DE4212751C2 - Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit digitaler Baugruppen - Google Patents
Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit digitaler BaugruppenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Messung der elektromag
netischen Verträglichkeit
digitaler Baugruppen, nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Wegen des sich ständig verringernden Energieniveaus bei
informationsverarbeitenden Systemen sowie der steigenden
Störpegel in Industrieanlagen müssen elektronische
Baugruppen heute hinsichtlich ihrer elektromagnetischen
Verträglichkeit hohe Anforderungen erfüllen. Zur Messung
der elektromagnetischen Verträglichkeit wurden deshalb
spezielle Schaltungen und Prüfverfahren entwickelt. Die
erforderlichen Sensoren werden im Prüfobjekt adaptiert und
wandeln elektrische Störgrößen, Störsignale oder logische
Signale in optische Signale um. Diese werden über Licht
wellenleiter an eine Auswerteeinrichtung übertragen.
Es ist erforderlich, die Schaltung aus möglichst wenigen
Bauelementen aufzubauen, um den Sensor klein zu halten und
ihn so in die oftmals dichtgepackten elektronischen Geräte
rückwirkungsfrei adaptieren zu können. Andererseits be
steht die Forderung, auch Spikes zu erfassen, deren Im
pulsbreite in der Größenordnung einer Nanosekunde liegt.
Es kommen daher bisher nur hochwertige optische Übertra
gungssysteme mit entsprechender Grenzfrequenz in Frage.
Kostengünstige Plast-Lichtwellenleitersysteme sind zum
Übertragen von Spikes nicht anwendbar. Es würden aber
nicht nur Spikes nicht übertragen werden, ab einer be
stimmten Grenzfrequenz würde das Übertragungssystem völlig
undurchlässig. Aufgrund des Tiefpaßcharakters ließe sich
auch nicht unterscheiden, ob eine zu hohe oder keine elek
tromagnetische Beeinflussung vorliegt.
Es wurden zur Abhilfe deshalb bereits Impulsfallen vorge
schlagen, die, wie in DD 279 083 A1 beschrieben wird,
aus einem Flipflop bestehen, dessen Takt- bzw. Setzeingang
mit der Störspannung des Prüflings beaufschlagt wird. Das
Flipflop kann aus einem Monoflop oder einem teilergeschal
teten D-Flipflop bestehen.
Eine Monoflopschaltung wird nur durch eine bestimmte
Flanke geschaltet. Wenn die Abstände zwischen den Mono
floplaufzeiten zu kurz werden, versagt das optische System
ebenfalls.
Bei einem als Teiler geschalteten Flipflop wird die
Störfrequenz um den Teilerfaktor verringert, so daß sich
mit dem optischen System höhere Störfrequenzen übertragen
lassen. Die logische Lage der Eingangsgröße des Sensors
bleibt jedoch unbekannt.
Aus DE 37 42 397 C1 ist ein Netzanalysegerät zur Indikation,
Analyse, Registrierung, Speicherung und Meldung von
elektromagnetischen Störfällen bekannt. Im Gerät wird ein
schaltender Komparator verwendet. Der Komparator besitzt
zwei Eingänge, die so geschaltet sind, daß ein Spitzen
wertdedektor entsteht, d. h. es werden die Spitzenwerte
ausgewertet. Nach der Geräteschaltung wird ein Komparator-
Eingang benutzt, um mit einer Schwellwertspannung die
Komparatorschwelle einzustellen. Durch diese Einstellung
wird eine für die Messung feste Schwelle vorgewählt.
Am zweiten Eingang des Komparators liegt das Eingangssig
nal aus der untersuchten Schaltung an.
Mit dem Netzanalysegerät werden nur Impulse dedektiert, die
die eingestellte Schwelle überschreiten.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, ein geeignetes Ver
fahren incl. einfache, kleinräumige und kostengünstige
Schaltungsanordnung zur Messung der elektromagnetischen
Verträglichkeit vorzuschlagen, die alle Arten von Spikes
sicher einfangen und über ein optisches System phasenrich
tig und logisch richtig übertragen kann.
Eine erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist im
Patentanspruch 1 und 5 angegeben. Weiterbildungen der
Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die zu messende
Störgröße dem Eingang eines Wandlers zugeführt, der die
Störgröße mit einer definierten dynamischen Schaltschwel
le, die ggf. mit einer statischen Schaltschwelle gekoppelt
ist, bewertet und in ein binäres Ausgangssignal wandelt.
Dieses binäre Ausgangssignal wird in einer dem Wandler
nachgeschalteten Schaltung zur Impulsverbreiterung auf
eine auswertbare Weite der Spikes bzw. Impulszüge gedehnt.
In einem sich an die Schaltung zur Impulsverbreiterung
anschließenden digitalen Tiefpaß wird die Frequenz der
auszuwertenden binären Signale bzw. Störgrößen auf eine
mittels optischer Systeme übertragbare Frequenz einge
stellt. Das den digitalen Tiefpaß verlassende auszuwer
tende Signal, das mittels optischer Systeme einer Auswer
teeinheit zugeführt wird, bleibt also in jedem Falle unter
der Grenzfrequenz des jeweiligen optischen Übertragungs
systems. Zu diesem Zweck ist der Ausgang des digitalen
Tiefpasses mit einem optischen Sender verbunden.
In einer erfindungsgemäßen Vorrichtung wird das zu
messende Eingangssignal an den negierenden Setzeingang S1
eines ersten RS-Flipflops gelegt. Der nichtnegierende
Ausgang Q1 ist mit dem negierenden Setzeingang S2, der
negierende Ausgang Q1 mit dem negierenden Rücksetzeingang
R2 eines zweiten RS-Flipflops verbunden. Dessen negierender
Ausgang Q2 ist über ein Tiefpaß-RC-Glied, bestehend aus
dem ohmschen Widerstand R und dem Kondensator C, mit dem
Eingang eines negierenden Schmitt-Triggers N verbunden,
dessen Ausgang an den negierenden Rücksetzeingang R1 des
ersten RS-Flipflops zurückgeführt ist. Der Ausgang A kann
unnegiert am unnegierten Ausgang Q2 und negiert am
negierten Ausgang Q2 des zweiten RS-Flipflops abgegriffen
werden, um einem optischen Sender zugeführt zu werden.
Die Negation im Schaltungszweig zwischen dem Ausgang des
zweiten RS-Flipflops und dem negierenden Rücksetzeingang R1
des ersten RS-Flipflops kann auch durch Wechseln vom
negierten Ausgang Q2 auf den nichtnegierten Ausgang Q2
bewirkt werden. Dabei kann der negierende Rücksetzeingang
R1 des ersten RS-Flipflops ein Schmitt-Trigger-Eingang
sein.
Ein komplementärer Schaltungsaufbau ist möglich.
Die Erfindung soll nachstehend ohne Beschränkung des
allgemeinen Erfindungsgedankens anhand von Ausführungsbei
spielen näher erläutert werden. In den zugehörigen Zeich
nungen zeigen
Fig. 1 das Blockschaltbild des erfindungsgemäßen
Verfahrens,
Fig. 2 eine erste Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Schaltungsanordnung.
Fig. 3 eine zweite Ausführungsvariante der Erfindung und
Fig. 4 ein zu Fig. 2 zugehöriges Impulsdiagramm.
Das Blockschaltbild nach Fig. 1 beschreibt den erfindungs
gemäßen Verfahrensablauf. In einem Wandler W wird die zu
messende Störgröße mit einer definierten dynamischen
Schaltschwelle bewertet und in ein binäres Ausgangssignal
gewandelt. Dieses Ausgangssignal wird in der nachfolgenden
Schaltung zur Impulsverbreiterung SI auf eine auswertbare
Weite des Spikes gedehnt, damit die Spikes bzw.. Impulszüge
mittels eines optischen Systems galvanisch entkoppelt auf
die Auswerteeinheit übertragen werden können. Zur Einhal
tung der vom gewählten optischen System vorgegebenen
Grenzfrequenz für die Signalübertragung dient der digitale
Tiefpaß T.
Als optisches System wird beispielsweise ein Kunststofflicht
wellenleitersystem mit einer Sendediode 3 eingesetzt.
Erfindungsgemäß wird mit einer Schaltungsanordnung nach
Fig. 2 das zu messende Eingangssignal E an den negierenden
Setzeingang S1 eines ersten RS-Flipflops 1 gelegt. Der
nichtnegierende Ausgang Q1 ist mit dem negierenden Setz
eingang S2, der negierende Ausgang Q1 mit dem negierenden
Rücksetzeingang R2 eines zweiten RS-Flipflops 2 verbunden.
Dessen negierender Ausgang Q2 ist über ein Tiefpaß-RC-
Glied, bestehend aus dem ohmschen Widerstand R und dem
Kondensator C, mit dem Eingang eines negierenden Schmitt-
Triggers N verbunden, dessen Ausgang an den negierenden
Rücksetzeingang R1 des ersten RS-Flipflops 1 zurückgeführt
ist. Der Ausgang A kann unnegiert am unnegierten Ausgang
Q2 und negiert am negierten Ausgang Q2 des zweiten RS-
Flipflops 2 abgegriffen werden, um einem optischen Sender
zugeführt zu werden.
Die in Fig. 3 dargestellte Schaltung funktioniert wie die
Schaltungsanordnung nach Fig. 2, nur daß die Negation im
Schaltungszweig zwischen dem Ausgang des zweiten RS-Flip
flops 2 und dem negierenden Rücksetzeingang R1 des ersten
RS-Flipflops 1 durch Wechseln vom negierten Ausgang Q2 auf
den nichtnegierten Ausgang Q2 bewirkt wird. Dabei kann der
negierende Rücksetzeingang R1 des ersten RS-Flipflops 1 ein
Schmitt-Trigger-Eingang sein.
Fig. 4 zeigt die Funktion der Schaltung. Wenn am negieren
den Setzeingang S1 des RS-Flipflops 1 eine LH-Flanke an
liegt (Zeitpunkt t1), wird an seinem nichtnegierenden
Ausgang Q1 ein HL-Übergang entstehen. Sein negierender
Ausgang Q1 verbleibt auf H-Pegel, da der negierende Rück
setzeingang R1 auf L-Pegel bleibt. Somit liegt am negie
renden Setzeingang S2 des zweiten RS-Flipflops 2 eine HL-
Flanke und an seinem negierenden Rücksetzeingang R2 H-
Pegel. Damit schaltet sein nichtnegierender Ausgang Q2 auf
H- und der negierende Ausgang Q2 auf L-Pegel. Diese HL-
Flanke wird durch das RC-Glied um die Zeit T verzögert und
durch den negierenden Schmitt-Trigger N in eine LH-Flanke
umgewandelt. Wenn das Eingangssignal E auf H-Pegel ver
bleibt, ändern sich die logischen Zustände des ersten RS-
Flip-flops 1 und des zweiten RS-Flipflops 2 nicht.
Das Eingangssignal E wurde bis auf die internen Verzöge
rungszeiten der beiden RS-Flipflops 1, 2 ohne weitere
Verzögerung an den nichtnegierenden Ausgang Q2 des zweiten
RS-Flipflops 2, d. h. den Ausgang A durchgeschaltet. Wenn
das Eingangssignal E nach einer Zeit, die größer als das
durch das RC-Glied verursachte Zeitintervall T ist, einen
HL-Übergang besitzt (Zeitpunkt t2), schaltet der nichtne
gierende Ausgang Q1 von L- nach H-Pegel und der negierende
Ausgang Q1 von H- nach L-Pegel. Infolgedessen schaltet der
nichtnegierende Ausgang Q2 des zweiten RS-Flipflops 2 auf
L- und der negierende Ausgang Q2 auf H-Pegel. Diese LH-
Flanke wird durch das RC-Glied um das Zeitintervall T
verzögert und gelangt über den Schmitt-Trigger N negiert
als HL-Flanke an den negierenden Rücksetzeingang R1 des
ersten RS-Flipflops 1. Somit wird der negierende Ausgang
Q1 auf H-Pegel gestellt. In diesem Zustand verbleibt die
Schaltung bis zum nächsten Signalwechsel am Eingang.
Die HL-Flanke am Eingang E wird wiederum bis auf die in
terne Verzögerung an beiden RS-Flipflops 1, 2 ohne weitere
Verzögerung an den Ausgang A geschaltet.
Wenn ein Spike mit steigender Flanke am Eingang E anliegt
(Zeitpunkt t3), erfolgt das Durchschalten der LH-Flanke
analog der zum Zeitpunkt t1. Die Tiefflanke fällt jedoch
in das Zeitintervall T des RC-Gliedes. Der negierende
Rücksetzeingang R1 bleibt für das Zeitintervall fest auf
L-Pegel. Somit bleibt der negierende Ausgang Q1 für die
Zeit fest auf H-Pegel. Der nichtnegierende Ausgang Q1 geht
nur für diese Spike-Zeit auf L-Pegel und setzt damit das
zweite RS-Flipflop 2, so daß der nichtnegierende Ausgang
Q2 H-Pegel und der negierende Ausgang Q2 L-Pegel annehmen.
