DE4138056C2 - Halbleiter-Beschleunigungssensor und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents

Halbleiter-Beschleunigungssensor und Verfahren zu seiner Herstellung

Info

Publication number
DE4138056C2
DE4138056C2 DE4138056A DE4138056A DE4138056C2 DE 4138056 C2 DE4138056 C2 DE 4138056C2 DE 4138056 A DE4138056 A DE 4138056A DE 4138056 A DE4138056 A DE 4138056A DE 4138056 C2 DE4138056 C2 DE 4138056C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
base
acceleration sensor
semiconductor acceleration
sensor chip
weight
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE4138056A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4138056A1 (de
Inventor
Seiji Takemura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of DE4138056A1 publication Critical patent/DE4138056A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4138056C2 publication Critical patent/DE4138056C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/0825Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

Description

Die Erfindung betrifft einen Halbleiter-Beschleunigungssensor nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1 und ein Verfahren zu seiner Herstellung nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 3.
Fig. 5 ist eine seitliche Schnittansicht entlang der Mittel­ linie eines konventionellen Halbleiter-Beschleunigungssensors in seiner Längsrichtung, und Fig. 6 ist eine Draufsicht auf den Sensor. Dabei ist ein Sensorchip 1, der mit einem Ge­ wicht 9 zur Aufnahme einer Beschleunigung versehen ist, ein­ seitig an einem auf einer Basis 5 montierten Sockel 11 befe­ stigt. Die Basis 5 ist an einem Gehäuse 4 montiert.
Nach den Fig. 7 und 8 ist im Sensorchip 1 ein Ätzteil bzw. eine Ätzausnehmung 3 für die Aufnahme einer Beschleunigung in Form einer Verwindung gebildet, und die Rückseite der Ätzaus­ nehmung 3 ist mit einem Piezowiderstandsteil 2 versehen, der eine Beschleunigung als Verwindung ausgibt. Die Verdrahtung vom Piezowiderstandsteil 2 ist mit jeder inneren Zuleitung 6 über einen metallischen Feindraht 12 und mit einem externen Schaltkreis (nicht gezeigt) über eine äußere Zuleitung 8, die von der inneren Zuleitung 6 weiterführt, verbunden. Jede innere Zuleitung 6 ist gegenüber der Basis 5 durch ein Isola­ tionsmaterial wie Glas 7 isoliert. Die Teile wie etwa die Basis 5, der Sensorchip 1 usw. sind mit einer Kappe bzw. Abdeckung 10 versehen, um das Innere hermetisch abzuschlie­ ßen.
Der so ausgebildete konventionelle Halbleiter-Beschleuni­ gungssensor wird hergestellt, indem der Beschleunigungs­ sensorchip 1 auf dem Sockel 11 unter Anwendung eines Haft­ materials (nicht gezeigt) wie einer Gold-Silizium-Legierung oder dergleichen befestigt und dann der Sockel 11 unter Anwendung des gleichen Haftmaterials auf der Basis 5 befe­ stigt wird. Die an einem Gehäuse 4 vorgesehenen inneren Zuleitungen 6 werden dann an eine Elektrode (nicht gezeigt) angeschlossen, um die Verwindung des Sensorchips 1 unter Nutzung der metallischen Feindrähte 12 nach außen zu leiten. Dann wird das Gewicht an einem Ende des Sensorchips 1 unter Anwendung eines Haftmaterials (nicht gezeigt) befestigt, und dann wird die Abdeckung 10 mit einem Flanschteil 4a ver­ schweißt, das im Außenumfang der Basis 5 des Gehäuses 4 vor­ gesehen ist. Der auf diese Weise montierte Halbleiter-Be­ schleunigungssensor hat den Aufbau gemäß Fig. 5, wobei die metallischen Feindrähte 12 an der Oberseite des Gewichts 9 in einer Entfernung von der Abdeckung 10 so angeordnet sind, daß sie die Abdeckung nicht berühren.
Wenn bei diesem Halbleiter-Beschleunigungssensor auf den Sensorchip 1 eine Beschleunigung aufgebracht wird, die größer als die Bruchfestigkeit des restlichen Teils der Ätzausneh­ mung 3 ist, kann es geschehen, daß der Sensorchip 1 bricht. Die Dicke des restlichen Teils der Ätzausnehmung 3 des Sensorchips 1 ist nämlich durch den Beschleunigungsmeßbe­ reich, unter Abgleich mit der Lage und dem Gewicht des Gewichtes, so bestimmt, daß der Sensorchip beim Gebrauch innerhalb dieses Bereichs nicht bricht. Wenn beispielsweise eine Erdbeschleunigung von 1 g auf das Ende des Sensorchips 1 aufgebracht wird, wird ein Verbiegen von ca. 1 µm erzeugt, wobei die Toleranz ca. 400 µm ist. Bei dem konventionellen Sensor besteht jedoch das Problem, daß dann, wenn auf den Halbleiter-Beschleunigungssensor eine Beschleunigung oder ein Stoß außerhalb des Meßbereichs aufgebracht wird, wenn er bei­ spielsweise während der Beförderung fallengelassen wird oder dergleichen, der Ätzteil des Sensorchips 1 infolge der ein­ seitig befestigten Konstruktion bricht.
Ferner tritt bei dem konventionellen Sensor das Problem auf, daß dadurch, daß der Sensorchip 1, der Sockel 11 und die Basis 5 miteinander unter Verwendung des Haftmaterials ver­ bunden sind, weil eine extrem kleine Auslenkung zu messen ist, die Arbeitsgenauigkeit nachläßt, was sich auf die Meß­ genauigkeit des Beschleunigungssensors nachteilig auswirkt.
Das JP-Abstract 61-144 576 (A) und die GB 21 76 607 (A) be­ schreiben Halbleiter-Beschleunigungssensoren, bei welchen sowohl der Sockel zum Befestigen des eigentlichen Sensors als auch das Gewicht, das heißt die seismische Masse, aus dem Halbleiter-Beschleunigungschip herausgeätzt sind. Darüber hin­ aus zeigt die GB 21 76 607 (A) auch einen Halbleiter-Be­ schleunigungschip, bei welchem lediglich der Sockel herausge­ ätzt ist, während die seismische Masse nachträglich aufge­ bracht ist.
Die US 31 13 223 beschreibt einen Sensor mit einem Piezo-Bie­ gebalken, bei welchem keine seismische Masse vorgesehen ist. Der Sockel, auf welchem der Piezo-Streifen befestigt ist, wird von einem offenen Gehäuse gebildet. Das Gehäuse ragt über den Piezo-Streifen hinaus und schützt ihn damit gegen ein Abbre­ chen.
Es ist Aufgabe der Erfindung, einen Halbleiter-Beschleuni­ gungssensor aufzuzeigen, der bei einfacher Herstellung zuver­ lässig gute Wandlereigenschaften aufweist.
Diese Aufgabe wird vorrichtungsmäßig durch die Merkmale des Patentanspruches 1 und verfahrensmäßig durch die Merkmale des Patentanspruches 3 gelöst.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Beschreibung von Ausfüh­ rungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Die Zeichnungen zeigen in:
Fig. 1 einen seitlichen Schnitt durch einen Halbleiter-Beschleunigungssensor gemäß einem Ausführungsbei­ spiel der Erfindung;
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Halbleiter-Beschleuni­ gungssensor von Fig. 1;
Fig. 3 eine Perspektivansicht eines Hemmelements;
Fig. 4 einen seitlichen Schnitt durch einen Halbleiter-Beschleunigungssensor gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig. 5 einen seitlichen Schnitt durch einen konventionellen Halbleiter-Beschleunigungssensor;
Fig. 6 eine Draufsicht auf den Halbleiter-Beschleuni­ gungssensor von Fig. 5; und
Fig. 7 und 8 eine Draufsicht bzw. eine Seitenansicht eines Halbleiter-Beschleunigungssensorchips.
Fig. 1 ist eine geschnittene Seitenansicht entlang der Mit­ tellinie in Längsrichtung eines Halbleiter-Beschleunigungs­ sensors gemäß einem Ausführungsbeispiel, und Fig. 2 ist eine Draufsicht auf den Sensor. Dabei bezeichnen die Bezugszeichen 1-4, 6-10 und 12 die gleichen Teile wie bei dem oben be­ schriebenen konventionellen Halbleiter-Beschleunigungssensor. Allerdings ist hier die Abdeckung 10 nicht gezeigt. Bei dem Ausführungsbeispiel wird ein Anschlag oder Hemmkörper 13 ver­ wendet, der integral mit dem Sockel geformt ist und ein dem Sockel entsprechendes Teil 14 sowie ein Hemmelement 15 um­ faßt. Fig. 3 ist eine Perspektivansicht des Hemmkörpers 13.
Bei dem so ausgelegten Halbleiter-Beschleunigungssensor ist die Entfernung (der Bewegungsbereich des Gewichts 9) zwischen dem Hemmelement 15 des Hemmkörpers 13 und dem Gewicht 9 klei­ ner ausgelegt als die Bruchdimensionen, die durch die Bruch­ festigkeit des restlichen Teils der Ätzausnehmung 3 des Sensorchips 1 bestimmt sind. Auch wenn daher auf den Halblei­ ter-Beschleunigungssensor eine Beschleunigung außerhalb des Meßbereichs in Aufbringrichtung der Beschleunigung oder in Gegenrichtung aufgebracht wird, wird die Bewegung des Ge­ wichts 9 durch das Hemmelement 13 gehemmt, so daß der Sensor­ chip 1 nicht bricht. Da ferner der Sockel und das Hemmelement eine Einheit bilden, kann der Vorgang der Verbindung oder Vereinigung der beiden Teile entfallen. Dadurch wird die Anzahl der Arbeitsschritte verringert, und dimensionsmäßige Abweichungen, die bei der Herstellung der Verbindung zwischen dem Sockel und dem Hemmelement auftreten könnten, werden ver­ mieden. Ferner kann dabei durch eine Verringerung der Zahl der Montageschritte eventuell eine Kostensenkung erreicht werden. Der Hemmkörper 13 wird bevorzugt durch Metallspritz­ gießen hergestellt, weil dabei eine komplizierte Form mit hoher Genauigkeit erhalten werden kann.
Bei dem obigen Ausführungsbeispiel ist das Hemmelement inte­ gral mit dem Sockel ausgebildet, es kann aber auch ein Hemm­ körper 16 integral mit der Gehäusebasis vorgesehen sein, so daß die Zahl der Herstellungsschritte noch weiter reduziert werden kann (Fig. 4). Auch wenn in diesem Fall der Hemmkörper 16 eine komplizierte Form hat, so kann er vorzugsweise durch Metallspritzgießen mit hoher Präzision und niedrigen Kosten hergestellt werden.

Claims (6)

1. Halbleiter-Beschleunigungssensor mit:
  • - einem Halbleiter-Beschleunigungssensorchip (1), an dessen einem Ende ein Gewicht (9) vorgesehen ist;
  • - einer Basis (5), auf welcher der Halbleiter-Beschleuni­ gungssensorchip (1) mit seinem anderen Ende befestigt ist;
  • - ein Hemmelement, das eine Bewegung des Gewichts (9) außerhalb des Meßbereichs mit einem 1. Anschlag in Auf­ bringrichtung einer Beschleunigung sowie mit einem 2. An­ schlag in Gegenrichtung hemmt;
wobei der Halbleiter-Beschleunigungssensorchip (1) auf der Basis (5) mittels eines pfostenartigen Sockels (14) befestigt ist, der Sockel (14) über einen Körper (3, 16) einstückig mit dem Hemmelement (15) geformt ist, welches die beiden Anschläge mit U-förmigen Schenkeln bildet, und wobei eine Abdeckung (10) vorgesehen und derart auf der Basis angeordnet ist, daß sie den Halbleiter-Beschleuni­ gungssensorchip (1) auf der Basis (14), das Gewicht (9) und das Hemmelement (15) abdeckt.
2. Halbleiter-Beschleunigungssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet daß der Körper (13), der Sockel (14), das Hemmelement (15) und die Basis (5) einstückig geformt (16) sind.
3. Verfahren zur Herstellung eines Halbleiter-Beschleuni­ gungssensors, umfassend folgende Schritte:
  • - an einem Ende eines Halbleiter-Beschleunigungs­ sensorchips wird ein Gewicht angebracht;
  • - ein Hemmelement, das die Bewegung des Gewichts in Aufbringrichtung einer den Meßbereich überschreiten­ den Beschleunigung sowie in Gegenrichtung hemmt, wird über einen Körper einstückig mit einem pfostenartigen Sockel verbunden geformt;
  • - der Halbleiter-Beschleunigungssensorchip wird auf dem Sockel befestigt;
  • - der Körper wird auf einer Basis befestigt;
  • - auf der Basis wird unter Abdeckung des Halbleiter-Beschleunigungssensorchips, des Gewichts und des Körpers eine Abdeckung unter Bildung eines Gehäuses befestigt.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Körper, der Sockel, das Hemmelement und die Basis einstückig geformt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das einstückige Formen durch Metallspritzgießen er­ folgt.
DE4138056A 1990-11-21 1991-11-19 Halbleiter-Beschleunigungssensor und Verfahren zu seiner Herstellung Expired - Fee Related DE4138056C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2314258A JPH04186167A (ja) 1990-11-21 1990-11-21 半導体加速度センサー及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4138056A1 DE4138056A1 (de) 1992-05-27
DE4138056C2 true DE4138056C2 (de) 1996-12-19

Family

ID=18051187

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4138056A Expired - Fee Related DE4138056C2 (de) 1990-11-21 1991-11-19 Halbleiter-Beschleunigungssensor und Verfahren zu seiner Herstellung

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5157472A (de)
JP (1) JPH04186167A (de)
DE (1) DE4138056C2 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4332944A1 (de) * 1993-09-28 1995-03-30 Bosch Gmbh Robert Sensor mit einer Quarz-Stimmgabel
DE19536250A1 (de) * 1995-09-28 1997-04-03 Siemens Ag Mikroelektronischer, integrierter Sensor und Verfahren zur Herstellung des Sensors
DE19536228B4 (de) * 1995-09-28 2005-06-30 Infineon Technologies Ag Mikroelektronischer, integrierter Sensor und Verfahren zur Herstellung des Sensors
JPH09318652A (ja) * 1996-05-28 1997-12-12 Mitsubishi Electric Corp 加速度センサ装置
JP2000088878A (ja) * 1998-09-09 2000-03-31 Tokai Rika Co Ltd 加速度スイッチ及びその製造方法
US8164349B2 (en) * 2008-07-07 2012-04-24 Lam Research Corporation Capacitively-coupled electrostatic (CCE) probe arrangement for detecting strike step in a plasma processing chamber and methods thereof

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3113223A (en) * 1960-07-27 1963-12-03 Space Technology Lab Inc Bender-type accelerometer
GB2176607B (en) * 1985-06-18 1988-01-13 Standard Telephones Cables Ltd Accelerometer device
JPH0797644B2 (ja) * 1988-09-19 1995-10-18 日産自動車株式会社 半導体加速度センサ及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5157472A (en) 1992-10-20
DE4138056A1 (de) 1992-05-27
JPH04186167A (ja) 1992-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4203832C2 (de) Halbleiter-Druckaufnehmer
DE3930314C2 (de)
DE102008016214B4 (de) Sensorelement und Sensorzusammenstellung mit Umhüllung
DE3642770C2 (de) Induktivgeber
EP0377804B1 (de) Beschleunigungssensor mit einseitig eingespanntem Biegebalken
CH686325A5 (de) Elektronikmodul und Chip-Karte.
DE102004026210B4 (de) Vorrichtung zur Erfassung einer physikalischen Größe und Gehäuse für eine Anordnung zur Messung einer physikalischen Größe
EP0042371A1 (de) Messwertaufnehmer zur Messung von Verformungen an Hohlkörpern
DE19947044B9 (de) Oberflächenmontierbares optoelektronisches Bauelement mit Reflektor und Verfahren zur Herstellung desselben
DE2442137A1 (de) Lehre mit mindestens einem elektrischen positionswandler zur messung der abmasse mechanischer werkstuecke
DE19936610B4 (de) Halbleiterbeschleunigungssensor und Verfahren zur Herstellung desselben
DE4219166A1 (de) Halbleiter-beschleunigungsmessvorrichtung
DE4138056C2 (de) Halbleiter-Beschleunigungssensor und Verfahren zu seiner Herstellung
DE3932065C2 (de)
DE10224199A1 (de) Kraft-Messdose
DE4012829C2 (de) Vorrichtung zur mehrdimensionalen Kraftmessung und daraus abgeleiteten Größen durch Meßwertaufnahme mittels elektrischer Sensoren, z. B. Dehnungsmeßstreifen
DE2828899A1 (de) Gitterstruktur
DE2938297A1 (de) Miniatur-messwertuebertrager
EP0909223B1 (de) Ultraschallwandler mit kontaktglied
DE102008054735A1 (de) Leadless-Gehäusepackung
DE112014002924T5 (de) Mit Harz vergossene Sensorvorrichtung
EP0483912B1 (de) Scheibenförmiger Scherkraft-Messwertaufnehmer für eine Wägezelle
DE4201159A1 (de) Ventil
EP0032727B1 (de) Verfahren zum Herstellen einer Magnetschranke
DE4226224C2 (de) Auf die Einwirkung einer Kraft ansprechender Sensor

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee