DE3533525A1 - DEVICE FOR CHIP SHEET MONITORING IN CHIP METAL PROCESSING - Google Patents
DEVICE FOR CHIP SHEET MONITORING IN CHIP METAL PROCESSINGInfo
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Description
VJB vVerkzeugmaschinenkonibinat
"7. Oktober" Berlin
1120 Berlin
Gehringstr. 39VJB v machine tool agreement
"October 7th" Berlin
1120 Berlin
Gehringstrasse 39
Titel der iär findungTitle of the iär invention
Einrichtung zur Spanformüberwachung bei der spanenden iaetallbearbeitungDevice for chip shape monitoring during cutting metalworking
Anwendungsgebiet der ErfindungField of application of the invention
Einrichtung zur Spanfor müb erwachung bei der spanenden Metallbearbeitung hinsichtlich, langer ungebrochener sowie das Werkzeug umwickelnder Späne, die als Kon takte lenient e durch Ausnutzung ihrer elektrischen Leitfähigkeit einen Stromkreis über das in · einer ,i/erkzeugspannvorrichtung aufgenommene «Verkzeug und einer Kontaktstelle im Spanraum zu einer Auswerteschaltung schließen, insbesondere für automatisch arbeitende Drehmaschinen·Device for chip forming during metal cutting as to, long unbroken as well as the tool wrapping chips, which serve as contacts e through utilization their electrical conductivity creates a circuit via the one, in / tool clamping device included, tool and one Close the contact point in the chip space to an evaluation circuit, especially for automatically operating lathes
Charakteristik der bekannten technischen LösungenCharacteristics of the known technical solutions
Bei der Drehbearbeitung wird im Zusammenhang mit der iintwicklung von .Fertigungszellen für die bedienarme Produktion die Kontrolle und Beherrschung der Späne zu einem erstrangigen Problem. Unerwünschte Spanformen, wie ^irr- und Bandspäne, haben oft Beschädigungen der werkstückoberfläche und eine Behinderung des automatischen /Werkstück- und Werkzeugwechsels zur Folge. Außerdem erhöht sich die Gefahr vor. Jerkzeugbrüchen. Die sfirr- und Bandspäne behindern zudem den .Spänetransport und führen zu einem hohen Raumbedarf für den Spänetransport. Aus allen diesen nachteiligen Begleiterscheinungen der unerwünschten Spanformen resultieren Maschinenstillstandszeiten und Unfallquellen bei der Spänebeseitigung.Turning is associated with development Control of .Manufacturing cells for low-operator production and control of the chips becomes a priority problem. Unwanted chip shapes, such as filament and ribbon chips, are often damaged the workpiece surface and a hindrance to the automatic / workpiece and tool change. aside from that the danger increases. Tool breaks. The sfirr and Ribbon chips also hinder the chip transport and lead to it a high space requirement for the chip transport. From all of these disadvantageous side effects of the undesirable chip shapes result in machine downtimes and sources of accidents chip removal.
Zur Verhinderung der Entstehung solcher nVirx- und Bandspäne sind bereits die unterschiedlichsten Ivlaßnahmen getrofien worden. So wird durch entsprechende Ausbildung der v'/erkzeugschneiden oder durch zusätzliche den vr or se hub an trieb üoerlatSerte Schwingbewe-A wide variety of measures have already been taken to prevent the formation of such virx and ribbon chips. Thus, by appropriate design of v '/ or by additional erkzeugschneiden the v r se or hub to drive üoerlatSerte Schwingbewe-
2 -2 -
gungen ein Spanbruch herbeigeführt. iSine andere Möglichkeit besteht in der auf kurze Späne gezielten technologischen Vorgabe der Schnittparameter.a chip break. iSine another option consists in the technological specification of the cutting parameters aimed at short chips.
An automatisch arbeitenden Werkzeugmaschinen, die mit einer Vielzahl unterschiedlicher werkzeuge ausgerüstet sind (vVerkzeugspeicher und selbsttätigem Werkzeugwechsel) und aus ökonomischen Gesichtspunkten mit optimalen Schnittwerten programmiert sind, lassen sich unerwünschte Spanformen nicht mit Sicherheit von vornherein ausschließen. Ursache dafür ist die Vielzahl und die Streuung der spanformbeeinflussenden Eigenschaften des Systems vVerkzeugtaaschine-Werkzeug-Werkstück. ISine externe Vorherbestimmung der Spanformen ist gegenwärtig mit ausreichender Zuverlässigkeit nicht möglich.On automatically operating machine tools that are equipped with a A large number of different tools are equipped (v tool storage and automatic tool change) and from economic Are programmed with optimal cutting values, unwanted chip shapes cannot be reliably removed from exclude from the start. The reason for this is the large number and scattering of the properties of the system that influence the chip form v Machine tool-tool-workpiece. IS an external predestination chip forming is currently not possible with sufficient reliability.
Deshalb liegt der heute beschrittene Weg zur Vermeidung von Schaden als Folge ungünstiger Spanformen in der Entwicklung von Einrichtungen zur automatischen Spanformerkennungo Bekannte Einrichtungen zur Spanformerkennung basieren auf der Messung der Wärmestrahlung oder der Ultraschallreflexion des ablaufenden Spanes. Eine andere bekannte Spanformüberwachung arbeitet mit K'äherungsinitiatoren bzw. Lichtschranken. Zur Spanformerkennung ist auch schon der dynamische Vorschubkraftanteil ausgenutzt worden.That is why the path taken today to avoid Damage as a result of unfavorable chip shapes in development of devices for automatic chip shape detection o Known devices for chip shape detection are based on the Measurement of the thermal radiation or the ultrasonic reflection of the running chip. Another known chip shape monitor works with proximity switches or light barriers. The dynamic feed force component is also used to identify the chip shape been exploited.
Man hat bei der Drehbearbeitung versucht, die Spanform über die Ermittlung der Spanlaufrichtung zu erfassen. Dafür ist an drei unterschiedlichen Stellen der Span- und !Freifläche des Dreh— meißeis je ein Kontaktstück isoliert aufgesetzt, über welches durch den ablaufenden Span ein Stromkreis zu einer Auswerteschaltung geschlossen wird«During turning, attempts have been made to determine the chip shape by determining the direction of chip travel. That's three different points of the rake and! open face of the turning meißeis each a contact piece placed isolated over which a circuit to an evaluation circuit through the running chip is closed «
Keine dieser bekannten Losungen sind bisher praxiswirksam geworden. Es handelt sich in allen fällen um Labormuster und entsprechend dafür konzipierte Sensoren, die für den Einsatz unter Produktionsbedingungen nicht geeignet sind, weil sie den Arbeitsraum der Maschine einengen und den automatischen vierkstück- bzw. Werkzeugwechsel behindern würden. Die meisten dieser Sensoren sind unter iSinsatz von Fertigungshilfsstoffen in ihrer FunktionNone of these known solutions have so far become effective in practice. In all cases, these are laboratory samples and sensors designed accordingly for use under Production conditions are unsuitable because they restrict the working area of the machine and the automatic square or Would hinder tool changes. Most of these sensors function using production aids
beeinträchtigt. Außerdem ist der Aufwand für die Signalgewinnung und die Signalübertragung sehr hoch. Bei Werkzeugmaschinen mit automatischem Werkzeugwechsel und der am Werkzeug vorgesehenen Kontaktsensoren entstehen zusätzliche Probleme für die Signalübertragung, um die Punktionsfähigkeit mit vertretbarem technischen Aufwand zu gewährleisten. Hinzu kommt, daß die Sensoren mehr oder weniger gegen äußere Krafteinwirkungen empfindlich sind und durch den Spanablauf Beschädigungen ausgesetzt sind.impaired. In addition, there is the effort involved in obtaining the signal and the signal transmission is very high. For machine tools with automatic tool change and the contact sensors provided on the tool create additional problems for signal transmission, to ensure puncture capability with reasonable technical effort. In addition, the sensors are more or less sensitive to external forces and are exposed to damage from the chip flow.
Ziel der ErfindungObject of the invention
Die Erfindung hat eine Einrichtung zur Spanformüberwachung zum Ziel, die bei hoher Zuverlässigkeit und Störsicherheit den Anforderungen des Produktionseinsatzes gerecht wird. The invention has a device for chip shape monitoring for A goal that meets the requirements of production use with high reliability and interference immunity.
Darlegung des ,Vesens der ErfindungExplain the, Vesen of the invention
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zur Spanformüberwachung bei der spanenden Metallbearbeitung hinsichtlich langer ungebrochener sowie das Werkzeug, umwickelnder Späne mittels Kontaktelementenzu schaffen, die unabhängig von der Schrupp- oder Schlichtbearbeitung auch unter Einsatz von Fertigungshilfsstoffen funktionsfähig sein soll, wobei die Kontakte lenient e -vom .-/erkzeug ferngehalten werden sollen und die Maschinenfunktionen- sowie der werkstück— und Werkzeugwechsel nicht beeinträchtigt werden soll.The invention is based on the object of a device for Chip shape monitoring in metal cutting with regard to long unbroken as well as the tool to create wrapping chips by means of contact elements that are independent of the roughing or finishing should also be functional with the use of auxiliary production materials, with the Contacts lenient e -from .- / tool should be kept away and the machine functions as well as the workpiece and tool change should not be impaired.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß die v/erkzeugspannvorrichtung in unmittelbarer. Umgebung der Einspannstelle des ,«'erkzeuges auf der dem: Werkstück -zugewandten Stirnfläche sowie den sich unmittelbar anschließenden Seitenflächen mit einer zum ärutadkörper der .,-erkzeu^spanLvorriehtung isolierten elektrisch leitenden Schicht versehen ist. Diese Schicht ist ia.it einer durch das Innere der .verkzeugspannvorrichtung verlegten übertragungsleitung verbunden, welche nach außen über eine Anschlußstalle zur Auswerteschaltung geführt ist, durch die bei Dauerkontaktgabe ein Signalausgang "Jickelspan" undAccording to the invention the object is achieved in that the tool clamping device in immediate. Environment of the clamping point of the "" tool on the face facing the workpiece as well as the directly adjoining side surfaces with a device insulated from the body of the arm electrically conductive layer is provided. This layer is generally one laid through the inside of the tool clamping device Transmission line connected, which is led to the outside via a connection stalls to the evaluation circuit by a signal output "Jickelspan" and
BADORiGJMALBADORiGJMAL
bei intermittierender Kontaktgabe ein Signalausgang "Langspan'1 aktiviert ist.with intermittent contact a signal output "long span ' 1 is activated.
Als elektrisch leitende Schicht sind vorzugsweise auf den Flächen der Werkzeugspannvorrichtung verschleißfeste Bleche isoliert aufgesetzt. Diese Bleche sollten vorteilhaft aus nicht-magnetisierbarem Material bestehen.As an electrically conductive layer are preferably on the Surfaces of the tool clamping device, wear-resistant sheet metal placed on it, insulated. These sheets should look beneficial consist of non-magnetizable material.
Bei einer Werkzeugspannvorrichtung als Teil eines Revolverkopfes ist die Anschlußstelle als induktiver ISäherungsinitiator ausgebildet.In the case of a tool clamping device as part of a turret head, the connection point is an inductive proximity switch educated.
Bei einem bereits vorhandenen drahtlosen Meß signaliiber trager, der zur Abnahme der Meßsignale von einem im Revolverkopf einwechselbaren Meßtaster vorgesehen ist und die MeBsignale vom Revolverkopf zum feststehenden fferkzeugträgerteil übertragt, ist die am feststehenden tferkzeugträgerteil angeordnete Empfangsstelle des MeßSignalübertragers über eine Torschaltung mit der Auswerteschaltung verbunden.In the case of an already existing wireless measuring signal transmitter, the one exchangeable in the turret head for taking the measurement signals A measuring probe is provided and the measurement signals are transmitted from the turret head to the stationary tool carrier part, is the receiving point of the measuring signal transmitter which is arranged on the stationary tool carrier part via a gate circuit connected to the evaluation circuit.
Vorzugsweise ist der Signalausgang "Wickelspan11 bei einer vorgegebenen Dauerkontaktzeit aktiviert, die im Bereich zwischen 0,5 "bis 4 Sekunden liegt und der Signalausgang "Langspan11 bei einer vorgegebenen Kontaktfrequenz aktiviert, die im Bereich zwischen 2 bis ^Q Hz liegt. Der Signalausgang der Auswerteschaltung ist auf eine den Vorschubantrieb stufig erhöhende Sollwertquelle geschaltet.Preferably, the signal output is "winding chuck 11 is activated at a predetermined time contact time in the range between 0.5" is located and up to 4 seconds, the signal output "long chipping 11 is activated at a predetermined contact frequency which lies in the range between 2 to ^ Q Hz. The signal output the evaluation circuit is switched to a setpoint source that gradually increases the feed drive.
AusführungsbeispielEmbodiment
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt.In the drawing is an embodiment of the invention shown.
Dabei zeigen:Show:
Fig. 1: iSine Ansicht der dem Werkstück zugewandten Seite einer 'tferkzeugspannvorrichtung für ein Drehwerkzeug,Fig. 1: iSine view of the side facing the workpiece a remote tool clamping device for a turning tool,
Fig. 2: eine Draufsicht auf die i/erkzeugspannvorrichtung von Fig. 1,Fig. 2: a plan view of the tool clamping device of Fig. 1,
Fig., 3: einen Schnitt nach Linie A-B in Fig. 1, Fig. 4: eine Schaltungsanordnung zur Signalgewinnung,Fig. 3: a section along line A-B in Fig. 1, Fig. 4: a circuit arrangement for signal generation,
BAD ORIGlMAL BAD ORIGlMAL
Fig. 5a: den Signalverlauf bei gebrochenen Spänen, Fig. 5b: den Signalverlauf bei ungebrochenen Spänen und den daraus von der Auswerteschaltung abgeleiteten Signalausgängen "Langspan" bzw* "Wickelspan"«Fig. 5a: the signal profile for broken chips, Fig. 5b: the signal profile for unbroken chips and the "Langspan" or * "Wickelspan" signal outputs derived therefrom from the evaluation circuit «
Die Einrichtung zur Spanformüberwachung wird an Hand eines standardisierten Drehwerkzeugspanners 1 (Fig. 1; Fig. 2) beschrieben. In dem Drehwerkzeugspanner 1 ist das mit einem Schneidkörper 2a bestückte Drehwerkzeug 2 aufgenommen. Der Drehwerkzeugspanner 1 besitzt eine zylindrische Aufnahme 1a, mit welcher er in einem Scheibenrevolver 3 befestigt ist (Fig. 3)· Am Drehwerkzeugspanner 1 ist ein Kontaktelement 4 befestigt, welches die dem Austritt des Drehwerkzeuges 2 naheliegenden Flächen des Drehwerkzeugspanners 1 umschließt, d.h. diesem in der Oberflächenform angepaßt ist· Das Kontaktelement 4 besteht aus nichtmagnetisierbarem Stahlblech. Als Isolierung des Kontaktelementes 4 gegenüber dem Drehwerkzeugspanner 1 sind angepaßte isolierende Unterlagen 5 vorgesehen. Das Kontaktelement 4 ist zusamraen mit den isolierenden Unterlagen 5 niit dem Drehwerkzeugspanner 1 verschraubt. Dazu sind in dem Drehwerkzeugsparmer 1 Isolierbuchsen 6, 7, S für Befestigungsschrauben 9» 10 eingelassen. Das Kontaktelement 4 ist an einer Befestigungssteile über die Befestigungsschraube 10 mit einer im Drehwerkzeugspanner 1 isoliert eingelassenen Zylinderbuchse 11 verbunden, an welcher eine Leitung 12 angeschlossen ist, die durch das Innere des Drehwerkzeugspanners 1 führt und mit einer Induktionsspule 13 (Figo 3) verbunden ist. Der andere Eingang der Induktionsspule 13 ist über eine Leitung 14 mit Masse, d. h. dem Drehwerkzeugspanner 1 und damit der Werkzeugschneide 2a verbunden. Die Induktionsspule 13 ist in einem Gehäuse 15 aufgenommen, welches in einer zylindrischen Einsenkung in die Stirnseite der zylindrischen Aufnahme 1a des Werkzeugspanners 1 eingelassen und durch eine Schraube 19 befestigt ist. Der Induktionsspule 13 direkt gegenüber befindet sich ein 2<äherungsinitiator Sin den öäherungsinitiator 16 aufnehmendes Gehäuse 17 ist am feststehenden Werkzeugträgerteil 18 befestigt. Der LuftspaltThe device for chip shape monitoring is based on a standardized turning tool clamp 1 (Fig. 1; Fig. 2) described. The turning tool 2 equipped with a cutting body 2a is received in the turning tool clamp 1. Of the Rotary tool clamp 1 has a cylindrical receptacle 1 a, with which it is fastened in a disc turret 3 (Fig. 3) There is a contact element 4 on the rotary tool clamp 1 attached, which encloses the surfaces of the turning tool clamp 1 that are close to the exit of the turning tool 2, i.e. the surface shape is adapted to this · The contact element 4 consists of non-magnetizable sheet steel. As insulation of the contact element 4 from the rotary tool clamp 1 adapted insulating pads 5 are provided. The contact element 4 is together with the insulating pads 5 not screwed to the turning tool clamp 1. To do this, in Insulating bushings 6, 7, S for fastening screws 9 »10 are embedded in turning tool sparmer 1. The contact element 4 is on a fastening part via the fastening screw 10 with a cylinder bushing insulated in the turning tool clamp 1 11 connected to which a line 12 is connected, which leads through the interior of the rotary tool clamp 1 and is connected to an induction coil 13 (Figo 3). The other input of the induction coil 13 is connected to ground via a line 14, d. H. the rotary tool clamp 1 and thus the tool cutting edge 2a. The induction coil 13 is accommodated in a housing 15, which is embedded in a cylindrical recess in the end face of the cylindrical receptacle 1 a of the tool clamp 1 and is fixed by a screw 19. Directly opposite the induction coil 13 is a 2 <proximity initiator Sin the proximity initiator 16 receiving housing 17 is on fixed tool carrier part 18 attached. The air gap
■■. - 6 -■■. - 6 -
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zwischen der Induktionsspule 13 und dem. Näherungsinitiator 16 ist durch eine Distanzscheibe 20 einstellbar« Die Schaltungsanordnung (Fig. 4·) zeigt die Induktionsspule 13, die durch einen als Schaitkontakt 21 dargestellten Span zwischen dem Kontaktelement 4 und der Werkzeugschneide 2a kurzgeschlossen werden kann. Sine zum Eäherungsinitiator 16 gehörende Koppelinduktionsspule 22 liegt in einem Oszillatorkreis, der durch einen zur Koppe!induktionsspule 22 geschalteten Kondensator 23 angedeutet ist. Die über eine Leitung 24 (Fig. 3) anliegenden Signale sind einer nichtdargestellten Auswerteschaltung zugeführt. between the induction coil 13 and the. Proximity switch 16 can be adjusted by a spacer washer 20. The circuit arrangement (Fig. 4) shows the induction coil 13, which are short-circuited by a chip shown as a switching contact 21 between the contact element 4 and the tool cutting edge 2a can be. A coupling induction coil belonging to the proximity initiator 16 22 lies in an oscillator circuit, which is connected to a capacitor 23 connected to the coupling induction coil 22 is indicated. The applied via a line 24 (Fig. 3) Signals are fed to an evaluation circuit (not shown).
Der ablaufende Span erzeugt, wenn er mit dem Kontaktstück in Berührung kommt, Signale, die über der Zeit t in Fig. 5 grafisch dargestellt sind. In Fig. 5a ist ein unregelmäßiger Signalverlauf dargestellt, bei dem durch unterschiedlich lange Kontaktgabe sowohl kurze iinpulsförmige Signale, wie auch längere Signale entstehen. In Fig. 5b sind drei charakteristische Signalverläufe dargestellt. In einer ersten Zeitperiode 3?jg tritt nur ein Signal auf, welches innerhalb der vorgegebenen Kontaktdauer T,«g wieder verschwindet. In einer zweiten Zeitperiode Tjo tritt eine Häufung impulsartiger Signale auf, wobei eine Grenzimpulszahl von neun Impulsen erreicht wird, die sich aus der vorgegebenen Kontaktfrequenz und der Zeitperiode T„o ergibt. In einer weiteren Zeitperiode T™ liegt vom ablaufenden Span ein Dauerkontakt an, der die vorgegebene Dauerkontaktzeit T^g überschreitet. Aus den Überschreitungen der Grenzimpulszahl icrrtan„ bzw. der vorgegebenen Dauerkontaktzeit T^g sind von der Auswerteschaltung das Signal "Langspan11 bzw. das Signal "Wicke!span" aktiviert.The running chip, when it comes into contact with the contact piece, generates signals which are shown graphically in FIG. 5 over time t. In FIG. 5a, an irregular signal curve is shown in which both short, pulse-shaped signals and longer signals are produced as a result of contact of different lengths. In Fig. 5b three characteristic signal curves are shown. In a first time period 3? G, only one signal occurs, which disappears again within the predetermined contact duration T i g. In a second time period Tjo an accumulation of pulse-like signals occurs, with a limit pulse number of nine pulses being reached, which results from the predetermined contact frequency and the time period T "o. In a further time period T ™ there is a permanent contact from the running chip, which contact exceeds the predetermined permanent contact time T ^ g. From the exceeding of the limit pulse number i crrtan " or the predetermined continuous contact time T ^ g, the signal" long span 11 or the signal "vetch! Span" are activated by the evaluation circuit.
Die Wirkungsweise der Einrichtung zur Spanformüberwachung ist folgende:The operation of the device for chip shape monitoring is as follows:
Der bei der Bearbeitung über die /v'erkzeugschneide 2a ablaufende und als Schaltelement 21 wirkende Span bewirkt bei Kontaktgabe mit dem Kontaktelement 4- einen Signalpegel H. Ist der Stromkreis vom Span zum Kontaktelement 4- nicht geschlossen, verbleibt der Signalpegel in seiner Ausgangshöhe L.The one running over the tool cutting edge 2a during machining and the chip acting as the switching element 21 causes a signal level H when contact is made with the contact element 4-. This is the circuit from the chip to the contact element 4- not closed, the remains Signal level in its initial height L.
Hierdurch wird bei allen kurz brechenden Spänen überhaupt kein Η-Signal gegeben. Erst längere Späne, die auf das KontaktelementAs a result, there is no at all for all short-breaking chips Η signal given. Only longer chips that hit the contact element
_ 7 _ . BAD OR!S-!MAL_ 7 _. BAD OR! S-! MAL
4 stoßen, führen zu einem Signalpegel H. Brechen diese Späne kurz danach noch von selbst, d.h. bevor die eingestellte Dauerkontaktzeit T,Fx erreicht wird, sind .Singriffe in den Bearbeitungsablauf nicht erforderlich. Erst bei Überschreitung dieser Zeitgrenze wird die Kontaktgabe des ablaufenden Spanes als Dauerkontaktzeit 1H.,.^ von der Auswertesehaltung erkannt und das Signal "vVickelspan" WS ausgegeben. In diesem EaIl hat sich der ablaufende Span in der Eegel am Drehwerkzeug verwickelt und festgesetzt. Schließt der ablaufende Span nur kurzzeitig, aber wiederholt den Stromkreis, wodurch iiapulsformige Signale entstehen, ist die Gefahr eines gefährlichen Langspanes solange auszuschließen, wie innerhalb der Zeitperiode TTC-, die GrehziniDulszahl !„,„.„_4, lead to a signal level H. If these chips break by themselves shortly thereafter, ie before the set continuous contact time T, F x is reached, no interventions in the processing sequence are required. Only when this time limit is exceeded is the contact of the running chip recognized as a permanent contact time 1 H.,. ^ By the evaluation system and the "vVickelspan" WS signal is output. In this case, the running chip has become entangled and stuck on the turning tool. If the running chip closes the circuit only briefly, but repeatedly, creating pulse-shaped signals, the risk of dangerous long chips must be ruled out as long as within the time period T TC -, the Grehzini pulse rate! ",". "_
Xw grenzXw border
nicht erreicht wird, d.h. im vorliegenden Ausführungsbeispiel neun Impulse pro Zeitperiode T-^ nicht überschritten werden. Erst bei einem über die Grenζimpulszahl i hinausgehenden Zählxvert wird von der Auswertesehaltung das Signal "Langspan" LS ausgegeben. Das Auftreten dieser Impulsfrequenzen ist hinsichtlich der Spanbildung deshalb als gefährlicher Langspan zu werten, weil Langspäne mit mehrfacher Kontaktgabe bei kleinsten Veränderungen der Schnittbedingungen häufig zum Entstehen von ./ickelspänen führen. S1Ur viele Fälle kann somit durch Erkennen von gefährlichen Langspänen und daraus folgenden Veränderungen von Bearbeitungsparametern die Entstehung von unbedingt zu vermeidenden Wickelspänen verhindert werden. Mit jeder Kontaktgabe des Spanes am Kontaktelement 4- kommt es zur Dämpfung des Oszillatorkreises des Mäherungsinitiators 16, woraus das oben beschriebene Η-Signal abgeleitet und der Auswertesehaltung zugeführt wird,, fird die Dämpfung durch Offnen des Schaltkontaktes 21 beseitigt, so wird das Signal auf L rückgesetzt. 2Jine mögliche Strategie sieht z. B-. nun vor, bei Ausgabe des Signals "Langspan" LS und/oder des Signals "Wickelspan" WS den Vorschub des Bearbeitungsprozesses mit einem bestimmten Stufensprung bis zu einem vorgegebenen Grenzwert zu erhöhen, um eine verbesserte Spanform bzw. Spanbrechung zu erzielen. Hierfür kann eine bei Aufrufsignal sich stufig, erhöhende Sollwertquelle verwendet werden.is not achieved, ie in the present embodiment nine pulses per time period T- ^ are not exceeded. The signal "long span" LS is only output by the evaluation unit when the counting value exceeds the limit pulse number i. With regard to chip formation, the occurrence of these pulse frequencies is to be rated as dangerous long chips, because long chips with multiple contacts often lead to the formation of ./ickel chips with the smallest changes in the cutting conditions. S 1 In many cases, the creation of winding chips, which must be avoided, can be prevented by recognizing dangerous long chips and the resulting changes in machining parameters. Every time the chip makes contact with the contact element 4-, the oscillator circuit of the mower initiator 16 is attenuated, from which the Η signal described above is derived and fed to the evaluation unit reset. 2Jine possible strategy is e.g. B-. Now, when the "Langspan" LS signal and / or the "Wickelspan" WS signal are output, the feed rate of the machining process is increased by a certain increment up to a predetermined limit value in order to achieve an improved chip shape or chip breaking. For this purpose, a setpoint source that increases in stages when the signal is called can be used.
BAD OBIGINALBATHROOM OBIGINAL
Bleibt trotz dieser Maßnahme das üignal "//ickelspan" '//S bestehen, so ist zu signalisieren, daß sich ein Eingriff zum Entfernen der sich um das v/erkzeug verwickelten Späne erforderlich macht. 3ine Signalisierung für einen manuellen iSingriff in den Bearbeitungsprozeß kann auch bei Bestehenbleiben des Signals "Langspan" Iß gegeben werden.»Despite this measure, the signal "// ickelspan" '// S remains exist, it is to be signaled that an intervention to remove the chips entangled around the tool is to be signaled makes necessary. A signaling for manual intervention in the processing process can also remain in place of the "Langspan" signal. »
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BADBATH
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8130 | Withdrawal |