit Kupfer erwies es sich als notwendig, die
Oberfläche der Kupferstrukturen 6 zu bearbeiten, da die Ober
fläche nach der galvanischen Abscheidung etwas uneben und rauh
war und deshalb eine lückenlose Verbindung von Mikrostrukturen
6 und einer Abdeckplatte 8 nicht möglich war. Die Oberfläche
der Mikrostrukturen 6 war so ungleichmäßig hoch, daß die Re
siststrukturen 4 stellenweise erst zur Hälfte gefüllt waren,
während sie an anderer Stelle schon bis zum Rand aufgefüllt
waren.
Um eine ebene Oberfläche zu erhalten, mußte deshalb durch eine
Bearbeitung ein großer Teil des Resistes 4 und der Mikrostruk
turen 6 wieder abgetragen werden. Die Strukturierung des Resi
stes ist mit einem hohen Bestrahlungsaufwand an einem Synchro
tron verbunden, der überproportional mit der Dicke des Resi
stes 4 zunimmt. Deshalb erwies es sich als Vorteil, wenn die
Resiststrukturen über die Strukturränder hinaus übergalvani
siert und dann abgeschliffen oder abgefräßt wurden. Dadurch
ergab sich eine besonders ebene Oberfläche der Mikrostruktu
ren, deren Rauhigkeit durch das gewählte Bearbeitungsverfahren
optimal an das spätere Verbindungsverfahren angepaßt werden
konnte. Die Höhe der Kupferstrukturen wurde durch die
Oberflächenbearbeitung auf 50 bis 100 µm eingestellt. In Fig.
3 sind der Übersichtlichkeit halber nur die Strukturen für
zwei Pumpenkammern dargestellt, obwohl viele solcher Struktu
ren gleichzeitig nebeneinander hergestellt werden können.
Empfindliche Strukturen nehmen bei der Bearbeitung ihrer Ober
fläche durch Schleifen oder Fräsen Schaden. Am häufigsten
wurde beobachtet, daß sich die Mikrostrukturen 6 von der
Titanschicht 3 ablösten, oder daß die Titanschicht 3 mit der
Mikrostruktur 6 von der Siliziumscheibe abgelöst wurde. Die
Empfindlichkeit der Mikrostrukturen 6 für eine solche Beschä
digungen war dabei von ihrer Form und Größe und von ihrer Lage
zur Bearbeitungsrichtung abhängig.
Auch empfindliche Mikrostrukturen 6 ließen sich bearbeiten,
wenn sie vor der Bearbeitung in einen Kunststoff 7 eingegossen
wurden. Bei der Bearbeitung wurden dann der Kunststoff 7 und die
Mikrostrukturen 6 gleichzeitig abgetragen, so daß sich eine
geringere Beanspruchung der Mikrostrukturen 6 ergab und auch
empfindliche Mikrostrukturen nicht mehr beschädigt wurden.
Der um die Mikrostrukturen 6 herum verbliebene Resist 4 wurde
durch eine ganzflächige Bestrahlung und Entwicklung entfernt.
Feinmechanisch bearbeitete, ca. 1 mm dicke Plättchen aus Pyrex
glas 8, die so groß waren, daß sie jeweils eine Mikrostruktur
überdecken konnten, wurden auf einer Lackschleuder ca. 10 µm
dick mit einem Klebstoff aus Urethanmethacrylatester beschich
tet und auf die Mikrostrukturen 6 aufgebracht. Der Klebstoff
wurde bei 120°C innerhalb von 30 Minuten in einem Ofen ausge
härtet.
Die Fig. 3 zeigt die nun mit einem Plättchen 8 verschlossenen
Mikrostrukturen, welche nur noch über die Trennschicht 2 mit
der Siliziumscheibe 1 verbunden sind, und die Fig. 4 zeigt
eine einzelne Pumpenkammer.
Die Titanschicht wurde um die Mikrostrukturen herum in den Be
reichen 3a durchtrennt und die mit einer dünnen Membran 3b und
dem Glasplättchen 8 verschlossenen, hohlen Mikrostrukturen 6
wurden von der Siliziumscheibe 1 getrennt.
Es ist auch möglich, viele Mikrostrukturen 6 mit einer großen
Abdeckplatte gemeinsam zu verschließen, die Titanschicht z. B.
durch Auflösen in einer Lösung, die Flußsäure enthält, um die
Mikrostrukturen herum zu durchtrennen und dann alle Mi
krostrukturen gleichzeitig, mit einer Membran verschlossen vom
Substrat zu trennen. Auf diese Weise können viele Pumpenkam
mern gleichzeitig kostengünstig hergestellt werden.
Im zweiten Anwendungsbeispiel wird ein Verfahren beschrieben,
das der Herstellung von Drucksensoren dient, die berührungslos
vermittels Ultraschall ausgelesen werden können. Auf einer Si
liziumscheibe 1 mit 100 mm Durchmesser und einer Dicke von 625
im wird eine 3 m dünne Titanschicht 3 durch Magnetronzerstäu
bung so aufgebracht, daß sich in der Titanschicht 3 eine in
nere Zugspannung von ca. 200 +/- 50 N/mm2 ausbildet.
Auf die Titanschicht 3 wird ein handelsüblicher Fotolack 4 mit
einer Lackschleuder 40 µm dick aufgetragen. Der Fotolack 4
wird über eine Kontaktkopie mit einer Chrommaske belichtet, so
daß nach der Lackentwicklung zusammenhängende wabenförmige
Grabensysteme im Fotolack entstehen, die jeweils von einem
Graben umschlossen werden, mit dem sie in Verbindung stehen.
Viele solcher Systeme können gleichzeitig nebeneinander herge
stellt werden. Diese Grabensysteme werden galvanisch mit Ni
ckel 6 aufgefüllt und über die Strukturränder des Fotolacks
hinaus übergalvanisiert. Die Mikrostrukturen 6 werden in einen
Kunstoff 7 eingegossen und die Oberfläche zusammen mit dem
ausgehärteten Kunstoff bearbeitet, bis sich eine ebene Ober
fläche ergibt. Der verbliebene Fotolack 4 wird entfernt. Die
Breite der Waben beträgt ca. 80 µm, so daß sich bei der inne
ren Spannung, Dichte und Dicke der späteren Membranen für me
chanische Schwingungen eine Resonanzfrequenz im Ultraschallbe
reich ergibt.
Ein mit bekannten Methoden der Feinwerktechnik gefertigtes
Nickelplättchen 8 wird mit Klebstoff beschichtet und auf die
Mikrostrukturen aufgebracht. Der Klebstoff wird in einem Ofen
ausgehärtet. Um die Mikrostrukturen herum wird die Titan
schicht 3 mit einer Lösung aufgelöst, die Flußsäure enthält,
indem die ganze Probe in die Lösung gelegt wird. Die Säure
greift die Titanschicht nur an den frei zugänglichen Bereichen
an, so daß unter den Mikrostrukturen die Titanschicht 3b er
halten bleibt.
Die Trennschicht 2 ermöglicht es dann, die mit den Membranen
3b und den Nickelplättchen 8 verschlossenen Mikrostrukturen 6
von der Siliziumscheibe 1 zu trennen. Die Zugspannung der
Titanmembranen 3b ist abhängig von dem Differenzdruck, der
über Ihnen abfällt. Da die Resonanzfrequenz der Membranen von
ihrer inneren Spannung abhängig sind, ist es nun möglich, über
die Messung der Resonanzfrequenz vermittels Ultraschall auf
den Umgebungsdruck am Ort der Mikrostrukturen zu schließen.
Es ist auch möglich, die Mikrostrukturen 6 mit einer Abdeck
platte zu verbinden, die alle Mikrostrukturen auf dem Substrat
gleichzeitig überdeckt. Auf diese Weise können viele Drucksen
soren gleichzeitig nebeneinander hergestellt werden, so daß
der Fertigungsaufwand für den einzelnen Sensor deutlich ver
ringert wird.
Claims (4)
1. Verfahren zur Herstellung hohler Mikrostrukturen die ein
seitig mit einer Membran verschlossen sind, aus auf einer
Seite offenen Mikrostrukturen (6), die durch galvanische
Abscheidung in eine Resiststruktur (4) auf einer dünnen
Schicht (3) aufgebaut wurden, die sich auf einem Substrat
(1) befindet, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) die Mikrostrukturen (6) über den Rand der Resiststruktur (4) übergalvanisiert werden,
- b) die Oberfläche der Mikrostrukturen (6) abgearbeitet wird, bis sie eben ist,
- c) eine Abdeckplatte (8) so mit den Mikrostrukturen (6) verbunden wird, daß die Mikrostrukturen (6) verschlossen werden,
- d) die dünne Schicht (3) um die Abdeckplatte (8) herum durchtrennt wird und
- e) die dünne Schicht (3) von dem Substrat (1) getrennt wird, auf dem sie sich befand.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Mikrostrukturen (6) nach Verfahrensschritt a) in einen
Kunststoff (7) eingegossen werden, und bei Verfahrens
schritt b) die Oberfläche der Mikrostrukturen (6) zusammen
mit dem Kunststoff (7) abgearbeitet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der dünnen Schicht (3) und dem Substrat (1)
eine Trennschicht (2) angebracht ist.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
Teile der Oberfläche des Substrats (1) von der Trennschicht
(2) frei belassen werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4223616A DE4223616C1 (de) | 1992-07-17 | 1992-07-17 | Verfahren zur Herstellung hohler Mikrostrukturen, die einseitig mit einer Membran verschlossen sind |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4223616A DE4223616C1 (de) | 1992-07-17 | 1992-07-17 | Verfahren zur Herstellung hohler Mikrostrukturen, die einseitig mit einer Membran verschlossen sind |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4223616C1 true DE4223616C1 (de) | 1993-11-25 |
Family
ID=6463495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4223616A Expired - Fee Related DE4223616C1 (de) | 1992-07-17 | 1992-07-17 | Verfahren zur Herstellung hohler Mikrostrukturen, die einseitig mit einer Membran verschlossen sind |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4223616C1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19905006A1 (de) * | 1999-02-08 | 2000-08-10 | Olaf Hohlfeld | Galvanische Herstellung von Membranen |
EP1574833A3 (de) * | 2004-03-12 | 2005-11-30 | General Electric Company | Mikromechanischer Drucksensor |
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-
1992
- 1992-07-17 DE DE4223616A patent/DE4223616C1/de not_active Expired - Fee Related
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8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
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