DE3814606A1 - Verfahren und vorrichtung zur erfassung von strukturen einer oberflaeche eines flaechigen guts - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur erfassung von strukturen einer oberflaeche eines flaechigen gutsInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000006378 damage Effects 0.000 claims abstract description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000009501 film coating Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 208000035874 Excoriation Diseases 0.000 description 12
- 239000000047 product Substances 0.000 description 11
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 3
- 208000014674 injury Diseases 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 238000007542 hardness measurement Methods 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/56—Investigating resistance to wear or abrasion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
- G01N2021/8427—Coatings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4788—Diffraction
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3814606A DE3814606A1 (de) | 1988-04-29 | 1988-04-29 | Verfahren und vorrichtung zur erfassung von strukturen einer oberflaeche eines flaechigen guts |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3814606A DE3814606A1 (de) | 1988-04-29 | 1988-04-29 | Verfahren und vorrichtung zur erfassung von strukturen einer oberflaeche eines flaechigen guts |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3814606A1 true DE3814606A1 (de) | 1989-11-09 |
DE3814606C2 DE3814606C2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1991-10-31 |
Family
ID=6353244
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3814606A Granted DE3814606A1 (de) | 1988-04-29 | 1988-04-29 | Verfahren und vorrichtung zur erfassung von strukturen einer oberflaeche eines flaechigen guts |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3814606A1 (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0524348A1 (de) * | 1991-07-20 | 1993-01-27 | Tencor Instruments | Einrichtung für Oberflächeninspektionen |
WO2003098065A1 (de) | 2002-05-17 | 2003-11-27 | Ina-Schaeffler Kg | Verstellbare rolleneinheit für ein gelenkinnenteil eines tripode-gleichlaufdrehgelenkes |
EP2693203A1 (de) * | 2012-07-31 | 2014-02-05 | QIAGEN Lake Constance GmbH | Verfahren zum berührungslosen Bestimmen einer Eigenschaft eines Gegenstands |
EP2693197A1 (de) * | 2012-07-31 | 2014-02-05 | QIAGEN Lake Constance GmbH | Detektorkopf |
CN118758846A (zh) * | 2024-09-06 | 2024-10-11 | 中国航发贵州黎阳航空动力有限公司 | 航空发动机燃滑油路交叉孔相贯线处细小毛刺的检查方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4229349C2 (de) * | 1992-09-05 | 1995-05-24 | Schoeller Felix Jun Papier | Verfahren und Anordnung zur Messung der optischen Oberflächengüte von spiegelnden Materialien und der optischen Güte transparenter Materialien |
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-
1988
- 1988-04-29 DE DE3814606A patent/DE3814606A1/de active Granted
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Publication number | Publication date |
---|---|
DE3814606C2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1991-10-31 |
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |