DE3244684C1 - Leuchtdichtemeßgerät - Google Patents

Leuchtdichtemeßgerät

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DE3244684C1
DE3244684C1 DE19823244684 DE3244684A DE3244684C1 DE 3244684 C1 DE3244684 C1 DE 3244684C1 DE 19823244684 DE19823244684 DE 19823244684 DE 3244684 A DE3244684 A DE 3244684A DE 3244684 C1 DE3244684 C1 DE 3244684C1
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DE
Germany
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lens
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aperture
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DE19823244684
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English (en)
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Kurt 1000 Berlin Steglich
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lmt Lichtmesstechnik Berl GmbH
Original Assignee
Lmt Lichtmesstechnik Berl GmbH
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • GPHYSICS
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

  • Patentansprüche: 1. Vorrichtung zur Messung der Leuchtdichte, bestehend aus: a) einem das Meßfeld und sein Umfeld abbildenden Objektiv (1), b) einer in der Bildebene des Objektivs (1) angeordneten reflektierenden Einheit (2,3; 8), in deren Zentrum sich eine Apertur (7) befindet, c) einem der reflektierenden Einheit (2,3; 8) nachgeordnetem Photodetektor (4), der das durch die Apertur (7) gelangte Licht empfängt, d) einer zur Betrachtung des Umfeldes vorgesehenen Lupe (6), dadurch gekennzeichnet, daß e) die Ebene, die den Rand der Apertur (7) enthält, senkrecht zur Objektivachse steht, f) die reflektierende Einheit (2, 3; 8) als abbildendes System ausgebildet ist, g) ein reflektierendes Element (5, 9, 10) so angeordnet ist, daß die Eintrittsluke der Lupe (6) über dieses reflektierende Element (5, 9, 10) und über die als abbildendes System ausgebildete reflektierende Einheit (2,3; 8) in die Eintrittsöffnung des Objektivs (1) abgebildet wird.
  • 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierende Einheit aus einem Planspiegel (3) und einer im Strahlengang vor dem Planspiegel (3) vorgesehenen Feldlinsenanordnung (2) besteht.
  • 3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierende Einheit aus einem Hohlspiegel (8) besteht.
  • 4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das reflektierende Element ein Planspiegel (10) ist, der vor dem das Meßfeld abbildenden Objektiv (1) so angeordnet ist, daß er mit einem Teil dieses Objektivs als Lupenobjektiv wirkt Die Erfindung betrifft ein Leuchtdichtemeßgerät gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
  • Ein Gerät mit einem entsprechenden Aufbau ist z. B.
  • als Pritchard-Leuchtdichtemesser aus Applied Optics, Volume 11, Number 9, September 1972, bekannt Das einfallende Licht gelangt hierbei durch das Linsensystem des Objektivs auf einen Spiegel, der schräg zur Bildebene der Objektivlinsen liegt Die Neigung des Bildfeldspiegels beträgt etwa 45" zur optischen Achse des Systems. Ein Teil des Lichtes passiert eine Apertur, die im Zentrum des Spiegels lokalisiert ist Das durch die Apertur hindurchtretende Licht wird in einem Photodetektor gesammelt Der Teil der Strahlen, der an der Spiegeloberfläche reflektiert wird, bildet die Umgebung des Meßfeldes durch ein Lupensystem ab. Da die spiegelnde Auffangebene und damit auch die nicht spiegelnde Region des Aperturrandes gekippt ist, ist hiermit eine doppelt so große Kippung des vom Spiegel erzeugten Umfeldes zu beobachten Diese Kippung wird durch die kompensierende Ausrichtung eines Z Spiegels für die Sucherbetrachtung korrigiert Nach der unter dem Namen Scheimpflug-Bedingung bekannten geometrischen Betrachtungsweise des Abbildungsvorganges gehört zu einer gekippten Auffangebene - im vorliegenden Fall ist es der Rand der photometrierenden Apertur auf dem Spiegel - eine entsprechend gekippte Objektebene, die gegen das reale Meßfeld stark geneigt ist. Die damit für die Messung vorhandenen Unschärfen führen dazu, daß die räumliche Bewertungsfunktion so konstruierter Leuchtdichtemesser vom Azimut des betrachteten Meridianabschnittes abhängt, was sie nicht soll. Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Leuchtdichtemeßgerät der eingangs genannten Art so auszubilden, daß die instrumenteigene Meßfeldbegrenzung in der Bildebene des Meßfeldes liegt und über eine Lupe direkt beobachtbar ist.
  • Gelöst wird diese Aufgabe erfindungsgemäß durch die im Kennzeichen des Anspruchs 1 angegebenen Merkmale.
  • Bei dem erfindungsgemäßen Leuchtdichtemeßgerät wird der Bildfeldspiegel - und damit die darin befindliche Apertur nicht - wie beim Stand der Technik -gegen die Bildebene des Meßfeldes geneigt, um eine Umfeldbeobachtung durch das Meßgerät zu ermöglichen, sondern die Apertur im Spiegel bleibt in allen Azimuten dem Meßfeld zugeordnet und Meßfehler der obenerwähnten Art durch Unschärfen werden vermieden.
  • Die Erfindung soll anhand der Zeichnungen, die den prinzipiellen optischen Aufbau zeigen, erläutert werden.
  • Dabei entsprechen die A b b. 1 einer ersten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Leuchtdichtemeßgerätes und die A b b. 2 und 3 weiteren Ausführungsformen.
  • Gemäß der A b b. 1 weist das Leuchtdichtemeßgerät ein Objektiv 1 auf, in dessen Bildebene ein Planspiegel 3 angeordnet ist, in dem sich eine Apertur 7 befindet Ein Photodetektor 4 ist dem Spiegel nachgeordnet und empfängt das durch die Apertur 7 gelangte Licht In Strahlungsrichtung vor dem Planspiegel 3 befindet sich eine Feldlinsenanordnung, die hier mit einer plankonvexen Linse 2 beispielsweise angedeutet ist und deren optische Achse mit einer Normalen des Planspiegels zusammenfällt Zusammen mit dem das Bild des Umfelds tragenden Spiegel 3 wirkt diese Feldlinsenanordnung 2 als katadioptrisches System. Ein Spiegel 5 ist in dem ersten Ausführungsbeispiel so zwischen dem Objektiv 1 und der Feldlinsenanordnung 2 angeordnet, daß die Eintrittsluke der Lupe 6 über den Spiegel 5 selbst und über den Planspiegel 3 und die Feldlinsenanordnung 2 in die Eintrittsöffnung des Objektivs 1 abgebildet wird Auf diese Weise erhält umgekehrt die Lupe 6 die für die Umfeldbeobachtung und zum Anvisieren des Objekts notwendige Strahlung von dort. Das reflektierende Element 5 stellt das Lupenobjektiv dar und kann gleichzeitig die Eintrittsluke der Lupe definieren.
  • In der A b b. 2 ist das reell abbildende System bestehend aus Feldlinsenanordnung 2 und Planspiegel 3 durch einen Hohlspiegel 8 mit entsprechender Apertur 7 ersetzt, der als katoptrisches System wirkt, wobei das Lupenobjektiv ebenfalls ein geneigter Hohlspiegel 9 sein bzw. einen solchen enthalten kann.

Claims (1)

  1. Die A b b. 3 unterscheidet sich von der A b b. 2 darin, daß über einen geneigten Planspiegel 10, der in Strahlungsrichtung vor dem Objektiv 1 angebracht ist, ein Teil des Objektivs als Lupenobjektiv benutzt wird
DE19823244684 1982-11-30 1982-11-30 Leuchtdichtemeßgerät Expired DE3244684C1 (de)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2735185A1 (de) * 1976-08-04 1978-02-09 Minolta Camera Kk Belichtungsmesser
DE2822469A1 (de) * 1977-05-25 1978-11-30 Canon Kk Lichtmessvorrichtung

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2735185A1 (de) * 1976-08-04 1978-02-09 Minolta Camera Kk Belichtungsmesser
DE2822469A1 (de) * 1977-05-25 1978-11-30 Canon Kk Lichtmessvorrichtung

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