DE3831797C1

DE3831797C1 - Funktionstestsystem für Lichtwellenleiter, insbesondere in mittels Laser auslösbaren Waffensystemen

Info

Publication number: DE3831797C1
Application number: DE3831797A
Authority: DE
Inventors: Richard Jacobs
Original assignee: Santa Barbara Research Center
Current assignee: Raytheon Co
Priority date: 1987-08-20
Filing date: 1988-09-19
Publication date: 2003-07-10
Anticipated expiration: 2008-09-20
Also published as: CA1341420C; GB2375906B; GB2375906A; GB8819800D0; US5270537A

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Testen der Integrität bzw. des ordnungsgemäßen Zustands eines Lichtwellenleiters (22) von einem Ende des Lichtwellenleiters aus. Eine Testlichtquelle mit einer Wellenlänge, die sich von der Wellenlänge einer ersten Lichtquelle (14) unterscheidet, wird in ein Ende des Lichtwellenleiters (22) eingespeist. Eine spektral selektive dichroitische Beschichtung (32) ist an dem anderen Ende des Lichtwellenleiters (22) aufgebracht. Die Beschichtung (32) läßt Licht mit der Wellenlänge der ersten Lichtquelle (14) durch und reflektiert Licht mit der Wellenlänge der Testlichtquelle (40). Ein Bruch oder eine Diskontinuität in dem Lichtwellenleiter (22) kann aufgrund der Dämpfung eines Lichtimpulses aus der Testlichtquelle (40) erkannt werden, nachdem dieser durch den Lichtwellenleiter übertragen und durch die dichroitische Beschichtung (32) zurückreflektiert worden ist. Das erfindungsgemäße System kann Bruchstellen oder Diskontinuitäten in dem Lichtwellenleiter (22) mit hoher Auflösung detektieren.

Description

Die Erfindung betrifft Funktionstestsysteme für Licht wellenleiter, insbesondere in mittels Laser auslösbaren Waffensyste men, mit denen sich Störungen und Diskontinuitäten in Lichtwellenleitern mit hoher Auflösung feststellen las sen.

Funktionstestsysteme für Lichtwelleneltier sind entweder "einseitig" oder "zweiseitig". Bei zweiseitigen Systemen muß auf beide Enden eines Lichtwellenleiters zugegriffen werden, um die Lichtmenge, die über dem Lichtwellenlei ter übertragen wird, zu messen. Bei vielen Anwendungen ist es jedoch nur möglich auf ein Ende des Lichtwellen leiters zuzugreifen. In solchen Fällen müssen einseitige Tester verwendet werden.

Viele einseitige Testsysteme nutzen die Zeitbereichs reflektrometrie (optical time domain reflectometry = OTDR). Bei diesen OTDR-Systemen werden Lichtimpulse durch den Lichtwellenleiter übertragen und dann wird das zurückreflektierte Licht gemessen. Die Zeit, die das reflektierte Licht bis zur Rückkehr zum Ausgangspunkt benötigte korrespondiert zu der Strecke, die es in dem Lichtwellenleiter zurücklegt. Auf diese Weise lassen sich mit OTDR-Systemen Lichtwellenleitercharakteristiken erstellen. Zwei Arten von Reflexionen treten auf. An Bruch- oder Verbindungsstellen, also an Punkten an denen der Lichtimpuls auf etwas anderes als einen kontinuier lichen Glaskern trifft, treten Impulsreflexionen auf. Rückstreureflexionen werden gleichförmig entlang des Lichtwellenleiters erzeugt wenn der übertragene Impuls durch den Lichtwellenleiter läuft. Das Rückstreusignal stellt ein Maß für die Dämpfung des Lichtwellenleiters dar. OTDR-Systeme werden häufig zur Feststellung von Brüchen in Nachrichtenübertragungskabeln verwendet, die typischerweise mehrere Kilometer lang sind. Ein halber Meter wird bei OTDR-Systemen als hervorragende Auflösung erachtet.

