DE4207630C2 - Verwendung eines Stereomikroskops - Google Patents

Verwendung eines Stereomikroskops

Info

Publication number
DE4207630C2
DE4207630C2 DE19924207630 DE4207630A DE4207630C2 DE 4207630 C2 DE4207630 C2 DE 4207630C2 DE 19924207630 DE19924207630 DE 19924207630 DE 4207630 A DE4207630 A DE 4207630A DE 4207630 C2 DE4207630 C2 DE 4207630C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
beam path
camera
plane
stereomicroscope
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19924207630
Other languages
English (en)
Other versions
DE4207630A1 (de
Inventor
Volker Heerich
Klemens Kresin
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kappa Messtechnik GmbH
Original Assignee
Kappa Messtechnik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kappa Messtechnik GmbH filed Critical Kappa Messtechnik GmbH
Priority to DE19924207630 priority Critical patent/DE4207630C2/de
Publication of DE4207630A1 publication Critical patent/DE4207630A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4207630C2 publication Critical patent/DE4207630C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
    • G02B21/20Binocular arrangements
    • G02B21/22Stereoscopic arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/04Measuring microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens

Description

Die Erfindung bezieht sich auf die Verwendung eines Stereomikroskops mit zwei Strahlengängen, bei dem in jedem Strahlengang ein Strahlteiler vorgesehen ist.
Stereomikroskope werden normalerweise dazu verwendet, Objekte stereoskopisch zu betrachten. Hierbei ist jeder Strahlengang einem Auge des Betrachters zugeordnet. Dabei kann in jedem Strahlengang ein Strahlteiler vorgesehen sein, hinter den einerseits ein Okular für das Auge des Betrachters und andererseits beispielsweise ein Anschluß für eine Kamera zur Aufnahme des Objekts angeordnet ist. Darüberhinaus sind Meßokulare für Stereomikroskope bekannt, die ein Vermessen des Objekts durch direkten Vergleich mit einer in einer Bildebene angeordneten Skala ermöglichen.
Aus der DE-OS 35 27 074 ist die Verwendung eines Stereomikroskops mit zwei Strahlengängen zur Moir´- Mikroskopie bekannt. Dabei wird über den einen Strahlengang ein Hell-Dunkel-Gitter auf das zu vermessende Objekt projiziert. Über den anderen Strahlengang wird die Projektion des Hell-Dunkel-Gitters auf dem Objekt mit dem Hell-Dunkel- Gitter überlagert und das resultierende Interferenzmuster abgebildet. Eine Beobachtung des Objekts ist nur über den projizierenden Strahlengang möglich, wobei die Sicht zudem stark durch das Hell-Dunkel-Gitter beeinträchtigt ist. Bei Oberflächenvermessungen nach Moir´ sind der projizierende und der abbildende Strahlengang grundsätzlich parallel zueinander ausgerichtet.
Aus der DE-PS 33 27 672 ist ein Stereomikroskop bekannt, bei dem in jedem Strahlengang ein Strahlteiler vorgesehen ist. Hinter beiden Strahlteilern ist eine gemeinsame Lichtquelle angeordnet. Die Lichtquelle dient zur Auflicht-Hellfeld­ beleuchtung.
Es sind sowohl Stereomikroskope mit getrennten Objektiven für beide Strahlengänge als auch solche mit einem einzigen Objektiv bekannt. Im zweiten Fall sind die geometrischen Voraussetzungen zum Erreichen größerer Blickwinkel günstiger. Vorteile ergeben sich auch bei der Justierung.
Als Verfahren zur Vermessung von Objekten ist die Lichtschnittmikroskopie bekannt. Dabei wird eine Lichtebene auf ein Objekt projiziert und die Projektion aus einer Richtung möglichst senkrecht zur Lichtebene betrachtet. Die Projektion der Lichtebene auf dem Objekt ist eine Linie, deren Verlauf präzise Informationen über die Kontur der Oberfläche des Objekts beinhaltet. Insbesondere lassen sich am Verlauf der Linie Höhenunterschiede auf der Oberfläche des Objekts qualitativ und quantitativ bestimmen. Die Lichtebene, die auf das Objekt projiziert wird, ist am einfachsten durch die rückwärtige Beleuchtung einer Spaltplatte bereitzustellen. Bei der Durchführung der Lichtschnittmikroskopie ist es bekannt, ein Mikroskop zur Betrachtung der Projektion der Lichtebene zu verwenden, und die Projektion mit einer Kamera aufzuzeichnen. Bislang werden zur Durchführung der Lichtschnittmikroskopie jedoch besondere, weitgehend nur für diesen Zweck einsetzbare Instrumente verwendet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine neue Einsatzmöglichkeit eines bekannten Stereomikroskops mit zwei Strahlengängen aufzuzeigen.
Erfindungsgemäß wird dies durch die Merkmalskombination des Patentanspruchs 1 erreicht. Überraschend stellt sich heraus, daß ein herkömmliches Stereomikroskop in besonderem Maße zur Durchführung der Lichtschnittmikroskopie geeignet ist. Hierbei wird der eine Strahlengang zur Projektion der Lichtebene auf das Objekt benutzt. Obwohl hieraus resultiert, daß die Projektion der Lichtebene auf dem Objekt über den anderen Strahlengang unter einem verhältnismäßig flachen Winkel betrachtet wird und die Lichtebene auf diese Weise nicht mit einer Bildebene des abbildenden zweiten Strahlengangs zusammenfällt, ergeben sich hieraus keine nennenswerten Schwierigkeiten für die Auswertung der Lichtschnittmikroskopie. Dies ist im wesentlichen auf die bei einem Stereomikroskop vorhandene große Tiefenschärfe der Abbildungsoptik zurückzuführen. Die Projektion der Lichtebene wird auch bei unterschiedlichem Abstand zum Objektiv scharf abgebildet und ist damit auswertbar. Durch die Strahlteiler in beiden Strahlengängen des Stereomikroskops ist vorteilhaft die Durchführung der Lichtschnittmikroskopie zugleich mit der stereoskopischen Betrachtung des Objekts möglich.
An dem Stereomikroskop kann ein gemeinsames Objektiv für beide Strahlengänge vorgesehen sein. Das gemeinsame Objektiv erlaubt eine große Annäherung an das Objekt, wodurch der Winkel zwischen den beiden Strahlengängen am Objektivausgang und damit der Winkel, unter dem die Lichtebene betrachtet wird, besonders groß ist.
Die Kamera ist vorteilhafterweise als CCD-Kamera ausgebildet. Eine CCD-Kamera zeichnet die Projektion der Lichtebene in einer für eine softwaregestütze Auswertung geeigneten Weise auf. Theoretisch ist es auch möglich bei der Lichtschnittmikroskopie auf eine Kamera ganz zu verzichten. In diesem Fall wäre die Projektion der Lichtebene auf der Oberfläche des Objekts mit einem Meßokular direkt zu vermessen.
Der Projektor kann als Lichtquelle einen Laser aufweisen. Ein Laserstrahl ist durch eine Optik in dem Maße in eine Lichtebene umformbar, wie dies für die Durchführung der Lichtschnittmikroskopie notwendig ist. Vorteilhaft weist die unter Zuhilfenahme eines Lasers bereitgestellte Lichtebene eine hohe, leicht registrierbare Lichtintensität auf.
Der Projektor kann eine Spaltplatte oder eine Stichplatte aufweisen. Insbesondere wenn eine Leuchtdiode oder Glühlampe als Lichtquelle in dem Projektor zum Einsatz kommt, empfiehlt es sich, die Lichtebene durch eine Spaltplatte zu formen, die von hinten zu beleuchten ist. In einzelnen Fällen mag auch eine Strichplatte sinnvoll sein. Hier ist dann die Lichtebene der Bereich der geringsten Lichtintensität, also eigentlich eine "Dunkelebene".
Die Erfindung wird im Folgenden anhand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert und beschrieben. Es zeigt:
Fig. 1 die Verwendung eines Stereomikroskops zur Lichtschnittmikroskopie und
Fig. 2 ein zu vermessendes Objekt mit aufprojizierter Lichtebene.
Das in Fig. 1 dargestellte Stereomikroskop 1 weist für zwei Strahlengänge 2, 3 ein gemeinsames Objektiv 4 auf. In jedem der Strahlengänge 2, 3 ist ein Strahlteiler 12 bzw. 13 vorgesehen. Von einem zu vermessenden Objekt 10 aus ist hinter dem Strahlteiler 12 ein Projektor 8, 9 mit einer Spaltplatte 8 und einer Lichtquelle 9 einerseits und ein Okular 6 andererseits angeordnet. Beim Strahlengang 3 sind es eine Kamera 14 einerseits und ein Okular 7 andererseits. Die Okulare 6, 7 dienen hierbei ausschl. zur stereoskopischen Betrachtung des Objekts 10 unabhängig von der Lichtschnittmikroskopie. Die Lichtschnittmikroskopie wird ausschl. mit Hilfe des Projektors 8, 9 und der Kamera 14 durchgeführt. Sie kann aber mittels der Okulare 6, 7 beobachtet, überwacht oder gesteuert werden. Mit dem Projektor 8, 9 wird über den Strahlengang 2 eine Lichtebene auf das Objekt 10 projiziert. Dazu wird die Strichplatte 8 von hinten mit der Lichtquelle 9 beleuchtet. So blendet die Strichplatte 8 das Licht der Lichtquelle 9 bis auf die gewünschte Lichtebene aus. Die Projektion der Lichtebene auf dem Objekt 10 wird unter einem Winkel 11, der deutlich größer als 0° aber auch kleiner als 90° ist, betrachtet. Auf diese Weise macht sich eine von einer Ebene abweichende Oberflächenkontur des Objekts 10 durch eine Abweichung der Projektion der Lichtebene von einer geraden Linie bemerkbar. Das Maß der Abweichung ist über den Strahlengang 8 mit der Kamera 14 erfaßbar und anschließend auswertbar. Wie ersichtlich, läßt sich ein herkömmliches Stereomikroskop auf diese Weise zur Lichtschnittmikroskopie verwenden. Es ist nur Voraussetzung, daß Strahlteiler 12 und 13 vorgesehen sind, hinter denen der Projektor 8, 9 einerseits und die Kamera 14 andererseits angeordnet werden können. Bei dem konkreten Stereomikroskop 1 gemäß Fig. 1 sind zur Gleichrichtung aller optischen Achsen im Bereich der Okulare 6, 7, des Projektors 8, 9 und der Kamera 14 Umlenkspiegel 15, 16 vorgesehen. Zur Trennung der Strahlengänge 2, 3 im Anschluß an das gemeinsame Objektiv 4 dienen Prismen 17, 18. Die Verwendung eines einzigen Objektivs 4 für beide Strahlengänge 2, 3 bietet Vorteile hinsichtlich der Justierung und der geometrischen Verhältnisse bei Annäherung des Objektivs 4 an das Objekt 10.
In Fig. 2 ist die Projektion der durch das Okular 6 und das Objektiv 4 gemäß Fig. 1 auf das Objekt 10 fokussierten Lichtebene dargestellt. Die Projektion ist eine Linie 19, deren Verlauf Informationen über die Kontur der Oberfläche 20 des Objekts 10 beinhaltet. Wenn die Kamera 14 gemäß Fig. 1 beispielsweise eine CCD-Kamera ist, kann nach Abscannen des gesamten Objekts 10 aus dem jeweiligen Verlauf der Linie 19 eine mathematische Darstellung der Oberfläche 20 des Objekts 10 gewonnen werden. Hierbei ist natürlich die zugrundeliegende Geometrie, insbesondere der Winkel 11 und die Vergrößerung des Stereomikroskops 1, zu berücksichtigen.
Bezugszeichenliste
1 Stereomikroskop
2 Strahlengang
3 Strahlengang
4 Objektiv
6 Okular
7 Okular
8 Strichplatte
9 Lichtquelle
10 Objekt
11 Winkel
12 Strahlteiler
13 Strahlteiler
14 Kamera
15 Umlenkspiegel
16 Umlenkspiegel
17 Prisma
18 Prisma
19 Linie
20 Oberfläche