Zurückgestellt wird das zweite RS-Flipflop 2 erst nach
Ablauf des Zeitintervalls T über die Rückführung. Am Aus
gang A der Schaltung entsteht ein auf das Zeitintervall T
gedehnter Impuls, dessen Vorderflanke bis auf die internen
Verzögerungszeiten der Flipflops mit der Vorderflanke des
Spikes übereinstimmt.
Wenn ein Spike mit fallender Flanke am Eingang E anliegt
(Zeitpunkt t4), erfolgt das Durchschalten der L-Flanke
analog der zum Zeitpunkt t2. Die darauffolgende H-Flanke
fällt jedoch in das Zeitintervall T. Der negierende Rück
setzeingang R1 bleibt für das Zeitintervall T auf H-Pegel.
Das erste RS-Flipflop 1 wird durch den Spike den nichtne
gierenden Ausgang Q1 auf H-Pegel und den negierenden Aus
gang Q1 auf L-Pegel setzen. Damit wird das zweite RS-
Flipflop 2 rückgesetzt. Am nichtnegierenden Ausgang Q2
ensteht L-Pegel. Dieser wird erst aufgehoben, wenn am
negierenden Rücksetzeingang R1 des ersten RS-Flipflops 1
das um das Zeitintervall T verzögerte L-Signal erscheint
und die Ausgänge Q1 auf H-, Q1 auf L-, Q2 auf H- und Q2
auf L-Pegel stellt.
Am Ausgang A der Schaltung entsteht ein auf das Zeitinter
vall T gedehnter Impuls, dessen Vorderflanke bis auf die
internen Verzögerungszeiten der Flipflops mit der Vorder
flanke des Spikes übereinstimmt.
Wenn eine Kette von Spikes oder eine Impulsfolge am Ein
gang E anliegt (Zeitpunkt t5), dessen halbe Periodendauer
kleiner als das Zeitintervall T ist, wird die Frequenz des
Ausgangs A auf die Periodendauer ≧ 2T gewandelt.
Wenn die erste Flanke des am Eingang E anliegenden Impuls
zuges eine fallende ist (Zeitpunkt t5), entsteht für das
Zeitintervall T die Situation wie zum Zeitpunkt t4. Für
diese Zeit können am Eingang E weitere Impulse anliegen,
ohne daß sich der Zustand des ersten RS-Flipflops 1 verän
dert. Eine Änderung kann erst erfolgen, wenn das Zeitin
tervall T abgelaufen ist, der negierende Rücksetzeingang
R1 auf L-Pegel gesetzt ist und am Eingang E der nächste H-
Sprung vorliegt. Durch den damit am nichtnegierenden Aus
gang Q1 anliegenden L-Pegel wird das zweite RS-Flipflop 2
gekippt. Dieses hält seinen Zustand wieder für das Zeitin
tervall T. Denn erst nach dieser Zeit wird der Zustand des
zweiten RS-Flipflops 2 über das RC-Glied, den Schmitt-
Trigger N, den negierenden Rücksetzeingang R1 des ersten
RS-Flipflops 1 auf H-Pegel umschalten. Damit wird der
nächste L-Pegel am Eingang E den negierenden Ausgang Q1
des ersten RS-Flipflops 1 auf L-Pegel stellen und damit
das zweite RS-Flipflop 2 kippen. Eine Grenzfrequenz mit
der Periodendauer ≧ 2T ist damit gegeben.
Claims (8)
1. Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträg
lichkeit digitaler Baugruppen unter Verwendung von Flip
flops, Elementen der Impulsformung, der optischen Übertra
gung und Auswertung,
dadurch gekennzeichnet, daß die zu messende Störgröße einem Wandler (W) zugeführt wird, der die Störgröße mit einer definierten dynamischen Schaltschwelle bewertet und in ein binäres Ausgangssignal wandelt, und
daß jedes binäre Ausgangssignal des Wandlers (W) in einer dem Wandler nachgeschalteten Schaltung zur Impulsverbrei terung (SI) auf eine auswertbare Weite gedehnt wird, und
daß in einem sich an die Schaltung zur Impulsverbrei terung (SI) anschließenden digitalen Tiefpaß (T) die Fre quenz der auszuwertenden binären Signale bzw. Störgrößen so eingestellt wird, daß sie die Grenzfrequenz für die übertragung der Signale mittels eines nachgeschalteten optischen Übertragungssystems zur Auswerteeinheit nicht überschreitet.
dadurch gekennzeichnet, daß die zu messende Störgröße einem Wandler (W) zugeführt wird, der die Störgröße mit einer definierten dynamischen Schaltschwelle bewertet und in ein binäres Ausgangssignal wandelt, und
daß jedes binäre Ausgangssignal des Wandlers (W) in einer dem Wandler nachgeschalteten Schaltung zur Impulsverbrei terung (SI) auf eine auswertbare Weite gedehnt wird, und
daß in einem sich an die Schaltung zur Impulsverbrei terung (SI) anschließenden digitalen Tiefpaß (T) die Fre quenz der auszuwertenden binären Signale bzw. Störgrößen so eingestellt wird, daß sie die Grenzfrequenz für die übertragung der Signale mittels eines nachgeschalteten optischen Übertragungssystems zur Auswerteeinheit nicht überschreitet.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die dynamische Schaltschwelle
mit einer statischen Schaltschwelle gekoppelt ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Funktionen der Schaltung
zur Impulsverbreiterung (SI) und des digitalen Tiefpasses (T)
zusammengefaßt werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Funktionen der Schaltung
zur Impulsverbreiterung (SI), des digitalen Tiefpasses (T)
und des Wandlers (W) zusammengefaßt werden.
5. Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens
nach Anspruch 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - die zu messende Störgröße an den negierenden Setzeingang (S1) eines ersten RS-Flipflops (1) gelegt ist,
- - der nichtnegierende Ausgang (Q1) des ersten RS-Flipflops (1) mit dem negierenden Setzeingang (S2), sein negierender Ausgang (Q1) mit dem negierenden Rücksetzeingang (R2) eines zweiten RS-Flipflops (2) verbunden ist,
- - das Ausgangssignal (A) am nichtnegierenden Ausgang (Q2) des zweiten RS-Flipflops entnommen und über ein Tiefpaß- RC-Glied (R, C) an den negierenden Rückeingang (R1) des ersten RS-Flipflops (1) zurückgeführt ist.
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß der negierende Rücksetzeingang
(R1) des ersten RS-Flipflops (1) ein Schmitt-Trigger-
Eingang ist.
7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß dem Ausgang (A) ein optischer
Sender nachgeschaltet ist.
8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal am
negierenden Ausgang (Q2) des ersten RS-Flipflops (1)
abgenommen und über einen negierenden Schmitt-Trigger (N)
und das RC-Glied (R, C) an den negierenden Rücksetzeingang
(R1) des ersten RS-Flipflops (1) zurückgeführt ist.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19924212751 DE4212751C2 (de) | 1992-04-16 | 1992-04-16 | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit digitaler Baugruppen |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| DE19924212751 DE4212751C2 (de) | 1992-04-16 | 1992-04-16 | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit digitaler Baugruppen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4212751A1 DE4212751A1 (de) | 1993-10-21 |
| DE4212751C2 true DE4212751C2 (de) | 2001-03-01 |
Family
ID=6456954
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19924212751 Expired - Fee Related DE4212751C2 (de) | 1992-04-16 | 1992-04-16 | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit digitaler Baugruppen |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4212751C2 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3680678A1 (de) | 2019-01-14 | 2020-07-15 | PHOENIX CONTACT GmbH & Co. KG | Mess-system zur erfassung von störungen auf leitungen eines gerätes oder einer anlage |
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|---|---|---|---|---|
| DE4417031C1 (de) * | 1994-05-14 | 1995-08-17 | Gunter Dipl Ing Langer | Verfahren zur Bewertung der EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltungen und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD279083A1 (de) * | 1988-12-29 | 1990-05-23 | Buchwitz Otto Starkstrom | Schaltungsanordnung zur pruefung der elektromagnetischen stoerfestigkeit digitaler baugruppen |
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1992
- 1992-04-16 DE DE19924212751 patent/DE4212751C2/de not_active Expired - Fee Related
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| DD279083A1 (de) * | 1988-12-29 | 1990-05-23 | Buchwitz Otto Starkstrom | Schaltungsanordnung zur pruefung der elektromagnetischen stoerfestigkeit digitaler baugruppen |
Non-Patent Citations (1)
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|---|
| TIETZE, U., SCHENK, CHR.: Halbleiterschaltungs- technik, Berlin(u.a.): Springer, 1990, S. 232,233 * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3680678A1 (de) | 2019-01-14 | 2020-07-15 | PHOENIX CONTACT GmbH & Co. KG | Mess-system zur erfassung von störungen auf leitungen eines gerätes oder einer anlage |
| DE102019200333A1 (de) | 2019-01-14 | 2020-07-16 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Mess-System zur Erfassung von Störungen auf Leitungen eines Gerätes oder einer Anlage |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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