In einigen Systemen, bei denen einseitige Testsysteme verwendet werden kann eine Auflösung von einem Meter nicht akzeptiert werden. Ein Beispiel hierfür sind mit tels Laser auslösbaren Waffensystemen (laser initiated ordnance systems). In solchen Systemen könnte ein Bruch in der Nähe der Lichtwellenleiter/Waffe-Schnittstelle nicht von dem Ende des Lichtwellenleiters mittels eines OTDR-Systems unterschieden werden. Beispielsweise würde ein Bruch, der nur einen Millimeter von der Schnitt stelle Lichtwellenleiter/Waffe entfernt ist, das mili tärische, durch Laserlicht aktivierbare System funk tionsunfähig machen, jedoch könnte dieser Bruch von einem herkömlichen OTDR-System nicht erfaßt werden. Dies ist darauf zurückzuführen, daß das OTDR-System im Rückkehrsignal Signalspitzen unterscheiden müßte, die nur 67 Pikosekunden auseinanderliegen, um Reflexionen voneinander zu unterschei den, die im Abstand von 1 mm auftreten. Mit herkömmlichen OTDR-Systemen ist eine derartige Auflösung nicht möglich.

Lichtwellenleiter-Testsysteme sind auch aus M. Bininstool, "Integrated OTDR/Throughput Loss Measurement System for En vironmental Testing of Cabled Optical Fibers" in S.P.I.E., Volume 559, Fiber Optics: Short-haul and Long-haul Measure ments and Applications II, (1985), und R. Dupuy, "The Pre sent and Future OTDR" in S.P.I.E., Volume 559, Fiber Optics: Short-haul and Long-haul Measurements and Applications II, (1985).

Aus der DE-OS 30 31 589 ist eine Testvorrichtung für Licht wellenleiter bekannt. Bei dieser Vorrichtung wird Licht einer bestimmten Wellenlänge aus einer Testlichtquelle an einem Ende des zu überprüfenden Lichtwellenleiters eingekop pelt. Das andere Ende des Lichtwellenleiters weist eine re flektierende Beschichtung auf, so daß wenigstens ein Teil des Testlichtes zurückreflektiert wird. Das wieder aus dem einen Ende des Lichtwellenleiters austretende reflektierte Testlicht wird durch eine Linse einem Detektor zugeführt. Aufgrund der in diesem Detektor erfaßten Intensität des re flektierten Laserlichts kann auf den ordnungsgemäßen Zustand des Lichtwellenleiters geschlossen werden. Die vorliegende Testvorrichtung macht sich den Umstand zu nutze, daß an Dis kontinuitäten eines Lichtwellenleiters, wie z. B. an Grenz flächen ein Teil des übertragenen Lichts reflektiert wird. Dieser reflektierte Lichtanteil wird hinsichtlich seiner In tensität überwacht und eine Änderung der Intensität bedeutet eine Änderung des Lichtwellenleiters, wie z. B. einen Bruch. Da der reflektierte Anteil grundsätzlich wesentlich kleiner sein soll und muß als der durch den Lichtwellenleiter über tragene Anteil eignet sich diese Testvorrichtung nur für hohe Lichtintensitäten.

Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Vorrichtung bereitszustellen, mit dem der ordnungsgemäße Zustand eines Lichtwellenleiters bei Zugriff auf nur ein Ende des Lichtwellenleiters festgestellt werden kann und geeignet ist Brüche in unmittelbarer Nähe des Endes des Lichtwellenleiters zu erkennen.

Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt durch die Merkmale des Anspruchs 1. Erfindungsgemäß wird ein Funktions testsystem für Lichtwellenleiter bereitgestellt, das den ordnungsgemäßen Zustand eines Lichtwellenleiters bei Zugriff auf nur ein Ende des Lichtwellenleiters fest stellen kann. Bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird Licht aus einer ersten Lichtquelle, z. B. einem ersten Laser in einem mittels Laser auslösbaren Waffensystemen, in ein Ende des Lichtwellenleiters ein gespeist. Licht aus einer zweiten Lichtquelle, z. B. aus einem Laser bzw. einem Testlaser, wird ebenfalls in das gleiche Ende des Lichtwellenleiters eingespeist. Die zweite Lichtquelle weist eine Wellenlänge auf, die sich von der Wellenlänge der ersten Lichtquelle unterschei det. Das andere Ende des Lichtwellenleiters wird durch ein Material bedeckt, das Licht mit der Wellenlänge der Testlichtquelle reflektiert und für Licht mit der Wel lenlänge der ersten Lichtquelle durchlässig ist. Bei spielsweise kann dies eine dichroitische Beschichtung sein.

Im Testmodus ist die erste Lichtquelle von dem Licht wellenleiter abgekoppelt und die zweite Lichtquelle ist an den Lichtwellenleiter angekoppelt. Die zweite Licht quelle erzeugt dann Lichtimpulse, die in das eine Ende des Lichtwellenleiters eingespeist werden. Diese Impulse werden durch die gesamt Länge des Lichtwellenleiters übertragen und durch die dichroitische Beschichtung an dem anderen Ende des Lichtwellenleiters reflektiert. Ein Fotodektor ist in der Nähe der Testlichtquelle so posi tioniert, daß er die reflektierten Lichtimpulse detek tieren kann. Falls der Lichtwellenleiter eine Bruch stelle aufweist, besitzen die zu dem Fotodetektor zu rückreflektierten Lichtimpulse eine geringere Intensität als zu erwarten wäre. Dies ist darauf zurückzuführen, daß weniger Licht durch die Bruchstellen hindurch zu der dichroitischen Beschichtung gelangt und der Lichtimpuls wiederum gedämpft wird, wenn er auf seinem Rückweg zu dem Fotodetektor die Bruchstelle ein zweites Mal pas siert.

Falls die Amplitude der detektierten Impulse anzeigt, daß der Lichtwellenleiter keine Bruchstelle aufweist, ist der Funktionstest beendet. Das System wird dann vom Testmodus auf den Betriebsmodus umgeschaltet. Dies wird dadurch erreicht, daß die Testlichtquelle von dem Lichtwellenleiter abgekoppelt und die erste Lichtquelle an dem Lichtwellenleiter angekoppelt wird. Die dichroi tische Beschichtung an dem anderen Ende des Lichtwel lenleiters wird dann Licht mit der Wellenlänge der er sten Lichtquelle ohne signifikante Reflexion oder Dämp fung passieren lassen. Die erste Lichtquelle kann dann ihre eigentlich Funktion erfüllen.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der vorlie genden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Be schreibung unter Bezugnahme auf die Zeichnung.

Es zeigt:

Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Ausfüh rungsform des Funktionstestsystems für Licht wellenleiter gemäß der vorliegenden Erfindung,

Fig. 2 einen Graphen mit der spektralen Charakteristik der dichroitischen Beschichtung in dem Funk tionstestsystem für Lichtwellenleiter nach Fig. 1, und

Fig. 3 einen Graphen mit einem typischen Testsignal für das Funktionstestsystem für Lichtwellen leiter nach Fig. 1.

Das Funktionstestsystem 10 für Lichtwellenleiter gemäß Fig. 1 ist zur Verwendung in mittels Laser auslösbaren Waffensystemen geeignet. In der Ausführungsform nach Fig. 1 weist das mittels Laser auslösbare Waffensystem einen ersten Laser 14 auf, der Licht mit einer Wellen länge von 1,06 Mikrometer emittiert. Die pro Laserimpuls abgegebene Energie variiert typischerweise im Bereich von 50 bis 500 Millijoule. Im Betriebszustand wird ein Lichtimpuls aus dem ersten Laser 14 über ein Rhomboid- Prisma 16 und dann durch eine Anzahl von fokussierenden Linsen 18 geführt. Die fokussierenden Linsen 18 fokus sieren das Licht aus dem ersten Laser 14 auf bzw. in die Lichtwellenleiter-Anordnung 20. Die Lichtwellenleiter- Anordnung 20 besteht aus einem Lichtwellenleiter 26, einem ersten Anschlußteil 24, einem zweiten Anschlußteil 28, einem Endstück 30 (pigtail) und einer dichroitischen Beschichtung 32.

In einer bevorzugten Ausführungsform besteht die dichro itische Beschichtung 32 aus einer Mehrzahl von im Vakuum aufgetragenen dielektrischen Schichten, die eine hohe Durchlässigkeit für Licht der Wellenlänge des ersten Lasers aufweisen. Diese Wellenlänge ist 1,06 Mikrometer. Wie aus Fig. 2 zu ersehen ist, beträgt diese Durchläs sigkeit in etwa 98%. Daher wird ein hoher Prozentsatz der Energie aus dem ersten Laser über die dichroitische Beschichtung übertragen, um eine Sprengladung 33 auszu lösen. Falls in der Lichtwellenleiter-Anordnung 20 ir gendwelche schadhafte Verbindungsstellen oder Bruch stellen vorhanden sind, kann dies dazu führen, daß die Sprengladung wegen der Dämpfung des Lichts aus dem er sten Laser 14 an der Bruchstelle bzw. an der schlechten Verbindung nicht zündet.

Um die Funktionsfähigkeit bzw. den ordnungsgemäßen Zu stand der Lichtwellenleiter-Anordnung 20 zu testen wird das Funktionstestsystem 10 für Lichtwellenleiter in den Testmodus versetzt. Dies wird dadurch erreicht, daß ein zweites Rhomboid-Prisma 34 und ein Ablenk-Prisma 36 auf einem Verschluß 38 in den Pfad des Lichts aus dem ersten Laser 14 geschoben wird.

Wie aus Fig. 1 zu ersehen ist, wird durch das Ablenk-Prisma 36 das Laserlicht aus dem ersten Laser 14 zur Seite hin abgelenkt. Durch das zweite Rhomboid-Prisma 34 wird anstelle des Laserlichts aus dem ersten Laser 14 Laserlicht aus einem Testlaser 40 in die Lichtwellenleiter-Anordnung 20 eingekoppelt. Bei der beschriebenen Ausführungsform ist der Testlaser 40 eine Laserdiode mit einer Wellenlänge zwischen 0,08 und 0,88 Mikrometer. Ein Impulsgeneratorschaltkreis 42 steuert den Testlaser 40. Der Testlaser 40 strahlt Lichtimpulse mit einer zeitli chen Dauer von weniger als 20 Nanosekunden und einer Energie von ungefähr 0,10 Nanojoule aus. Dieser Ener giepegel ist klein genug, so daß nicht die Gefahr des Auslösens der Sprengladung 33 besteht.

Licht aus dem Testlaser 40 wird über eine Mehrzahl von Linsen 44 durch einen Strahlteiler 46 und in das Rhom boid-Prisma 34 geführt. Das Licht wird dann von dem zweiten Prisma 34 in das erste Rhomboid-Prisma 16 und dann zu den fokussierenden Linsen 18 geführt, die das Licht in die Lichtwellenleiter-Anordnung 20 einspeisen. Nachdem der Testlichtimpuls die Lichtquellenleiter-An ordnung 20 durchlaufen hat, wird er durch die dichroi tische Beschichtung 32 reflektiert. Fig. 2 illustriert die Durchlässigkeit der dichroitischen Beschichtung 32, die für Licht der Wellenlänge des Testlasers nahezu Null Prozent ist. Daher wird nahezu alles Licht durch die dichroitische Beschichtung 32 durch die Lichtwellenlei ter-Anordnung 20, durch die fokussierenden Linsen 18, durch das erste Prisma 16, durch das zweite Prisma 34 und durch den Strahlteiler 46 zurückreflektiert. Ein Teil dieses Strahls wird durch den Strahlteiler 46 re flektiert und zu einer Fotodiode 48 geführt.

Ein beispielhaftes Signal, wie es durch die Fotodiode 48 detektiert wird, ist in Fig. 3 dargestellt. Wenn der Testimpuls aus der Laserdiode 40 durch die Lichtwellen leiter-Anordnung 20 übertragen wird, wird ein Teil des Lichtes durch die Anschlußteile in der Lichtwellenlei ter-Anordnung 20 reflektiert. Beispielsweise reflektiert das erste Anschlußteil 24 einem kleinen Betrag des Lichts zurück zu der Fotodiode 48; ungefähr 3 bis 4% des einfallenden Lichts. Dieser Impuls ist als Impuls 50 in Fig. 3 zu sehen. In gleicher Weise wird das zweite Anschlußteil 28 einen Teil des Lichtimpulses zu der Fo todiode zurückreflektieren. Dieser Impuls 52 ist eben falls in Fig. 3 zu sehen. Als nächstes wird die dichro itische Beschichtung 32 nahezu das gesamte eintreffende Licht des Testimpulses reflektieren. Dieser Impuls 54 ist ebenfalls in Fig. 3 zu sehen. Falls eine schadhafte Verbindungsstelle oder eine Bruchstelle in der Licht wellenleiter-Anordnung 20 vorhanden wäre, würde wesent lich weniger Licht die dichroitische Beschichtung 32 erreichen und folglich wäre der von der dichroitschen Beschichtung 32 reflektierte Impuls 54 viel kleiner.

Bei der bevorzugten Ausführungsform wird eine Bruch stelle oder eine schadhafte Verbindungsstelle in der Lichtwellenleiteranordnung 20 dadurch detektiert, daß zuerst die Amplitude des Impulses 54 gemessen wird, der von der dichroitischen Beschichtung einer Lichtwellen leiter-Anordnung reflektiert wird, deren ordnungsgemäßer Zustand bekannt ist. Ein Signalpegel, der in Fig. 3 mit "Schwellenwert-Pegel" bezeichnet ist, wird dann so ge wählt, daß er knapp unter der Spitzenamplitude des Im pulses 54 liegt. Dieser Impuls kann beispielsweise 10 bis 20% unterhalb dem Spitzenpegel liegen.

