DE3624420C1 - Process for producing a microsection - Google Patents

Process for producing a microsection

Info

Publication number
DE3624420C1
DE3624420C1 DE19863624420 DE3624420A DE3624420C1 DE 3624420 C1 DE3624420 C1 DE 3624420C1 DE 19863624420 DE19863624420 DE 19863624420 DE 3624420 A DE3624420 A DE 3624420A DE 3624420 C1 DE3624420 C1 DE 3624420C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
curing
specimen
light
producing
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19863624420
Other languages
English (en)
Inventor
Josef Kaessmaier
Hans-Hermann Merkenschlager
Gergely Szolnoki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19863624420 priority Critical patent/DE3624420C1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3624420C1 publication Critical patent/DE3624420C1/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/36Embedding or analogous mounting of samples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/44Sample treatment involving radiation, e.g. heat
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/36Embedding or analogous mounting of samples
    • G01N2001/364Embedding or analogous mounting of samples using resins, epoxy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer Schliffprobe insbesondere für gedruckte Leiter­ platten durch Einbetten der Probe in eine Harzmasse und anschließendes Aushärten.
Die rißfreie Einbettung von Schliffproben erfordert bis­ her Harze mit einer Aushärtezeit von mindestens acht Stunden. Harzsysteme mit kürzerer Härtezeit genügen we­ gen der entstehenden Schwundrisse nicht den Qualitätsan­ forderungen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die Präpara­ tionszeit für Schliffproben zu verkürzen.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird derart verfahren, daß eine UV-Licht durchlässige Teflonform mit einer dosier­ ten Menge schnell härtendem UV-Lack gefüllt wird, daß die Probe von der geöffneten Seite der Form her in den UV-Lack eingetaucht und anschließend die Probe von der entgegengesetzten Seite mit UV-Licht bestrahlt wird.
Durch diese Maßnahmen wird die Aushärtezeit auf wenige Sekunden verkürzt. Dadurch wird es wirtschaftlich mög­ lich, falls erforderlich, auch in Mehrfachschliffen ein­ zubetten, und hierdurch schrumpfungsbedingte Rißbildun­ gen zu minimieren.
Anhand der Figur wird die Erfindung näher erläutert.
Eine UV-Licht durchlässige Teflonform 1 wird 3 bis 5 mm hoch mit einem UV-Lack 3 gefüllt und anschließend die Schliffprobe 2 in die Teflonform 1 eingetaucht. Von der entgegengesetzten Seite wird die eingetauchte Schliff­ probe 2 mit UV-Licht 4 bestrahlt. Da die Aushärtung in kürzester Zeit erfolgt, kann nunmehr die Schliffprüfung auch in den Fertigungsfluß integriert werden.

Claims (1)

  1. Verfahren zur Herstellung einer Schliffprobe insbesonde­ re für gedruckte Leiterplatten durch Einbetten der Probe in eine Harzmasse und anschließendes Aushärten, dadurch gekennzeichnet, daß eine UV-Licht durchlässige Teflonform (1) mit einer dosierten Menge schnell härtendem UV-Lack (3) gefüllt wird, daß die Probe (2) von der geöffneten Seite der Form her in den UV-Lack (3) eingetaucht und anschließend die Probe (2) von der entgegengesetzten Seite mit UV-Licht (4) be­ strahlt wird.
DE19863624420 1986-07-18 1986-07-18 Process for producing a microsection Expired DE3624420C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863624420 DE3624420C1 (en) 1986-07-18 1986-07-18 Process for producing a microsection

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863624420 DE3624420C1 (en) 1986-07-18 1986-07-18 Process for producing a microsection

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3624420C1 true DE3624420C1 (en) 1987-04-02

Family

ID=6305528

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19863624420 Expired DE3624420C1 (en) 1986-07-18 1986-07-18 Process for producing a microsection

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3624420C1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1391713A2 (de) * 2002-08-05 2004-02-25 National Food Research Institute Einrichtung und Verfahren zum Absetzen, Analysieren und Sortieren von Materialien
EP2604996A1 (de) * 2011-12-14 2013-06-19 Geoservices Equipements Verfahren zur Herstellung einer aus dem Unterboden extrahierten Gesteinsprobe und zugehörige Analyseanordnung
CN110779782A (zh) * 2019-11-20 2020-02-11 江苏三亿检测技术有限公司 一种pcb微切片分析制样方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
NICHTS-ERMITTELT *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1391713A2 (de) * 2002-08-05 2004-02-25 National Food Research Institute Einrichtung und Verfahren zum Absetzen, Analysieren und Sortieren von Materialien
EP1391713A3 (de) * 2002-08-05 2004-12-01 National Food Research Institute Einrichtung und Verfahren zum Absetzen, Analysieren und Sortieren von Materialien
EP2604996A1 (de) * 2011-12-14 2013-06-19 Geoservices Equipements Verfahren zur Herstellung einer aus dem Unterboden extrahierten Gesteinsprobe und zugehörige Analyseanordnung
WO2013088414A1 (en) * 2011-12-14 2013-06-20 Geoservices Equipements Method for preparing a sample of rock cuttings extracted from a subsoil and associated analysis assembly
CN110779782A (zh) * 2019-11-20 2020-02-11 江苏三亿检测技术有限公司 一种pcb微切片分析制样方法
CN110779782B (zh) * 2019-11-20 2024-02-27 江苏三亿检测技术有限公司 一种pcb微切片分析制样方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0051166B1 (de) Verfahren für die spannungsfreie Entwicklung von bestrahlten Polymethylmethacrylatschichten
DE2301075A1 (de) Verfahren zur galvanischen beschichtung mit photohaertenden stoffzusammensetzungen
DE102006045888A1 (de) Verfahren zum Herstellen keramischer Entladungsgefäße unter Verwendung von Stereolithographie
DE3624420C1 (en) Process for producing a microsection
DE60013396T2 (de) Verfahren zur behandlung einer harzform und dadurch erhaltene harzform
DE2238416A1 (de) Verfahren zur herstellung optischer elemente
DE1546964B2 (de) Verfahren zur herstellung von aufzeichnungsbaendern
DE2637257C3 (de) Optisches Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
DE2413905C2 (de) Verfahren zur mechanischen Befestigung und elektrischen Kontaktierung elektronischer Bauelemente
DE4444789C3 (de) Verfahren zum Herstellen von Chipkarten, Chipkarte und Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens
DE2432536A1 (de) Verfahren zur herstellung einer schleifund polierscheibe
EP0043475A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer integrierten mikrooptischen Vorrichtung zur Verwendung mit Multimode-Lichtfasern
DE2401413A1 (de) Matrize zum ausbilden eines geflechts
EP0371924A3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Musters
DE2137395A1 (de) Stützscheibe aus porösem Keramikmaterial für die Kontaktstifte eines elektrischen Steckers
EP0551118A1 (de) Verfahren zur Herstellung von nicht linearen optischen Mikro-Bauelementen
DE2944922C2 (de) Elektrisches Bauelement
DE69008938T2 (de) Verfahren zur Herstellung eines monolithischen Blocks mit einer inneren Geometrie und resultierender Block.
DE3335171A1 (de) Doppelentformungsverfahren zur herstellung von trennduesenstrukturen
DE2608427A1 (de) Verfahren zum aufkitten von halbleiterscheiben
DE3406225A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur pruefung von schaltungsplatten
DE69935260T2 (de) Sichtbares und fluoreszenzfarbstoff enthaltendes laminat
DE2030192A1 (de) Verfahren zur Herstellung von optischen Elementen
DE380596C (de) Verfahren zur Herstellung von Kunstmassen
DE2815169A1 (de) Optisches element mit asphaerischer oberflaeche und verfahren zu dessen herstellung

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee