DE4013884A1 - Vorrichtung zum messen der rueckflussdaempfung an faseroptischen komponenten - Google Patents
Vorrichtung zum messen der rueckflussdaempfung an faseroptischen komponentenInfo
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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Description
Die Anmeldung betrifft eine Vorrichtung zum Messen und
Prüfen der Rückflußdämpfung an faseroptischen
Komponenten. Bei den faseroptischen Komponenten kann es
sich um passive Bauelemente, wie Steckverbinder,
Spleiße, Isolatoren, Dämpfungsglieder oder auch aktive
Bauelemente, wie Sender- oder Empfängermodule handeln.
In Lichtwellenleiter-Systemen ist die Rückflußdämpfung
ein Maß für den Anteil an Licht- oder
Strahlungsleistung, die von der betreffenden optischen
Komponente in Senderichtung reflektiert wird.
Trifft ein Lichtstrahl mit der Leistung Po auf eine
Brechzahldiskontinuität, so wird ein Teil Pr der
Leistung reflektiert. Wie groß dieser Anteil ist,
errechnet sich aus den beiden beteiligten Brechzahlen
n1 und n2 vor und nach der Diskontinuität über die
Fresnel-Formel:
Pr = Po · (n₁-n₂)²/(n₁+n₂)²
Als Rückflußdämpfung ar ist definiert:
ar = -10 · log(Pr/Po) dB
Zur Bestimmung der Rückflußdämpfung ist demnach die
Messung wenigstens zweier Strahlungsleistungen
erforderlich.
Aus dem internationalen Normpapier DIN IEC 86B (Co) 8
"Fachgrundnorm für LWL-Steckverbinder", Entwurf Oktober
1987, Seiten 53 bis 57, ist eine Vorrichtung zum Messen
der Rückflußdämpfung bekannt, welche einen optischen
Sender, der im Dauerstrichbetrieb arbeitet, einen
linearen optischen Empfänger und einen
Leistungsverzweiger (Richtkoppler), der Sende- und
Empfangsweg trennt, enthält. Bei der bekannten
Vorrichtung werden Sende- und Empfangsleistungen ohne
und mit Prüfobjekt nacheinander gemessen und zur
Fehlerkorrektur noch eine weitere Messung mit einer
Referenz durchgeführt. Aus den erhaltenen Meßwerten wird
dann die Rückflußdämpfung rechnerisch ermittelt.
Diese Art der Messung der Rückflußdämpfung ist
praktikabel, jedoch aus zumindest zwei Gründen in der
Anwendung problematisch.
Es sind mehrere Messungen zeitlich nacheinander nötig,
wobei die reflektierte Leistung üblicherweise um mehrere
Größenordnungen unter der transmittierten liegt.
Variationen in den Ankoppelbedingungen der beteiligten
Fasern und die unvermeidlichen Schwankungen in der
Meßapparatur gehen unmittelbar in die Messung ein und
führen zu fehlerbehafteten Ergebnissen (zufällige
Fehler).
In den Anordnungen kommen außer dem eigentlichen
Meßobjekt mindestens zwei weitere
Brechzahldiskontinuitäten vor, die vergleichbare
Reflexionen wie das Meßobjekt selbst haben können. Die
Reflexionsanteile zweifelsfrei voneinander zu trennen.
Dadurch kommt es außer zu zufälligen auch zu
systematischen Fehlern. Hinreichend zuverlässige
Ergebnisse werden nur bei sehr sorgfältigem Arbeiten,
großer Routine des Messenden und ggf. mehrfacher
Wiederholung der Meßprozedur erhalten.
Bei Komponenten, die Anschlußfasern mit Steckern haben,
kommt als weiteres Problem hinzu, daß diese Stecker bei
der Messung immersiert werden müssen. Dies bedeutet eine
Erschwernis bei der Qualifikation dieser Bauelemente.
Die genannten Schwierigkeiten treten grundsätzlich bei
allen Gleichlicht-Meßverfahren für die Rückflußdämpfung
auf. Darum bemüht man sich allgemein - auch in der IEC
SC86B - um Meßverfahren, die nach dem
Reflektometerprinzip, also mit gepulsten Meßsignalen
arbeiten. Hier lassen sich die Reflexionsbeiträge
beliebiger Stoßstellen in zeitlicher Reihenfolge sauber
voneinander trennen und jeweils für sich allein
auswerten, nachdem das Reflektometer an einem bekannten
Brechzahlsprung geeicht wurde. Da aber auch hier Eichung
und Messung bzw. Messung und Referenzmessung zeitlich
versetzt erfolgen, muß das benutzte Reflektometer
entweder hinreichend langzeitstabil sein, oder die
Eichung muß ständig wiederholt werden. In beiden Fällen
ergeben sich Zusatzkosten, die die Messung und damit das
Produkt verteuern. Geeignete Reflektometer sind wegen
der erheblichen Anforderungen an zeitliches
Auflösungsvermögen, Linearität und Langzeitstabilität
vergleichsweise teuer.
Das der Erfindung zugrundeliegende Problem besteht
darin, eine Vorrichtung zum Messen oder Prüfen der
Rückflußdämpfung an faseroptischen Komponenten zu
schaffen, welche einen geringeren apparativen Aufwand
als die bekannte Vorrichtung erfordert. Außerdem soll
insbesondere der für die Messung benötigte zeitliche
Aufwand gering sein, aber dennoch genaue und
zuverlässige Meßwerte liefern.
Dieses technische Problem ist erfindungsgemäß dadurch
gelöst, daß an ein, ein Meßsignal (Lichtimpulse)
aussendendes optisches Reflektometer ein das Meßsignal
auf einen Referenzzweig und einen Meßzweig aufteilender
optischer Leistungsverzweiger angeschlossen ist und
Referenzzweig sowie Meßzweig Lichtwellenleiter
unterschiedlicher Länge aufweisen.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung erfordert keinen großen
apparativen Aufwand, sie ist vielmehr kostengünstig als
Zusatz zu bereits vorhandenen Meßeinrichtungen zu
verwirklichen. Der für die Messung erforderliche
Zeitaufwand ist wesentlich geringer als bei Messungen
mit der bekannten Vorrichtung. Die Meßgenauigkeit ist
bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung hoch, obwohl an
die Linearität und Stabilität der in der Vorrichtung auf
der Sende- und Empfangsseite vorhandenen Elektronik
keine hohen Anforderungen gestellt werden. Es ist
lediglich erforderlich, die Daten des Referenzzweiges
möglichst genau zu bestimmen, welche dann für beliebige
Zeiten extrem stabil zu Verfügung stehen.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist auch für eine
rasche Prüfung, beispielsweise bei der
Wareneingangskontrolle oder nach Beendigung der
Fertigung, mit Vorteil einsetzbar, weil durch einen
visuellen Vergleich der Reflexamplituden des Meßzweiges
und des Referenzzweiges auf dem Sichtgerät eine
Gut/Schlecht-Aussage sogleich möglich ist. Die
Linearität des Empfängers und die Langzeitstabilität des
Senders spielen keine Rolle, da das Meßobjekt und die
Referenz in jedem beliebigen Augenblick gleichzeitig
miteinander verglichen werden. Die erfindungsgemäße
Vorrichtung ist sozusagen ständig "selbsteichend".
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den
Ansprüchen 2 bis 6 enthalten. Sie ist nachstehend anhand
der Fig. 1 und 2 erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch die erfindungsgemäße Vorrichtung und
Fig. 2 die Anzeige des Sichtgerätes bei einer Messung
mit der Vorrichtung gemäß Fig. 1.
In Fig. 1 ist zunächst das Impulsreflektometer 1 zu
erkennen, welches mit dem Sichtgerät 2 gekoppelt ist.
Bei dem Impulsreflektometer 1 kann es sich um ein Gerät
handeln, welches als optical time domain reflectometer
(Abkürzung: OTDR) bezeichnet wird. Es sollte in der Lage
sein, Lichtimpulse mit einer Impulsdauer von ein bis
fünf Nanosekunden zu erzeugen. Derartige
Impulsreflektometer sind im Handel erhältlich (z. B.
Geräte mit der Typenbezeichnung: TDA 20, TDA 30 und OFM
10 der Fa. Optoelectronics) .
In Fig. 1 sind das Reflektometer 1 und das Sichtgerät 2
als getrennte Einheiten dargestellt; in handelsüblichen
Geräten sind beide jedoch vereint. Dieses Gerät kann für
den Einsatz bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung
einfach und daher preiswert aufgebaut sein, weil die
erforderliche Meßgenauigkeit nicht durch die
elektronische Schaltung des Reflektometers
sichergestellt wird, sondern von der erfindungsgemäßen
Vorrichtung automatisch geliefert wird.
An das Impulsreflektometer 1 ist der Lichtwellenleiter 3
angeschlossen, welcher in dem Koppler 4 in den
Referenzzweig 5 und den Meßzweig 6 aufgeteilt wird. Bei
dem Referenzzweig 5 handelt es sich ebenfalls um einen
Lichtwellenleiter mit der Länge L1, dessen Ende glatt
und im rechten Winkel zur Lichtwellenleiter-Längsachse
gebrochen ist, so daß sich eine genaue
Brechungsindex-Stoßstelle ergibt. Der Meßzweig 6 besteht
aus einem Lichtwellenleiter mit der Länge L2, an den
über eine Kupplung 7 beispielsweise einen
Lichtwellenleiter-Stecker, das zwischen zwei
Lichtwellenleiter-Stücken 8 und 9 angeordnete Prüfobjekt
10, beispielsweise ein Lichtwellenleiter-Stecker,
angeordnet ist. Der Abschluß 15 des
Lichtwellenleiter-Stückes 9 soll eine grobe Bruchstelle
sein.
Wenn die Impulsdauer der bei der Messung verwendeten
Lichtimpulse ein bis zwei Nanosekunden beträgt und die
Länge des Lichtwellenleiters im Referenzzweig 5 die
Hälfte der Länge des Wellenleiters im Meßzweig 6
beträgt, dann lassen sich die Reflexionen gut
voneinander unterscheidbar auf dem Sichtgerät 2
darstellen, wie aus Fig. 2 erkennbar. In Fig. 2 sind
mehrere Reflexionen über einer Zeitachse dargestellt,
welches zeigt, daß die Reflexionen unterschiedliche
Laufzeiten aufweisen.
Bei dem in Fig. 2 gezeigten Meßsignal, das mit der
Vorrichtung gemäß Fig. 2 erzeugt wurde, zeigt das Signal
11 die durch den Referenzzweig 5 verursachte Dämpfung.
Das Signal 12 zeigt die durch die Kupplung 7 verursachte
Dämpfung und Signal 13 zeigt die vom Abschluß 15 des
Lichtwellenleiter-Stückes 9 verursachte Dämpfung. Wenn
das Prüfobjekt eine Dämpfung erzeugt hätte, dann hätte
an der vom Pfeil 14 gekennzeichneten Stelle ein Signal
vorhanden sein müssen. Somit zeigt das Signal des
Sichtgerätes, daß die Rückflußdämpfung des Prüfobjektes
über 50 dB liegt.
Wie aus Fig. 2 zu erkennen, werden mit der
erfindungsgemäßen Vorrichtung die Rückflußdämpfungswerte
von Referenz 14 und Prüfobjekt 10 gleichzeitig gemessen
und im Sichtgerät 2 angezeigt. Die Impulsdauer des
verwendeten Lichtimpulses wird durch die Längenauflösung
der Meßanordnung bestimmt. Als Richtwert gilt: 1 ns
entsprechen 10 cm.
Wenn es sich bei der Referenz 14 um einen Bruch
senkrecht zur Längsachse des Lichtwellenleiters handelt,
dann weist sie einen Brechzahlsprung von n=1,48
(Faserkern) zu n=1 (Luft) auf, so daß hier nach der
Fresnel-Formel ca. 4% der auftreffenden
Strahlungsleistung reflektiert werden. Entsprechend
beträgt die Rückflußdämpfung 14 dB. Benutzt man einen
10 dB-Koppler, also einen Koppler, dessen
Transmissionskoeffizienten im Verhältnis 10 : 1
zueinander stehen, so liegt das Reflektometersignal für
den Referenzzweig 14 dB+2×10 dB=34 dB unter dem
Sendesignal, wobei die Zusätzlichen 2×10 dB vom
zweimaligen Durchgang des Meßsignals durch den
10 dB-Koppler herrühren.
Dem derzeitigen Stand der Technik entsprechende
Lichtwellenleiter-Steckverbinder haben
Rückflußdämpfungswerte von ar < 30 dB, so daß bei der
gewählten Anordnung auf dem Reflektogramm mit einem
Blick festzustellen ist, ob ein an die Meßapparatur
angeschlossener Steckverbinder der Spezifikation
entspricht oder nicht. Die Prüfzeit beträgt in diesem
Falle tatsächlich nur einige Sekunden.
Claims (6)
1. Vorrichtung zum Messen oder Prüfen der
Rückflußdämpfung an faseroptischen Komponenten,
dadurch gekennzeichnet, daß an
ein, ein Meßsignal (Lichtimpulse) aussendendes optisches
Reflektometer (1) ein das Meßsignal auf einen
Referenzzweig (5) und einen Meßzweig (6) aufteilender
optischer Leistungsverzweiger (4) angeschlossen ist und
Referenzzweig sowie Meßzweig Lichtwellenleiter
unterschiedlicher Länge aufweisen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Referenzzweig (5) aus einem Lichtwellenleiter
besteht, an dessen vom Leistungsverzweiger abgewandten
Ende eine Referenz (14) angeordnet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßzweig (6) aus einem Lichtwellenleiter
besteht, an den das zwischen zwei
Lichtwellenleiter-Stücken (8, 9) liegende Prüfobjekt
(10) angeschlossen ist und das am Ende liegende
Lichtwellenleiter-Stück (9) als Abschluß (15) ein grob
gebrochenes Ende aufweist.
4. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der Lichtwellenleiter im
Referenzzweig (5) kürzer als der Lichtwellenleiter im
Meßzweig (6) ist.
5. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die Referenz (14) im Referenzzweig
(5) aus einem senkrecht zur Längsachse gebrochenen Ende
des Lichtwellenleiters besteht.
6. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß der Referenzzweig (5) dadurch auf
eine definierte Reflexion eingestellt ist, daß das Ende
des Lichtwellenleiters mit einem Medium mit bestimmter
Brechzahl in Kontakt steht.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904013884 DE4013884A1 (de) | 1990-04-30 | 1990-04-30 | Vorrichtung zum messen der rueckflussdaempfung an faseroptischen komponenten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904013884 DE4013884A1 (de) | 1990-04-30 | 1990-04-30 | Vorrichtung zum messen der rueckflussdaempfung an faseroptischen komponenten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4013884A1 true DE4013884A1 (de) | 1991-10-31 |
Family
ID=6405457
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904013884 Withdrawn DE4013884A1 (de) | 1990-04-30 | 1990-04-30 | Vorrichtung zum messen der rueckflussdaempfung an faseroptischen komponenten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4013884A1 (de) |
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- 1990-04-30 DE DE19904013884 patent/DE4013884A1/de not_active Withdrawn
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Legal Events
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8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ALCATEL SEL AKTIENGESELLSCHAFT, 7000 STUTTGART, DE |
|
8120 | Willingness to grant licenses paragraph 23 | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8130 | Withdrawal |