DE3446354C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine optoelektronische Vergleichs
vorrichtung nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Derartige Vergleichsvorrichtungen werden z. B. dazu ver
wendet, um gedruckte Schaltungs- oder Leiterplatten mit
einer als Vorbild dienenden Meisterleiterplatte auf Ab
weichungen zu vergleichen.
Es ist bereits eine Vorrichtung zum Vergleichen eines
Prüflings mit einem Meisterstück mittels zweiter be
weglicher Abtaststrahlenbündel bekannt (DE-OS 14 23 597),
von denen eines das Meisterstück und eines den Prüfling
Punkt für Punkt zeilenweise abtastet und die nach Durch
setzen der Objekte auf eine photoelektrische Empfänger
anordnung fallen, welche auf die Differenz der Licht
bündelintensitäten anspricht.
Die bekannte Anordnung hat jedoch den Nachteil, daß
sie wegen der Nebeneinanderanordnung des Beleuchtungs
strahlenganges und des Empfangsstrahlenganges einen
erheblich von der Senkrechten abweichenden Einfall
der Beleuchtungslichtstrahlen auf die Lichtablenkvor
richtungen erfordert, was nicht nur zu optischen Ver
zerrungen, sondern auch zu einem räumlich aufwendigen
Aufbau führt. Außerdem befinden sich die im Meß- und
Vergleichsstrahlengang befindlichen Abtastlichtstrahlen
nicht exakt in einer Linie, sondern sind entsprechend
dem Abstand der Teillichtbündel gegeneinander versetzt.
Es ist auch schon bekannt (DE-OS 29 25 734), ein Ein
trittslichtbündel so schräg auf ein Spiegelrad auftreffen
zu lassen, daß es zu einem neben dem Eintrittslichtbündel
angeordneten streifenförmigen Spiegel umgelenkt wird. Die
vorbekannte Anordnung arbeitet jedoch nur mit einem
Eintritts- und einem Austrittslichtbündel.
Schließlich ist auch schon eine optische Vorrichtung zur
Prüfung reflektierender Oberflächen mit gerader Erzeugender
bekannt (DE-AS 11 76 398), bei der ein dachkantförmiger
Doppelspiegel senkrecht zu seiner Winkelhalbierungsebene
bewegt wird, um ein Eintrittslichtbündel entlang der
Oberfläche des Prüfkörpers zu bewegen, d. h. einen Ab
tastlichtstrahl zu erzeugen. Auch diese bekannte optische
Vorrichtung arbeitet lediglich mit einem Eintritts- und
einem Austrittslichtbündel. Auch ist ein linear bewegtes
Spiegelsystem nicht geeignet, eine schnelle Abtastung
von einigen tausend Zeilen in der Sekunde zu realisieren.
Das Ziel der Erfindung besteht darin, eine opto
elektronische Vergleichsvorrichtung der eingangs ge
nannten Gattung zu schaffen, welche bei kompaktem räum
lichem Aufbau mit höchster optischer Genauigkeit in einer
Ebene zwei exakt miteinander ausgerichtete und nebenein
ander liegende Abtastlichtstrahlen erzeugt.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des kenn
zeichnenden Teils des Patentanspruchs 1 vorgesehen.
Aufgrund der erfindungsgemäßen Ausbildung wird ein kom
pakter und vor allen Dingen sehr schmaler Gesamtaufbau
erzielt, wobei der Beleuchtungsteil von dem im Anschluß
an die Lichtablenkvorrichtung vorgesehenen Strahlengang
räumlich weitgehend getrennt ist, ohne daß der Lichtein
fall auf die Lichtablenkvorrichtung unter zu stark von
der Senkrechten abweichenden Winkeln erfolgen muß. Die
durch die Nebeneinanderanordnung der ersten Streifen
spiegel bedingte geringfügige Versetzung der beiden
Teillichtbündel wird durch die Strahlversetzungsvorrichtung
mit höchster optischer Genauigkeit rückgängig gemacht,
so daß letztendlich auf der Abtastfläche zwei exakt gleiche
und in einer Linie liegende Abtastlichtstriche mit einem
geringen Abstand vorliegen. Dadurch wird es ermöglicht,
auch feinste strukturelle Unterschiede zwischen Meister
stück und Werkstück optisch zu erfassen.
Aufgrund der Ausbildung nach den Ansprüchen 2 bis 3
wird erreicht, daß es bei der seitlichen Entkopplung
der beiden Abtaststrahlen zu keinen optischen Ver
zerrungen beispielsweise einem Bildsturz kommt und
daß auch geringfügige Erschütterungen der Vorrichtung
sich nicht in Fehlern beim Vergleich auswirken können.
Aufgrund der Ausbildung nach Anspruch 5 wird eine
besonders kompakte Anordnung erzielt, denn die Licht
ablenkvorrichtung kann jeweils z. B. unter den beiden
gekreuzten ersten Streifenspiegeln angeordnet sein, d. h.
sich mit diesem überlappen.
Die Ausbildung nach Anspruch 6 gestattet es, daß die
Versetzung der beiden Einzelteillichtbündel in Richtung
der Drehachse der Lichtablenkvorrichtung sehr gering
gehalten werden kann.
Weitere vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind
durch die Patentansprüche 7 bis 14 gekennzeichnet.
Als Lichtquelle wird bei der erfindungsgemäßen opto
elektronischen Vergleichsvorrichtung bevorzugt ein
Laser verwendet, weil hiermit besonders enge Strahl
querschnitte verwirklicht werden können.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der Zeichnung be
schrieben; in dieser zeigt
Fig. 1 eine schematische perspektivische Ansicht einer
Ausführungsform einer optoelektronischen Plattenoberflächen-
Vergleichsvorrichtung,
Fig. 2 eine vergrößerte schematische Stirnansicht in Richtung des
Pfeils II in Fig. 1 und
Fig. 3 eine analoge Stirnansicht einer weiteren Ausführungsform.
Nach Fig. 1 erzeugt ein Laser 35 durch Verwendung geeigneter Strahlauf
weitungsmittel, die nicht dargestellt sind, ein über den Querschnitt eine
gleichmäßige Lichtintensität aufweisendes Lichtbündel 55 mit im wesent
lichen kreisförmigen Querschnitt, dessen Durchmesser etwa 100 mm beträgt.
Durch eine im Lichtbündel 55 angeordnete Strahlformungs- bzw. Modenblende
56 mit kreisförmiger Öffnung erhält das Lichtbündel 55 eine exakte Kreis-
Querschnittsform. Das Lichtbündel 55 ist konvergent bis zur Moden
blende 56. Das so gebildete divergente Lichtbündel 57 mit exakt kreis
förmigem Querschnitt fällt auf einen Umlenkplanspiegel 58, der das Licht
bündel aus der zunächst im wesentlichen horizontalen Lage vertikal nach
unten zu einem Abbildungsobjektiv 26 angelenkt, welches den Lichtbündeln einen
leicht divergenten Verlauf verleiht und das eintretende Lichtbündel 57
auf Punkte 42, 43 auf einer vorzugsweise ebenen Abtastfläche 18 konzen
triert. Durch eine gedachte Trennlinie 51, an der vorzugsweise eine
Streifenblende angeordnet ist, ist das Abbildungsobjektiv 26 in zwei
Hälften 26′, 26′′, unterteilt, wobei hinter der Hälfte 26′ als Teilbündel-Seitenversetzungsanordnung 25
ein optischer
Keil angeordnet ist, der dem durch die Hälfte 26′′ hindurchtretenden
Teillichtbündel eine Winkelversetzung senkrecht zur optischen Achse 52
und der Trennlinie 51 des Abbildungsobjektivs 26 erteilt, welche in
Fig. 1 etwas übertrieben wiedergegeben ist.
Im Anschluß an den Keil liegen also zwei durch einen geringen Abstand
getrennte Eintritts-Teillichtbündel 21 bzw. 22 mit einer kleinen Winkel
differenz gegeneinander vor, die auf die gerade reflektierende Fläche 59
des Spiegelrades 11 auftreffen, dessen Drehachse 20 senkrecht zur optischen
Achse 52 und der Trennlinie 51 des Abbildungsobjektivs 26 verläuft. Auf
der reflektierenden Fläche 59 erscheinen demnach nebeneinander in geringem
Abstand zwei halbkreisförmige Lichtflecke 60, 61, wobei die Anordnung
zweckmäßigerweise so ist, daß der eine halbkreisförmige Lichtfleck 60
zur einen Seite und der andere halbkreisförmige Lichtfleck 61 zur anderen
Seite der Mittelebene 19 des Spiegelrades 11 angeordnet ist. Auf dem
Spiegelrad 11 ist also bereits eine räumliche Entkopplung der beiden
Eintritts-Teillichtbündel 21, 22 erfolgt.
Oberhalb des Spiegelrades 11, welches in Richtung des Pfeils f in schnellen
Umlauf versetzt werden kann, befinden sich zwei gekreuzte erste Streifen
spiegel 12, 13, welche sich an der Kreuzungsstelle 62 vorzugsweise be
rühren. Ihre Anordnung ist derart, daß das eine vom Spiegelrad 11 re
flektierte Austritts-Teillichtbündel 14 auf den hinteren ersten Streifen
spiegel 12, das andere reflektierte Austritts-Teillichtbündel 15 auf den
vorderen ersten Streifenspiegel 13 auftrifft. Der Spalt zwischen den beiden
Austritts-Teillichtbündeln 14, 15 überlappt sich etwas mit den beiden
Streifenspiegeln 12, 13.
An die oberen Enden der ersten Streifenspiegel 12, 13, die mit den Eintritts-
Teillichtbündeln 21, 22 in dem Augenblick einen Winkel von etwa 45° ein
schließen, in dem der Lichtfleck auf die Mitte der Abtaststrecke fällt,
grenzen die oberen Enden von zwei zweiten Streifenspiegeln 16, 17 an,
die mit dem zugeordneten ersten Streifenspiegel 12, 13 eine dachförmige
Anordnung bilden. Der Winkel zwischen den jeweiligen ersten und zweiten
Streifenspiegeln 12, 16 bzw. 13, 17 beträgt 90°. Die Projektion der zwei
ten Streifenspiegel 17 auf die ebene Abtastfläche 18 entspricht der Länge
der Abtastlichtstriche 38, 39. Länge und Ausbildung der ersten und zweiten
Streifenspiegel 12, 13, 16, 17 sind gleich.
Aufgrund der dachkantprismenartigen Zusammenfügung der ersten und zweiten
Streifenspiegel 12, 13, 16, 17 werden die Austritts-Teillichtbündel 14, 15
von den ersten Streifenspiegeln 12, 13 zu den zweiten Streifenspiegeln 16,17
reflektiert, von wo sie als versetzte Reflexions-Teillichtbündel 44, 45
seitlich versetzt aber parallel zu den Eintritts-Teillichtbündeln in ent
gegengesetzter Richtung zur Abtastfläche 18 hin umgelenkt werden.
Da das Bündel unmittelbar vor oder nach dem Abbildungsobjektiv 26 geometrisch auf
gespalten wird, ist der Abstand der Bündelmitten etwa gleich dem halben
Durchmesser der Pupille. Der als Teilbündel-Seitenversetzungsanordnung 25 dienende Keil bewirkt zusätzlich eine Winkel
differenz, wodurch dieser Abstand noch vergrößert wird und bei den ersten Streifenspiegeln
12, 13 die Trennung vollständig ist. Nach der Reflexion an den zweiten Streifen
spiegeln 16, 17 soll diese Trennung sich nicht noch weiter vergrößern, son
dern vielmehr durch Strahlversetzungen wieder rückgängig gemacht werden.
Es wird zunächst die noch vorhandene Winkeldifferenz durch
geringes Verkippen der beiden Dachanordnungen gegeneinander kompensiert,
so daß die beiden austretenden Teillichtbündel 44, 45 in parallelen Enden laufen.
Erst dann erfolgt in transparenten Stäben 23, 24 eine Rückgängigmachung
der noch vorhandenen Strahlversetzung. Hierzu treten die reflektierten Teil
lichtbündel 44, 45 in der im einzelnen aus Fig. 2 ersichtlichen Weise in
die Eintrittsflächen 49, 50 der beiden transparenten Stäbe 23, 24 mit
quadratischen Querschnitt ein, welche so angeordnet sind, daß die Eintritts
flächen 49, 50 mit den reflektierten Teillichtbündeln 44, 45 einen Wink el von
etwa 45° einschließen. Während jedoch das Teillichtbündel 44
in die hintere Fläche des transparenten Stabes 23 eintritt, tritt das weit ere
Teillichtbündel 45 in die vordere Fläche 50 des transparenten Stabes 24 ein. Das reflek
tierte
Teillichtbündel 44 wird also nach vorn, das reflektierte Teil
lichtbündel 45 nach hinten versetzt, wobei durch eine vertikale Versetzung
der beiden Stabachsen 46, 47 gemäß Fig. 2 nach dem Austritt aus den transparen ten
Stäben 23, 24 Abtaststrahlen 31, 32 gebildet werden, die in der Seitenansicht
der Fig. 2 zusammenfallen und nach Fig. 1 in der gleichen Abtastebene 48
zu liegen kommen, welche senkrecht zur Drehachse 20 des Spiegelrades
verläuft.
Die Abtaststrahlen 31, 32 gelangen schließlich nahe der Abtastfläche 18
auf streifenförmige Planspiegel 27, 28, die parallel zur Abtastfläche
18 und zu den Stäben 23, 24 verlaufen und das Licht schräg zu unmittel
bar darüber und nach hinten etwas versetzt angeordneten streifenförmigen
Hohlspiegeln 29, 30 reflektieren. Die Hohlspiegel 29, 30 sind zweckmäßiger
weise sphärisch ausgebildet, können aber auch eine Zylinderspiegelcharakte
ristik haben.
Optisch liegen die Hohlspiegel 29, 30 im Abstand ihrer Brennweite von den
Lichtflecken 60, 61 auf dem Spiegelrad 11 entfernt, so daß die von den Hohl
spiegeln 29, 30 reflektierten Fahrstrahlen 33, 34 beim Drehen des Spiegel
rades 11 parallel zu sich selbst verschoben werden.
Auf der Abtastfläche 18 bilden die Fahrstrahlen 33, 34 an den Punkten 42, 43
Abtastlichtflecke, die beim schnellen Umlaufen des Spiegelrades in Richtung
der Pfeile F über die Oberfläche der Abtastfläche 18 hinweglaufen und so
die beiden Abtastlichtstriche 38, 39 bilden, welche exakt in einer und
derselben Geraden liegen parallel zueinander und miteinander ausgerich
tet in der aus Fig. 1 ersichtlichen Weise hintereinander liegen.
Zwischen den benachbarten Endpunkten 63, 64 der beiden Abtastlichtstriche
38, 39 verbleibt ein deutlicher Abstand A. Parallel zu jedem Abtastlicht
strich 38, 39 ist jeweils eine nur gestrichelt angedeutete Lichtempfangs
vorrichtung vorgesehen, die aus jeweils einem Lichtleitstab 36 bzw. 37
besteht, an deren Enden als Photoempfänger 40, 41 ein Photovervielfacher
angebracht ist, der ein dem auf die Mantelfläche des jeweiligen Lichtleit
stabes 36, 37 auftreffendem Licht entsprechendes elektrisches Signal abgibt.
Auf der Abtastfläche 18 sind nebeneinander eine Meister-Leiterplatte 53
und eine Prüfling-Leiterplatte 54 angeordnet, die in Richtung der Pfeile
P senkrecht zu den Abtastlichtstrichen 38, 39 so vorgeschoben werden, daß
sie beim Hindurchlaufen unter den Abtastlichtstrichen zeilenweise abgetastet
werden.
Wird dafür gesorgt, daß stets gleiche Stellen der beiden Leiterplatten 53,
54 im gleichen Augenblick von den Abtastlichtflecken an den Punkten 42, 43
erfaßt werden, so kann durch Vergleich der elektrischen Ausgangssignale
der Photoempfänger 40, 41 festgestellt werden, ob an irgendeinem Punkt der
beiden Leiterplatten 53, 54 ein bestimmtes Maß überschreitende Ungleich
heiten vorliegen. Es kann so ein exakter Punktvergleich der Oberflächen
der beiden Leiterplatten relativ schnell durchgeführt werden, weil die
Abtastlichtfrequenz sehr hoch gewählt werden kann und daher die beiden
Leiterplatten 53, 54 relativ schnell in Richtung der Pfeile P unter der
Abtastvorrichtung hindurchtransportiert werden können.
