DE3904991A1 - Kathodenzerstaeubungsvorrichtung - Google Patents
KathodenzerstaeubungsvorrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Kathodenzerstäubungsvorrich
tung, bestehend aus einer Vakuumkammer, die mit einer
Einrichtung zur Erzeugung eines Plasmastrahls verbunden
ist und die ein Target aufweist, das mit Magneten zusam
menwirkt, die den Plasmastrahl auf die Oberfläche des
Targets lenken und die mit einer Einrichtung versehen ist,
um Ionen im Plasmastrahl zu beschleunigen, die die Ober
fläche des Targets treffen und aus dieser Teilchen heraus
lösen und die mit einem Substrathalter ausgestattet ist,
der im Inneren der Vakuumkammer zur Halterung von Substra
ten für die Beschichtung mit abgestäubten Teilchen ange
ordnet ist und der vorzugsweise mit einer Magnetanordnung
versehen ist, die die Ablenkung zumindest eines Fadens
oder Teilstrahls des Plasmastrahls vom Target auf das
Substrat bewirkt.
Es ist ein Verfahren zum Herstellen transparenter Wärme
spiegel durch Ablagerung eines Films aus versetztem
Indiumoxid oder versetztem Zinnoxid auf ein Substrat
bekannt (EU-PS 00 20 456), bei dem als Ablagerung eine
Niedrigtemperatur-Ablagerung auf ein Polymersubstrat durch
Zerstäubung, thermische Verdampfung, Vakuumaufdampfung
oder Elektronenbeschuß verwendet wird, wobei während der
Ablagerung ein Sauerstoff-Partialdruck in einem Bereich
benutzt wird, der unmittelbar Filme des genannten Mate
rials mit einer hohen Transparenz und einem hohen Refle
xionsvermögen erzeugt.
Bei der verwendeten Vorrichtung zur Durchführung des Ver
fahrens ist ein wassergekühltes Target in einem Winkel von
etwa 45° gegenüber dem von einer Strahlquelle erzeugten
Ionenstrahl in der mit einem Gaseinlaß versehenen Vakuum
kammer angeordnet, wobei das ausgeworfene Targetquellen
material ein Beschichten des winklig zum Target angeordne
ten, mit einem Polymer beschichteten Substrats bewirkt.
Weiterhin ist ein Plasmagenerator mit Ionenstrahlerzeuger
bekannt (Aufsatz von D. M. Goebel, G. A. Campbell und
R. W. Conn im Journal of Nuclear Material 121 (1984),
277-282, North Holland Physics Publishing Division,
Amsterdam), der in einer mit der Vakuumkammer verbundenen,
separaten Kammer angeordnet ist, wobei die etwa zylindri
sche Kammerwand dieser separaten Kammer die Anode bildet
und mit einem Einlaßstutzen für das Prozeßgas versehen
ist. Die zylindrische Kammer ist von ringförmigen Magnet
spulen und mit Rohren zur Kühlung der Kammerwand versehen.
Der Elektronen-Emitter selbst befindet sich an einem das
eine Ende der zylindrischen Kammer verschließenden, dem
eigentlichen Vakuumkessel abgekehrten Wandteil.
Schließlich ist eine Kathodenzerstäubungsvorrichtung mit
hoher Zerstäubungsrate bekannt (US-PS 24 17 288) mit einer
Kathode, die auf einer ihrer Oberflächen das zu zerstäu
bende und auf einem Substrat abzulagernde Material auf
weist, mit einer derart angeordneten Magneteinrichtung,
daß die von der Zerstäubungsfläche ausgehende und zu ihr
zurückkehrende Magnetfeldlinien einen Entladungsbereich
bilden, der die Form einer in sich geschlossenen Schleife
hat, und mit einer außerhalb der Bahnen des zerstäubten
und sich von der Zerstäubungsfläche zum Substrat bewegen
den Material angeordneten Anode, wobei die zu zerstäubende
und dem zu besprühenden Substrat zugewandte Kathodenober
fläche eben ist und wobei die das Magnetfeld erzeugende
Magneteinrichtung auf der der ebenen Zerstäubungsfläche
abgewandten Seite der Kathode angeordnet ist.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde,
eine Vorrichtung zum Hochraten-Zerstäuben und/oder zum
Verdampfen metallischer oder dielektrischer Werkstoffe mit
Hilfe eines fremderzeugten Plasmas zu schaffen, bei der
die der Targetanordnung zuführbare Leistung besonders groß
ist, deren Aufbau einfach ist und bei der die Targetspan
nung und der Targetstrom voneinander unabhängig einstell
bar sind. Außerdem soll ein Umschalten von konventionel
ler, magnetfeldunterstützter Kathodenzerstäubung auf eine
Kathodenzerstäubung mit von außen zugeführtem Plasma mög
lich sein. Darüber hinaus soll die nutzbare Targetdicke
möglichst groß und ihre Abnutzung möglichst gleichmäßig
sein und schließlich sollen sowohl die Quellengeometrie
als auch die Substrathalterung, auf der die einzelnen
Substrate gehalten sind, linear expandierbar sein, wobei
die Konditionierung der Substratoberfläche und auch das
Temperieren und Beschichten mit einer Quelle durchführbar
sein soll.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß
mindestens zwei Targets aus verschiedenen Werkstoffen
nebeneinanderliegend vorgesehen sind und die den Targets
zugeordneten Magnete einzeln oder gemeinsam ansteuerbar
sind, wobei der die einzelnen Substrate haltende, auf
einer Welle drehbar gelagerte Substrathalter von einem
Motor antreibbar ist.
Zweckmäßigerweise weist der Plasmastrahl-Generator einen
Elektronen-Emitter mit einer nachgeschalteten rohrförmigen
Anode auf, die einen Einlaß für das Prozeßgas zum Zünden
des Plasmastrahls besitzt und einen Rohrstutzen, der
sowohl mit der Anode als auch mit der Vakuumkammer zusam
menwirkt, und außerdem Magnete zum Ausrichten und Führen
des Plasmastrahls durch die Anode in die Prozeßkammer.
Eine bevorzugte Ausführungsform ist gekennzeichnet durch
eine Plasmaquelle, durch mindestens zwei Targets, die dem
Plasmastrahl in der Vakuumkammer ausgesetzt sind, durch
einen Magneten, der den Plasmastrahl auf die Oberfläche
der Targets lenkt, durch eine Spannungsquelle, die Ionen
im Plasmastrahl auf die Oberflächen der Targets beschleu
nigt und dort Teilchen abstäubt, und durch einen trommel-
oder walzenförmigen, drehbar gelagerten Substrathalter,
den Targets gegenüberliegend, wobei dieser von einem Motor
antreibbar ist.
Weitere Einzelheiten und Merkmale der Erfindung sind in
den Unteransprüchen gekennzeichnet:
Die Erfindung läßt die verschiedensten Ausführungsmöglich
keiten zu; eine davon ist in der anhängenden Zeichnung
schematisch näher wiedergegeben, die eine Vorrichtung mit
einer separaten Plasmaquelle zur Beschichtung von Lager
schalen mit zwei schräg zum Plasmastrahl gehaltenen
Targets im Längsschnitt und rein schematisch darstellt.
Die Beschichtungsvorrichtung besteht im wesentlichen aus
einem Vakuumkessel 1 mit Pumpöffnung 2, dem im Vakuum
kessel 1 drehbar gelagerten Substrathalter 5, dem An
triebsmotor 4 mit Antriebswelle 3, der den Vakuumkessel 1
in zwei Kammern 16, 17 teilenden Trennwand 18, dem sich
parallel zur Trennwand 18 quer im Vakuumkessel 1 erstrek
kenden Rohrstutzen 19 mit dem auf ihn aufgewickelten, eine
Magnetspule 21 und eine Kühlschlange bildenden Rohr 22,
den auf zwei Lagerböcken 24, 24′ in schräger Lage zu der
Trennwand 18 und der Längsachse L des Rohrstutzens 19
gehaltenen beiden Targets 7, 7′ mit Isolatoren 14, 14′,
14′′, 14′′′, den beiden den elektrischen Strom und das Kühl
wasser leitenden Schlauchleitungen 25, 25′ bzw. 26, 26′,
die ebenso wie das Rohr 22 durch die eine Stirnwand 27 des
Vakuumkessels 1 bei 8′, 8′′, 8′′′ abgedichtet hindurchge
führt sind, und den Magnetspulen 39, 39′ bzw. 6, 6′.
Weiterhin weist die Beschichtungsvorrichtung eine an der
anderen Stirnwand 28 des Vakuumkessels 1 fest angeordnete
Schiene 29 auf, auf der die Magnetspulen 64, 30 mit ihren
Spulenhalterungen 31, 32 in Pfeilrichtung A verschiebbar
geführt sind, wobei konzentrisch zu den Magnetspulen 64,
30 die als Hohlprofil ausgebildete Anode 11 vorgesehen
ist, deren Längsachse mit der Längsachse L des Rohrstut
zens 19 fluchtet und deren der Kammer 17 des Vakuumkessels
1 abgekehrtes Ende mit einem Isolator 48 verschlossen ist,
der einen Elektronen-Emitter 9 mit Heizung 10 trägt.
Die Anode 11 weist an ihrem dem Vakuumkessel 1 zugekehrten
Ende einen Flansch 33 auf, mit dem sie an der Stirnwand 28
des Vakuumkessels 1 gehalten ist, wobei jedoch zwischen
dem Flansch 33 und der Stirnwand 28 ein Isolator 34 ange
ordnet ist, der die rohrförmige Anode 11 elektrisch vom
Rohrstutzen 19 bzw. der Stirnwand 28 isoliert. Die als
Hohlprofil ausgebildete Anode 11 weist seitlich einen sich
radial nach außen zu erstreckenden Einlaßstutzen 13 auf
und ist von einer Rohrschlange 12 umschlossen, die von
Kühlwasser durchflossen ist. Der Isolator 48 ist fest mit
einer Lochplatte 35 verbunden, an der die Wasser- und
Stromdurchführungen 36, 36′, . . . vorgesehen sind.
Im Innern der rohrförmig ausgebildeten, evakuierten Gene
ratorkammer 37 werden aus dem Elektronen-Emitter 9 (der
beispielsweise aus Lanthanhexaborid gebildet ist) groß
flächig Elektronen emittiert und zu der Anode 11 beschleu
nigt. Durch gleichzeitig in die Generatorkammer 37 über
den Stutzen 13 eingelassenes Gas wird ein Plasma in der
Generatorkammer 37 gezündet.
Durch die Magnetspulen 6, 6′; 21, 21′; 30; 39, 39′; 64;
15, 15′, 15′′, . . ., welche sowohl die Generatorkammer 37
als auch den Rohrstutzen 19, das an der Stirnwand 27 befe
stigte Rohrstück 20 und die Targets 7, 7′ umgeben bzw. an
diesen Teilen gehalten oder hinter diesen Teilen befestigt
bzw. im Inneren des Substrathalters 5 angeordnet sind,
wird das Plasma auf einen schlauchförmigen Bereich zwi
schen Elektronen-Emitter 9 der Generatorkammer 37 und den
Targets 7, 7′ bzw. den Substraten 15, 15′, . . . begrenzt.
Die Magnetfelder bewirken dabei, daß die emittierten
Primär-Elektronen den Feldlinien entlang driften und nur
über Stöße zur Anode 11 gelangen können, wobei aus den
Targets 7, 7′ geschlagene Sekundär-Elektronen, die eben
falls zur Ionisierung beitragen, eingefangen werden. Die
dabei erzeugten Ionen driften ebenfalls entlang der Mag
netfeldlinien. An den Targets 7, 7′ steht so ein Ionen
strom von hoher Intensität (bis in die Größenordnung
A/cm2) zur Verfügung. Die Energie der Ionen ist jedoch
vergleichsweise gering.
Wird nun an den Targets 7, 7′ ein negatives Potential
angelegt, so werden die Ionen aus der Plasma-Randschicht
auf die Targets 7, 7′ beschleunigt.
Durch Änderung der Magnetfelder ist es möglich, den Plas
mastrahl S 2 um bis zu 180° zu "biegen", weshalb die Ein
baulage (Winkel α) der Targets 7, 7′ relativ zur Längs
achse der Generatorkammer 37 oder des Plasmastroms S bzw.
zu den Rohrstutzen 19, 20 nahezu beliebig wählbar ist.
Bei der metallischen Kathodenzerstäubung wird in die
Generatorkammer 37 Argongas über den Stutzen 13 eingelas
sen, ein Argon-Plasma gezündet und an die Targets 7, 7′
eine Spannung im Bereich 100 V bis kV angelegt. Es herr
schen auf den Targetoberflächen Bedingungen, ähnlich der
DC-Kathodenzerstäubung, wobei sich vergleichbare Eigen
schaften der aufgestäubten Schichten ergeben. Gegenüber
der DC-Kathodenzerstäubung sind jedoch folgende Vorteile
feststellbar:
Die dem einzelnen Target oder den beiden Targets 7, 7′
zugeführte Leistung ist bedeutend größer. So ergibt sich
z.B. mit dem Ionenstrom von 1 A/cm2 und einer Targetspan
nung von 750 V eine Flächenleistung auf jedem Target von
750 W/cm2. Dies ist zu vergleichen mit einer maximalen
Flächenleistung bei der DC-Magnetron-Kathodenzerstäubung
von einigen zehn W/cm2. Entsprechend erhöht sich die
Aufstäubrate. Gemessen wurde für Kupfer eine Rate von
1200 A/s bei einem Substratabstand von 100 mm und einem
Plasmastrahldurchmesser von ebenfalls 100 mm.
Targetstrom und Targetspannung sind unabhängig voneinander
einstellbar, wohingegen bei der DC-Kathodenzerstäubung
beide Größen über eine Kennlinie verknüpft sind. Die Mög
lichkeit der unabhängigen Einstellbarkeit von Strom und
Spannung bietet den Vorteil, die Zerstäubungsrate über dem
Targetstrom und die Eigenschaft der aufgestäubten Schicht
über die Targetspannung unabhängig voneinander beeinflus
sen zu können.
Wird bei einer reaktiven Kathodenzerstäubung in der Nähe
eines Substrats bzw. einer Lagerschale 15 über den Einlaß
stutzen 38 Reaktivgas in die Kammer 17 eingelassen, so
sind die physikalischen Bedingungen denen der konventio
nellen reaktiven Kathodenzerstäubung vergleichbar. Als
Reaktivgas eignet sich insbesondere Oxygen, Nitrogen,
Ammonia oder Acetylene.
Ein wesentlicher Unterschied zu herkömmlichen Vorrich
tungen besteht darin, daß die die Ionisation auslösenden
Elektronen beim reaktiven Kathodenzerstäuben von den
Targets 7, 7′ geliefert werden und der Prozeß daher sehr
empfindlich auf Änderungen der chemischen Beschaffenheit
der Targetoberflächen reagiert. Bei der hier beschriebenen
Vorrichtung werden die Ionen von außen zugeführt, und das
System verhält sich wesentlich stabiler.
Die zum metallischen Kathodenzerstäuben genannten Vorteile
kommen hier voll zum Tragen. Ein zusätzlicher Vorteil ist
darin zu sehen, daß der intensive Plasmastrahl dazu ge
nutzt werden kann, das eingelassene Reaktivgas reaktiver
zu machen (Dissoziieren von Reaktivgas-Atomen). Die beim
reaktiven Zerstäubungsprozeß in der Regel notwendigen
zusätzlichen Blendensysteme, Anoden und Anodenstromver
sorgungen entfallen hier.
Bei genügender Abschwächung der magnetischen Felder hinter
den Targets 7, 7′ ist es möglich, den Plasmastrahl in zwei
Teilstrahlen aufzuteilen, von denen einer zur Zerstäubung
der Metalltargets 7, 7′ und der zweite zur Aktivierung des
Reaktivgases bzw. zur Plasmabehandlung der Substrate 15,
15′, 15′′, . . . genutzt werden kann. In diesem Fall ist
durch geeignete Druckstufen die Elektronentemperatur in
beiden Teilstrahlen unabhängig beeinflußbar.
Bei den erreichbaren hohen Energiedichten ist es auch
möglich, bei genügend geringer Kühlung der Targets 7, 7′
ein geeignetes Target durch den Plasmastrahl zu schmelzen
und zu verdampfen. In diesem Fall ist das betreffende
Target 7 bzw. sind die Targets 7, 7′ waagrecht, d. h.
parallel zur Längsachse L des Rohrstutzens 19 anzuordnen.
Durch das vorhandene intensive Plasma entstehen Schichten
mit gegenüber den gängigen Verdampfereinrichtungen ver
besserten Eigenschaften, da im Plasma abgedampfte Metall-
Cluster aufgebrochen und die abgedampften Metallatome zum
Teil ionisiert werden.
Von der Maschinenseite her bietet die beschriebene Vor
richtung Vereinfachungen, da im Gegensatz zum Ionen- bzw.
Elektronenstrahl-Verdampfen keine Hochspannung erforder
lich ist (typische Quellenspannung 80 V, typische Target-
Spannung 700 V).
Der Plasmastrahl kann großflächig in beliebiger Form her
gestellt werden. Eine Scan-Vorrichtung ist nicht erforder
lich. Dadurch, daß der Plasmastrahl von sich aus quasi
neutral ist, vereinfacht sich die Handhabung erheblich.
Zusätzliche Einrichtungen zur Neutralisierung des Strahls
sind nicht notwendig.
Zur Beschichtung eines Substrats 15 mit einer Legierung
bestimmter Zusammensetzung ist es möglich, ein entspre
chendes Target 7 bzw. 7′ zu benutzen und eine Kathoden
zerstäubung zu betreiben. Selbstverständlich können beide
Targets 7, 7′ einzeln oder aber auch gleichzeitig betrie
ben werden.
Soll die Zusammensetzung der aufzubringenden Schicht geän
dert werden, so bietet es sich an, zwei verschiedene Tar
gets 7, 7′, bestehend aus den einzelnen Legierungsbestand
teilen, zu verwenden und mit einem großflächigen Plasma
strahl das eine und dann das andere Target zu überdecken.
Durch Anlegen unterschiedlich hoher elektrischer Spannun
gen an den einzelnen Targets 7, 7′ läßt sich die gewünsch
te Zusammensetzung bzw. Schichtfolge der auf die Substrate
15, 15′, 15′′, . . . aufgestäubten Schichten einstellen.
Bei geeigneter Wahl der Betriebspartner ist es weiterhin
möglich, die beschriebene Vorrichtung als Metall-Ionen
quelle zu betreiben.
Die Ionisations-Wahrscheinlichkeit der abgestäubten Me
tallatome im Plasmastrahl ist unter anderem eine Funktion
von Plasmadichte und Elektronentemperatur.
Bei den hier üblichen Plasmadichten läßt sich durch Absen
kung des Neutral-Teildruckes auf 3×10-4 mbar die Elek
tronentemperatur so weit erhöhen, daß zum Beispiel Cu-
Atome schon innerhalb von wenigen cm-Weglänge durch das
Plasma ionisiert werden.
Steht nun das Target 7 senkrecht zu den Magnetfeldlinien,
so ergeben sich aufgrund der unterschiedlichen Massen und
Energien der verschiedenen Ionensorten unterschiedliche
Lamorradien, mit denen die einzelnen Ionensorten um die
Magnetfeldlinien kreisen (z.B. Ar=4 cm; Cu=ca. 14 cm,
bei einer Magnetstärke von 100 Gauß). Dadurch ist es
möglich, die Metall-Ionensorten zu separieren.
Es bleibt noch zu erwähnen, daß ein die Stirnwand 27 und
die Trennwand 18 durchdringender Rohrstutzen 38 vorgesehen
ist, über den Gas in den Bereich zwischen den Targets 7,
7′ und den Substraten 15, 15′, 15′′, . . . eingeleitet werden
kann. Die dargestellte Ausführungsform bietet dabei die
Möglichkeit, die Targets 7, 7′ an den Lagerböcken 24, 24′
in vertikaler Richtung zu verschieben (Pfeilrichtung D)
und auch zu schwenken (Pfeilrichtung E).
Der Substrathalter 5 ist trommel- bzw. walzenförmig ausge
bildet und fest mit der Welle 36 verbunden, die ihrerseits
in nicht näher dargestellten ortsfesten Lagern gehalten
ist und die über ein Kegelradgetriebe 41 mit der Antriebs
welle 3 des Antriebsmotors 4, der ortsfest an der Stirn
wand 28 auf einem Lagerbock 42 angeordnet ist, in Wirkver
bindung steht.
Auf der Mantelfläche des Substrathalters 5 sind, gleichmä
ßig auf dem Umfang verteilt, Mulden oder Vertiefungen 40,
40′, . . . vorgesehen, in die die Substrate 15, 15′, . . ., in
diesem Falle Lagerschalen, eingesetzt sind. Während des
Beschichtungsvorgangs wird der Substrathalter 5 in Drehung
versetzt, wobei die Drehung sowohl gleichförmig als auch
schrittweise oder mit einer bestimmten Ungleichförmigkeit
erfolgen kann. Auf diese Weise ist es möglich, sowohl ver
schiedene Materialien (z. B. Nickel und Zinn) aufzutragen,
als auch diese Materialien verschieden stark bzw. dick
aufzubringen; insbesondere ermöglicht die ungleichförmige
Rotationsbewegung des Substrathalters 5 auch eine extrem
gleichmäßige Beschichtung bei Lagerschalen zu erhalten.
Auflistung der Einzelteile
1 Vakuumkessel, Vakuumkammer
2 Pumpöffnung
3 Antriebswelle
4 Antriebsmotor
5 Beschichtungswalze, Substrathalter
6, 6′ Magnetspule
7, 7′ Target
8, 8′, 8′′, 8′′′ Wasser- und Stromdurchführungen
9 Elektronen-Emitter
10 Heizung
11 Anode
12 Rohrschlange
13 Einlaßstutzen
14, 14′, 14′′, 14′′′ Isolator
15, 15′, . . . Substrat, Lagerschale
16 Kammer, Vakuumkammer
17 Kammer, Vakuumkammer
18 Trennwand
19 Rohrstutzen
20 Rohrstück
21, 21′ Magnetspule
22 Rohr
23 Schlauchleitung
24, 24′ Lagerbock, Targethalter
25, 25′ Schlauchleitung
26 Schlauchleitung
27 Stirnwand
28 Stirnwand
29 Schiene
30 Magnetspule
31 Spulenhalterung
32 Spulenhalterung
33 Flansch
34 Isolator
35 Lochplatte
36 Welle
37 Generatorkammer
38 Rohrstutzen
39, 39′ Elektromagnet
40, 40′, . . . Mulde, Vertiefung, Ausnehmung
41 Kegelradgetriebe
42 Lagerbock
48 Isolator
60, 60′, 60′′, . . . Magnetspule
64 Magnetspule
2 Pumpöffnung
3 Antriebswelle
4 Antriebsmotor
5 Beschichtungswalze, Substrathalter
6, 6′ Magnetspule
7, 7′ Target
8, 8′, 8′′, 8′′′ Wasser- und Stromdurchführungen
9 Elektronen-Emitter
10 Heizung
11 Anode
12 Rohrschlange
13 Einlaßstutzen
14, 14′, 14′′, 14′′′ Isolator
15, 15′, . . . Substrat, Lagerschale
16 Kammer, Vakuumkammer
17 Kammer, Vakuumkammer
18 Trennwand
19 Rohrstutzen
20 Rohrstück
21, 21′ Magnetspule
22 Rohr
23 Schlauchleitung
24, 24′ Lagerbock, Targethalter
25, 25′ Schlauchleitung
26 Schlauchleitung
27 Stirnwand
28 Stirnwand
29 Schiene
30 Magnetspule
31 Spulenhalterung
32 Spulenhalterung
33 Flansch
34 Isolator
35 Lochplatte
36 Welle
37 Generatorkammer
38 Rohrstutzen
39, 39′ Elektromagnet
40, 40′, . . . Mulde, Vertiefung, Ausnehmung
41 Kegelradgetriebe
42 Lagerbock
48 Isolator
60, 60′, 60′′, . . . Magnetspule
64 Magnetspule
Claims (29)
1. Kathodenzerstäubungsvorrichtung, bestehend aus einer
Vakuumkammer (16, 17), die mit einer Einrichtung
(9-13, 37) zur Erzeugung eines Plasmastrahls (S)
verbunden ist und ein Target (7, 7′) aufweist, das
mit Magneten (21, 21′, 6, 6′, 39, 39′) zusammenwirkt,
die den Plasmastrahl (S) auf die Oberfläche des Tar
gets (7, 7′) lenken und die mit einer Einrichtung
versehen ist, um Ionen im Plasmastrahl (S) zu be
schleunigen, die die Oberfläche des Targets (7, 7′)
treffen und aus dieser Teilchen herauslösen und die
mit einem Substrathalter (5) ausgestattet ist, der im
Inneren der Vakuumkammer (16) zur Halterung von Sub
straten (15, 15′, . . .) für die Beschichtung mit ab
gestäubten Teilchen angeordnet ist und der vorzugs
weise mit einer Magnetanordnung (60, 60′, 60′′, . . .)
versehen ist, die die Ablenkung zumindest eines Fa
dens oder Teilstrahls (S 2) des Plasmastrahls (S) vom
Target (7, 7′) auf die Substrate (15, 15′, 15′′, . . .)
bewirkt, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei
Targets (7, 7′) aus verschiedenen Werkstoffen neben
einanderliegend vorgesehen und die diesen Targets (7,
7′) zugeordneten Magnete (6, 6′, 39, 39′) einzeln
oder gemeinsam ansteuerbar sind, wobei der die ein
zelnen Substrate (15, 15′, . . .) haltende, auf einer
Welle (36) drehbar gelagerte Substrathalter (5) von
einem Motor (4) antreibbar ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Plasmastrahl-Generator (9-13, 37) minde
stens einen Elektronen-Emitter (9) mit einer nachge
schalteten rohrförmigen Anode (11) aufweist, die
einen Einlaß (13) für das Prozeßgas zum Zünden des
Plasmastrahls (S) besitzt, wobei die Anode (11) mit
einem Rohrstutzen (19) korrespondiert, der sowohl mit
der Anode (11) als auch mit der Vakuumkammer (16, 17)
zusammenwirkt und Magnete (21) zum Ausrichten und
Führen des Plasmastrahls (S) durch die Anode (11) in
die Prozeßkammer aufweist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Form des plattenartigen Elektronen-Emitters
(9) dem Querschnitt des Plasmastrahls (S) entspricht.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Form des plattenartigen Elektronen-Emitters
(9) kreisscheibenförmig ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Form des Elektronen-Emitters (9) rechteckig
ist.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die dem Elektronen-Emitter
(9) zugeordnete Heizung (10) aus mehreren einzeln
oder zusammen ansteuerbaren Heizelementen gebildet
ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Targets (7, 7′) sich außerhalb des zentralen
Pfads des Plasmastrahls befinden.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
einen Stutzen (38) zum Einleiten einer reaktiven
Substanz in die Umgebung der Oberflächen der Targets
(7, 7′).
9. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zur Ablenkung eines Fadens (S 2)
des Plasmastrahls (S) Magnete (60, 60′, . . .) umfaßt,
die in unmittelbarer Nachbarschaft des Substrathal
ters (5) oder an diesem selbst angeordnet sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Magnete (6, 6′) zum Führen des Plasmastrahls
(S) auf der Rückseite der Targets (7, 7′) angeordnet
sind.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Targets (7, 7′) auf den Targethaltern (24,
24′) relativ zum Plasmastrahl (S) verschiebbar ange
ordnet sind.
12. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Rohrstutzen (19) im Querschnitt vieleckig
ausgebildet ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Rohrstutzen (19) im Querschnitt, vorzugsweise
rechteckig, ausgebildet ist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Rohrstutzen (19) einen etwa ovalen Quer
schnitt aufweist.
15. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Rohrstutzen (19) einen etwa kreisrunden
Querschnitt aufweist.
16. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine Kühleinrichtung (25, 25′ bzw. 26, 26′) zum
Kühlen der Targets (7, 7′).
17. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Targets (7, 7′) jeweils aus mehreren einzel
nen Teilen zusammengesetzt sind, die ihrerseits aus
verschiedenen Werkstoffen gebildet sind.
18. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 17, dadurch gekenn
zeichnet, daß die einzelnen Teile der Targets (7, 7′)
als nebeneinanderliegende Segmente in einer gemein
samen Ebene (E) angeordnet sind, wobei jedes einzelne
Teil unabhängig vom benachbarten Teil Ionen im Plas
mastrahl (S) beschleunigt.
19. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die in
einer Ebene (E) nebeneinander angeordneten Targets
(7, 7′) Magnete (39, 39′) aufweisen, die in einer
dieser Ebene parallelen Ebene seitlich neben den
Targets (7, 7′) gehalten sind oder die Targets (7,
7′) ringförmig umschließen.
20. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß zumindest Teile des Elektronen-Emitters (9) aus
Lanthanhexaborid gebildet sind.
21. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die ein
zelnen Targets (7, 7′) jeweils einen rechteckigen
Querschnitt aufweisen, wobei beide Targets in einem
Winkel (α) kleiner als 90° zur Längsachse (L) des
Plasmastrahls (S) angeordnet sind.
22. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorherge
henden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
Einrichtung zum Beschleunigen der Ionen von einer
hochfrequenten Spannung oder aber mit Spannungsstößen
oder mit einer einstellbaren Wechselspannung beauf
schlagt sind.
23. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die Vorrichtung Gaseinlaßöffnungen (38) aufweist,
wobei die reaktive Substanz ein Gas ist und der in
die Vakuumkammer (17) eintretende Gasstrahl etwa
parallel zur Ebene (E) der Targets (7, 7′) strömt.
24. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die zu
beschichtenden Substrate (15, 15′ 15′′, . . .) an eine
einstellbare elektrische Spannungsquelle anschließbar
sind.
25. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Sub
strathalter (5) als ein rotationssymmetrischer Kör
per, beispielsweise walzen- oder trommelförmig ausge
bildet ist, wobei in seiner Außenmantelfläche eine
Vielzahl von Mulden oder Vertiefungen (40, 40′) vor
gesehen sind, in die die zu beschichtenden Substrate
(15, 15′, . . .), beispielsweise Lagerschalen, einge
legt und gehalten sind.
26. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der An
trieb des auf der Welle (3) gelagerten Substrathal
ters (5) schrittweise oder ungleichförmig erfolgt,
wozu der mit der Welle (36) des Substrathalters (5)
zusammenwirkende Motor (4) periodisch ein- und aus
schaltbar ist.
27. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der trom
melförmige, beispielsweise als Käfig ausgebildete
Substrathalter (5) Magnete (60, 60′, . . .) aufweist,
die einzeln oder zusammen erregbar sind und jeweils
auf der Rückseite der Substrate (15, 15′, . . .) ange
ordnet sind.
28. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Tar
gets (7, 7′) auf ortsfesten Böcken (24, 24′) gelagert
sind und in ihrer Lage zum dem Elektronen-Emitter (9)
abgewandten Ende des Rohrstutzens (19) sowohl
schwenk- (Pfeilrichtung F) als auch längsverschiebbar
(Pfeilrichtung D) gehalten und geführt sind.
29. Kathodenzerstäubungsvorrichtung nach einem oder
mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Vakuumkammer (17) mit einer
Einrichtung zur Erzeugung eines Plasmastrahls (S)
verbunden ist, die einen Elektronen-Emitter (9) mit
einer nachgeschalteten rohrförmigen Anode (11) auf
weist, die einen Einlaß (13) für das Prozeßgas zum
Zünden des Plasmastrahls (S) besitzt, wobei die Anode
(11) mit einem Rohrstutzen (19) korrespondiert, der
sowohl in die Anode (11) als auch in die Vakuumkammer
(17) einmündet, und wobei Magnete (12, 21, 30, 64)
zum Ausrichten und Führen des Plasmastrahls (S) durch
die Anode (11) in die Vakuumkammer (17) vorgesehen
sind, in der ein Substrathalter (5) mit von diesem
gehaltenen Substraten (15, 15′, . . .), beispielsweise
Lagerschalen, versehen ist, wobei in den aus dem
Rohrstutzen (19) austretenden Plasmastrahl (S) ein
Rohr (38) für den Einlaß einer eine Plasmapolymerisa
tion bewirkenden Substanz, beispielsweise SiH4
(Silan), einmündet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893904991 DE3904991A1 (de) | 1989-02-18 | 1989-02-18 | Kathodenzerstaeubungsvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19893904991 DE3904991A1 (de) | 1989-02-18 | 1989-02-18 | Kathodenzerstaeubungsvorrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3904991A1 true DE3904991A1 (de) | 1990-08-23 |
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ID=6374401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19893904991 Withdrawn DE3904991A1 (de) | 1989-02-18 | 1989-02-18 | Kathodenzerstaeubungsvorrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3904991A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6264804B1 (en) | 2000-04-12 | 2001-07-24 | Ske Technology Corp. | System and method for handling and masking a substrate in a sputter deposition system |
FR2869324A1 (fr) * | 2004-04-21 | 2005-10-28 | Saint Gobain | Procede de depot sous vide |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1057119A (en) * | 1965-11-16 | 1967-02-01 | Hermsdorf Keramik Veb | Method of and apparatus for the production of thin films on a substrate or carrier by ion beam sputtering |
GB1089967A (en) * | 1964-12-28 | 1967-11-08 | Hermsdorf Keramik Veb | Improvements in or relating to arrangements for the manufacture of electronic components comprising thin films |
US4250009A (en) * | 1979-05-18 | 1981-02-10 | International Business Machines Corporation | Energetic particle beam deposition system |
US4376688A (en) * | 1981-04-03 | 1983-03-15 | Xerox Corporation | Method for producing semiconductor films |
EP0308680A1 (de) * | 1987-09-21 | 1989-03-29 | THELEN, Alfred, Dr. | Vorrichtung zum Kathodenzerstäuben |
-
1989
- 1989-02-18 DE DE19893904991 patent/DE3904991A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1089967A (en) * | 1964-12-28 | 1967-11-08 | Hermsdorf Keramik Veb | Improvements in or relating to arrangements for the manufacture of electronic components comprising thin films |
GB1057119A (en) * | 1965-11-16 | 1967-02-01 | Hermsdorf Keramik Veb | Method of and apparatus for the production of thin films on a substrate or carrier by ion beam sputtering |
US4250009A (en) * | 1979-05-18 | 1981-02-10 | International Business Machines Corporation | Energetic particle beam deposition system |
US4376688A (en) * | 1981-04-03 | 1983-03-15 | Xerox Corporation | Method for producing semiconductor films |
EP0308680A1 (de) * | 1987-09-21 | 1989-03-29 | THELEN, Alfred, Dr. | Vorrichtung zum Kathodenzerstäuben |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6264804B1 (en) | 2000-04-12 | 2001-07-24 | Ske Technology Corp. | System and method for handling and masking a substrate in a sputter deposition system |
US6406598B2 (en) | 2000-04-12 | 2002-06-18 | Steag Hamatech Ag | System and method for transporting and sputter coating a substrate in a sputter deposition system |
FR2869324A1 (fr) * | 2004-04-21 | 2005-10-28 | Saint Gobain | Procede de depot sous vide |
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