DE3322712A1 - Optisches abstandsmessverfahren - Google Patents

Optisches abstandsmessverfahren

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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
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Description

  • Optisches Abstandsmeßverfahren
  • Die Erfindung betrifft ein optisches Abstandsmeßverfahren nach dem Oberbegriff von Anspruch 1, wie es beispielsweise aus der Dissertation von F. Ertl, Aufbau und Untersuchung eines berührungslos optisch arbeitenden Längenmeßverfahrens für den Einsatz in der Fertigung, Darmstadt, 1978, als bekannt hervorgeht.
  • Die bekannte Abstandsmeßvorrichtung arbeitet nach dem Fokussierungsmeßverfahren. Die zu vermessende Oberfläche eines Meßobjekts wird mittels eines konvergenten Lichtbündels, das in einem Brennpunkt im Bereich der Meßobjektoberfläche zusammenläuft, angetastet. Das von der. Oberfläche reflektierte Licht fällt auf einen fotoelektrischen Wandler, der den Lichtstrom in unterschiedlichen Relativlagen des Brennpunkts relativ zur Oberfläche mißt.
  • Das maximale Reflexionssignal tritt dann auf, wenn der Brennpunkt genau in der Oberfläche liegt. Für niedrige Meßgeschwindigkeiten reicht es aus, den Brennpunkt kontinuierlich zur Meßobjektoberfläche zu verschieben. Wenn hohe Meßgeschwindigkeiten verlangt sind, wird der Brennpunkt mit möglichst hoher Frequenz beispielsweise sinus- förmig um eine Mittellage oszillierend bewegt. Dies wird beispielsweise durch eine entsprechend oszillierende Objektivbewegung bewerkstelligt. Ein der Bestrahlungsstärke des fotoelektrischen Wandlers entsprechendes über der Zeit aufgenommenes elektrisches Ausgangssignal des Wandlers besitzt immer im Durchgang des Brennpunkts durch die Meßobjektoberfläche ein Maximum. Da der Abstand des Brennpunkts von einer Bezugsebene des Abstandsmeßgerätes ständig bekannt ist, kann eine Abstandsrelation des Meßgerätes zur Oberfläche gewonnen werden, wenn der Brennpunkt genau in der Oberfläche des Meßobjekts liegt.
  • Im Augenblick des Durchgangs des Brennpunkts durch die Oberfläche nimmt die Intensität des reflektierten Lichts bis zu einem Maximum zu und dann wieder ab. Lageveränderungen des Brennpunkts in unmittelbarer Nachbarschaft zur Oberfläche bewirken jedoch so geringe Intensitätsänderungen, daß das absolute Maximum auch mit teueren, hochempfindlichen Wandlern nicht exakt bestimmt werden kann. Dies liegt daran, daß der Intensitätsverlauf eine flache Kuppe darstellt. Zwar sind bei der bekannten Vorrichtung Blendenanordnungen vorgesehen, so daß das im Strahlengang der Vorrichtung reflektierte Licht nur dann gänzlich zum fotoelektrischen Wandler gelangen kann, wenn der Brennpunkt ungefähr in der Antastfläche liegt. Dadurch ist zwar erreichbar, daß für Brennpunktslagen völlig außerhalb der Meßobjektoberfläche weniger Licht auf den elektrischen Wandler fällt und sich die Intensitätsmaxima schärfer abheben. Der exakten Bestimmung des absoluten Intensitätsmaximums im Verlauf einer flachen Kuppe kann dadurch jedoch nicht näher gekommen werden.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Meßempfindlichkeit zu steigern durch Verbesserung der lagemäßigen Lokalisierung des Intensitätsmaximums.
  • Diese Aufgabe wird bei einem gattungsgemäßen Verfahren durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
  • Zur Durchführbarkeit des Meßverfahrens ist die um eine Mittellage oszillierende Bewegung des Brennpunkts mit definierter Amplitude und Frequenz Voraussetzung. Als Antwortsignal am Wandlerausgang ergibt sich ein der Brennpunktsmittellage relativ zur Oberfläche des Meßobjekts entsprechendes Intensitätssignal des Sekundärlichts. Nur dann, wenn die Brennpunktsmittellage genau in der Oberfläche liegt, ergibt sich eine Antwortschwingung, deren Frequenz der doppelten Frequenz der Grundfrequenz der Brennpunktsschwingung entspricht. Mit Auswandern der Brennpunktsmittellage aus der Oberfläche ist das Antwortsignal eine zunehmend unregelmäßige Schwingung.
  • Jede Schwingung ist jedoch eine Überlagerung harmonischer Schwingungen ungleicher Frequenzen, die isoliert werden können. Betrachtet man die Amplitude der Intensität des Oktavanteils des Sekundärlichts, so nimmt diese schon bei geringer Auswanderung der Brennpunktsmittellage aus der Oberfläche plötzlich ab. Dagegen ändert sich die Amplitude der Intensität des Gesamtsignals wesentlich träger, so daß daraus zur Oberfläche eng benachbarte Brennpunktsmittellagen nicht auflösbar sind.
  • In der weiteren Ausgestaltung der Erfindung läßt sich die Auflösung weiter steigern, wenn Differenzen oder Verhältnisse der Amplituden der Antwortschwingung und ihres Oktav anteils gebildet werden. Diese Werte nehmen noch plötzlich zu bzw. ab, da eine Amplitudenvergrößerung, die als Folge der Verlagerung der Brennpunktsmittellage in einen Bereich steileren Ausstiegs der Intensitätskurve auftritt, eliminiert wird.
  • Zur weiteren Genauigkeitssteigerung werden die Intensitätssignale weiterer höhererer Oberwellen betrachtet bzw. ausgewertet. Bei Annäherung der Brennpunktsmittellage an die Meßoberfläche werden zunächst die maximalen Amplituden der Oberwellen des Intensitätssignals ermittelt, deren Auftreten als Steuersignal zur Verringerung der Meßtastkopfvorschubgeschwindigkeit dienen kann. Im Durchgang der 'Brennpunktsmittellage durch die Oberfläche können die Meßintervalle so verringert werden. Dadurch kann die Intensitätszunahme des Signals der Oktavoberwelle schrittweise noch genauer erfaßt werden.
  • Vorteilhaft ist, daß selbst für Oberflächen mit geringem Reflexionsgrad oder bei Schrägstehen der optischen Achse des Tastmeßkopfs, d.h., wenn die Intensitätskurve sehr flach verläuft, die Meßgenauigkeit noch sehr hoch ist.
  • Die Erfindung ist anhand eines in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
  • Es zeigen: Figur 1 eine Abstandsmeßvorrichtung mit einer das Antwortsignal eines optoelektronischen Wandlers verarbeitenden Auswerteschaltung in einer schematischen Darstellung, Figur 2 Darstellung des Zusammenhangs des Antwortsignals des optoelektronischen Wandlers einer Vorrichtung nach Figur 1 und einer sinusförmigen periodischen Brennpunktsschwingung mit Brennpunktsmittellage in der Antastoberfläche unter Zugrundelegung eines parabelförmigen Verlaufs des Reflexionsvermögens der Antastfläche, Figur 3 Darstellung des Zusammenhangs von Antwortsignal und Brennpunktsschwingung nach Fig.2 für eine Brennpunktsmittellage, die im Abstand zur Antastfläche liegt.
  • Die Abstandsmeßvorrichtung 1 nach Figur 1 besitzt eine Lichtquelle 2, die Primärlicht aussendet. Nach Durchstrahlen einer Linse 9 zur Aufweitung des Lichtbündels, trifft das Licht auf einen Strahlteiler 10, der in Richtung auf die Meßobjektoberfläche 3 durchlässig ist. Nach Durchstrahlen der Linse 4, die Material enthält, das in elektrischen Feldern mit unterschiedlichen Feldstärken sein Brechungsverhalten ändert, und deshalb zwischen lichtdurchlässigen Elektroden 5 zur elektrischen Feld erzeugung angeordnet ist, trifft das Primärlicht auf die Meßobjektoberfläche 3 oder Antastfläche. Im Ausführungsbeispiel ist die relative Lage des Brennpunkts 8 zur Meßobjektoberfläche 3 durch Anlegen unterschiedlicher Spannungen an den Elektroden 5 regelbar. Je nach der augenblicklichen Lage des Brennpunkts 8 zur Antastfläche, fällt mehr oder weniger Sekundärlicht im Strahlengang der Beleuchtungsoptik zurück. Der Strahlteiler 10 koppelt das reflektierte Licht - Sekundärlicht -aus dem Primärlichtbündel aus und führt es einem optoelektronischen Wandler 11, wie beispielsweise einer Fotodiode,zu, die ein der Lichtintensität entsprechendes Ausgangsstromsignal bzw. Antwortsignal erzeugt. Das Antwortsignal wird einem Frequenzanalysator 12 zugeführt, der ein oder mehrere Schmalbandfrequenzfilter 13 enthält, die jeweils aus einem elektrischen Schwingkreis und einem Operationsverstärker aufgebaut sind. Durch sie kann ein periodisches Eingangssignal in seine harmonischen Schwingungen zerlegt werden, deren Frequenzen das doppelte oder mehrfache der Grundfquenz betragen, mit der der Brennpunkt um seine Mittellage schwingt. In einer Auswerteeinheit 14, können je nach Bedarf die Amplituden einer oder mehrerer der isolierten harmonischen Schwingungen ermittelt werden. Außerdem kann die Auswerteeinheit 14 eine nicht dargestellte Differenz- oder Quotientenbildungsstufe enthalten, die die ausgewählten Amplituden weiter verarbeitet. Das Ausgangssignal der Auswerteeinheit 14 dient als Abstandssteuersignal für die Brennpunktsverschiebung und wirkt im Ausführungsbeispiel entsprechend auf die Spannungsregelung des elektrischen Feldes ein. Die Figuren 2 und 3 enthalten jeweils drei Diagramme, die den Zusammenhang einer sinusförmigen periodischen Brennpunktsschwingung (Kurvenverlauf 21) und dem Antwortsignal des optoelektronischen Wandlers herstellen. Zugrunde liegt eine parabelförmige Reflexionskurve 20, die über dem Brennpunktsabstand von der Oberfläche das Reflexionsvermögen der Oberfläche wiedergibt. Das Reflexionsvermögen einer Oberfläche hängt von deren Feinstruktur ab und ändert sich entsprechend von Oberfläche zu Oberfläche. Der Kurvenverlauf 21, stellt zwei Perioden einer Brennpunktsschwingung über der Zeit dar Die Amplituden geben den jeweiligen Brennpunktsabstand von der Antastfläche an. Aus der Reflexionskurve 20 kann für jeden Zeitpunkt der Brennpunktsschwingung die dem jeweiligen Brennpunktsabstand zugehörige Reflexion abgelesen werden. Die Kurven 22, 22' geben den zeitlichen Verlauf der Intensität des reflektierten Lichts bzw.
  • des Antwortsignals vom Wandler wieder. Die an die Extremlagen der Amplituden unterbrochen gezeichneten Linien verdeutlichen die Zuordnung von Brennpunktsausschlag und Intensität. Während in Figur 2 die Brennpunktsmittellage in der Antastfläche liegt, liegt sie in Figur 3 im Abstand 23 zur Oberfläche. Diese Mittellage is.t durch eine unterbrochen gezeichnete Linie dargestellt.
  • Der Brennpunktsabstand relativ zu einer Antastfläche kann kontinuierlich verändert werden, indem beispielsweise der Meßtastkopf der Abstandsmeßvorrichtung 1 entsprechend verfährt, oder ein elektrisches Feld an den Elektroden angelegt wird, das sich kontinuierlich ändert. Für hohe Meßgeschwindigkeiten und insbesondere für das erfindungsgemäße Meßverfahren ist es notwendig, den Brennpunkt in periodische Bewegungen zu versetzen, die eventuell einer kontinuierlichen Bewegung überlagert ist. Statt einer kontinuierlichen Bewegung kann auch eine niederfrequente periodische oder durch Steuersignale der Auswerteinheit 14 erzeugte diskontinuierliche Brennpunkts- oder Meßtastkopfbewegung unterlagert sein, die einfach notwendig ist, um die Mittellage, um die der Brennpunkt 8 schwingt, in eine ausgezeichnete Lage zum Meßobjekt verlagern zu können. Ziel ist es, die Brennpunktsmittellage genau in die Oberfläche zu legen. Das Antwortsignal ist dann eine harmonische Schwingung mit der doppelten Frequenz der Frequenz der Brennpunktsschwingung. Wenn die Brennpunktsmittellage aus der Oberfläche herausrückt, ergibt sich eine nicht harmonische Antwortschwingung, etwa nach dem Kurvenverlauf 22' der Figur 3. Immer dann, wenn der Brennpunkt 8 durch die Oberfläche des Meßobjekts hindurchtritt, ergibt sich ein Intensitätsmaximum des reflektierten Lichts, das jedoch, wie die Kurve 20 in Figur 2 oder 3 darstellt, eine relativ flache Kuppe besitzt. Die exakte Lokalisierung des Maximums der Kuppe ist durch Intensitätsmessung des Sekundär lichts nur bis zu einer gewissen Grenze möglich, da die Intensitätsänderungen im Bereich der Kuppe so gering sind, daß auch empfindliche Meßgeräte nur eine beschränkte Auflösung erreichen. Die Lokalisierung des Maximums läßt sich jedoch wesentlich verbessern, wenn das Antwortsignal in seine harmonischen Schwingungen zerlegt wird und der Oktavanteil des Sekundärlichts der Grundfrequenz der Brennpunktsschwingung betrachtet wird. Dieser ist nämlich für die ausgezeichnete Brennpunktsposition, daß die Brennpunktsmittellage genau in der Oberfläche liegt, maximal. Wenn die Brennpunktsmittellage auch nur gering aus der Oberfläche auswandert, fällt die Intensitätsamplitude des Oktavanteils des Sekundärlichts steil ab. Ein scharf ausgeprägtes Amplitudenmaximum kann natürlich sehr genau erfaßt werden, wodurch die Meßgenauigkeit verbessert wird. Für das vorliegende Meßverfahren muß jedoch die Brennpunktsmittellage für eine Messung in die Meßobjektoberfläche 3 verlegt werden. Zur Isolierung des Oktavanteils des Sekundärlichts wird ein Schmalbandfilter 13 eines Frequenzanalysators 12 nach Fig. 1 eingesetzt. In der Auswerteeinheit 14 wird die Amplitude des Oktavsignals ermittelt und deren Größe zur Steuerung der Verlegung der Brennpunktsmittellage verwendet, bis die Mittellage genau in der Oberfläche liegt, also die Intensitätsamplitude der Oktavschwingung maximal ist. Anstatt eines Schmalbandfrequenzfilters kann auch ein Mikroprozessor eingesetzt werden, mit dessen Hilfe eine mathematische Fourieranalyse des Antwortsignals des Wandlers durchgeführt wird.
  • Eine weitere Verbesserung der Auflösung läßt sich erreichen, wenn die Differenzen oder Verhältnisse der Amplituden der Antwortschwingung und des harmonischen Oktavanteils gebildet wird. Denn dadurch wird die als Folge der Verlagerung der Brennpunktsmittelage auftretende Amplitudenvergrößerung in einem Bereich des steileren Verlaufs der Reflexionskurve eliminert. Die Ausprägung des Amplitudenmaximums wird dadurch noch schärfer.
  • Genauigkeitssteigerungen können auch erreicht werden, indem mittels weiteren Schmalbandfrequenzflltern 13 wie nach Figur.l dargestellt, weitere Oberwellen isoliert werden. Ihre Maximumamplituden der Intensitäten treten abhängig von der jeweiligen Frequenz für ganz bestimmte Abstände der Brennpunktsmittellagen von der Oberfläche auf. Es muß aber die typische Reflexionskurve der jeweiligen Oberfläche bekannt sein, um eine Abstandsrelation ermitteln zu können. Diese Abstandsrelation kann als Kontrolle oder beispielsweise als Steuersignal für die Regelung der Verschiebegeschwindigkeit der Brennpunkts mittellage dienen.Wenn beispielsweise die Geschwindigkeit mit der der Meßtastkopf verschoben wird, mit überschreiten des Oberwellenmaximums gedrosselt wird, kann die Amplitudenzunahme des Oktavanteils noch genauer erfaßt werden.
  • Das Meßverfahren ist auch anwendbar auf Abstandsmeßvorrichungen mit zwei gegenläufig schwingenden Brennpunkten.
  • In diesem Falle würde die Vorrichtung nach der Figur 1 eine doppelbrechende Linse 4 besitzen, die von unterschiedlich polarisierten Lichtarten durchstrahlt wird. Durch unterschiedliches Brechungsverhalten der Linse in den zwei Polarisationsrichtungen treffen sich die zwei Strahl-Lichtarten in Richtung der optischen Achse in zueinander versetzten Brennpunkten. Das reflektierte Licht wird durch zwei Strahlteiler auf zwei optoelektronische Wandler gelenkt. Die Strahlteiler lenken jeweils nur eine Lichtart auf den ihnen zugehörigen Wandler. Die Antwortsignale beider Wandler können wiederum in Oberwellen zerlegt werden, und auf Gleichheit der Amplituden geprüft werden, was eine symmetrische Lage der Brennpunkte zur Oberfläche signalisiert. Der Vorteil ist auch hier eine Steigerung der Meßgenauigkeit durch Erfassen des scharf ausgebildeten Amplitudenmaximums des Oktavanteils.
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Claims (6)

  1. Patentansprüche 1Optisches Abstandsmeßverfahren zum berührungsfreien Antasten der Oberfläche eines Meßobjekts mittels eines Primärlichtbündels, das in die Nähe der Meßobjektoberfläche fokussiert wird und bei welchem Verfahren der Brennpunkt um eine im Abstand zum Meßobjekt veränderbare Mittellage in periodische Schwingungen mit definierter Frequenz - Grundfrequenz - und mit definierter Amplitude versetzt wird, wobei der Abstand des Brennpunkts von einer Bezugsebene des Abstandsmeßgerätes ständig bekannt ist, bei welchem Verfahren ferner die Intensität des von der Meßobjektoberfläche zurückgeworfenen Sekundärlichts gemessen und in ein elektrisches Signal umgewandelt wird, und bei welchem Verfahren ferner für die Lage des Auftretens eines Intensitätsmaximums des Sekundärlichts auf die Oberflächenlage des Brennpunkts des Primärlichts geschlossen wird, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß aus dem Intensitätssignal für das Sekundärlicht weiligstens der Oktavanteil der Grundfrequenz isoliert und die Brennpunktsmiltellage im Abstand zur Meßobjektoberfläche so gewählt wird, daß die Amplitude der Intensität des Oktavanteils maximal ist.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis der Amplituden der Intensität des Oktavanteils zur Intensität des Ausgangssignals gebildet wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß Intensitäten weiterer Oberwellenanteile der Grundfrequenz isoliert werden und deren Intensitätsmaxima zur Steuerung der Verschiebegeschwindigkeit der Brennpunktsmittellage verwendet werden.
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberwellen der Grundfrequenz durch Schmalbandfiltern isoliert werden.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberwellen der Grundfrequenz durch eine mathematische Fourier-Anal yse isoliert werden.
  6. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5 dadurch gekennzeichnet, daß Verhältnis- oder Differenzwerte von Amplituden der Oberwellen gebildet werden.
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