DE3544422A1

DE3544422A1 - Einrichtung zur messung von schichtdicken in polygraphischen maschinen

Info

Publication number: DE3544422A1
Application number: DE19853544422
Authority: DE
Inventors: Dietrich DDR 7022 Leipzig Althausen; Wolfgang Dr. DDR 7030 Leipzig Arnold; Christian Prof. Dr. DDR 7022 Leipzig Ruscher; Eggert van Dr. Treeck; Uwe DDR 7050 Leipzig Weber
Original assignee: Kombinat Polygraph Werner Lamberz VEB; Polygraph Leipzig Kombinat Veb
Current assignee: Kombinat Polygraph Werner Lamberz VEB; Polygraph Leipzig Kombinat Veb
Priority date: 1984-12-29
Filing date: 1985-12-16
Publication date: 1986-07-03
Also published as: DD233527A1

Description

einrichtung zur Messung von Schichtdicken in polygraphischen
Maschinen Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Messung von Schichtdicken, insbesondere zur dynamischen Messung von Xeuchtmittelschichtdicken in Druckmaschinen.
Bekannt ist nach der DE-OS 31 13 674 eine Vorrichtung zum Messen der Peuchtmittelschichtdicke auf der Druckplatte einer Offsetdruckmaschine, die auf eine bildfreie Stelle der Druckplatte gerichtete impulsförmige Lichtströme aussendet und das remittierte Licht durch monochrome Pilter innerhalb enger Wellenlängenbandbereiche auf das remittierte Licht quantitativ getrennt erfassende photoelektrische Lichtempfänger leitet und die elektrischen Ausgangssignale zu einem Schichtdickenwert auswertet. Dabei wird entweder die Lichtimpulsquelle durch eine zur Druckplattenrelativstellung synchron helltastbaren Lampe gebildet und für jedes Wellenlängenband ein Lichtempfänger mit vorgesetztem monochromen Filter vorgesehen oder die Lichtimpulsquelle durch jeweils eine pro Wellenlängenband mit zeitlichem Abstand zueinander synchron zur Druckplattenrelativstellung helltastbare Lampe gebildet sowie mit ausgangsseitig vorgeschalteten monochromen Piltern versehen.
Durch den Wegfall der zur Erzeugung der Impulsketten von Meß- und Vergleichsstrahl dienenden rotierenden Filter-, Spiegel- oder Lochscheiben wird weniger Platz zur Unterbringung derartiger Einrichtungen benötigt sowie die Impulslichterzeugung mit einer geringeren Verlustwärmeentwicklung vorgenommen. Gleichzeitig wird die Meßvorrichtung weniger störanfällig und wartungsbedürftig.
Nqchteilig an dieser Vorrichtung ist, daß die sich während des Druckbetriebes ergebenden Verschmutzungen, Alterungserscheinungen und andere Einflüsse auf die Lichtquelle, die Filter sowie anderen der zu messenden Schicht vorgeordneten Einrichtungen Meßwertverfälschungen hervorrufen und damit die Genauigkeit derartiger Messungen senken.
Das Ziel der Erfindung besteht darin, eine Einrichtung zur Messung von Schichtdicken zu schaffen, die eine höhere Genauigkeit besitzt und damit eine Erhöhung der Qualität der Druckprodukte bewirkt, Die Aufgabe der Erfindung ist es, die Einrichtung so zu gestalten, daß die sich während des Druckbetriebes ergebenden Einflüsse wie Verschmutzungen, Alterungserscheinungen u.ä. auf die der zu messenden Schicht vorgeordneten Teile der Meßeinrichtung kompensiert werden.
Gelöst wird die Aufgabe dadurch, daß in dem zum Meßort führenden Strahlengang ein Strahl enteil er angeordnet ist und einem Teil des geteilten Strahlenbündels ein erster Sensor sowie dem zweiten Teil des Strahlenbündels der Meßort zugeordnet ist und daß ein das von der Schicht remittierte Licht aufnehmender Sensor dem Meßort nachgeordnet ist sowie daß der dem ersten Teil des Strahlenbündels zugeordnete Sensor über eine die Helligkeit der Lichtquelle steuernde Steuereinrichtung mit der Lichtquelle verbunden ist.
Vorteilhaft wird die Einrichtung so gestaltet, daß in der Steuereinrichtung dem im ersten Teil des geteilten Strahlenbündels angeordneten Sensors ein Verstärker nachgeordnet und der Ausgang des Verstärkers über eine Uhyristorsteuerung mit der Lichtquelle verbunden ist.
Die Erfindung soll nachfolgend an Hand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert werden. In der Zeichnung wird die schematische Anordnung der Einrichtung gezeigt.
In der Einrichtung wird durch eine als Lichtquelle 1 dienende Lampe Licht erzeugt und durch das im Strahlengang angeordnete Blockfilter 2 werden die sichtbaren und höherfrequenten Anteile des Lichtes absorbiert. Danach durchläuft der übrige Anteil des Strahlenbündels ein Infrarotfilter 3, das nur noch die Meßzellen länge durchläßt. Die Meßwellenlänge wird dabei so gewählt, daß sie in der Nähe oder im Absorptionsmaximum der zu messenden Schicht liegt. Das aus dem Infrarotfilter 3 austretende Strahlenbündel trifft dann auf den Strahlenteiler 4 auf, der das Strahlenbündel entsprechend einem vorgegebenen Teilungsverhältnis teilt und in zwei unterschiedliche Richtungen lenkt.
Der eine Teil wird dadurch auf den Meßort 6 und der andere Teil auf einen ersten Sensor 7 geleitet. Durch den fotoelektrischen Sensor 7, der beispielsweise als Fotodiode ausgebildet sein kann, wird entsprechend der auf ihn fallenden Lichtintensität ein elektrisches Ausgangssignal erzeugt, das über einen Verstärker 9 verstärkt und durch eine Thyristorsteuerung 10 die Helligkeit der Lichtquelle 1 steuert.
Treten Änderungen infolge Verschmutzungen, Alterungserscheinungen usw. auf, dann erzeugt der Sensor 7, je nach Art der Änderung ein größeres oder kleineres Ausgangssignal, das durch den Verstärker 9 und der Thyristorsteuerung 10 die Helligkeit der Lichtquelle 1 verringert oder vergrößert. Dadurch wird die Lichtintensität beider Teile des geteilten Strahlungsbündels konstant gehalten.
Das durch die Schicht entsprechend dem Lambertschen Gesetz geschächte und remittierte Licht wird von einem weiteren fotoelektrischen Sensor 8 aufgefangen und in ein elektrisches Ausgangssignal umgewandelt, dessen Größe ein Maß für die zu messende Schichtdicke darstellt.
Bezugszeichen 1 Lichtquelle 2 Blockfilter 3 Infrarotfilter 4 Strahlenteiler 5 Walze 6 Meßort 7 Sensor 8 Sensor 9 Verstärker 10 Thyristorsteuerung - Leerseite -

Claims

Patentanspruch 1. Sinrichtung zur I/Iessung von Schichtdicken mit mindestens einer Lichtquelle und eines monochromen Filtersystems sowie mit das durch die zu messende Schicht remittierte Licht aufnehmende Sensoren, gekennzeichnet dadurch, daß in dem zum meßort (6) führenden Strahlengang ein Strahlenteiler (4) angeordnet ist und einem Teil des geteilten Strahlenbündels ein erster Sensor (7) sowie dem zweiten Teil des Strahlenbündels der Meßort (6) zugeordnet ist und daß ein das von der Schicht remittierte Licht aufnehmender Sensor (8) dem Meßort (6) nachgeordnet ist sowie daß der dem ersten Teil des Strahlenbündels zugeordnete Sensor (7) über eine die Helligkeit der Lichtquelle (1) steuernde Steuereinrichtung mit der Lichtquelle (1) verbunden ist.
2. Einrichtung zur Messung von Schichtdicken nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß in der Steuereinrichtung dem im ersten Teil des geteilten Strahlenbündels angeordneten Sensors (7) ein Verstärker (9) nachgeordnet und der Ausgang des Verstärkers (9) über eine Thyristorsteuerung (10) mit der Lichtquelle (1) verbunden ist.