DE3622916C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3622916C2
DE3622916C2 DE19863622916 DE3622916A DE3622916C2 DE 3622916 C2 DE3622916 C2 DE 3622916C2 DE 19863622916 DE19863622916 DE 19863622916 DE 3622916 A DE3622916 A DE 3622916A DE 3622916 C2 DE3622916 C2 DE 3622916C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test
automatic
stations
arrangement according
adapters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19863622916
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE3622916A1 (de
Inventor
Heinz 8903 Bobingen De Hauptmann
Busso 8904 Friedberg De Prillwitz
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19863622916 priority Critical patent/DE3622916A1/de
Publication of DE3622916A1 publication Critical patent/DE3622916A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3622916C2 publication Critical patent/DE3622916C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
DE19863622916 1986-07-08 1986-07-08 Anordnung zum pruefen von unterschiedlichen kabeln, verdrahtungsfeldern und leiterplatten mit hilfe eines pruefautomaten Granted DE3622916A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863622916 DE3622916A1 (de) 1986-07-08 1986-07-08 Anordnung zum pruefen von unterschiedlichen kabeln, verdrahtungsfeldern und leiterplatten mit hilfe eines pruefautomaten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863622916 DE3622916A1 (de) 1986-07-08 1986-07-08 Anordnung zum pruefen von unterschiedlichen kabeln, verdrahtungsfeldern und leiterplatten mit hilfe eines pruefautomaten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3622916A1 DE3622916A1 (de) 1988-01-28
DE3622916C2 true DE3622916C2 (US20110009641A1-20110113-C00256.png) 1988-06-09

Family

ID=6304654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19863622916 Granted DE3622916A1 (de) 1986-07-08 1986-07-08 Anordnung zum pruefen von unterschiedlichen kabeln, verdrahtungsfeldern und leiterplatten mit hilfe eines pruefautomaten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3622916A1 (US20110009641A1-20110113-C00256.png)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3907489A1 (de) * 1988-04-13 1989-10-26 Siebert & Kuehn Dr Vorrichtung zur ueberwachung der fluessigkeitshoehe in einem behaelter
CN110007200A (zh) * 2019-01-11 2019-07-12 华为技术有限公司 一种测试电路、设备及系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3361258D1 (en) * 1982-03-15 1986-01-02 Siemens Ag Albis Circuit for testing electrical devices, especially electronic ones

Also Published As

Publication number Publication date
DE3622916A1 (de) 1988-01-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2349324C2 (de) Verfahren zum Prüfen einer Funktionseinheit und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP2612156B1 (de) Modularer prober und verfahren zu dessen betrieb
DE19616810C2 (de) Halbleiter-Prüfvorrichtung
EP3249415B1 (de) Testpunktkarten-einrichtung für einen prüftisch mit fehlersuche
DE2726753A1 (de) Interface-adapter
DE102015108064B4 (de) Testsystem und Verfahren zum automatisierten Testen von wenigstens zwei gleichzeitig an das Testsystem angeschlossenen Steuergeräten sowie Steuergeräte-Anschluss- und Steuergeräte-Umschalteinheit zur Verwendung in einem solchen Testsystem
DE2952631C2 (de) Schaltungsanordnung zur Diagnose einer Datenverarbeitungsanlage
DE2914678C2 (de) Verfahren zum Prüfen einer asynchron arbeitenden digitalen Schaltung und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens
DE102010020279A1 (de) Überwachungs- und Steuervorrichtung
DE3622916C2 (US20110009641A1-20110113-C00256.png)
EP2745123A1 (de) Verdrahtungsprüfeinrichtung für elektronikschränke mit interner signalverdrahtung
DE69932915T2 (de) Prüfschaltung für ein Telekommunikationselement
DE4415541A1 (de) Fehlertolerante programmierbare Steuerung
DE3689245T2 (de) Automatische Prüfvorrichtung.
EP0638185B1 (de) Verfahren zum prüfen von mit einer vielzahl von unterschiedlichen bausteinen bestückten baugruppen
DE2640929C2 (de) Anordnung zur Prüfung der Kabelverdrahtungen von Förderanlagen mit peripheren Einrichtungen
DE3241175C2 (US20110009641A1-20110113-C00256.png)
DE2407963A1 (de) Schaltungsanordnung zur abnahmepruefung von schaltungskomponenten
DE19802003C1 (de) Prüfvorrichtung zum Prüfen der Funktionen von baugruppentypspezifischen Flachbaugruppen und Fertigungseinrichtung mit solchen Prüfvorrichtungen
DE19961148C1 (de) Integrierter elektronischer Baustein zur externen Funktionsbeeinflussung sowie dazugehöriges Verfahren
DE2025864C2 (de) Verfahren zur elektrischen Funktionsprüfung von elektrischen Grundbausteinen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE3424124A1 (de) Schaltungsanordnung zur pruefung der funktionen von fernmelde-, insbesondere fernsprechvermittlungsanlagen
DE2839345C2 (US20110009641A1-20110113-C00256.png)
DE9404607U1 (de) Allpolige Schutzleiterprüfeinrichtung mit Überwachung
DE102021107121A1 (de) Kabeltester

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee