DE3425568C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3425568C2
DE3425568C2 DE19843425568 DE3425568A DE3425568C2 DE 3425568 C2 DE3425568 C2 DE 3425568C2 DE 19843425568 DE19843425568 DE 19843425568 DE 3425568 A DE3425568 A DE 3425568A DE 3425568 C2 DE3425568 C2 DE 3425568C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
image
assembly
sample
test
tested
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE19843425568
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE3425568A1 (de
Inventor
Hans Juergen Dipl.-Ing. 7500 Karlsruhe De Charwat
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19843425568 priority Critical patent/DE3425568A1/de
Publication of DE3425568A1 publication Critical patent/DE3425568A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3425568C2 publication Critical patent/DE3425568C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302—Contactless testing
    • G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
    • G01R31/309—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of printed or hybrid circuits or circuit substrates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
DE19843425568 1984-07-11 1984-07-11 Vorrichtung zum pruefen elektronischer flachbaugruppen Granted DE3425568A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843425568 DE3425568A1 (de) 1984-07-11 1984-07-11 Vorrichtung zum pruefen elektronischer flachbaugruppen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843425568 DE3425568A1 (de) 1984-07-11 1984-07-11 Vorrichtung zum pruefen elektronischer flachbaugruppen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3425568A1 DE3425568A1 (de) 1986-01-16
DE3425568C2 true DE3425568C2 (sl) 1990-12-06

Family

ID=6240388

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19843425568 Granted DE3425568A1 (de) 1984-07-11 1984-07-11 Vorrichtung zum pruefen elektronischer flachbaugruppen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3425568A1 (sl)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999041621A2 (en) * 1998-02-13 1999-08-19 Scientific Generics Limited Circuit board assembly inspection

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3336587A (en) * 1964-11-02 1967-08-15 Ibm Display system with intensification
US3387084A (en) * 1964-11-23 1968-06-04 Mc Donnell Douglas Corp Color television data display system
DE1914764B2 (de) * 1969-03-22 1973-11-15 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Schaltungsanordnung zur Formatge staltung der Darstellung von Symbolen auf lichtausstrahlenden Flachen
DE2138238A1 (de) * 1971-07-30 1973-02-08 Siemens Ag Verfahren und einrichtung zum pruefen von objekten bestimmter flaechenhafter oder raeumlicher konfiguration bei vorzugsweise gedruckten schaltungstraegern, elektrischen baugruppen oder dergleichen
DE2929123C2 (de) * 1979-07-18 1984-08-30 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Fehlerermittlung von elektrischen Flachbaugruppen

Also Published As

Publication number Publication date
DE3425568A1 (de) 1986-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0095517B1 (de) Verfahren und Einrichtung zur automatischen optischen Inspektion
DE2826770A1 (de) Kontaktanzeigevorrichtung fuer elektrische testgeraete
DE3425568C2 (sl)
DE3006379C2 (sl)
DD258658A1 (de) Verfahren zum pruefen von loetstellen elektronischer baugruppen
DE10125798B4 (de) Abbildungssystem zur Positionierung einer Messspitze auf einen Kontaktbereich eines Mikrochips und ein Verfahren zur Darstellung
DD222391A1 (de) Verfahren und anordnung zur optischen kontrolle mechanischer messobjektabtastung
DE2138238A1 (de) Verfahren und einrichtung zum pruefen von objekten bestimmter flaechenhafter oder raeumlicher konfiguration bei vorzugsweise gedruckten schaltungstraegern, elektrischen baugruppen oder dergleichen
DE4027902C2 (de) Verfahren zur visuellen Prüfung bestückter Flachbaugruppen und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE3305129A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer zum messen einer dimension eines koerpers dienenden messvorrichtung
DE10156210A1 (de) Prüfanordnung zur messtechnischen Untersuchung einesPrüfobjektes, insbesondere in Form einer integrierten Schaltung
DE4318692C2 (de) Verfahren zur Untersuchung von antigenhaltigen Blutserumproben
DE3900040A1 (de) Verfahren zur elektrischen pruefung von leiterbahnen auf kurzschluesse
DE4111111A1 (de) Verfahren zur drehlagenerkennung von elektronischen bauelementen
DE2211235A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum selbsttaetigen bestimmen von im bildfeld eines mikroskopes sichtbaren breiten oder abstaenden
DE3823928C2 (sl)
EP0848244A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Überprüfen von Positionsdaten j-förmiger elektrischer Kontaktanschlüsse
WO2007031049A1 (de) Vorrichtung zur ermittlung der relativposition zwischen zwei im wesentlichen flächigen elementen
EP0895065A1 (de) Verfahren zur Erfassung, Auswertung und Darstellung von Messwerten
DE3412168C1 (de) Vorrichtung zur optischen Kontrolle von gelochten Leiterplatten
DE102009013088B4 (de) Verfahren zum Messen und Bewerten einer Beschriftbildqualität eines Beschriftbildes auf einem Gegenstand und Messvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102020118319A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Messobjekts
EP0454962A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
DE19821800A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Seitensichten und Draufsicht von Objekten aus einer Sichtposition
DE3029324A1 (de) Anordnung zum optischen vergleich zweier objekte

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8363 Opposition against the patent
8330 Complete disclaimer