DE3714158A1 - Vorrichtung zur bewertung der linearitaet von zu attestierenden beugungsgittern - Google Patents
Vorrichtung zur bewertung der linearitaet von zu attestierenden beugungsgitternInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf die Holographie und betrifft
eine Vorrichtung zur Bewertung der Linearität von
zu attestierenden Gittern.
Die Erfindung kann insbesondere im Meßwesen, der Spektroskopie
sowie etwa zur Bestimmung der Gleichmäßigkeit
der Strichverteilung über die Oberfläche von zu attestierenden
Strichrastern sowie linearen und radialen Beugungsgittern
Anwendung finden.
Es ist bereits eine Vorrichtung zur Bewertung der Linearität
von zu attestierenden Beugungsgittern bekannt, die
folgende wesentlichen Komponenten aufweist: Eine Quelle
für kohärente Strahlung (einen mit Jod stabilisierten He-
Ne-Laser), ein im Strahlengang der kohärenten Strahlung
angeordnetes Michelson-Interferometer, in dessen einem Arm
das zu attestierende Beugungsgitter und ein Reflektor des
Interferometers auf einem in bezug auf ein feststehendes
lichtelektrisches Mikroskop verschiebbaren Wagen angeordnet
sind, ein Interferenzrefraktometer zur Bestimmung des
Brechungsindex der Luft, eine Präzisionsmeßeinrichtung zur
Bestimmung der Temperatur der zu attestierenden Raster und
der Luft, elektronische Geräte zur Zählung der Strichzahl
des zu attestierenden Gitters und zur Interferenzstreifenzählung
am Ausgang des Interferometers und zur Bestimmung
der Längen der Meßbereiche unter Berücksichtigung von Änderungen
des Brechungsindex berücksichtigenden Korrekturen
(vgl. beispielsweise A. A. Bolonin, N. P. Gerasimov, V. L.
Fedorin, L. F. Havinson, V. L. Shura, "Untersuchung eines
Laser-Interferenzkomparators für Kopien des Normals der
Längeneinheit des Meters", Kongreßbericht der wissenschaftlich-technischen
Allunions-Konferenz "Einführung
progressiver Mittel und Methoden zur Überwachung der Maße,
für Präzisionsmessungen von Längen und Winkeln", Leningrad,
1984, S. 70 bis 71).
Diese vorbekannte Vorrichtung arbeitet wie folgt.
Das lichtelektrische Mikroskop wird nacheinander auf den
Anfangs- und den Endstrich eines Meßbereichs gerichtet,
innerhalb dessen die Striche des zu attestierenden Beugungsgitters
gezählt werden, wobei der Interfereometerspiegel
um einen Abstand verschoben wird, der gleich dem Meßbereich
ist, während sich der Gangunterschied zwischen den
interferierenden Bündeln um den doppelten Wert ändert.
Bei einer Verschiebung des Reflektors können auf der Ausgangsapertur
des Interferometers sich verschiebende Interferenzstreifen
beobachtet werden. Die Linearität des zu
attestierenden Beugungsgitters wird bei dieser Vorrichtung
durch Vergleichen der Zahl der Inteferenzstreifen mit der
der Gitterstriche in den gleichen Meßbereichen bewertet.
Hiebei bedarf es keines stofflichen Normals, dessen Länge
gleich der des zu attestierenden Beugungsgitters ist; als
Normal dient die im Vakuum gemessene Wellenänge der
Strahlungsquelle.
Diese vorbekannte Konstruktion weist aber wegen grundsätzlicher
Nachteile des verwendeten Michelson-Interferometers
mit unkompensiertem Gangunterschied eine begrenzte Genauigkeit
auf (der gesamte mittlere quadratische Meßfehler
beträgt 0,06 µm/m). Infolgedessen bedarf es einer Korrektor
der Wellenlänge der Strahlung, d. h. des Normals. Zur
Bestimmung der Korrektur enthält die Vorrichtung außer dem
Interferometer zusätzlich ein Interferenzrefraktometer.
Diese Vorrichtung ist in konstruktiver Hinsicht kompliziert
und dient ausschließlich zur Attestierung von Kopien
des Normals der Längeneinheit des Meters. weshalb sie für
Industriezwecke zur Bewertung der Linearität einer großen
Anzahl von langen, hochgenauen Beugungsgittern nicht
herangezogen werden kann.
Ferner ist eine Vorrichtung zur Bewertung der Linearität
von zu attestierenden Beugungsgittern bekannt, die folgende
wesentlichen Komponenten aufweist: - Eine Quelle für
kohärente Strahlung, ein im Strahlengang der kohärenten
Strahlung angeordnetes Kollimatorsystem, eine hin- und
herbewegbare Baugruppe zur Unterbringung des zu attestierenden
Beugungsgitters, ein dieser gegenüber winkelverschiebbar
montiertes zusätzliches Beugungsgitter und
einen in der Apertur des zusätzlichen Beugungsgitters und
in der Ausgangsapertur des Kollimatorsystems liegenden und
mit einer Registriereinheit elektrisch verbundenen
Photodetektor (vgl. z. B. G. N. Rassudova, "Interferenz-Moir´streifen
in einem System aus einem transparenten
und einem Reflexions-Beugungsgitter", "Optika i
spektroskopÿa", 1967, Bd. 22, Nr. 4, S. 614 bis 625).
Die Untersuchug der Abweichung der Strichverteilung eines
Strichgitters von der Linearität (durch direkte Strichzählung
längs des Gitters) wird bei dieser Vorrichtung durch
die Untersuchung der Abweichung eines Moir´streifens vom
geraden Verlauf ersetzt.
Die Moir´streifen stehen auf der Winkelhalbierenden des
Winkels zwischen den Gitterstrichen in Längsrichtung des
zu attestierenden Gitters senkrecht. Eine Änderung der
Gitterperiode bewirkt eine Krümmung der Moir´streifen und
entsprechend auch eine Abweichung vom geraden Verlauf.
Die genannte Vorrichtung arbeitet folgendermaßen:
Die beiden Gitter (das zu attestierende Gitter sowie ein zusätzliches Bezugsgitter) werden mit den Arbeisflächen aufeinandergelegt und nach dem Winkel zwischen den Strichen gegenseitig verschoben. Bei Beleuchtung mit kohärenter Strahlung und bei kleinen Abweichungswinkeln treten in der Apertur der Quelle Moir´streifen in Erscheinung. Zunächst wird eine Periode des Moir´streifens oberhalb der Eingangsapertur des Photodetektors gewählt, worauf die Gitter zueinander starr befestigt werden. Dann werden sie in bezug auf den Photodetektor verschoben, wodurch der gesamte Moir´streifen in Längsrichtung abgetastet wird. Nach der Krümmung der Moir´streifen wird die Linearität des zu attestierenden Gitters beurteilt.
Die beiden Gitter (das zu attestierende Gitter sowie ein zusätzliches Bezugsgitter) werden mit den Arbeisflächen aufeinandergelegt und nach dem Winkel zwischen den Strichen gegenseitig verschoben. Bei Beleuchtung mit kohärenter Strahlung und bei kleinen Abweichungswinkeln treten in der Apertur der Quelle Moir´streifen in Erscheinung. Zunächst wird eine Periode des Moir´streifens oberhalb der Eingangsapertur des Photodetektors gewählt, worauf die Gitter zueinander starr befestigt werden. Dann werden sie in bezug auf den Photodetektor verschoben, wodurch der gesamte Moir´streifen in Längsrichtung abgetastet wird. Nach der Krümmung der Moir´streifen wird die Linearität des zu attestierenden Gitters beurteilt.
Diese Vorrichtung unterscheidet sich von der oben genannten,
da das System aus den beiden Beugungsgittern wegen
eines geringen Gangunterschieds zwischen den interferierenden
Strahlenbündeln von der Größenordnung des Spalts
zwischen den Gittern praktisch ein kompensiertes Interferometer
darstellt, während beim Michelson-Interferometer
dieser Unterschied gleich der doppelten Länge des zu attestierenden
Gitters ist.
Der geringe Gangunterschied der Wellen der Strahlungsquelle
für kohärente Strahlung in den Interferometerarmen
führt zu folgendenVorteilen dieser Vorrichtung gegenüber
der zuvor beschriebenen herkömmlichen Vorrichtung:
- - Es entfällt die Anbringung einer Korrektur bezüglich der klimatischen Bedingungen, was die Vorrichtung selbst und ihren Betrieb wesentlich vereinfacht.
- - In der Vorrichtung kann eine quasikohärente Strahlungsquelle verwendet werden, was die Konstruktion und den Betrieb der Vorrichtung vereinfacht.
- - Darüber hinaus wird der Vorgang der Attestierung beschleunigt, da die Streifenzählung durch eine Abtastung des bzw. der Moir´streifen ersetzt wird, was weniger Zeit in Anspruch nimmt.
- - Bei einer derartigen Vorrichtung beträgt die Genauigkeit der Attestierung der Linearität ca. ein Zehntel des Streifens und erreicht bei einer Gitterperiode von 1 µm einen Wert von 0,1 µm.
Eine derartige konstruktive Ausführung der Vorrichtung,
bei der das zu attestierende und das Bezugsgitter gleich
lang und miteinander starr verbunden sind und sich vor dem
gleichen Photoempfänger verschieben, gestattet es jedoch
aus folgenden Gründen nicht, eine höhere Genauigkeit zu
erzielen:
Die Bewertung der Linearität des zu attestierenden Gitters
wird durch die Linearität des Normals selbst beeinflußt.
Die Erzeugung von langen hochgenauen stofflichen Bezugsnormalen
mit großer Strichzahl ist ein noch immer ungelöstes
Problem, weshalb die Attestierung langer, hochgenauer
Gitter mit großer Strichzahl einer Beschränkung
unterliegt.
Die Messungen werden im Amplitudenbetrieb vorgenommen,
weshalb die Signalamplitude von verschiedenen Faktoren
beeinflußt wird, beispielsweise von einer Änderung der
Strahlungsintensität oder einer Änderung des Beugungswirkungsgrades
längs des Gitters wegen eines Einritzens
von Strichen oder wegen einer ungleichmäßigen Begießung
oder Bearbeitung der Emulsionsschicht oder des lichtempfindlichen
Materials im Falle holographischer Gitter,
Geräusche und Störungen (Vibration).
Aus den genannten Gründen gewährleistet also die oben beschriebene
Vorrichtung keine hohe Genauigkeit bei der Bewertung
der Linearität eines zu attestierenden Gitters,
wobei sich dies besonders bei großer Länge und großer
Strichzahl des Gitters bemerkbar macht.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung
zur Bewertung der Linearität von zu attestierenden Beugungsgittern
anzugeben, bei der solche Konstruktionselemente
vorgesehen sind und die Registriereinheit diesbezüglich
so ausgeführt ist, daß eine erhöhte Genauigkeit bei
der Bewertung der Linearität von zu attestierenden Beugungsgittern
praktisch beliebiger Länge gewährleistet ist.
Die Aufgabe wird anspruchsgemäß gelöst. Anspruch 2
betrifft eine vorteilhafte Ausführungsform.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Bewertung der Linearität
von zu attestierenden Gittern umfaßt eine Strahlungsquelle
für kohärente Strahlung, in deren Strahlengang
angeordnet sind:
- - ein Kollimatorsystem,
- - eine Baugruppe zur Unterbringung des zu attestierenden Beugungsgitters, die hin- und herbewegbar angeordnet ist,
- - ein zusätzliches Beugungsgitter, das bezüglich der Baugruppe winkelverschiebbar angeordnet ist, und
- - ein Photoempfänger, der in der Apertur des zusätzlichen Beugungsgitters und in der Ausgangsapertur des Kollimatorsystems angeordnet und mit einer Registriereinheit elektrisch verbunden ist,
und ist gekennzeichnet durch
- - ein mit dem zusätzlichen Beugungsgitter starr verbundenes Piezoelement,
- - einen mit dem Piezoelement elektrisch verbundenen Wechselspannungsgenerator und
- - einen weiteren Photoempfänger, der in der Apertur des zusätzlichen Beugungsgitters und in der Ausgangsapertur des Kollimatorsystems in einem vorgegebenen Abstand vom ersten Photoempfänger angeordnet und mit diesem sowie mit dem zusätzlichen Beugungsgitter starr verbunden ist
- und
- - eine Registriereinheit, die zwei Selektivverstärker, die an den jeweiligen Photoempfänger angeschlossen sind, und einen mit den Selektivverstärkern gekoppelten Phasenmesser umfaßt.
Um ein maximales Signal/Rausch-Verhältnis zu erzielen, ist
es vorteilhaft, daß die Photoempfänger in bezug auf die
Oberfläche des zusätzlichen Beugungsgitters unter einem
Winkel ϕ m angeordnet sind, der aus der Beziehung
ermittelt wird, worin bedeuten:
R
den Winkel zwischen der optischen Achse des Kollimatorsystems
und einer Normalen zur Oberfläche des
Beugungsgitters,
m
±1, ±2, . . . d. h. eine Beugungsordnung oberhalb
der nullten Beugungsordnung,
λ
die Wellenlänge der Strahlungsquelle für kohärente
Strahlung
und
d
die Periode des zusätzlichen und des zu attestierenden
Beugungsgitters.
Diese konstruktive Konzeption der erfindungsgemäßen Vorrichtung
gestattet es, die Linearität eines zu attestierenden
Beugungsgitters mit erhöhter Genauigkeit bei
beliebiger Länge des zu attestierenden Gitters zu bewerten.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines konkreten
Ausführungsbeispiels unter Bezug auf die Zeichnungen näher
erläutert; es zeigt
Fig. 1 die Gesamtanordnung einer erfindungsgemäßen
Vorrichtung in axonometrischer Darstellung,
Fig. 2 eine optoelektronische Schaltung der Vorrichtung
nach Fig. 1
sowie
Fig. 3 eine schematische Darstellung der Beugung
eines Strahlenbündels kohärenter Strahlung an
den Beugungsgittern der Vorrichtung nach Fig.
1.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung enthält auf einer Grundplatte
1 (Fig. 1) angeordnet eine Strahlungsquelle 2 (Fig.
1 und 2) kohärenter Strahlung, in der beschriebenen
Ausführugnsform einen Laser, und im Strahlengang A der kohärenten
Strahlung ein Kollimatorsystem 3, eine Baugruppe
4 zur Unterbringung des zu attestierenden Beugungsgitters
5, die in den Richtungen B und C hin- und herbewegbar angeordnet
ist, ein zusätzliches Beugungsgitter 6, das in
bezug auf die Baugruppe 4 in den Richtungen D (Fig. 1) und
E winkelverschiebbar angeordnet ist, und Photoempfänger 7
und 8, die in der Apertur des zusätzlichen Beugungsgitters
6 und in der Ausgangsapertur des Kollimatorsystems 3 in
einem vorgegebenen Abstand voneinander angeordnet sind.
Die Photoempfänger 7 und 8 sind miteinander und mit dem
zusätzlichen Beugungsgitter 6 starr und mit einer Registriereinheit
9 (Fig. 2) elektrisch verbunden. Diese ist
in Form zweier Selektivverstärker 10 und 11 eines Phasenmessers
12 ausgeführt. Der Eingang des Verstärkers 10 ist
an den Photoempfänger 8 und der Eingang des Verstärkers 11
an den Photoempfänger 7 angeschlossen, während die Ausgänge
der beiden Selektivverstärker 10 und 11 an die Eingänge
des Phasenmessers 12 geschaltet sind.
Mit dem zusätzlichen Beugungsgitter 6 (Fig. 1 und 2) ist
ein Piezoelement 13 starr verbunden, das mit einem
Wechselspannungsgenerator 14 (Fig. 2) elektrisch gekoppelt
ist.
Die Photoempfänger 7 und 8 sind in bezug auf die
Oberfläche des zusätzlichen Beugungsgitters 6 unter einem
Winkel ϕ m (Fig. 3) eingestellt, der aus der Beziehung (1)
ermittelt wird, worin bedeuten:
R
den Winkel zwischen der optischen Achse 15 (Fig.
2) des Kollimatorsystems 3 und einer Normalen 16
(Fig. 3) zur Oberfläche des zusätzlichen Beugungsgitters
6, der dem halben Winkel zwischen den
Strahlenbündeln des Interferometers entspricht,
in dem dieses Gitter aufgezeichnet wurde,
m
±1, ±2, . . . d. h. eine Beugungsordnung,
λ
die Wellenlänge der Strahlungsquelle 2 (Fig. 1 und
2) für kohärente Strahlung
und
d
die Periode des zusätzlichen Beugungsgitters 6 und
des zu attestierenden Beugungsgitters 5.
Im beschriebenen Ausführungsbeispiel der Vorrichtung ist
| R | = | ϕ m | ≈ 20°.
Bei der beschriebenen Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Vorrichtung weist das Kollimatorsystem 3 (Fig. 1)
ein kurzbrennweitiges Objektiv 19, eine Blende 20 und ein
Kollimatorobjektiv 21 auf, die in einem Gehäuse 17 untergebracht
sind, das auf einem Untersatz 18 angeordnet ist,
der seinerseits auf der Grundplatte 1 vorgesehen ist.
Die hin- und herbewegbar angeordnete Baugruppe 4 zur
Unterbringung des zu attestierenden Beugungsgitters 5 ist
in Form zweier Halter 22 ausgeführt, in deren Schlitzen
die Stirnenden des Beugungsgittes 5 befestigt sind. Die
hin- und hergehende Bewegung der Baugruppe 4 wird durch
eine starre Befestigung der Halter 22 auf einem Wagen 23
ermöglicht, der an einem mit der Grundplatte 1 starr verbundenen
Gestell 24 angeordnet ist und auf diesem mittels
eines Elektromotors 25 verschiebbar ist, der an einer am
Gestell 24 befestigten Buchse 26 angeordnet ist. Die Ausgangswelle
des Elektromotors 25 ist mit einer Schraubenspindel
27 und einer Mutter 28 kinematisch mit dem Wagen
23 verbunden. Die Schraubenspindel 27 ist in der Buchse 26
und in einer am Gestell 24 befestigten Buchse 29 gelagert.
Das zusätzliche Beugungsgitter 6 ist, wie oben beschrieben,
in bezug auf die Baugruppe 4 zur Unterbringung des zu
attestierenden Beugungsgitters 5 winkelverschiebbar angeordnet.
Zu diesem Zweck ist das Beugungsgitter 6 mit dem
Piezoelement 13 in einer Fassung 30 untergebracht, die mit
einem Ring 31 starr verbunden ist, der in einem Rahmen 32
drehbar angeordnet ist, der seinerseits mit einem auf der
Grundplatte 1 vorgesehenen Träger 33 starr verbunden ist,
Die Drehung erfolgt in den Richtungen E und D mittels
zweier Schrauben 34 und 35, die im Kontakt mit einem Stift
36 stehen. Am Träger 33 sind die Photoempfänger 7 und 8
angeordnet, die in einem Gehäuse 37 gegeneinander verschiebbar
angeordnet sind.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Bewertung der Linearität
eines zu attestierenden Beugungsgitters arbeitet
wie folgt:
Ein Bündel kohärenter Strahlung von der Strahlungsquelle 2
(Fig. 1 und 2) passiert das Kollimatorsystem 3, das eine
monochromatische ebene Welle S (Fig. 3) aus dem Bündel der
kohärenten Strahlung erzeugt. Die Welle S wird an den Beugungsgittern
5 und 6 gebeugt, wodurch sich in verschiedenen
Beugungsordnungen ausbreitende Wellen entstehen
werden. Die sich in der gleichen Richtung ausbreitenden
Wellen interferieren miteinander, wodurch Interferenzstreifen
unendlicher Breite - geschlossene Streifen, falls
die Gitter nach der Strichzahl übereinstimmen, und Moir´streifen,
wenn der Winkel zwischen den Gitterstrichen
gleich Null ist - entstehen. Die Übereinstimmung nach der
Strichzahl kann erreicht werden, indem das zusätzliche Beugungsgitter
6 mit der gleichen Strichzahl wie das zu attestierende
Gitter 5 aufgezeichnet wird und die beiden Gitter
parallel zueinander angeordnet werden, während der
Nullwinkel zwischen den Strichen durch Drehen der Fassung
30 (Fig. 1) in bezug auf den Rahmen 32 in den Richtungen E
und D mit Hilfe der Schrauben 34 und 35 eingestellt wird.
Das an einem Ende mit dem zusätzlichen Beugungsgitter 6
und am anderen Ende mit der Fassung 30 verbundene und
durch den Wechselspannungsgenerator 14 gesteuerte Piezoelement
13 versetzt das zusätzliche Beugungsgitter 6 in
periodische Schwingungen, um so eine Phasenmodulation des
Bündels der kohärenten Strahlung zu erzielen, wobei an das
Piezoelement 13 eine Wechselspannung angelegt wird, die
Sinus-, Sägezahn- oder eine andere Form aufweisen kann.
In Fig. 3 sind die sich ausbreitenden Wellen S einer der
Beugungsordnungen wie folgt dargestellt: Durch die unteren
Indices sind die Koordinaten eines Punktes x angegeben, in
dem die Welle gebeugt wid, während die oberen Indices andeuten,
an welchem der beiden Gitter die Welle gebeugt
worden ist, wobei A das zu attestierende und B das zusätzliche
Beugungsgitter bedeuten. Durch Pfeile sind nur Wellen
angegeben, die sich in der gleichen Richtung ausbreiten
und miteinander interferieren. Die Länge des zu attestierenden
Beugungsgitters 5 ist mit L bezeichnet.
Infolge der Interferenz dieser Wellen bilden sich Interferenzstreifen,
in deren Bereich die Photoempfänger 7
(Fig. 2) und 8 positioniert sind. Dies bedingt ihre starre
Verbindung mit dem zusätzlichen Beugungsgitter 6.
Die Photoempfänger 7 und 8 liegen auf einer Linie, die
senkrecht auf der Richtung der Welle einer der Beugungsordnungen
oberhalb der nullten Beugungsordnung
steht. Die Photoempfänger 7 und 8 registrieren zwei Sinussignale
mit einer Frequenz ν, die eine Phasendifferenz
Δϕ₁ aufweisen, die durch Gleichung (2) dargestellt
wird,
Δϕ₁ = (Ψ₀ B - Ψ₁ B ) - (Ψ₀ A - Ψ₁ A ) (2)
worin bedeuten:
Δϕ₁die Phasendifferenz, die zwischen den Photoempfängern
7 und 8 auf dem ersten Abschnitt des
zu attestierenden Beugungsgitters 5 gemessen
wird, dessen Länge gleich dem Abstand l (Fig. 3)
zwischen den Punkten x₀ und x₁ ist,
und
Ψ B und Ψ A Funktionen, die die Nichtlinearität
des zusätzlichen Beugungsgitters 6 und des zu attestierenden
Beugungsgitters 5 charakterisieren.
Der Wert Δϕ wird nach dem Phasenmesser 12 (Fig. 2) wie
folgt ermittelt:
Die elektrischen Signale der Photoempfänger 7 und 8, verstärkt
durch die auf die Frequenz des Wechselspannungsgenerators
14 eingestellten Selektivverstärker 10 und 11,
gelangen zum Phasenmesser 12, der die Phasendifferenz
zwischen diesen Signalen mißt.
Das zu attestierende Gitter 5 (Fig. 3) wird stufenweise in
Richtung der X-Achse um einen gleichen Wert l mittels der
Baugruppe 4 verschoben, und nach jeder Verschiebung wird
der Wert Δϕ gemessen; für die i-te Bewegungsstufe ergibt
sich der Wert Δϕ i aus Gleichung (3):
Δϕ i = (Ψ₀ B - Ψ₁ B ) - (Ψ i-1 A - Ψ i A ) (3)
Wie aus der Beziehung (3) ersichtlich, geht der die
Verzerrungen des zusätzlichen Beugungsgitters 6 in dessen
zwei Punkten x₀ und x₁ beschreibende erste Term additiv in
sämtliche Meßstufen ein, und eine Änderung erfährt lediglich
der zweite Term, der die Linearität des zu attestierenden
Beugungsgitters 5 bei jeder Elementarbewegung festlegt.
Die Bewertung der Linearität des zu attestierenden Beugungsgitters
5 hängt also nicht von der Güteklasse des
verwendeten zusätzlichen Beugungsgitters 6 ab. Am besten
ist es, mit der Vorrichtung bei einem Moir´streifen maximaler
Breite zu arbeiten, da er der empfindlichste
Streifen ist.
Durch Einsetzen der Normierungs-Grenzbedingungen Ψ₀ A = 0
und Ψ M A = 0, worin M ein endlicher Meßbereich ist,
kann eine Phasenverteilungsfunktion (4)
erhalten werden, die eine Abweichung des zu attestierenden
Beugungsgitters 5 von der Linearität in einer Reihe von
äquidistanten Punkten festlegt. Aus Gleichung (4) kann der
Maximalwert {δ i } max des mittleren quadratischen Fehlers
bei der Errechnung des Wertes Ψ i A erhalten werden,
worin bedeuten:
d A die Periode des zu attestierenden Beugungsgitters 5und δden mittleren quadratischen Fehler bei der Messung
der Phasendifferenz Δϕ i .
Die Anwendung der Phasenmodulation gestattet es, den Wert δ
und damit auch {δ i } max zu verringern und dadurch die
Meßgenauigkeit für die Messung von Δϕ i und
dementsprechend auch von Ψ i A zu vergrößern. Die erfindungsgemäß
angewandte Phasenmodulation gestattet es also,
die Genauigkeit der Linearitätsbewertung zu erhöhen.
Der Maximalwert des mittleren quadratischen Fehlers {δ i } max
bei der Ermittlung der Linearität eines Beugungsgitters
von 1000 mm Länge und einer Liniendichte von 1000 mm-1 mit
Hilfe der erfindungsgemäßen Vorrichtung für
ergibt sich zu
Die konstruktive Konzeption der erfindungsgemäßen Vorrichtung
gestattet es also, die Genauigkeit zu steigern und
Beugungsgitter praktisch beliebiger Länge zu attestieren.
Die gemäß der Erfindung erzielbare hohe Genauigkeit der
Bewertung der Linearität eines zu attestierenden Beugungsgitters
vorgegebener Länge ist auf folgendes zurückzuführen:
Bei der Attestierung von Beugungsgittern beliebiger Länge
wird der Attestierunsfehler nicht auf die Länge und die
Herstellungsgenauigkeit sowie auf die Attestierung des zusätzlichen
Gitters selbst beschränkt.
Das Fehlen eines Bezugsnormals vereinfacht die Attestierung
von Beugungsgittern beträchtlich, da sonst bei
jeder Attestierung ein Normal gleicher Strichzahl und
Länge erforderlich wäre, wobei die Erzeugung eines hochgenauen
Normals für jede Strichzahl eine sehr komplizierte
Aufgabe darstellt und die Herstellung eines Normals hoher
Strichzahl und großer Länge derzeit noch nicht möglich
ist.
Das bei der vorliegenden Vorrichtung angewandte Phasenmodulationsverfahren
gestattet es, die Phasenmeßgenauigkeit
und folglich auch die Genauigkeit der Bewertung
der Linearität von Gittern zu erhöhen.
Die hohe Meßgenauigkeit bei der Phasendifferenzmessung
wird bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung dadurch
erzielt, daß die Phasendifferenz durch Schwankungen der
Intensität der Strahlungsquelle und Änderungen des Beugungswirkungsgrades
des zu attestierenden Gitters in
dessen Längsrichtung und durch verschiedene bei den
Messungen unvermeidliche Fremdgeräusche und -störungen
(Vibrationen) nicht beeinflußt wird.
Die Vorrichtung gemäß der Erfindung ermöglicht eine Attestierung
von Gittern praktisch beliebiger Länge ohne Bezugsnormal.
Zu diesem Zweck braucht man ein zusätzliches
Gitter, das so viel größer als l ist, daß eine Anordnung
der Photoempfänger in seiner Apertur möglich ist. Liegt
ein solches zusätzliches Gitter vor, kann man ein zu attestierendes
Beugungsgitter beliebiger Länge in Stufen der
Größe l abtasten und hierbei dessen Linearität bewerten.
Mit der erfindunsgemäßen Vorrichtung wurde die Linearität
eines holographischen Beugungsgitters der Länge L = 700 mm
und einer Liniendichte von 1000 mm-1 bewertet. Als Strahlungsquelle
wurde ein He-Ne-Laser eingesetzt, während als
Photoempfänger zwei Photodioden verwendet wurden.
Dabei wurde eine Phasenmodulation des Bündels der kohärenten
Strahlung durch Erregung von Schwingungen über das
Piezoelement vorgenommen, an das eine Sägezahnspannung
einer Frequenz von 35 Hz angelegt wurde. Die Registriereinheit
gestattete es, die Phasendifferenz mit einer
Genauigkeit von 2π/360° zu messen. Als zusätzliches Beugungsgitter
wurde ein holographisches Beugungsgitter einer
Länge von 20 mm und gleicher Strichzahl wie bei dem zu attestierenden
Gitter verwendet. Der Abstand l zwischen den
Photoempfängern betrug 10 mm.
Der maximale mittlere quadratische Fehler {δ i } max
bei der Bestimmung der Linearität des holographischen Beugungsgitters
ergab sich zu
Infolge der Messungen mit dem oben genannten Fehler betrug
die Abweichung des Beugungsgitters von der Linearität für
seine gesamte Länge maximal 0,5 µm.
Claims (3)
1. Vorrichtung zur Bewertung der Linearität von zu attestierenden
Gittern,
mit
einer Strahlungsquelle (2) für kohärente Strahlung, in deren Strahlengang (A) angeordnet sind:
mit
einer Strahlungsquelle (2) für kohärente Strahlung, in deren Strahlengang (A) angeordnet sind:
- - ein Kollimatorsystem (3),
- - eine Baugruppe (4) zur Unterbringung des zu attestierenden Beugungsgitters (5), die hin- und herbewegbar angeordnet ist,
- - ein zusätzliches Beugungsgitter (6), das in bezug auf die Baugruppe (4) winkelverschiebbar angeordnet ist, und
- - ein Photoempfänger (7), der in der Apertur des zusätzlichen Beugungsgitters (6) und in der Ausgangsapertur des Kollimatorsystems (3) angeordnet und mit einer Registriereinheit (9) elektrisch verbunden ist,
gekennzeichnet durch
- - ein mit dem zusätzlichen Beugungsgitter (6) starr verbundenes Piezoelement (13),
- - einen mit dem Piezoelement (13) elektrisch verbundenen Wechselspannungsgenerator (14) und
- - einen weiteren Photoempfänger (8), der in der Apertur des zusätzlichen Beugungsgitters (6) und in der Ausgangsapertur des Kollimatorsystems (3) in einem vorgegebenen Abstand vom ersten Photoempfänger (7) angeordnet und mit diesem sowie mit dem zusätzlichen Beugungsgitter (6) starr verbunden ist
- und
- - eine Registriereinheit (9), die aus zwei Selektivverstärkern (10, 11), die an den jeweiligen Photoempfänger (8, 7) angeschlossen sind, und einem mit den Selektivverstärkern (10, 11) gekoppelten Phasenmesser (12) aufgebaut ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß
- - die Photoempfänger (7, 8) in bezug auf die Oberfläche des zusätzlichen Beugungsgitters (6) unter einem Winkel ϕ m angeordnet sind,der aus der Beziehung ermittelt wid, worin bedeuten:Rden Winkel zwischen der optischen Achse (15) des Kollimatorsystems (3) und einer Normalen (16) zur Oberfläche des Beugungsgitters (6),m±1, ±2, d. h. eine Beugungsordnung oberhalb der nullten Beugungsordnung,λdie Wellenlänge der Strahlungsquelle (2) für kohärente Strahlungundddie Periode des zusätzlichen (6) und des zu attestierenden Beugungsgitters (5).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8708620A GB2203534B (en) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | Apparatus for assessing the linearity of a diffraction grating under certification |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3714158A1 true DE3714158A1 (de) | 1988-11-17 |
Family
ID=10615613
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873714158 Withdrawn DE3714158A1 (de) | 1987-04-10 | 1987-04-28 | Vorrichtung zur bewertung der linearitaet von zu attestierenden beugungsgittern |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH674906A5 (de) |
DE (1) | DE3714158A1 (de) |
FR (1) | FR2614435B1 (de) |
GB (1) | GB2203534B (de) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3982837A (en) * | 1975-01-24 | 1976-09-28 | Controlled Environment Systems, Inc. | Method and apparatus for calibrating Reseau grids |
JPH0758206B2 (ja) * | 1984-03-30 | 1995-06-21 | 株式会社日立製作所 | モワレ縞を用いた位置検出装置 |
-
1987
- 1987-04-10 GB GB8708620A patent/GB2203534B/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-04-22 FR FR8705696A patent/FR2614435B1/fr not_active Expired
- 1987-04-28 DE DE19873714158 patent/DE3714158A1/de not_active Withdrawn
- 1987-10-21 CH CH411187A patent/CH674906A5/de not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
Applied Optics, Vol. 6, No. 11, Nov. 1967, S. 1861-1865 * |
DE-Buch: Handbuch der Physik, S. Flügge, Hrsg. Bd. 29, Optische Instrumente, Springer Verlag, Berlin 1967, S. 641-644 * |
GB-Buch: W. H. Steel, Interferometrg, 2. Aufl., Cambridge, UK, 1983, S. 176-178 * |
M.C. Hutley, Diffrction grating, London 1982, S. 88-89 * |
Optics and Spectroscopy 22, 1967, S. 335-340 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH674906A5 (de) | 1990-07-31 |
FR2614435B1 (fr) | 1989-08-11 |
GB8708620D0 (en) | 1987-05-13 |
GB2203534B (en) | 1991-05-01 |
GB2203534A (en) | 1988-10-19 |
FR2614435A1 (fr) | 1988-10-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8130 | Withdrawal |