Claims (5)

1. Verwendung eines Stereomikroskops (1) mit zwei Strahlengängen (2, 3), bei dem in jedem Strahlengang (2, 3) ein Strahlteiler (12, 13) vorgesehen ist und hinter dem Strahlteiler (12) in dem einen Strahlengang (2) eine Lichtquelle einerseits und ein Okular (6) andererseits und hinter dem Strahlteiler (13) in dem anderen Strahlengang (3) eine Kamera (14) einerseits und ein Okular (7) andererseits angeordnet sind, zur Lichtschnittmikroskopie, wobei durch den einen Strahlengang (2) eine Lichtebene auf eine zu untersuchende Oberfläche (20) eines Objekts (10) projiziert wird und die auf die Oberfläche (20) des Objekts (10) projizierte Linie (19) durch den anderen Strahlengang (3) abgebildet wird und wobei die Lichtquelle in dem einen Strahlengang (2) die Lichtquelle (9) eines Projektors (8, 9) für die Projektion der Lichtebene ist.
2. Verwendung eines Stereomikroskops nach Anspruch 1, dadurch­ gekennzeichnet, daß an dem Stereomikroskop (1) ein gemeinsames Objektiv (4) für beide Strahlengänge (2, 3) vorgesehen ist.
3. Verwendung eines-Stereomikroskops nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kamera (14) eine CCD-Kamera ist.
4. Verwendung eines Stereomikroskops nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Projektor (8, 9) als Lichtquelle (9) einen Laser aufweist.
5. Verwendung eines Stereomikroskops nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Projektor (8, 9) eine Spaltplatte (8) oder eine Strichplatte aufweist.
DE19924207630 1992-03-11 1992-03-11 Verwendung eines Stereomikroskops Expired - Fee Related DE4207630C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19924207630 DE4207630C2 (de) 1992-03-11 1992-03-11 Verwendung eines Stereomikroskops

