DE4004986A1 - Verfahren zur bestimmung der intensitaet der von einer strahlungsquelle unter einem bestimmten winkel zu ihrer symmetrieachse abgegebenen elektromagnetischen strahlung - Google Patents

Verfahren zur bestimmung der intensitaet der von einer strahlungsquelle unter einem bestimmten winkel zu ihrer symmetrieachse abgegebenen elektromagnetischen strahlung

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109764813A (zh) * 2018-12-20 2019-05-17 西安交通大学 一种量程可调的反射光强调制式光纤位移传感探头

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EP0344364A2 (de) * 1988-05-28 1989-12-06 Deutsche Aerospace AG Detektorvorrichtung

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