DE3612256C2 - Verfahren und Einrichtung zur optoelektronischen Qualitätskontrolle - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur optoelektronischen Qualitätskontrolle

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DE3612256C2 DE19863612256 DE3612256A DE3612256C2 DE 3612256 C2 DE3612256 C2 DE 3612256C2 DE 19863612256 DE19863612256 DE 19863612256 DE 3612256 A DE3612256 A DE 3612256A DE 3612256 C2 DE3612256 C2 DE 3612256C2
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Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur optoelektro­ nischen Qualitätskontrolle von Prüflingen durch Ver­ gleich mit einem Bezugskörper mittels einer Kamera in Echtzeit, bei dem aus den Videosignalen der Prüflinge und des Bezugskörpers analoge Signale erzeugt werden, die verglichen werden, und bei dem nur bei Nicht­ gleichheit der verglichenen Signale Folgesignale erzeugt werden. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Ein­ richtung zur optoelektronischen Qualitätskontrolle gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 9. Ein solches Verfahren und eine solche Einrichtung sind aus der DE-OS 30 06 379 bekannt.
Die visuelle Qualitätskontrolle ist eines der Haupt­ probleme der industriellen Massenproduktion. Die weitere Automatisierung hängt daher entscheidend von preiswerten optoelektronischen Erkennungssystemen ab, die in Echt­ zeit die automatische Prüfung aller hergestellten Pro­ dukte ermöglichen.
Die bisher bei der optoelektronischen Qualitätskontrolle eingesetzten Verfahren und Einrichtungen der digitalen Bildverarbeitung sind entweder zu langsam oder zu auf­ wendig. Bei diesen Verfahren und Einrichtungen wird das Bild des Bezugskörpers einmal eingelesen, gespeichert und digital mit den Prüflingen verglichen. Für schnell­ bewegte Prüflinge sind diese Verfahren und Einrichtungen zu langsam oder es müssen teure Vektor- oder Multipro­ zessor-Rechner eingesetzt werden. Besonders aufwendige Rechner sind erforderlich bei sich ständig ändernden Prüfbedingungen, beispielsweise durch während der Qualitätskontrolle auftretende Beleuchtungsschwankungen oder durch den Verzug von Prüflingen.
Es ist bereits eine Vorrichtung zur Durchführung eines Verfahrens zur optoelektronischen Qualitätskontrolle bewegter Prüflinge durch Vergleich mit einem Bezugs­ körper mittels mindestens eines ortsauflösenden foto­ elektrischen Wandlers in Echtzeit bekannt (Feinwerk­ technik & Meßtechnik 84 (1976) 7, S. 330-334). Hierbei werden die von dem mindestens einen ortsauflösenden fotoelektrischen Wandler abzutastenden Punkte des Prüf­ lings und des Bezugskörpers angesteuert und es erfolgt ein Analogievergleich der von dem mindestens eines orts­ auflösenden fotoelektrischen Wandler bei der Abtastung der Punkte aufgenommenen Signale, wobei infolge identi­ scher Punkte übereinstimmende Signale im Auswerterechner nicht gespeichert werden und wobei nur die restlichen Signale - Fehlersignale - digitalisiert und in dem Auswerterechner weiterverarbeitet werden.
Es ist eine weitere Vorrichtung zur Durchführung eines Verfahrens zur optoelektronischen Qualitätskontrolle bewegter Prüflinge durch Vergleich mit einem Bezugs­ körper mittels einer Kamera bekannt, bei dem im Speicher eines Rechners das Digitalbild des Prüflings mit dem Digitalbild des Bezugskörpers ganz oder teilweise ver­ glichen wird (DE 31 45 832 A1).
Ferner ist eine Vorrichtung zur Durchführung eines Ver­ fahrens zur optoelektronischen Qualitätskontrolle beweg­ ter Prüflinge durch Vergleich mit einem Bezugskörper mittels einer Kamera bekannt, bei dem im Speicher eines Rechners das Digitalbild des Prüflings mit dem Digital­ bild des Bezugskörpers ganz oder teilweise verglichen wird und bei dem sich ändernden Prüfbedingungen dadurch Rechnung getragen wird, daß die Kamera nicht nur die Prüflinge aufnimmt, sondern zwischen den Prüflingen auch ein Testbild (DE 32 05 828 A1).
Auch die DE-OS 25 08 992 zeigt eine Vorrichtung zur optoelektronischen Qualitätskontrolle von Prüflingen durch Vergleich mit einem Bezugskörper mittels einer Kamera in Echtzeit.
Eine Berücksichtigung der Prüfbedingungen sowie eine Reduzierung der Daten des Bezugskörpers vor der Speicherung ist aus der DE-OS 29 16 159 bekannt.
Aus der DE 31 13 440 A1 ist es bekannt, die Lage der Prüflinge auf einer Transportvorrichtung und andere nicht fehlerbedingte Teile des Prüflings-Videosignals zu berücksichtigen.
Ausgehend von einem Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 und einer Einrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 9 liegt der Erfindung die Aufgabe zu­ grunde, dieses Verfahren und diese Einrichtung derart weiterzubilden, daß die Verwendung preiswerter Geräte für einen industriellen Einsatz ermöglicht wird.
Die Lösung der gestellten Aufgabe besteht bei einem Verfahren der eingangs genannten Art darin,
  • - daß die Prüflinge hintereinander an der Kamera vorbei­ bewegt werden,
  • - daß die Kamera die Biidpunkte der Prüflinge und des Bezugskörpers getrennt abtastet,
  • - daß die Bildpunkte durch einen Steuerrechner ange­ steuert werden,
  • - daß die Folgesignale aus den Fehlersignalen bestehen
  • - und daß die Fehlersignale digitalisiert und in einem Auswerterechner weiterverarbeitet werden.
Das Verfahren nach der Erfindung setzt voraus, daß stets ein Bezugskörper vorhanden ist und daß jeder Prüfling fast gleichzeitig mit diesem Bezugskörper von der Kamera abgetastet wird. Die Prüflinge bewegen sich dabei im allgemeinen mit der Produktionsgeschwindigkeit; der Bezugskörper kann stillstehen oder sich ebenfalls bewe­ gen. Die Horizontal- und Vertikalablenkung der Kamera bzw. des Lesestrahls der Kamera wird so gesteuert, daß unmittelbar nacheinander der gleiche Bildpunkt eines Prüflings und des Bezugskörpers abgetastet wird. Da die sich durch das Abtasten der jeweiligen Bildpunkte des Prüflings und des Bezugskörpers ergebenden Signale in einer schnellen Analogschaltung miteinander verglichen und bei Gleichheit gelöscht werden, entsteht nur bei Ungleichheit ein Fehlersignal, das von dem Auswerte­ rechner analysiert werden muß, so daß sich gegenüber den bekannten Verfahren eine drastische Reduzierung der zu verarbeitenden Datenmengen ergibt.
Damit Abweichungen des Prüflings vom Bezugskörper besser erkannt werden, ist in Ausgestaltung der Erfindung bei der Festlegung der anzusteuernden und abzutastenden Bildpunkte in Bereichen hoher Priorität eine größere Abtastdichte vorgesehen, als in Bereichen niederer Pri­ orität, so daß die Bildpunkte in Bereichen hoher Prio­ rität mit höherer Auflösung überprüft werden. Eine höhere Abtastdichte kann beispielsweise durch ein engeres Raster erreicht werden.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung werden von dem Steuerrechner nur bestimmte Bildpunkte hoher Priorität für eine Ansteuerung und Abtastung durch die Kamera aus­ gewählt, wobei vorzugsweise solche Bildpunkte ausgewählt werden, bei denen überhaupt Fehler auftreten können. Da die Kamera bei dieser Ausgestaltung der Erfindung nicht - wie bei den bekannten Verfahren - Zeile für Zeile ab­ lesen muß, sondern von einem mittels des Steuerrechners ausgewählten Bildpunkt zum anderen springt, ergibt sich eine weitere erhebliche Reduzierung der zu ver­ arbeitenden Datenmenge.
Zweckmäßigerweise werden die von der Kamera anzusteu­ ernden und abzutastenden Bildpunkte durch eine aus dem Bezugskörper abgeleitete Liste festgelegt. Diese Liste, die Anzahl und Ort der abzutastenden Bildpunkte be­ schreibt, wird gemäß dem Anspruch 4 durch die Festlegung objekt- und problemrelevanter Bildpunkte des Bezugskörpers automatisch erstellt.
Um die innerhalb zulässiger Toleranzen der Bildpunkte auftretenden Fehlersignale zu eliminieren, ist gemäß dem Anspruch 5 vorgesehen, daß bei unvollständiger Löschung eines Vergleichsvorgangs in­ folge des Auftretens von mindestens zwei aufeinander­ folgenden Fehlersignalen der Auswerterechner über den Steuerrechner ein Abtasten der dem die Fehlersignale auslösenden Bildpunkt benachbarten Bildpunkte des Prüf­ lings und des Bezugskörpers durch die Kamera bewirkt. Die Abtastung kann sich dabei auf eine geringe Anzahl von Bildpunkten erstrecken, beispielsweise auf acht Bildpunkte, die den Bildpunkt, der die Fehlersignale ausgelöst hat, quadratisch oder auf einem Kreis umgeben und die noch nicht vom Lesestrahl der Kamera berührt wurden. Nur dann, wenn nach der Abtastung der benach­ barten Bildpunkte keine Löschung erfolgt, wird ein Alarmsignal ausgelöst. Dadurch ist gewährleistet, daß Fehlersignale, die durch Abweichungen eines Prüflings vom Bezugskörper innerhalb des Toleranzbereichs oder durch Störsignale entstehen, nicht zur Auslösung eines Alarmsignals führen. Dadurch, daß erst bei Auftreten von mindestens zwei aufeinanderfolgenden Fehlersignalen eine Abtastung der benachbarten Bildpunkte durch den Steuer­ rechner bewirkt wird, kann ein durch stochastische Meßfehler auftretendes sogenanntes weißes Rauschen weitgehend vermieden werden.
Damit bei der Abtastung der einem ein Fehlersignal aus­ lösenden Bildpunkt benachbarten Bildpunkte nur soviel Abtastvorgänge durchgeführt werden müssen als unbedingt notwendig sind, wird bei Löschung des betreffenden Fehlersignals die Abtastung der benachbarten Bildpunkte beendet.
In Weiterbildung der Erfindung stellt der Steuerrechner Richtung und Größe der Abweichung des die Löschung bewirkenden Bildpunktes vom ursprünglich angesteuerten Bildpunkt fest und benutzt den sich daraus ergebenden Vektor als Eingangsgröße des nächstfolgenden Vergleichs­ vorgangs. Hierdurch können Schräglagen und Verzugs­ effekte der Prüflinge ausgeglichen werden.
Zur Vermeidung von Fehlersignalen infolge Schräglage eines Prüflings wird bei Beginn der Kontrolle jedes Prüflings eine Vorprüfung der Orientierung in der Weise durchgeführt, daß nur einige der anzusteuernden Bild­ punkte des Prüflings mit dem Bezugskörper verglichen werden, wobei eine eventuelle Schräglage eine Korrektur des Steuerrechners bewirkt. Dadurch werden Fehlersignale durch Schräglage der Prüflinge vermieden.
Die Einrichtung zur optoelektronischen Qualitäts­ kontrolle von Prüflingen durch Vergleich mit einem Bezugskörper zur Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung, mit einem Bezugskörper, einer Kamera, die Videosignale abgibt, und einer Signalverarbeitungsein­ richtung für analoge Signale, die nur bei Ungleichheit des Prüflings und des Bezugskörpers Folgesignale abgibt, ist gekennzeichnet durch eine Linearfördereinrichtung für die Prüflinge, neben der der Bezugskörper angeordnet ist, einen Steuerrechner, der die abzutastenden Bild­ punkte ansteuert, einen analogen Komparator als Teil der Signalverarbeitungseinrichtung für analoge Signale, der nur bei Ungleichheit von Prüfling und Vergleichskörper Fehlersignale als Folgesignale abgibt, einen Analog- Digital-Wandler und einen Auswerterechner zur Weiter­ bearbeitung der Fehlersignale (Anspruch 9).
Die Linearfördereinrich­ tung kann dabei als Förderband oder als Hängebahn ausgebildet sein.
Damit die einzelnen Teile der Ein­ richtung nach der Erfindung in beliebigem Abstand voneinander angeordnet werden können, ist der Steuerrechner gemäß dem Anspruch 10 über Leitungen mit den betreffenden Teilen der Einrichtung verbunden, und zwar über drei Leitungen mit der Kamera, über eine Leitung mit einem Geschwindigkeitsgeber an der Linear­ fördereinrichtung, über eine Leitung mit dem Signalgeber für den Startpunkt der einzelnen Prüflinge und über eine Leitung mit einer Signalverarbeitungseinrichtung für analoge Signale.
Die Einrichtung nach der Erfindung kann noch dadurch ver­ bessert werden, daß gemäß dem Anspruch 11 zusätzlich ein Blitzlichtgerät oder ein Stroboskop vorgesehen ist, das über eine Leitung mit dem Steuerrechner in Verbindung steht. Dadurch wird bei hohen Relativgeschwindigkeiten ein Verwischen der Bild­ punkte vermieden.
Vorzugsweise sind mehrere Gruppen von Bauteilen, wie Kurzzeitspeicher, Komparator und Analog-Digital-Wandler, nebeneinander angeordnet, so daß eine gleichzeitige - parallele - Auswertung mehrerer Bildpunkte möglich ist.
Die Einrichtung nach der Erfindung ist aufgrund ihrer Eigenschaften als intelligentes Filter zur Rauschunter­ drückung und automatischen Korrektur von systematischen Abweichungen zu betrachten. Durch die Realisierung der adaptiven Nachregelung ist die erfindungsgemäße Ein­ richtung in der Lage, Störungen durch sich ändernde Positionsverschiebungen bleibend zu beseitigen. Durch die Speicherung der erfolgreichen Richtung beginnt ein erneuter Vergleichsvorgang stets in dem zuvor gelernten erfolgversprechenden Zielgebiet. Durch den doppelten, zeitlich verschobenen Vergleich zwischen Prüfling und Bezugskörper werden die überlagerten Störeinflüsse durch Rauschen der Signale eliminiert. Bewirkt wird dies einmal durch den hybriden Schaltungsaufbau, d. h. durch die sinnvolle Kombination von analogen und digitalen Entscheidungsbausteinen, zum anderen durch den mehr­ stufigen Vergleich, wobei jede Folgestufe aus den Er­ gebnissen der Vorgängerstufe selbst lernt. Dadurch, daß die erfindungsgemäße Einrichtung ihr Verhalten flexibel gegenüber mehrfach überlagerten Störungen selbsttätig anpaßt, ist sie allen bekannten Einrichtungen zur opto­ elektronischen Qualitätskontrolle überlegen.
Die Erfindung ist anhand der Zeichnung, die ein Aus­ führungsbeispiel einer Einrichtung nach der Erfindung in schematischer Darstellung zeigt, näher erläutert.
Die Prüflinge 1 passieren in endloser Folge auf einem Förderband 2 den Bereich des Lesestrahls einer Kamera 3. Im Bereich des Lesestrahls der Kamera 3 befindet sich auch der Bezugskörper 4, also ein visuell ausgesuchtes Werkstück derselben Art wie der Prüfling 1. Durch ent­ sprechende - nicht dargestellte - Objektive, Filter, Spiegel, Prismen o. dgl. und die Wahl einer optimalen Beleuchtung nach Wellenlänge, Helligkeit und gegebenen­ falls Beleuchtungsdauer wird sichergestellt, daß der Bezugskörper 4 und ein fehlerfreier Prüfling 1 die gleiche Bildinformation an die Kamera 3 liefern. Die durch einen Geschwindigkeitsgeber 5 gemessene Geschwin­ digkeit des Förderbandes 2 und der Startpunkt 6 jedes Prüflings 1 werden erfaßt und die betreffenden Signale über Leitungen 5.1 und 6.1 einem Steuerrechner 7 zu­ geleitet. Unter Startpunkt 6 ist dabei diejenige - durch einen Pfeil angedeutete - Stelle zu verstehen, an der ein Prüfling 1 sich bei Beginn des betreffenden Abtast­ vorgangs befindet. Der Steuerrechner 7 erzeugt die Spannungen, die die einzelnen Bauteile der Einrichtung benötigen und führt diese Spannungen den Bauteilen über Leitungen zu, und zwar der Kamera 3 über eine Leitung 8 für die Horizontalablenkung und über eine Leitung 9 für die Vertikalablenkung und über eine Leitung 10 für die Auslösung der Abtastvorgänge. Die Spannung für den Systemtakt führt der Steuerrechner 7 dem Auswerterechner 20 über eine Leitung 11 zu.
Sobald ein Prüfling 1 den Startpunkt 6 passiert, wird der erste interessierende Bildpunkt 12.P des Prüflings 1 angesteuert und abgetastet, unmittelbar danach der entsprechende Bildpunkt 12.O des Bezugskörpers 4. Das­ selbe wiederholt sich beim nächsten Bildpunkt, wobei die zwischenzeitliche Verschiebung des Prüflings 1 aufgrund der durch den Geschwindigkeitsgeber 5 gemessenen Band­ geschwindigkeit durch den Steuerrechner 7 festgestellt und ausgeglichen wird. Bei hohen Relativgeschwindig­ keiten wird entweder ein Blitzlichtgerät 13 o. dgl. eingesetzt oder die Kamera 3 wird durch den Lesestrahl oder eine Flutungselektrode partiell gelöscht. Die Reihenfolge der anzusteuernden und abzutastenden Bild­ punkte kann je nach Problemstellung verschieden ausge­ wählt werden. Die Abtastung kann zeilenweise, spalten­ weise, diagonal oder in beliebiger sonstiger - im Hinblick auf den jeweiligen Prüfkörper optimierten - geometrischer Form erfolgen. Dabei kann die Abtast­ richtung in Bewegungsrichtung der Prüflinge 1 oder entgegengesetzt dazu verlaufen; im ersten Fall erhält man eine höhere Auflösung, im zweiten Fall eine kürzere Bearbeitungszeit durch den Steuerrechner 7.
Während der Eintastperiode ist an die Kamera 3 über die Leitung 10 eine Spannung angelegt, wodurch die Kamera 3 ein Signal des jeweils angesteuerten Bildpunktes 12.P; 12.O des Prüflings 1 und des Bezugskörpers 4 erzeugt. Dieses Signal wird über eine Leitung 14 einem Verstärker 15 zugeführt und dort aufbereitet. Über einen Schalter 16 wird das aufbereitete Signal im Rhythmus des System­ taktes jeweils einem der analogen Kurzzeitspeicher 17.P; 17.O zugeführt, wobei der Kurzzeitspeicher 17.P das Signal des Bildpunktes 12.P des Prüflings 1 und der Kurzzeitspeicher 17.O das Signal des Bildpunktes 12.O des Bezugskörpers 4 speichert. Die Umschaltung der beiden Kurzzeitspeicher 17.P; 17.O erfolgt durch Steuer­ signale über eine Steuerleitung 24. Ein nachfolgender analoger Komparator 18 vergleicht die Ausgangssignale der Kurzzeitspeicher 17.P und 17.O miteinander, also das um einen Systemtakt verzögerte Signal des zuvor abge­ tasteten Bildpunktes 12.P des Prüflings 1 mit dem aktu­ ellen Signal des Bildpunktes 12.O des Bezugskörpers 4. Bei Gleichheit der beiden Signale entsteht kein Aus­ gangssignal, während bei unvollständiger Löschung ein Fehlersignal mit unterschiedlicher Amplitude entsteht, das im nachfolgenden Analog-Digital-Wandler 19 in ein Digitalsignal umgeformt und dem Auswerterechner 20 zugeführt wird.
Der Analog-Digital-Wandler 19 kann bei einfachen An­ wendungsfällen durch eine weitere Vergleichsstufe mit einstellbarer Schwelle ersetzt werden. An dieser Stelle kann auch mittels eines Signalgebers 2 ein akustisches Signal erzeugt werden, das zur raschen Justierung und zum Test der Grundeinstellung der Ein­ richtung dient. Von einigen Bauteilen, wie dem Kurzzeit­ speicher 17, dem Komparator 18 und dem Analog-Digital- Wandler 19, können mehrere Gruppen vorgesehen sein, um ganze Gruppen von Bildpunkten, z. B. Halbzeilen oder Sektoren, gleichzeitig - parallel - vergleichen zu können, wenn ein Anwendungsfall dies erfordert.
Der Auswerterechner 20 überprüft das empfangene Fehler­ signal. Er stellt fest, ob dessen Größe und Zeitdauer bestimmte einstellbare Toleranzen überschreiten und ob die Fehleranzeige sich in einer kritischen Zone des Prüflings 1 befindet. Abhängig von dieser Prüfung teilt der Auswerterechner 20 dem Steuerrechner 7 über eine Rückmeldeleitung 22 mit, ob dieser einen Suchvorgang durch Abtasten der dem das Fehlersignal auslösenden Bildpunkt benachbarten Bildpunkte einleiten soll oder nicht. Führt ein derartiger Suchvorgang nicht zu einer Löschung des Fehlersignals, löst der Auswerterechner 20 mittels eines Alarmgebers 23 - unabhängig von der jewei­ ligen Aufgabenstellung - eine oder mehrere Maßnahmen aus, wie optischer und/oder akustischer Alarm, Maschinenstop oder -rücklauf, Ansteuerung von Weichen oder Markierungseinrichtungen.

Claims (12)

1. Verfahren zur optoelektronischen Qualitätskontrolle von Prüflingen (1) durch Vergleich mit einem Bezugs­ körper (4) mittels einer Kamera (3) in Echtzeit, bei dem aus den Videosignalen der Prüflinge (1) und des Bezugskörpers (4) analoge Signale erzeugt werden, die verglichen werden, und bei dem nur bei Nicht­ gleichheit der verglichenen Signale Folgesignale er­ zeugt werden, dadurch gekennzeichnet,
  • - daß die Prüflinge (1) hintereinander an der Kamera (3) vorbeibewegt werden,
  • - daß die Kamera (3) die Bildpunkte (12.P; 12.O) der Prüflinge (1) und des Bezugskörpers (4) getrennt abtastet,
  • - daß die Bildpunkte (12.P; 12.O) durch einen Steu­ errechner (7) angesteuert werden,
  • - daß die Folgesignale aus den Fehlersignalen be­ stehen
  • - und daß die Fehlersignale digitalisiert und in einem Auswerterechner (20) weiterverarbeitet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei Festlegung der anzusteuernden und abzu­ tastenden Bildpunkte (12.P; 12.O) in Bereichen hoher Priorität eine größere Abtastdichte vorgesehen ist, als in Bereichen niederer Priorität.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß von dem Steuerrechner (7) nur bestimm­ te Bildpunkte (12.P; 12.O) hoher Priorität für eine Ansteuerung und Abtastung durch die Kamera (3) ausgewählt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die anzusteuernden und abzutastenden Bildpunkte (12.P; 12.O) durch eine aus dem Bezugskörper (4) abgeleitete Liste festgelegt werden.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß bei unvollständiger Löschung eines Vergleichsvorgangs infolge des Auftretens von mindestens zwei aufeinanderfolgenden Fehlersignalen der Auswerterechner (20) über den Steuerrechner (7) ein Abtasten der dem die Fehlersignale auslösenden Bildpunkt benachbarten Bildpunkte des Prüflings (1) und des Bezugskörpers (4) durch die Kamera (3) bewirkt.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß bei Löschung des betreffenden Fehlersignals die Abtastung der benachbarten Bildpunkte beendet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Steuerrechner (7) Richtung und Größe der Abweichung des die Löschung bewirkenden Bildpunktes vom ursprünglich angesteuerten Bildpunkt (12.P; 12.O) feststellt und daß er den sich daraus ergebenden Vektor als Eingangsgröße des nächst­ folgenden Vergleichsvorgangs benutzt.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß bei Beginn der Kontrolle jedes Prüflings (1) eine Vorprüfung der Orientierung in der Weise durchgeführt wird, daß nur einige der anzusteuernden Bildpunkte des Prüflings (1) mit dem Bezugskörper (4) verglichen werden, wobei eine even­ tuelle Schräglage eine Korrektur des Steuerrechners (7) bewirkt.
9. Einrichtung zur optoelektronischen Qualitätskon­ trolle von Prüflingen durch Vergleich mit einem Bezugskörper zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 8, mit einem Bezugskörper, einer Kamera, die Videosignale abgibt, und einer Signalverarbeitungseinrichtung für analoge Signale, die nur bei Ungleichheit des Prüflings und des Bezugskörpers Folgesignale abgibt, gekennzeichnet durch eine Linearfördereinrichtung für die Prüflinge (1), neben der der Bezugskörper (4) angeordnet ist, einen Steuerrechner (7), der die abzutastenden Bild­ punkte (12.P; 12.O) ansteuert, einen analogen Kompa­ rator (18) als Teil der Signalverarbeitungs­ einrichtung für analoge Signale, der nur bei Ungleichheit von Prüfling und Vergleichskörper Fehlersignale als Folgesignale abgibt, einen Analog- Digital-Wandler (19) und einen Auswerterechner (20) zur Weiterbearbeitung der Fehlersignale.
10. Einrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Steuerrechner (7) über Leitungen mit den betreffenden Teilen der Einrichtung verbunden ist, und zwar über drei Leitungen (8, 9, 10) mit der Kamera (3), über eine Leitung (5.1) mit einem Geschwindigkeitsgeber (5) an der Linearförder­ einrichtung (2), über eine Leitung (6.1) mit dem Signalgeber für den Startpunkt (6) der einzelnen Prüflinge (1) und über eine Leitung (14) mit der Signalverarbeitungseinrichtung für analoge Signale.
11. Einrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeich­ net, daß zusätzlich ein Blitzlichtgerät (13) oder ein Stroboskop vorgesehen ist, das über eine Leitung (13.1) mit dem Steuerrechner (7) in Verbindung steht.
12. Einrichtung nach Anspruch 9, 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Gruppen von Bauteilen, wie Kurzzeitspeicher (17), Komparator (18) und Analog-Digital-Wandler (19), nebeneinander angeord­ net sind.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19842112A1 (de) * 1998-09-07 2000-03-23 Uwe Peter Braun Einrichtung zur Einstellung und Steuerung der Beleuchtungsstärke von Kontrolleuchten
DE19953741C1 (de) * 1999-11-09 2001-10-25 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur optischen Inspektion

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3737869A1 (de) * 1987-11-09 1989-05-24 Wagner Hans Juergen Dipl Ing Verfahren und einrichtung zum optischen pruefen von gegenstaenden
DE3809221A1 (de) * 1988-03-18 1989-09-28 Roth Electric Gmbh Verfahren zum detektieren von fehlstellen an pressteilen oder anderen werkstuecken und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE19628319C2 (de) * 1996-07-13 2000-11-23 Monforts Textilmaschinen Gmbh Einrichtung zum Messen der Rapportlänge eines plastischen Musters

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2508992A1 (de) * 1974-03-08 1976-04-01 Westinghouse Electric Corp Verfahren zur ueberpruefung des einwandfreien zustands von bauteilen
DE3006379A1 (de) * 1979-02-20 1980-08-21 Hajime Industries Defektpruefsystem
DE2916159A1 (de) * 1979-04-20 1980-10-30 Hajime Industries Inspektionseinrichtung
DE3145832A1 (de) * 1980-11-17 1982-09-23 Inspection Technology Inc., 44311 Akron, Ohio "inspektionsgeraet"
DE3113440A1 (de) * 1981-04-03 1982-11-11 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg "verfahren zur ueberpruefung von gleichartigen objekten auf fehler"
DE3205828A1 (de) * 1981-05-06 1982-11-25 Inspection Technology Inc., 44311 Akron, Ohio Sichtpruefsystem mit videobildkompensation

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2508992A1 (de) * 1974-03-08 1976-04-01 Westinghouse Electric Corp Verfahren zur ueberpruefung des einwandfreien zustands von bauteilen
DE3006379A1 (de) * 1979-02-20 1980-08-21 Hajime Industries Defektpruefsystem
DE2916159A1 (de) * 1979-04-20 1980-10-30 Hajime Industries Inspektionseinrichtung
DE3145832A1 (de) * 1980-11-17 1982-09-23 Inspection Technology Inc., 44311 Akron, Ohio "inspektionsgeraet"
DE3113440A1 (de) * 1981-04-03 1982-11-11 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg "verfahren zur ueberpruefung von gleichartigen objekten auf fehler"
DE3205828A1 (de) * 1981-05-06 1982-11-25 Inspection Technology Inc., 44311 Akron, Ohio Sichtpruefsystem mit videobildkompensation

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Feinwerktechnik & Meßtechnik 84 (1976) 7, S. 330-334 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19842112A1 (de) * 1998-09-07 2000-03-23 Uwe Peter Braun Einrichtung zur Einstellung und Steuerung der Beleuchtungsstärke von Kontrolleuchten
DE19842112B4 (de) * 1998-09-07 2006-12-14 Braun, Uwe Peter, Dipl.-Ing. Einrichtung zur Einstellung und Steuerung der Beleuchtungsstärke von Kontrolleuchten
DE19953741C1 (de) * 1999-11-09 2001-10-25 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur optischen Inspektion

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Publication number Publication date
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