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19924207630 DE4207630C2 (de) 1992-03-11 1992-03-11 Verwendung eines Stereomikroskops

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4207630A1 DE4207630A1 (de) 1993-09-23
DE4207630C2 true DE4207630C2 (de) 1995-08-24

Family

ID=6453716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19924207630 Expired - Fee Related DE4207630C2 (de) 1992-03-11 1992-03-11 Verwendung eines Stereomikroskops

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4207630C2 (de)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE401220T1 (de) * 2005-05-03 2008-08-15 Faurecia Innenraum Sys Gmbh Verfahren zur qualitätskontrolle eines kraftfahrzeug-innenteils mit einer aufreisslinie
DE102005042436C5 (de) 2005-09-07 2010-05-27 Carl Zeiss Surgical Gmbh Ophthalmo-Operationsmikroskop mit Messeinrichtung
CN106772981A (zh) * 2015-11-20 2017-05-31 南京理工大学 偏振式动态实时体视显微成像装置及方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4158507A (en) * 1977-07-27 1979-06-19 Recognition Equipment Incorporated Laser measuring system for inspection
DE3327672C2 (de) * 1983-07-30 1986-02-20 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Koaxiale Auflicht-Hellfeldbeleuchtung für Stereomikroskope
US4674845A (en) * 1984-09-01 1987-06-23 Canon Kabushiki Kaisha Stereoscopic microscope with means for varying stereoscopic viewing angle
DD228089A1 (de) * 1984-11-01 1985-10-02 Zeiss Jena Veb Carl Anordnung zur bestimmung der oberflaechengestalt von objekten mittels moiretechnik
CH677972A5 (de) * 1989-01-17 1991-07-15 Kern & Co Ag

Also Published As

Publication number Publication date
DE4207630A1 (de) 1993-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0801760B1 (de) Verfahren zur ermittlung der distanz zwischen einem objektdetail und einem operationsmikroskop und vorrichtung dazu
DE2156617C3 (de) Einrichtung zur Bestimmung der Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz, beispielsweise bei einem Entfernungsmesser
EP0961945B1 (de) Lichtabtastvorrichtung
DE3343145A1 (de) Beobachtungsgeraet
DE3442019A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur durchfuehrung von mikrochirurgischen eingriffen in ein auge mittels laserstrahlen
DE112015000627B4 (de) Mikrospektroskopische Vorrichtung
CH678663A5 (de)
DE2518047A1 (de) Interferometer
DE4131737A1 (de) Autofokus-anordnung fuer ein stereomikroskop
DE4136002A1 (de) Moire- konturenabbildungsvorrichtung
DE4012513C2 (de)
DE4113279C2 (de) Konfokales optisches Rastermikroskop
EP0128119B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Fokussieren eines Lichtstrahls, auf ein Objekt
EP1293817B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Fokuskontrolle in einem Mikroskop mit digitaler Bildgebung, vorzugsweise einem konfokalen Mikroskop
DE4207630C2 (de) Verwendung eines Stereomikroskops
DE3244484A1 (de) Vorrichtung zur optimierung der kopplung zweier optischer systeme zur beobachtung und analyse von objekten
DE102007046872B4 (de) Optische Abbildungsvorrichtung
DE3409043C2 (de)
DE10331501B4 (de) Justierung eines Mikroskops
DE102018102241B4 (de) Verfahren zum Abbilden einer Probe mittels eines Lichtblattmikroskops sowie ein Lichtblattmikroskop
DE102020122924A1 (de) Verfahren zum Analysieren einer Werkstückoberfläche für einen Laserbearbeitungsprozess und eine Analysevorrichtung zum Analysieren einer Werkstückoberfläche
DE2718711A1 (de) Vorrichtung zur abtastung eines objektes mit einem lichtstrahl
DE102016108384B3 (de) Vorrichtung und Verfahren zur lichtblattartigen Beleuchtung einer Probe
DE2543563C3 (de) Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der Autokollimation
DE3208024A1 (de) Linsenpruefgeraet

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee