DD233527A1

DD233527A1 - Einrichtung zur messung von schichtdicken in polygraphischen maschinen

Info

Publication number: DD233527A1
Application number: DD27216384A
Authority: DD
Inventors: Christian Ruscher; Dietrich Althausen; Wolfgang Arnold; Eggert Van Treeck; Uwe Weber
Original assignee: Polygraph Leipzig
Priority date: 1984-12-29
Filing date: 1984-12-29
Publication date: 1986-03-05
Also published as: DE3544422A1

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Messung von Schichtdicken, insbesondere zur dynamischen Messung von Feuchtmittelschichtdicken in Druckmaschinen. Ziel der Erfindung ist die Schaffung einer Einrichtung zur Messung von Schichtdicken, die eine hoehere Genauigkeit besitzt und damit eine Erhoehung der Qualitaet der Druckprodukte bewirkt. Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, die Einrichtung so zu gestalten, dass die sich waehrend des Druckbetriebes ergebenden Einfluesse wie Verschmutzungen, Alterungserscheinungen und aehnliches auf die der zu messenden Schicht vorgeordneten Teil der Messeinrichtung kompensiert werden. Geloest wird die Aufgabe dadurch, dass in dem zum Messort fuehrenden Strahlengang ein Strahlenteiler angeordnet ist und einem Teil des geteilten Strahlenbuendels ein erster Sensor sowie dem zweiten Teil des Strahlenbuendels der Messort zugeordnet ist und dass ein das von der Schicht remittierte Licht aufnehmender Sensor dem Messort nachgeordnet ist sowie dass der dem ersten Teil des Strahlenbuendels zugeordnete Sensor ueber eine die Helligkeit der Lichtquelle steuernde Steuereinrichtung mit der Lichtquelle verbunden ist. Figur

Description

Anwendungsgebiet der Erfindung

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Messung von Schichtdicken, insbesondere zur dynamischen Messung von Feuchtmittelschichtdicken in Druckmaschinen.

Charakteristik der bekannten technischen Lösungen

Bekannt ist nach der DE-OS 3113674 eine Vorrichtung zum Messen der Feuchtmittelschichtdicke auf der Druckplatte einer Offsetdruckmaschine, die auf eine bildfreie Stelle der Druckplatte gerichtete impulsförmige Lichtströme aussendet und das remittierte Licht durch monochrome Filter innerhalb enger Wellenlängenbandbereiche auf das remittierte Licht quantitativ getrennt erfassende photoelektrische Lichtempfänger leitet und die elektrischen Ausgangssignale zu einem Schichtdickenwert auswertet. Dabei wird entweder die Lichtimpulsquelle durch einezur Druckplattenrelativstellung synchron helltastbaren Lampe gebildet und für jedes Wellenlängenband ein Lichtempfänger mit vorgesetztem monochromen Filter vorgesehen oder die Lichtimpulsquelle durch jeweils eine pro Wellenlängenband mit zeitlichem Abstand zueinander synchron zur

Druckplattenrelativstellung helltastbare Lampe gebildet sowie mit ausgangsseitig vorgeschalteten monochromen Filtern versehen. Durch den Wegfall der zur Erzeugung der Impulsketten von Meß- und Vergleichsstrahl dienenden rotierenden Filter-, Spiegel- oder Lochscheiben wird weniger Platz zur Unterbringung derartiger Einrichtungen benötigt sowie die

Impulslichterzeugung mit einer geringeren Verlustwärme-entwicklung vorgenommen. Gleichzeitig wird die Meßvorrichtung weniger störanfällig und wartungsbedürftig.

Nachteilig an dieser Vorrichtung ist, daß die sich während des Druckbetriebes ergebenden Verschmutzungen,

Alterungserscheinungen und anderer Einflüsse auf die Lichtquelle, die Filter sowie anderen der zu messenden Schicht vorgeordneten Einrichtungen Meßwertverfälschungen hervorrufen und damit die Genauigkeit derartiger Messungen senken.

Ziel der Erfindung

Das Ziel der Erfindung besteht darin, eine Einrichtung zur Messung von Schichtdicken zu schaffen, die eine höhere Genauigkeit besitzt und damit eine Erhöhung der Qualität der Druckprodukte bewirkt.

Darlegung des Wesens der Erfindung

Die Aufgabe der Erfindung ist es, die Einrichtung so zu gestalten, daß die sich während des Druckbetriebes ergebenden Einflüsse wie Verschmutzungen, Alterungserscheinungen u.ä. auf die der zu messenden Schichtvorgeordneten Teile der Meßeinrichtung kompensiert werden.

Gelöst wird die Aufgabe dadurch, daß in dem zum Meßort führenden Strahlengang ein Strahlenteilerangeordnet ist und einem Teil des geteilten Strahlenbündels ein erster Sensor sowie dem zweiten Teil des Strahlenbündels der Meßort zugeordnet ist und daß ein das von der Schicht remittierte Licht aufnehmender Sensor dem Meßort nachgeordnet ist sowie daß der dem erstens Teil des Strahlenbündels zugeordnete Sensor über eine die Helligkeit der Lichtquelle steuernde Steuereinrichtung mit der Lichtquelle verbunden ist. Vorteilhaft wird die Einrichtung so gestaltet, daß in der Steuereinrichtung dem im ersten Teil des geteilten Strahlen bündels angeordneten Sensors ein Verstärker nachgeordnet und der Ausgang des Verstärkers über eine Thyristorsteuerung mit der Lichtquelle verbunden ist.

Ausführungsbeispiel

Die Erfindung soll nachfolgend an Hand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert werden. In der Zeichnung wird die schematische Anordnung der Einrichtung gezeigt.

In der Einrichtung wird durch eine als Lichtquelle 1 dienende Lampe Licht erzeugt und durch das im Strahlengang angeordnete Blockfilter 2 werden die sichtbaren und hcherfrequenten Anteile des Lichtes absorbiert. Danach durchläuft der übrige Anteil des Strahlenbündels ein Infrarotfilter 3, das nur noch die Meßwellenlänge durchläßt. Die Meßwellenlänge wird dabei so gewählt, daß sie in der Nähe oder im Absorptionsmaximum der zu messenden Schicht liegt. Das aus dem Infrarotfilter 3 austretende Strahlenbündel trifft dann'aüf den Strahlenfilter 4 auf, der das Strahlenbündel entsprechend einem vorgegebenen Teilungsverhältnis teilt und in zwei unterschiedliche Richtungen lenkt.

Der eine Teil wird dadurch auf den Meßort 6 und der andere Teil auf einen ersten Sensor 7 geleitet. Durch den fotoelektrischen Sensor 7, der beispielsweise als Fotodiode ausgebildet sein kann, wird entsprechend der auf ihn fallenden Lichtintensität ein elektrisches Ausgangssignal erzeugt, das übereinen Verstärker 9 verstärkt und durch eine Thyristorsteuerung 10 die Helligkeit der Lichtquelle 1 steuert.

Treten Änderungen infolge Verschmutzungen, Alterungserscheinungen usw. auf, dann erzeugt der Sensor 7, je nach Art der Änderung ein größeres oder kleineres Ausgangssignal, das durch den Verstärker 9 und der Thyristorsteuerung 10 die Helligkeit der Lichtquelle 1 verringert oder vergrößert. Dadurch wird die Lichtintensität beider Teile des geteilten Strahlungsbündels konstant gehalten.

Das durch die Schicht entsprechend dem Lambertschen Gesetz geschwächte und remittierte Licht wird von einem weiteren fotoelektrischen Sensor 8 aufgefangen und in ein elektrisches Ausgangssignal umgewandelt, dessen Größe ein Maß für die zu messende Snhirhtrlirko Harctollt

Claims

1. Einrichtung zur Messung von Schichtdicken mit mindestens einer Lichtquelle und eines monochromen Filtersystems sowie mit das durch die zu messende Schicht remittierte Licht aufnehmende Sensoren, gekennzeichnet dadurch, daß in dem zum Meßort (6) führenden Strahlengang ein Strahlenteiler (4) angeordnet ist und einem Teil des geteilten Strahlenbündels ein ersten Sensor (7) sowie dem zweiten Teil des Strahlenbündels der Meßort (6) zugeordnet ist und daß ein das von der Schicht remittierte Licht aufnehmender Sensor (8) dem Meßort (6) nachgeordnet ist sowie daß der dem ersten Teil des Strahlen bündeis zugeordneten Sensor (7) über eine die Helligkeit der Lichtquelle (1) steuernde Steuereinrichtung mit der Lichtquelle (1) verbunden ist.

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Erfindungsanspruch:

2. Einrichtung zur Messung von Schichtdicken nach Punkt 1, gekennzeichnet dadurch, daß in der Steuereinrichtung dem im ersten Teil des geteilten Strahlenbündels angeordneten Sensors (7) ein Verstärker (9) nachgeordnet und der Ausgang des Verstärkers (9) über eine Thyristorsteuerung (10) mit der Lichtquelle (1) verbunden ist.

Hierzu 1 Seite Zeichnungen

Anwendungsgebiet der Erfindung

Charakteristik der bekannten technischen Lösungen

Bekannt ist nach der DE-OS 3113674 eine Vorrichtung zum Messen der Feuchtmittelschichtdicke auf der Druckplatte einer Offsetdruckmaschine, die auf eine bildfreie Stelle der Druckplatte gerichtete impulsförmige Lichtströme aussendet und das remittierte Licht durch monochrome Filter innerhalb enger Wellenlängenbandbereiche auf das remittierte Licht quantitativ getrennt erfassende photoelektrische Lichtempfänger leitet und die elektrischen Ausgangssignale zu einem Schichtdickenwert auswertet. Dabei wird entweder die Lichtimpulsquelle durch eine zur Druckplattenrelativstellung synchron helltastbaren Lampe gebildet und für jedes Wellenlängenband ein Lichtempfänger mit vorgesetztem monochromen Filter vorgesehen oder die Lichtimpulsquelle durch jeweils eine pro Wellenlängenband mit zeitlichem Abstand zueinander synchron zur Druckplattenrelativstellung helltastbare Lampe gebildet sowie mit ausgangsseitig vorgeschalteten monochromen Filtern versehen. Durch den Wegfall der zur Erzeugung der Impulsketten von Meß- und Vergleichsstrahl dienenden rotierenden Filter-, Spiegel- oder Lochscheiben wird weniger Platz zur Unterbringung derartiger Einrichtungen benötigt sowie die Impulslichterzeugung mit einer geringeren Verlustwärme-entwicklung vorgenommen. Gleichzeitig wird die Meßvorrichtung weniger störanfällig und wartungsbedürftig.

Nachteilig an dieser Vorrichtung ist, daß die sich während des Druckbetriebes ergebenden Verschmutzungen, Alterungserscheinungen und anderer Einflüsse auf die Lichtquelle, die Filter sowie anderen der zu messenden Schicht vorgeordneten Einrichtungen Meßwertverfälschungen hervorrufen und damit die Genauigkeit derartiger Messungen senken.

Ziel der Erfindung

Darlegung des Wesens der Erfindung

Die Aufgabe der Erfindung ist es, die Einrichtung so zu gestalten, daß die sich während des Druckbetriebes ergebenden Einflüsse wie Verschmutzungen, Alterungserscheinungen u.a. auf die der zu messenden Schicht vorgeordneten Teile der Meßeinrichtung kompensiert werden.

Gelöst wird die Aufgabe dadurch, daß in dem zum Meßort führenden Strahlengang ein Strahlenteiler angeordnet ist und einem Teil des geteilten Strahlenbündels ein erster Sensor sowie dem zweiten Teil des Strahlenbündels der Meßort zugeordnet ist und daß ein das von der Schicht remittierte Licht aufnehmender Sensor dem Meßort nachgeordnet ist sowie daß der dem erstens Teil des Strahlenbündelszugeordnete Sensor über eine die Helligkeit der Lichtquelle steuernde Steuereinrichtung mit der Lichtquelle verbunden ist. Vorteilhaft wird die Einrichtung so gestaltet, daß in der Steuereinrichtung dem im ersten Teil des geteilten Strahlenbündels angeordneten Sensors ein Verstärker nachgeordnet und der Ausgang des Verstärkers über eine Thyristorsteuerung mit der Lichtquelle verbunden ist.

Ausführungsbeispiel

In der Einrichtung wird durch eine als Lichtquelle 1 dienende Lampe Licht erzeugt und durch das im Strahlengang angeordnete Blockfilter 2 werden die sichtbaren und hcherf requenten Anteile des Lichtes absorbiert. Danach durchläuft der übrige Anteil des Strahlenbündels ein Infrarotfilter 3, das nur noch die Meßwellenlänge durchläßt. Die Meßwellenlänge wird dabei so gewählt, daß sie in der Nähe oder im Absorptionsmaximum der zu messenden Schicht liegt. Das aus dem Infrarotfilter 3 austretende Strahlenbündel trifft dannaüf den Strahlerifilter 4 auf, der das Strahlenbündel entsprechend einem vorgegebenen Teilungsverhältnis teilt und in zwei unterschiedliche Richtungen lenkt.

Der eine Teil wird dadurch auf den Meßort 6 und der andere Teil auf einen ersten Sensor 7 geleitet. Durch den fotoelektrischen Sensor 7, der beispielsweise als Fotodiode ausgebildet sein kann, wird entsprechend der auf ihn fallenden Lichtintensität ein elektrisches Ausganjssignal erzeugt, das über einen Verstärker 9 verstärkt und durch eine Thyristorsteuerung 10 die Helligkeit der Lichtquelle 1 steuert.

Treten Änderungen infolge Verschmutzungen, Alterungserscheinungen usw. auf, dann erzeugt der Sensor 7, je nach Art der Änderung ein größeres oder kleineres Ausgangssignal, das durch den Verstärker 9 und der Thyristorsteuerung 10 die Helligkeit der Lichtquelle 1 verringert oder vergrößert. Dadurch wird die Lichtintensität beider Teile des geteilten Strahiungsbündels konstant gehalten.

Das durch die Schicht entsprechend dem Lambertschen Gesetz geschwächte und remittierte Licht wird von einem weiteren fotoelektrischen Sensor 8 aufgefangen und in ein elektrisches Ausgangssignal umgewandelt, dessen Größe ein Maß für die zu ^rhirhtrlinko rlarctollt