Im tatsächlichen Test erfüllt dann eine Lichtwellenlei ter-Anordnung 20 die Testanforderungen wenn das Signal an der Fotodiode 48 den Schwellenwert erreicht oder übersteigt. Falls andererseits das Signal von der Foto diode 48 unterhalb dem Schwellenwertpegel liegt, hat die Lichtwellenleiter-Anordnung 20 den Test nicht bestanden. Dies würde anzeigen, daß eine Bruchstelle oder eine schadhafte Verbindungsstelle in der Lichtwellenleiter- Anordnung vorhanden ist, so daß der Testlichtimpuls ge dämpft wird. Es ist klar, daß die Erkennung des Schwellenwertpegels mittels einer Vielzahl von bekannten elektrischen Schaltkreisen zur Pegeldetektion durchge führt werden kann. Es kann auch sinnvoll und nützlich sein, die Detektion durch diesen Schaltkreis auf ein Zeitintervall zu beschränken, das kurz vor der Zeit be ginnt, zu der der Impuls 54 erwartet wird, und kurz nach dem erwarteten Auftreten dieses Impulses endet. Diese Zeitperiode wird in Fig. 3 "Tor-Intervall" genannt. Beispielsweise kann dieses Tor-Intervall 100 Nano sekunden sein. Das Tor-Intervall kann eine beliebige Zeitperiode, einschließlich einem offenen Interval, sein. Das Tor-Intervall kann auch nur einige wenige 100 Nanosekunden umfassen, wobei in diesem Fall dann nur der gewünschte Impuls gemessen wird. Das Tor-Interval kann auch unbegrenzt sein, wobei dann die gesamte ausge strahlte Energie gemessen wird. Der Detektor-Schaltkreis 56 ist in Fig. 1 gezeigt.

Das vorstehend beschriebene Testsystem erübrigt die präzisen Zeitmessungen, die durch ein OTDR-System bzw. durch ein System mit einem Zeitbereichsreflektometer notwendig wären. Des weiteren wird durch das beschrie bene Verfahren eine Bruchstelle in der Lichtwellenlei ter-Anordnung 20 in unmittelbarer Nähe des Endes des Lichtwellenleiters erfaßt. Dies ist darauf zurückzu führen, daß die Dämpfung des Testimpulses von einer Bruchstelle herrührt, unabhängig davon, ob sich diese Bruchstelle in der Nähe des Endes des Lichtwellenleiters oder sonstwo befindet. Die bekannten OTDR-Systeme können demgegenüber Bruchstellen, die beispielsweise einen Millimeter von dem Ende des Lichtwellenleiters nicht erkennen.

In einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Er findung wird das in Fig. 3 gezeigte Tor-Intervall so vergrößert, daß es die gesamte Zeitdauer umfaßt inner halb der erwartet wird, daß alle reflektierten Impulse durch die Fotodiode 48 empfangen worden sind. Bei dieser Ausführungsform wird die gesamte zurückreflektierte Energie durch Integration über alle zurückkehrende Im pulse gemessen. Auch hierfür können eine Reihe bekannter Integrationsschaltkreise verwendet werden. Die aufinte grierte Energie aller zurückgekehrten Impulse wird dann mit der Aufintegration in einer Lichtwellenleiter-An ordnung mit bekanntem ordnungsgemäßen Zustand vergli chen. Falls diese Aufsummation wesentlich unterhalb einem erwarteten Pegel liegt, zeigt dies, daß der Lichtquellenleiter eine Bruchstelle oder eine schadhafte Verbindungsstelle aufweist und der Test ist nicht be standen.

Claims

1. Vorrichtung zum Testen des ordnungsgemäßen Zustands eines Lichtwellenleiters von einem Ende des Licht wellenleiters aus, insbesondere in mittels Laser auslösbaren Waffensystemen, mit

a) einer ersten Lichtquelle, die Licht mit einer ersten Wellenlänge emittiert;
b) einer Testlichtquelle, die Licht mit einer zwei ten Wellenlänge emittiert, wobei diese Testwel lenlänge sich von der ersten Wellenlänge unter scheidet,
c) Einrichtungen zum Führen des Lichts aus der er sten Lichtquelle in ein erstes Ende des Licht wellenleiters;
d) Einrichtungen zum Führen des Lichts aus der Testlichtquelle in das erste Ende des Lichtwel lenleiters;
e) Einrichtungen zum wechselweisen Unterbrechen des Lichtstrahls entweder von der ersten Lichtquelle oder von der Testlichtquelle;
f) einer Beschichtung, die auf das zweite Ende des Lichtwellenleiters aufgebracht ist und im we sentlichen für Licht mit der ersten Wellenlänge durchlässig ist und Licht mit der zweiten Wel lenlänge reflektiert;
g) Einrichtungen zum Erzeugen von Lichtimpulsen aus der Testlichtquelle;
h) Einrichtungen zum Detektieren von Lichtimpulsen aus der Testlichtquelle, die aus dem ersten Ende des Lichtwellenleiters austreten, nachdem sie von der reflektierenden Beschichtung reflektiert worden sind; und
i) Einrichtungen zum Messen der Intensität der durch die Detektoreinrichtung detektierten Lichtimpul se, wobei eine Diskontinuität in dem Lichtwel lenleiter aufgrund einer Verringerung der Inten sität des reflektierten Lichtimpulses erfaßt wird.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Testlichtquelle eine niederenergetische La serdiode ist.

3. Vorrichtungen nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge kennzeichnet, daß die Laserdiode eine Wellenlänge zwischen 0,08 und 0,88 Mikrometer aufweist.

4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Lichtquelle ein Laser ist.

5. Vorrichtungen nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich net, daß der Lichtwellenleiter mit einer mittels Laserlicht zündbaren Sprengladung verbunden ist, und daß die erste Lichtquelle zur Aktivierung einer die Sprengladung zündenden Einrichtung verwendet wird.

6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierende oder optisch durchlässige Beschichtung ein optisches Bandpaßfilter ist.

7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da durch gekennzeichnet, daß die reflektierende oder optisch durchlässige Beschichtung eine dichroitische Beschichtung ist.

8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die dichroitische Beschichtung aus einer Mehr zahl von im Vakuum aufgebrachten dielektrischen Schichten besteht.

9. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum wahlweisen Unterbrechen des Lichts aus der ersten Licht quelle einen Verschluß, ein Rhomboid-Prisma und ein Ablenk-Prisma und Ein richtungen zum Einführen des Verschlusses, des Rhomboid-Prismas und des Ablenkprismas in den Lichtpfad aus der ersten Lichtquelle aufweisen.

10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen zum Führen des Lichts aus der zweiten Lichtquelle aufweisen:

a) eine erste Linsenanordnung zum Empfangen des Lichts aus der Testlichtquelle;
b) einen Strahlteiler, um das von dem Lichtquellen leiter reflektierte Licht zu der Detektorein richtung zu führen;
c) ein erstes Prisma zum Empfangen von Licht aus der Testlichtquelle;
d) ein zweites Prisma zum Empfangen von Licht aus dem ersten Prisma; und
e) eine fokussierenden Linsenanordnung zum Führen des Lichts von dem zweiten Prisma in den Licht wellenleiter.

11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeich net, daß die Einrichtung zum Führen des Lichts von der ersten Lichtquelle in ein erstes Ende des Lichtwellenleiters das zweite Prisma zum Empfang des Lichts aus der ersten Lichtquelle und eine Anordnung aus fokussierenden Linsen aufweist, um Licht von dem zweiten Prisma in den Lichtwellenleiter zu führen.

12. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Detektieren der Lichtimpulse von der Testlichtquelle eine Fotodiode umfaßt.

13. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Detektieren der Lichtimpulse von der Testlichtquelle weiter Einrichtungen zum Detektieren von Licht nur während eines schmalen Zeitintervalls aufweist, währenddem ein von dem re flektierenden oder optisch durchlässigen Teil re flektierter Impuls erwartet wird, und Einrichtung aufweist, um festzustellen, ob der detektierte Im puls über einem vorbestimmten Schwellenwert liegt, wobei eine Diskontinuität in dem Lichtwellenleiter aufgrund einer verminderten Höhe dieses Impulses detektiert wird.

14. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung zum Detektieren des Lichtimpul ses Licht während eines vergleichsweise weiten Zeit intervalls erfaßt, währenddem jegliches Licht des von dem Lichtwellenleiter reflektierten Impulses zurückerwartet wird, wobei die Vorrichtung weiter aufweist:

a) Einrichtungen zum Messen der Intensität des Lichtimpulses während dieses vergleichsweise weiten Zeitintervalls; und
b) Einrichtungen zum Integrieren der gemessenen In tensität während des Intervalls, wobei eine Dis kontinuität des Lichtwellenleiters aufgrund eines reduzierten Wertes dieser Integration detektiert wird.