DE3530308C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung geht aus von einem Verfahren nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.

Zur Prüfung von elektrischen Schaltungen, insbeson­ dere von bereits bestückten Leiterplatten sind auto­ matische Prüfverfahren bekannt (DE 30 39 067 A1), bei denen nach einem vorgegebenen Prüfprogramm an einzelne Punkte der Schaltung Prüfspannungen und Prüfsignale angelegt und Meßwerte ermittelt werden, aufgrund derer auf fehlerhafte Bauelemente, fehlerhafte Kontaktierung oder Bestückungsfehler geschlossen werden kann.

Vor der Aufnahme der automatisierten Prüfung einer neuen Schaltung ist dabei das Prüfprogramm an die neue Schaltung anzupassen, d. h., es ist festzule­ gen, wo oder beispielsweise wie lange Prüfsignale oder Spannungen anzulegen sind und an welchen Schal­ tungspunkten Meßwerte abzufragen sind. Dabei hat es sich herausgestellt, daß die Anpassung eines Prüf­ programms an die jeweils zu prüfende Schaltung auf­ grund theoretischer Betrachtungen nur unvollkommen ist und daß das Prüfprogramm für die einzelne Schal­ tung aufgrund von Prüfungen einzelner Exemplare der Schaltung noch an die spezielle Schaltung anzupassen ist.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Verfahren anzugeben, bei welchem die Anpassung des Prüfprogramms an die jeweils zu prüfende Schaltung gegenüber den bekannten Verfahren zur Erstellung eines Prüfprogramms für elektrische Schaltungen ver­ bessert wird.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Ver­ fahren mit den im Anspruch 1 angegebenen Verfahrensschritten gelöst.

Das erfindungsgemäße Verfahren hat den Vorteil, daß die Anpassung des Prüfprogramms an die jeweils zu prüfende Schaltung in wesentlich kürzerer Zeit als bei den bekannten Verfahren vorgenommen werden kann. Außerdem ist es möglich, die Prüfparameter genauer festzulegen.

Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maß­ nahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbes­ serungen des im Hauptanspruch angegebenen Verfahrens möglich.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung an Hand mehrerer Figuren dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Anordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfah­ rens,

Fig. 2 schematisch ein Flußdiagramm eines Programmes zur Durchführung des erfindungsgemäßen Ver­ fahrens und

Fig. 3 ein Beispiel für ein bei der Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens auftretenden Schirmbildes.

Bei der Anordnung nach Fig. 1 stellt 1 einen an sich bekannten Computer dar mit einer Zentraleinheit 2, einem Bussystem 3, einem Nur-Lese-Speicher 4, einem Schreib-Lese-Speicher 5, einer Ein/Ausgabeeinheit 6 und einem Videobaustein 7. Der Computer 1 sowie des­ sen Bausteine sind hinreichend bekannt und brauchen im Zusammenhang mit der vorliegenden Erfindung nicht näher erläutert zu werden. An den Videobaustein ist ein Monitor 8 angeschlossen, während über die Ein/Ausgabeeinheit 6 außer den bei Computern üblichen Peripherieeinheiten, also einem Drucker 9, einem Diskettenlaufwerk 10 und einer Tastatur 11 ein Prüfsignalgeber 12 und ein Analog/Digital-Wandler 13 angeschlossen ist.

Der Prüfsignalgeber 12 verfügt über mehrere Aus­ gänge, welche an ausgewählte Punkte des Prüflings 14 angeschlossen sind und diesem die für die Prüfung erforderlichen Spannungen bzw. Signale zuführen. Der Eingang des Analog/Digital-Wandlers 13 kann über einen Eingangsumschalter 15 an verschiedene Punkte des Prüflings 14 angeschlossen werden.

Nach einem für die jeweilige zu prüfende Schaltung vorgesehenen Programm werden nun der Prüfsignalgeber sowie der Eingangsumschalter 15 von dem Computer gesteuert. Die jeweils sich ergebenden Meßwerte werden mit Sollwerten verglichen. Bei Überschreiten einer vorgegebenen Abweichung vom Sollwert wird die zu prüfende Schaltung 14 als fehlerhaft erkannt. Auf dem Bildschirm des Monitors 8 kann der Prüfvorgang verfolgt werden bzw. in den Prüfvorgang, der an sich automatisch abläuft, bei Bedarf eingegriffen werden. Mit Hilfe des Druckers 9 kann ein Prüfprotokoll er­ stellt werden. Das Diskettenlaufwerk 10 dient dazu, das jeweils an eine bestimmte zu prüfende gedruckte Schaltung angepaßte Programm in den Computer 1 zu laden. Das Diskettenlaufwerk 10 oder ein zweites Diskettenlaufwerk kann jedoch auch dazu benutzt werden, Prüfprotokolle auf Disketten aufzuzeichnen. Schließlich dient die Tastatur 11 dazu, die gesamte Anordnung zu bedienen.

Wie bereits eingangs erwähnt, kann allein aufgrund theoretischer Überlegungen ein für die Prüfung einer bestimmten Schaltung vorgesehenes Prüfprogramm nicht immer endgültig festgelegt werden. Es ist deshalb in vielen Fällen erforderlich, das Programm aufgrund der Ergebnisse der Prüfung der ersten Muster an die speziellen Gegebenheiten der jeweiligen Schaltung anzupassen. Wie dieses mit Hilfe des erfindungsge­ mäßen Verfahrens durchgeführt wird, ist im Zusammen­ hang mit dem Flußdiagramm in Fig. 2 im folgenden näher erläutert:

Das in Fig. 2 stark vereinfacht dargestellte Pro­ gramm wird bei 21 gestartet. Nachdem die Zählvari­ able n bei 22 auf 1 gesetzt wurde, werden bei 23 aus einem Speicher, beispielsweise von einer Diskette, die Daten P(n), U(n) und O(n) gelesen. Dabei handelt es sich bei P(n) um die Prüfparameter, welche besa­ gen, welche Spannung zwischen welchen Punkten der zu prüfenden Schaltung wie lange angelegt werden soll. U(n) und O(n) sind die Grenzwerte für den nach An­ legen der Prüfparameter P(n) zu ermittelnden Meßwert M(n). Die Werte P(n), U(n) und O(n) werden bei 24 zur Anzeige auf dem Bildschirm gebracht. Bei 25 werden die Prüfparameter P(n) an den Prüfgenerator ausgegeben.

Bei 26 erfolgt die Eingabe des Meßwertes M(n) vom Digital/Analog-Wandler 13 (Fig. 1).

Ergänzend sei hier noch vermerkt, daß bei dem Pro­ gramm, welches nach der beschriebenen Anpassung zur automatischen Prüfung verwendet wird, auf dem Pro­ grammteil 26 eine Verzweigung folgt, bei welcher in Abhängigkeit davon, ob M(n) zwischen U(n) und O(n) liegt, die betreffende Schaltung als fehlerhaft erkannt wird oder die Zählvariable n um 1 erhöht und damit die nächste Messung eingeleitet wird.

Bei dem Verfahren zur Anpassung eines solchen Pro­ gramms wird jedoch bei 27 der Meßwert M(n) auf dem Monitor sichtbar gemacht. Dieses geschieht sowohl in digitaler als auch in quasi-analoger Form. Letzteres bedeutet, daß die Position eines Leuchtzeichens ent­ sprechend des darzustellenden Meßwertes verändert wird.

Bei 28 hat der Benutzer die Möglichkeit, ein Komman­ do einzugeben, bei dessen Abwesenheit aufgrund der Verzweigung 29 das Programm zur erneuten Messung nach 26 zurückgeführt wird. Solange der Benutzer also kein Kommando eingibt, werden wiederholt mit den gleichen Prüfparametern P(n) die Meßwerte M(n) über den Analog/Digital-Wandler in das System ein­ gegeben. Der Programmteil 27 ist nun derart ausge­ führt, daß die digitale Anzeige des Meßwertes auf dem Bildschirm bei jedem Durchgang gelöscht und wie­ der neu geschrieben wird, während die quasi-analoge Anzeige nicht gelöscht, sondern überschrieben wird. Bei der neuen Eingabe eines Zeichens und seiner Position für die quasi-analoge Anzeige des Meßwertes M(n) bleibt also im Schreib-Lese-Speicher des Video­ bausteins 7 (Fig. 1) die Information aus dem vorange­ gangen Durchlauf der Programmschleife erhalten. Diese Art der Darstellung ist besonders zweckmäßig bei der Prüfung von Schaltungen, welche Bauelemente enthalten, die Energiespeicher darstellen und somit zu einem verzögerten Erreichen des Meßwertes beitra­ gen.

In Fig. 3 ist ein Beispiel für ein Teil eines Schirm­ bildes bei der Anwendung des erfindungsgemäßen Ver­ fahrens dargestellt, wobei lediglich der Soll- und der Ist-Wert des Meßwertes M(n) in digitaler Form und die Darstellung des Ist-Wertes in quasi-analoger Form gezeigt ist. Bei diesem Beispiel wird einer Parallelschaltung aus einem Kondensator und einem Widerstand als Prüfparameter ein Strom zugeführt. Über eine Spannungsmessung am Widerstand soll der Widerstandswert ermittelt werden. Da jedoch zunächst der Kondensator aufzuladen ist, ergeben sich zu­ nächst falsche Werte (die in Fig. 3 mit dem Bezugs­ zeichen 51, 52, 53, 54 versehenen Markierungen) bis der Einschwingvorgang beendet ist. Kommt keine Mar­ kierung mehr hinzu, welche von der vorangegangenen erkennbar abweicht, so ist der Einschwingvorgang abgeschlossen.

Wurde beispielsweise bei der rein theoretisch vorge­ nommenen Anpassung des Prüfprogramms an die diese Widerstands/Kondensator-Kombination enthaltene Schal­ tung die Zeitkonstante nur ungenügend berücksich­ tigt, so kann hier durch Veränderung des Prüfparame­ ters P(n) eine Korrektur erfolgen. Dazu unterbricht der Benutzer bei 28 (Fig. 2) durch Eingabe eines passenden Kommandos die Programmschleife. Daraufhin folgt auf die Verzweigung 29 bei 30 eine Anfrage des Programms an den Benutzer, ob der Parameter P(n) zu ändern ist. Bei 31 wird entweder ja oder nein einge­ geben, so daß nach der Verzweigung 32 bei einem nein der Parameter P(n) unverändert bleibt und bei 38 die Zählvariable n um 1 erhöht wird, worauf bei 23 die nächsten Daten gelesen werden. Soll P(n) jedoch geändert werden, so gibt der Benutzer ein ja ein, was zur Folge hat, daß nach der Verzweigung 32 das Programm bei 33 zur Eingabe der geänderten Parameter P(na) auffordert. Sind solche bei 34 eingegeben, kann der Benutzer bei 35 eingeben, ob diese endgül­ tig sind oder ob diese noch getestet werden sollen. Erachtet der Benutzer die geänderten Parameter als vorläufig, so wird das Programm nach der Verzweigung 36 mit den geänderten Parametern ab 24 wiederholt. Anderenfalls werden diese anstelle der Parameter P(n) bei 37 auf die Diskette geschrieben. Danach wird das Programm bei 38 fortgesetzt.

Im Zusammenhang mit dem Ausführungsbeispiel wurde erläutert, daß die Zeit, nach welcher der Meßwert M(n) nach Anlegen der Prüfparameter an die zu prüfen­ de Schaltung ermittelt wird, korrigiert werden. Es sind jedoch auch andere Veränderungen der zuvor ermittelten Prüfparameter möglich. So kann es bei­ spielsweise vorkommen, daß bei Anlegen einer Meßspan­ nung an zuvor festgelegte Punkte der Schaltung ein daraufhin ermittelter Meßwert zu wenig aussagekräf­ tig ist. Es kann dann entweder die Höhe der Spannung verändert werden oder andere Punkte der Schaltung für eine entsprechende Messung gewählt werden.

Claims (7)

1. Verfahren zur Anpassung eines Prüfpro­ gramms für elektrische Schaltungen an die jeweils zu prüfende Schaltung, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem für eine Schaltung vorgesehenen Prüfprogramm mindestens ein Exemplar der Schaltung geprüft wird, wobei einzelne Prüfschritte wiederholbar sind, daß die bei den einzelnen Prüfschritten erzielten Meß­ werte zusammen mit dabei angewandten Prüfparametern auf einem Bildschirm derart dargestellt sind, daß ein Zusammenhang zwischen Prüfparameter und Meßergeb­ nissen sichtbar wird, und daß die Prüfparameter bei Bedarf verändert und die veränderten Prüfparameter in das Prüfprogramm aufgenommen werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Meßwerte auf einem Bildschirm als Leuchtmarkierung dargestellt werden, dessen Lage dem Meßwert zugeordnet ist.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Meßwerte ferner in digitaler Form angezeigt werden.

4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die gegebenenfalls zu verändernden Prüfparameter die Art der an die zu prüfende Schal­ tung während der Prüfung anzulegenden Prüfspannungen und Prüfsignale betreffen.

5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die gegebenenfalls zu ändernden Prüf­ parameter die Dauer einzelner Schritte des Prüfpro­ gramms betreffen.

6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Anzahl der Wiederholungen einzel­ ner Prüfschritte derart groß ist, daß eine statisti­ sche Auswertung möglich ist.

7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Anzahl der Exemplare der Schal­ tung, welche geprüft werden, derart groß ist, daß eine statistische Auswertung möglich ist.