DE3530308A1 - Verfahren zur anpassung eines pruefprogramms fuer elektrische schaltungen - Google Patents
Verfahren zur anpassung eines pruefprogramms fuer elektrische schaltungenInfo
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Description
Die Erfindung geht aus von einem Verfahren nach der
Gattung des Hauptanspruchs.
Zur Prüfung von elektrischen Schaltungen, insbeson
dere von bereits bestückten Leiterplatten sind auto
matische Prüfverfahren bekannt, bei denen nach einem
vorgegebenen Prüfprogramm an einzelne Punkte der
Schaltung Prüfspannungen und Prüfsignale angelegt
und Meßwerte ermittelt werden, aufgrund derer auf
fehlerhafte Bauelemente, fehlerhafte Kontaktierung
oder Bestückungsfehler geschlossen werden kann.
Vor der Aufnahme der automatisierten Prüfung einer
neuen Schaltung ist dabei das Prüfprogramm an die
neue Schaltung anzupassen, d. h., es ist festzule
gen, wo oder beispielsweise wie lange Prüfsignale
oder Spannungen anzulegen sind und an welchen Schal
tungspunkten Meßwerte abzufragen sind. Dabei hat es
sich herausgestellt, daß die Anpassung eines Prüf
programms an die jeweils zu prüfende Schaltung auf
grund theoretischer Betrachtungen nur unvollkommen
ist und daß das Prüfprogramm für die einzelne Schal
tung aufgrund von Prüfungen einzelner Exemplare der
Schaltung noch an die spezielle Schaltung anzupassen
ist.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein
Verfahren anzugeben, bei welchem diese Anpassung
gegenüber den bekannten Verfahren zur Erstellung
eines Prüfprogramms für elektrische Schaltungen ver
bessert wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren mit den kennzeichnen
den Merkmalen des Hauptanspruchs hat den Vorteil,
daß die Anpassung des Prüfprogramms an die jeweils
zu prüfende Schaltung in wesentlich kürzerer Zeit
als bei den bekannten Verfahren vorgenommen werden
kann. Außerdem ist es möglich, die Prüfparameter
genauer festzulegen.
Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maß
nahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbes
serungen des im Hauptanspruch angegebenen Verfahrens
möglich.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der
Zeichnung an Hand mehrerer Figuren dargestellt und
in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Anordnung zur
Durchführung des erfindungsgemäßen Verfah
rens,
Fig. 2 schematisch ein Flußdiagramm eines Programmes
zur Durchführung des erfindungsgemäßen Ver
fahrens und
Fig. 3 ein Beispiel für ein bei der Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens auftretenden
Schirmbildes.
Bei der Anordnung nach Fig. 1 stellt 1 einen an sich
bekannten Computer dar mit einer Zentraleinheit 2,
einem Bussystem 3, einem Nur-Lese-Speicher 4, einem
Schreib-Lese-Speicher 5, einer Ein/Ausgabeeinheit 6
und einem Videobaustein 7. Der Computer 1 sowie des
sen Bausteine sind hinreichend bekannt und brauchen
im Zusammenhang mit der vorliegenden Erfindung nicht
näher erläutert zu werden. An den Videobaustein ist
ein Monitor 8 angeschlossen, während über die
Ein/Ausgabeeinheit 6 außer den bei Computern
üblichen Peripherieeinheiten, also einem Drucker 9,
einem Diskettenlaufwerk 10 und einer Tastatur 11 ein
Prüfsignalgeber 12 und ein Analog/Digital-Wandler 13
angeschlossen ist.
Der Prüfsignalgeber 12 verfügt über mehrere Aus
gänge, welche an ausgewählte Punkte des Prüflings 14
angeschlossen sind und diesem die für die Prüfung
erforderlichen Spannungen bzw. Signale zuführen. Der
Eingang des Analog/Digital-Wandlers 13 kann über
einen Eingangsumschalter 15 an verschiedene Punkte
des Prüflings 14 angeschlossen werden.
Nach einem für die jeweilige zu prüfende Schaltung
vorgesehenen Programm werden nun der Prüfsignalgeber
sowie der Eingangsumschalter 15 von dem Computer
gesteuert. Die jeweils sich ergebenden Meßwerte
werden mit Sollwerten verglichen. Bei Überschreiten
einer vorgegebenen Abweichung vom Sollwert wird die
zu prüfende Schaltung 14 als fehlerhaft erkannt. Auf
dem Bildschirm des Monitors 8 kann der Prüfvorgang
verfolgt werden bzw. in den Prüfvorgang, der an sich
automatisch abläuft, bei Bedarf eingegriffen werden.
Mit Hilfe des Druckers 9 kann ein Prüfprotokoll er
stellt werden. Das Diskettenlaufwerk 10 dient dazu,
daß jeweils an eine bestimmte zu prüfende gedruckte
Schaltung angepaßte Programm in den Computer 1 zu
laden. Das Diskettenlaufwerk 10 oder ein zweites
Diskettenlaufwerk kann jedoch auch dazu benutzt
werden, Prüfprotokolle auf Disketten aufzuzeichnen.
Schließlich dient die Tastatur 11 dazu, die gesamte
Anordnung zu bedienen.
Wie bereits eingangs erwähnt, kann allein aufgrund
theoretischer Überlegungen ein für die Prüfung einer
bestimmten Schaltung vorgesehenes Prüfprogramm nicht
immer endgültig festgelegt werden. Es ist deshalb in
vielen Fällen erforderlich, das Programm aufgrund
der Ergebnisse der Prüfung der ersten Muster an die
speziellen Gegebenheiten der jeweiligen Schaltung
anzupassen. Wie dieses mit Hilfe des erfindungsge
mäßen Verfahrens durchgeführt wird, ist im Zusammen
hang mit dem Flußdiagramm in Fig. 2 im folgenden
näher erläutert:
Das in Fig. 2 stark vereinfacht dargestellte Pro
gramm wird bei 21 gestartet. Nachdem die Zählvari
able n bei 22 auf 1 gesetzt wurde, werden bei 23 aus
einem Speicher, beispielsweise von einer Diskette,
die Daten P(n), U(n) und O(n) gelesen. Dabei handelt
es sich bei P(n) um die Prüfparameter, welche besa
gen, welche Spannung zwischen welchen Punkten der zu
prüfenden Schaltung wie lange angelegt werden soll.
U(n) und O(n) sind die Grenzwerte für den nach An
legen der Prüfparameter P(n) zu ermittelnden Meßwert
M(n). Die Werte P(n), U(n) und O(n) werden bei 24
zur Anzeige auf dem Bildschirm gebracht. Bei 25
werden die Prüfparameter P(n) an den Prüfgenerator
ausgegeben.
Bei 26 erfolgt die Eingabe des Meßwertes M(n) vom
Digital/Analog-Wandler 13 (Fig. 1).
Ergänzend sei hier noch vermerkt, daß bei dem Pro
gramm, welches nach der beschriebenen Anpassung zur
automatischen Prüfung verwendet wird, auf dem Pro
grammteil 26 eine Verzweigung folgt, bei welcher in
Abhängigkeit davon, ob M(n) zwischen U(n) und O(n)
liegt, die betreffende Schaltung als fehlerhaft
erkannt wird oder die Zählvariable n um 1 erhöht und
damit die nächste Messung eingeleitet wird.
Bei dem Verfahren zur Anpassung eines solchen Pro
gramms wird jedoch bei 27 der Meßwert M(n) auf dem
Monitor sichtbar gemacht. Dieses geschieht sowohl in
digitaler als auch in quasi-analoger Form. Letzteres
bedeutet, daß die Position eines Leuchtzeichens ent
sprechend des darzustellenden Meßwertes verändert
wird.
Bei 28 hat der Benutzer die Möglichkeit, ein Komman
do einzugeben, bei dessen Abwesenheit aufgrund der
Verzweigung 29 das Programm zur erneuten Messung
nach 26 zurückgeführt wird. Solange der Benutzer
also kein Kommando eingibt, werden wiederholt mit
den gleichen Prüfparametern P(n) die Meßwerte M(n)
über den Analog/Digital-Wandler in das System ein
gegeben. Der Programmteil 27 ist nun derart ausge
führt, daß die digitale Anzeige des Meßwertes auf
dem Bildschirm bei jedem Durchgang gelöscht und wie
der neu geschrieben wird, während die quasi-analoge
Anzeige nicht gelöscht, sondern überschrieben wird.
Bei der neuen Eingabe eines Zeichens und seiner
Position für die quasi-analoge Anzeige des Meßwertes
M(n) bleibt also im Schreib-Lese-Speicher des Video
bausteins 7 (Fig. 1) die Information aus dem vorange
gangen Durchlauf der Programmschleife erhalten.
Diese Art der Darstellung ist besonders zweckmäßig
bei der Prüfung von Schaltungen, welche Bauelemente
enthalten, die Energiespeicher darstellen und somit
zu einem verzögerten Erreichen des Meßwertes beitra
gen.
In Fig. 3 ist ein Beispiel für ein Teil eines Schirm
bildes bei der Anwendung des erfindungsgemäßen Ver
fahrens dargestellt, wobei lediglich der Soll- und
der Ist-Wert des Meßwertes M(n) in digitaler Form
und die Darstellung des Ist-Wertes in quasi-analoger
Form gezeigt ist. Bei diesem Beispiel wird einer
Parallelschaltung aus einem Kondensator und einem
Widerstand als Prüfparameter ein Strom zugeführt.
Über eine Spannungsmessung am Widerstand soll der
Widerstandswert ermittelt werden. Da jedoch zunächst
der Kondensator aufzuladen ist, ergeben sich zu
nächst falsche Werte (die in Fig. 3 mit dem Bezugs
zeichen 51, 52, 53, 54 versehenen Markierungen) bis
der Einschwingvorgang beendet ist. Kommt keine Mar
kierung mehr hinzu, welche von der vorangegangenen
erkennbar abweicht, so ist der Einschwingvorgang
abgeschlossen.
Wurde beispielsweise bei der rein theoretisch vorge
nommenen Anpassung des Prüfprogramms an die diese
Widerstands/Kondensator-Kombination enthaltene Schal
tung die Zeitkonstante nur ungenügend berücksich
tigt, so kann hier durch Veränderung des Prüfparame
ters P(n) eine Korrektur erfolgen. Dazu unterbricht
der Benutzer bei 28 (Fig. 2) durch Eingabe eines
passenden Kommandos die Programmschleife. Daraufhin
folgt auf die Verzweigung 29 bei 30 eine Anfrage des
Programms an den Benutzer, ob der Parameter P(n) zu
ändern ist. Bei 31 wird entweder ja oder nein einge
geben, so daß nach der Verzweigung 32 bei einem nein
der Parameter P(n) unverändert bleibt und bei 38 die
Zählvariable n um 1 erhöht wird, worauf bei 23 die
nächsten Daten gelesen werden. Soll P(n) jedoch
geändert werden, so gibt der Benutzer ein ja ein,
was zur Folge hat, daß nach der Verzweigung 32 das
Programm bei 33 zur Eingabe der geänderten Parameter
P(na) auffordert. Sind solche bei 34 eingegeben,
kann der Benutzer bei 35 eingeben, ob diese endgül
tig sind oder ob diese noch getestet werden sollen.
Erachtet der Benutzer die geänderten Parameter als
vorläufig, so wird das Programm nach der Verzweigung
36 mit den geänderten Parametern ab 24 wiederholt.
Anderenfalls werden diese anstelle der Parameter
P(n) bei 37 auf die Diskette geschrieben. Danach
wird das Programm bei 38 fortgesetzt.
Im Zusammenhang mit dem Ausführungsbeispiel wurde
erläutert, daß die Zeit, nach welcher der Meßwert
M(n) nach Anlegen der Prüfparameter an die zu prüfen
de Schaltung ermittelt wird, korrigiert werden. Es
sind jedoch auch andere Veränderungen der zuvor
ermittelten Prüfparameter möglich. So kann es bei
spielsweise vorkommen, daß bei Anlegen einer Meßspan
nung an zuvor festgelegte Punkte der Schaltung ein
daraufhin ermittelter Meßwert zu wenig aussagekräf
tig ist. Es kann dann entweder die Höhe der Spannung
verändert werden oder andere Punkte der Schaltung
für eine entsprechende Messung gewählt werden.
Claims (7)
1. Verfahren zur Anpassung eines Prüfpro
gramms für elektrische Schaltungen an die jeweils zu
prüfende Schaltung, dadurch gekennzeichnet, daß mit
dem für eine Schaltung vorgesehenen Prüfprogramm
mindestens ein Exemplar der Schaltung geprüft wird,
wobei einzelne Prüfschritte wiederholbar sind, daß
die bei den einzelnen Prüfschritten erzielten Meß
werte zusammen mit dabei angewandten Prüfparametern
auf einem Bildschirm derart dargestellt sind, daß
ein Zusammenhang zwischen Prüfparameter und Meßergeb
nissen sichtbar wird, und daß die Prüfparameter bei
Bedarf verändert und die veränderten Prüfparameter
in das Prüfprogramm aufgenommen werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßwerte auf einem Bildschirm als
Leuchtmarkierung dargestellt werden, dessen Lage dem
Meßwert entspricht.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßwerte ferner in digitaler Form
angezeigt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die gegebenenfalls zu verändernden
Prüfparameter die Art der an die zu prüfende Schal
tung während der Prüfung anzulegenden Prüfspannungen
und Prüfsignale betreffen.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die gegebenenfalls zu ändernden Prüf
parameter die Dauer einzelner Schritte des Prüfpro
gramms betreffen.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Anzahl der Wiederholungen einzel
ner Prüfschritte derart groß ist, daß eine statisti
sche Auswertung möglich ist.
7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Anzahl der Exemplare der Schal
tung, welche bei der Durchführung des erfindungsge
mäßen Verfahrens geprüft werden, derart groß ist,
daß eine statistische Auswertung möglich ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853530308 DE3530308A1 (de) | 1985-08-24 | 1985-08-24 | Verfahren zur anpassung eines pruefprogramms fuer elektrische schaltungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853530308 DE3530308A1 (de) | 1985-08-24 | 1985-08-24 | Verfahren zur anpassung eines pruefprogramms fuer elektrische schaltungen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3530308A1 true DE3530308A1 (de) | 1987-02-26 |
DE3530308C2 DE3530308C2 (de) | 1992-06-17 |
Family
ID=6279284
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853530308 Granted DE3530308A1 (de) | 1985-08-24 | 1985-08-24 | Verfahren zur anpassung eines pruefprogramms fuer elektrische schaltungen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3530308A1 (de) |
Cited By (3)
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-
1985
- 1985-08-24 DE DE19853530308 patent/DE3530308A1/de active Granted
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US6269326B1 (en) | 1996-05-29 | 2001-07-31 | Softlink | Method for testing electronic components |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3530308C2 (de) | 1992-06-17 |
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Legal Events
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8120 | Willingness to grant licenses paragraph 23 | ||
D2 | Grant after examination | ||
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