Nach der Untersuchung einer Leiterplatte 54 wird die Meister-Leiterplatte
wieder in ihre Ausgangsposition zurückgeschoben, und anschließend erfolgt
dann mit einer weiteren gerade produzierten Leiterplatte 54′ der gleiche Ver
gleichsvorgang.
Nach Fig. 3 können statt der transparenten Stäbe 24, 23 in Fig. 1, 2 auch zwei unter einem
Winkel von 90° angeordnete planparallele Glasplatten 23′, 24′ vorgesehen sein,
in deren Eintrittsflächen 49′, 50′ die beiden reflektierten Teillichtbündel 44, 45
in analoger Weise unter Winkeln von 45° eintreten. Am Kreuzungspunkt der beiden
Austrittsflächen der Glasplatten 23′, 24′ treten dann wieder die beiden exakt
ausgerichteten Abtaststrahlen 31, 32 aus.
Claims (14)
1. Optoelektronische Vergleichsvorrichtung für Strukturen
auf zwei zu vergleichenden ebenen Oberflächen mit
in Strahlrichtung gesehen einer Lichtquelle, einer
optischen Teilbündel-Seitenversetzungsanordnung,
einer gemeinsamen periodischen Lichtablenkvorrichtung,
insbesondere einem Spielrad, auf die die beiden Teil
bündel in Richtung von deren Drehachse versetzt auf
treffen, mit zwei gegeneinander gekreuzten, nebenein
ander angeordneten, ebenen ersten Streifenspiegeln
zur Aufnahme nur je eines Teillichtbündels, an denen
die Eintritts-Teillichtbündel seitlich derart vorbei
laufen, daß sie schräg zur Drehachse auf die Spiegel
flächen der Lichtablenkvorrichtung zueinander geneigt
auftreffen, wobei die ersten ebenen Streifenspiegel die
reflektierten Teillichtbündel in entgegengesetzten
Richtungen umlenken, mit zweiten ebenen Streifenspiegeln
zur Umlenkung in zu den reflektierten Teillichtbündeln
paralleler Richtung, mit optischen Elementen zur Erzeugung
parallel zueinander verschobener, sich nicht über
lappender, auf den zu vergleichenden Oberflächen
Abstandslichtstriche bildender Abtastlichtstrahlen
und mit einer photoelektrischen Lichtempfangsvor
richtung, an die eine Auswerteschaltung angeschlossen
ist, dadurch gekennzeichnet, daß die
zweiten Streifenspiegel (16, 17) derart angeordnet
sind, daß sie die auftreffenden Teillichtbündel
zusätzlich in zu den reflektierten Teillichtbündeln
entgegengesetzter Richtung umlenken und zwischen den
zweiten Streifenspiegeln (16, 17) und den zwei zu
vergleichenden Oberflächen (53, 54) mindestens eine
Strahlversetzungsvorrichtung (transparente Stäbe 23, 24; planparallele Glasplatten 23′, 24′) vorge
sehen ist, welche die durch die Teilbündel-Seitenver
setzungsanordnung (25) bedingte Strahlversetzung rück
gängig macht.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die senkrecht
zur Drehachse (20) der Lichtablenkvorrichtung (11) ver
laufende Mittelebene (19) der Lichtablenkvorrichtung (11)
zwischen den beiden ersten Streifenspiegeln (12, 13)
symmetrisch hindurchläuft.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß jeder erste und
zweite Streifenspiegel (12, 16 bzw. 13, 17) einen Winkel
von 90° miteinander einschließen.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die ersten
Streifenspiegel (12, 13) sich von den Eintritts-Teil
lichtbündeln (21, 22) um gleiche Längen nach beiden Seiten
erstrecken.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Längs
achse der ersten Streifenspiegel (12, 13) einen Winkel
von 45° gegen die Ebene einschließt, die von dem auf
die Lichtablenkvorrichtung fallenden Strahl und deren
Rotationsachse definiert wird.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß sich die
ersten Streifenspiegel (12, 13) bei ihrer halben
Länge miteinander berühren.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß jede Strahl
versetzungsvorrichtung (transparente Stäbe 23, 24; planparelle Glasplatten 23′, 24′) aus einer schräggestellten
planparallelen Streifenplatte besteht.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß die planparallelen Streifen
platten aus zwei in Längsrichtung ausgerichteten
transparenten Stäben (23, 24) mit quadratischem Querschnitt
bestehen, auf deren Eintrittsflächen (49, 50) die von den
zweiten ebenen Streifenspiegeln (16, 17) reflektierten
Teillichtbündel (44, 45) unter 45° zur Senkrechten auf
dieser Eintrittsfläche (49, 50) auftreffen und welche
bezüglich Brechungsindex und Dicke so dimensioniert sowie
in Richtung senkrecht zu den Teillichtbündeln (44, 45)
und senkrecht zu ihrer Längsachse (46, 47) geringfügig
derart versetzt sind, daß die austretenden Abtast
strahlen (31, 32) in der gleichen Abtastebene (48)
verlaufen.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß die Streifen
platten aus zwei in Längsrichtung ausgerichteten unter
90° zueinander angeordneten planparallelen Glasplatten
(23′, 24′) bestehen, auf deren Eintrittsfläche (49′, 50′)
Teillichtbündel (44, 45) unter 45° zur Senkrechten auf
dieser Eintrittsfläche (49′, 50′) auftreffen und welche
bezüglich Brechungsindex und Dicke so dimensioniert sind,
daß die austretenden Abtaststrahlen (31, 32) in der
gleichen Abtastebene (48) verlaufen.
10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß an einem vor
der Lichtablenkvorrichtung (11) angeordneten Abbildungs
objektiv (26) die Teilbündel-Seitenversetzungsanordnung
(25) vorgesehen ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß als Teilbündel-
Seitenversetzungsanordnung (25) unmittelbar vor oder hinter
dem Abbildungsobjektiv (26) im Bereich wenigstens
einer Hälfte (26′, 26′′) ein optischer Keil ange
ordnet ist, der die eintretenden Strahlen von der
optischen Achse (52) des Abbildungsobjektivs (26)
weg abknickt.
12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß nahe den Ober
flächen (53, 54) in Längsrichtung hintereinander im
Abstand optisch senkrecht zur Drehachse (20) der Licht
ablenkvorrichtung (11) zwei streifenförmige Planspiegel
(27, 28) angeordnet sind, die jeweils einen der beiden
Abtaststrahlen (31, 32) empfangen und zu jeweils
einem geringfügig darüber angeordneten streifenförmigen
Hohlspiegel (29, 30) reflektieren, der optisch je
weils im Abstand seiner Brennweite von der re
flektierenden Fläche der Lichtablenkvorrichtung
(11) angeordnet ist und jeweils einen sich parallel
zu sich selbst verschiebenden Fahrstrahl (33, 34)
bildet.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die streifen
förmigen Planspiegel (27, 28) und die streifenförmigen
Hohlspiegel (29, 30) in ihrer Längsrichtung miteinander
ausgerichtet sind und ihre benachbarten Stirnseiten
einen Abstand voneinander aufweisen.
14. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß als photo
elektrische Lichtempfangsvorrichtung zwei parallel
zu den Abtastlichtstrichen (38, 39) verlaufende
lineare Lichtempfänger, insbesondere zwei Licht
leitstäbe (36, 37) angeordnet und jeweils einem der
Abtastlichtstriche (38, 39) zugeordnet sind, wobei
sich an wenigstens einer Stirnseite der Lichtleit
stäbe (36, 37) ein Photoempfänger (40, 41) befindet.
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- 1984-12-19 DE DE19843446354 patent/DE3446354A1/de active Granted
-
1985
- 1985-12-09 GB GB08530305A patent/GB2169097B/en not_active Expired
- 1985-12-11 US US06/807,618 patent/US4681453A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-12-19 FR FR858518840A patent/FR2574934B1/fr not_active Expired
- 1985-12-19 JP JP60286855A patent/JPS61149849A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
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GB2169097A (en) | 1986-07-02 |
FR2574934B1 (fr) | 1989-04-21 |
GB8530305D0 (en) | 1986-01-22 |
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US4681453A (en) | 1987-07-21 |
FR2574934A1 (fr) | 1986-06-20 |
DE3446354A1 (de) | 1986-06-26 |
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