DE3237232C2 - Magnetisches Aufzeichnungsmedium - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein magnetisches Aufzeichnungsmedium
gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruches 1.
Es ist bereits ein magnetisches Aufzeichnungsmedium bekannt,
bei dem ein magnetischer Dünnfilm aus einer Kobaltlegierung
auf ein Substratmaterial durch Vakuumverdampfung ausgebildet
wird (JP-A-53-39707). Es ist ferner bekannt, bei einem magnetischen
Aufzeichnungsmedium einen magnetischen Metalldünnfilm
aus einer Kobaltlegierung zu verwenden, welche Vanadium
als Legierungsbestandteil enthält (DE-OS 27 18 739).
Von verschiedenen Arbeitskreisen werden zur Zeit umfangreiche
Untersuchungen des senkrecht magnetisierbaren, magnetischen
Aufzeichnungssystems durchgeführt, das als
ein zukünftiges System für Aufzeichnungen mit überragend
hoher Aufnahmedichte gilt und von dem erwartet wird, daß
es in naher Zukunft im Handel erhältlich sein wird. Bei
den herkömmlichen magnetischen Aufzeichnungsmedien wird
die magnetische Aufzeichnung in der Weise durchgeführt,
daß eine auf einem Substrat ausgebildete, magnetische
Schicht in einer horizontalen Richtung der magnetischen
Schicht (d. h. Magnetisierung in der Ebene) magnetisiert
wird. Falls bei der Aufzeichnung unter horizontaler Magnetisierung
die Aufzeichnungsdichte erhöht wird, verstärkt
sich das diamagnetische Feld der magnetischen
Schicht, was wiederum zu einer Verringerung und Rotation
der Restmagnetisierung führt. Als Folge davon ist die
Wiedergabe-Ausgangsleistung beträchtlich verringert. Die
Steigerung der Aufzeichnungsdichte ist somit einer praktischen
Beschränkung unterworfen. Im Hinblick auf diese
Situation ist ein Aufzeichnungssystem mit senkrechter Magnetisierung
vorgeschlagen worden, bei dem die Magnetisierung
in einer Richtung senkrecht zur Oberfläche der
magnetischen Schicht (d. h. in Dickenrichtung der magnetischen
Schicht) durchgeführt wird. Dieses System vermag
die Beschränkungen, die hinsichtlich der Steigerung der
Aufzeichnungsdichte bei den Aufzeichnungssystemen mit
horizontaler Magnetisierung bestehen, zu durchbrechen.
Bei der Aufzeichnung unter senkrechter Magnetisierung
wird das Entmagnetisierungsfeld umso kleiner, je kürzer
die Wellenlänge der aufgezeichneten Signale ist, d. h. je
größer die Aufzeichnungsdichte ist. Demgemäß wird von dem
Aufzeichnungssystem mit senkrechter Magnetisierung erwartet,
daß es sich vorteilhafter als das Aufzeichnungssystem
mit horizontaler Magnetisierung für Aufzeichnungen
mit hoher Signaldichte eignet.
Als äußerst wirksames Aufzeichnungsmedium, das für ein
derartiges Aufzeichnungssystem mit senkrechter Magnetisierung
brauchbar ist, wurde bereits eine durch ein Sputterverfahren
gebildete Co-Cr-Schicht vorgeschlagen. Das
Sputterverfahren ist eine der bekannten Verfahrensweisen
zur Herstellung dünner, magnetischer Metallschichten. Dabei
werden bei Durchführung einer Glühentladung in einer
unter Unterdruck stehenden Inertgasatmosphäre die Gasionen
beschleunigt, um mit der Kathode (d. h. dem Target)
zu kollidieren und dabei das Kathodenmaterial in Form von
Atomen oder Gruppen von Atomen zu verdampfen. Die so zerstäubten
(gesputterten) Metallatome werden auf der Oberfläche
des nahe der Anode angeordneten Substrats abgeschieden.
Von den Erfindern wurden Untersuchungen dieser Co-Cr-
Schicht durchgeführt, und zwar im Hinblick auf ihre praktischen
Anwendungen und die Massenproduktion. Im Verlauf
dieser Untersuchungen wurde festgestellt, daß einige
praktische Probleme ungelöst sind. Genauer gesagt, besteht
erstens das Problem, daß bei Durchführung einer Hochgeschwindigkeitsschichtbildungs-
Operation mittels einer
Sputtervorrichtung die Koerzitivkraft [Hc (⟂)] dazu
neigt, so anzusteigen, daß keine adäquate Überschreibcharakteristik
bei der tatsächlichen digitalen Aufzeichnung
erreichbar ist, und zweitens, daß die Koerzitivkraft
[Hc (⟂)] in hohem Maße abhängig ist von der Temperatur des
Substrats zum Zeitpunkt des Schichtbildungsverfahrens und
daß infolgedessen bei einer kontinuierlichen Durchführung
des Schichtbildungsverfahrens bei der Massenherstellung, wobei
die Substrattemperatur unvermeidbar durch Strahlungshitze
von dem Target variiert wird, die Koerzitivkraft
[Hc (⟂)] sich entsprechend ändert. Dadurch wird es unmöglich,
eine Schicht mit einheitlicher Qualität auszubilden.
Erstens muß die Überschreibcharakteristik wenigstens 26 dB
betragen. Um die Überschreibcharakteristik mit einem derartigen
Niveau zu erhalten, darf die Koerzitivkraft [Hc
(⟂)] höchstens 47746 A/m (600 Oe) betragen. Im Falle der Co-Cr-
Schicht kann, falls das Schichtbildungsverfahren mit einer
geringen Abscheidungsgeschwindigkeit (d. h. weniger als
einige zehn mm/min) im Labormaßstab durchgeführt wird,
eine Koerzitivkraft [Hc (⟂)] von weniger als 4776 A/m (600 Oe) erhalten
werden, indem man das Substrat in zweckentsprechender
Weise kühlt. Bei einem industriell brauchbaren
Hochgeschwindigkeits-Schichtbildungsverfahren, bei dem
die Abscheidungsgeschwindigkeit einige hundert mm/min beträgt,
erreicht die Koerzitivkraft jedoch unvermeidbar
wenigstens 47746 A/m (600 Oe), und in extremen Fällen wird ein so hohes
Niveau wie 95492 A/m (1800 Oe) erreicht. Es ist somit im Falle der
Co-Cr-Schicht praktisch unmöglich eine adäquate Überschreibcharakteristik
für die tatsächliche Digitalaufzeichnung
bei einer Produktionsgeschwindigkeit zu erreichen,
die für ein industrielles Verfahren geeignet ist.
Zweitens wurde im Hinblick auf die Abhängigkeit der Koerzitivkraft
[Hc (⟂)] von der Substrattemperatur festgestellt,
daß im Falle der Co-Cr-Schicht die Koerzitivkraft
mit der Zunahme der Substrattemperatur steigt, und
zwar im einer Rate von wenigstens 2387 A/m (30 Oe)/10°C. Das Substrat
wird hauptsächlich durch die Strahlungshitze, die
vom Target ausgeht, aufgeheizt. Im Falle der kontinuierlichen
Herstellung ist zu erwarten, daß die Substrattemperatur
sich in jedem Moment ändert und es unmöglich
ist, eine Schicht mit einheitlicher Charakteristik zu erhalten,
solange die Abhängigkeit der Koerzitivkraft von
der Substrattemperatur das oben erwähnte Ausmaß hat.
Es wurde auf diesem Gebiet bereits versucht, eine dritte
Komponente, wie Rhodium, dem Co-Cr-System einzuverleiben.
Auf diese Weise konnten jedoch die oben erwähnten
Probleme nicht gelöst werden.
Es ist somit Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die oben
erwähnten Nachteile zu vermeiden und ein überlegenes,
senkrecht magnetisierbares, magnetisches Aufzeichnungsmedium
für Magnetaufzeichnungen mit hervorragend hoher Signaldichte
zu schaffen, welches sich insbesondere für
praktische Anwendungen und die Massenherstellung eignet.
Kobalt weist eine große Kristallanisotropieenergie auf,
und es wird angenommen, daß es wegen seiner dem hexagonalen
System zugehörigen Kristallstruktur ein Basiselement
zur Bildung einer senkrecht magnetisierbaren, magnetischen
Schicht darstellt. Von den Erfindern wurden umfangreiche
Untersuchungen an Kobaltlegierungen durchgeführt.
Dabei wurde festgestellt, daß eine Co-Mo-V-Legierung
für die Zwecke der vorliegenden Erfindung geeignet
ist.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung wird gelöst durch ein
magnetisches Aufzeichnungsmedium, umfassend ein Substrat
und eine auf dem Substrat ausgebildete, magnetische Aufzeichnungsschicht
aus einer Kobaltlegierung mit einer Achse leichter
Magnetisierung in senkrechter Richtung bezüglich der Oberfläche
des Mediums, dadurch gekennzeichnet, daß die magnetische Aufzeichnungsschicht
zusammengesetzt ist aus 75 bis 90 Gew.-% Co,
höchstens 15 Gew.-% Mo und 6 bis 15 Gew.-% V, Rest unvermeidbare
Verunreinigungen, und wobei die Halbwertsbreite
ΔR 50 einer Röntgenstrahlen-Reflexionsschwingungskurve
von der (002)-Ebene der magnetischen Aufzeichnungsschicht innerhalb
eines Bereichs von 2,8 bis 3,4° liegt.
Zwischen dem Substrat und der magnetischen Aufzeichnungsschicht
kann eine Schicht mit hoher magnetischer Permeabilität angeordnet
sein.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von bevorzugten
Ausführungsformen näher erläutert.
Die in Fig. 1 dargestellte Kurve veranschaulicht die Abhängigkeit
der magnetischen Eigenschaften (1 Oe 79,5 A/m) der senkrecht
magnetisierbaren, magnetischen Aufzeichnungsschicht gemäß
vorliegender Erfindung und der herkömmlichen, senkrecht
magnetisierbaren, magnetischen Aufzeichnungsschicht von
der Substrattemperatur.
Bei der erfindungsgemäßen Co-V-Mo-Schicht liegt die Halbwertsbreite
ΔR 50 einer Röntgenstrahl-Reflexionsschwingungskurve
von der (002)-Ebene, bei der es sich um den
wichtigsten Parameter bei dem senkrecht magnetisierbaren,
magnetischen Aufzeichnungsmedium handelt, innerhalb von
5° und ist damit gleich dem der Co-Cr-Schicht. Diese
Röntgenstrahl-Reflexionsschwingungskurve stellt den Grad
der Streuung entlang der C-Achse der Kristallstruktur der
Schicht dar. Darüber hinaus kann die Koerzitivkraft [Hc
(⟂)], welche für eine adäquate Überschreibcharakteristik
für die digitale Aufzeichnung entscheidend ist, ebenfalls
innerhalb eines Bereichs eingestellt werden, der
höchstens 600 Oe beträgt und vorzugsweise zwischen 93873 A/m (300 Oe)
und 47746 A/m (600 Oe) liegt, indem man die zugesetzte Mo-Menge einstellt.
Darüber hinaus kann das Ausmaß der Zunahme der
Koerzitivkraft [Hc (⟂)] mit der Erhöhung der Substrattemperatur
auf ein Niveau von höchstens 962 A/m (10 Oe)/10° gesenkt
werden. Das ist 1/3 oder weniger der korrespondierenden
Rate im Falle der Co-Cr-Schicht. Es kann somit bei
dem kontinuierlichen Schichtbildungsverfahren die Veränderung
der Koerzitivkraft, die abhängig ist von der Änderung
der Substrattemperatur aufgrund der Wärmestrahlung
vom Target, verglichen mit dem Fall der Co-Cr-Schicht,
wesentlich verringert werden.
Bei der Co-Mo-V-Schicht gemäß der vorliegenden Erfindung
muß das Co in einer Menge von 75 bis 95 Gew.-% als Basiselement
vorliegen, um eine Kristallstruktur zu bilden,
welche eine große Kristallanisotropie aufweist, die wiederum
für die Bildung eines senkrecht magnetisierbaren,
magnetischen Mediums notwendig ist. Falls die Menge weniger
als 75 Gew.-% beträgt, ist keine ausreichende senkrechte
Magnetisierung erreichbar. Falls andererseits die
Menge 95 Gew.-% übersteigt, neigt die Sättigungsmagnetisierung
dazu, zu hoch zu werden. Der Rest von 5 bis
25 Gew.-% ist aus Mo und V zusammengesetzt. Falls nur V
einverleibt ist, wird die Sättigungsmagnetisierung (Ms)
verringert, die h.c.p.-Struktur stabilisiert und das anisotrope,
magnetische Feld (Hk) erfüllt, wie im Falle des
Cr in der Co-Cr-Schicht, die Bedingung Hk<4 π Ms. Die
senkrechte Koerzitivkraft neigt jedoch dazu, zu gering zu
werden, und die Halbwertsbreite der Schwingungskurve
neigt dazu, sich zu verbreitern. Durch die Zugabe von Mo
wird erreicht, daß erstere in einem Bereich von 23873 A/m bis 47746 A/m (300 bis
600 Oe) zu liegen kommt und letztere in einem Bereich von
2,8 bis 3,4° liegt. Es ist somit auf diese Weise möglich,
die angestrebte Schicht zu erhalten. Selbst wenn Mo in einer
kleinen Menge zugesetzt wird, zeigt es eine Wirksamkeit,
die der zugesetzten Menge entspricht. Falls jedoch
die Menge des Mo 15% übersteigt, neigt die Koerzitivkraft
[Hc (⟂)] dazu, allmählich abzufallen. Mo wird daher in
einer Menge von höchstens 15 Gew.-% eingesetzt. Die Koerzitivkraft
[Hc (⟂)] kann gegebenenfalls durch Einstellung
der zugesetzten Mo-Menge gesteuert werden. Der Rest
ist aus V und unvermeidbaren Verunreinigungen zusammengesetzt.
Die Menge an V beträgt vorzugsweise 6 bis 16 Gew.-%
und die Menge an Mo beträgt vorzugsweise 3 bis 15 Gew.-%.
Die jeweiligen Mengen werden gegebenenfalls in Abhängigkeit
von den besonderen Verfahrensbedingungen ausgewählt,
um die angestrebten Schichteigenschaften zu erhalten.
Die magnetische Aufzeichnungsschicht, d. h. die Co-Mo-V-
Schicht, hat vorzugsweise eine Dicke von 0,05 bis 3 µm.
Das erfindungsgemäße magnetische Aufzeichnungsmedium kann
mittels einer Sputtervorrichtung hergestellt werden, und
zwar in der Weise, daß unter Verwendung eines Target mit
einer vorbestimmten Zusammensetzung das Sputtern auf einem
Substrat aus beispielsweise Polyimid unter beliebigen
Sputterbedingungen durchgeführt wird. Um eine Steigerung
der Substrattemperatur zu verhindern, kann vorteilhafterweise
eine Sputtervorrichtung vom Magnetron-Typ verwendet
werden.
Es ist auch bereits vorgeschlagen worden, die senkrecht
magnetisierbare, magnetische Aufzeichnungsschicht mit einer
Schicht hoher magnetischer Permeabilität zu bedecken
(JA-OS 51804/79). Auf diese Weise kann die Aufzeichnung
unter senkrechter Magnetisierung in effizienter Weise mittels
eines Kopfes vom monopolaren Typ ohne Verwendung
eines Hilfsmagnetpols durchgeführt werden. Bei der vorliegenden
Erfindung kann eine derartige Schicht hoher magnetischer
Permeabilität ebenfalls zwischen dem Substrat
und der senkrecht magnetisierbaren, magnetischen Schicht
angeordnet sein. Als derartige Schicht hoher magnetischer
Permeabilität kann beispielsweise eine Mo-Fe-Ni-Legierung
verwendet werden.
Das Substrat kann aus einem beliebigen Material bestehen,
welches herkömmlicherweise für magnetische Aufzeichnungsmedien
verwendet wird. Bevorzugte Materialien für das
Substrat umfassen Polymere, wie Polyester, Polyimid und
Polyamid.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Beispielen
näher erläutert.
Mittels einer Hochgeschwindigkeits-Sputtervorrichtung
werden Schichtbildungsverfahren durchgeführt. Dabei werden
die Proportionen der Komponenten der Co-V-Mo-Schichten
jeweils variiert. Die Koerzitivkräfte [Hc (⟂)] und
die Halbwertsbreiten (ΔR 50) der auf diese Weise erhaltenen
Schichten werden bestimmt. Die Bedingungen des
Sputterverfahrens sind wie folgt:
| Ar-Gasdruck | |
| (8,0×10-3 Torr) 1,06×10-5 bar | |
| elektrische Eingangsleistung | von 3 bis 5 kW |
| Abstand zwischen den Elektroden | 100 mm |
Die erhaltenen Ergebnisse sind in Tabelle 1 aufgeführt.
Es werden Co-V- und Co-Cr-Schichten auf die gleiche Weise
wie in den Beispielen 1 bis 6 ausgebildet. Die Koerzitivkräfte
[Hc (⟂)] und die Halbwertsbreiten (ΔR 50) der
Schichten werden bestimmt. Die dabei erhaltenen Ergebnisse
sind in Tabelle 1 zusammengestellt.
Aus den in Tabelle 1 gezeigten Ergebnissen geht hervor,
daß die Co-V-Mo-Schichten gemäß der vorliegenden Erfindung
eine Koerzitivkraft [Hc (⟂)] von weniger als 47746 A/m (600 Oe)
aufweisen, wodurch eine adäquate Überschreibcharakteristik
erreichbar ist. Dieses Ergebnis wird trotz der Tatsache
erzielt, daß die Schichten mit einer hohen Schichtbildungsgeschwindigkeit
hergestellt wurden, welche für
ein industrielles Verfahren geeignet ist. Außerdem geht
aus der Tabelle hervor, daß die Koerzitivkraft [Hc (⟂)]
je nach Wunsch innerhalb eines Bereichs von 23873 bis 47746 A/m (300 bis 600 Oe)
durch Einstellung der zugesetzten Mo-Menge gesteuert werden
kann.
Die Abhängigkeit der magnetischen Eigenschaften der
Schichten von der Temperatur der jeweiligen Substrate ist
in Tabelle 2 und in der anliegenden Fig. 1 dargesellt.
Die Schichtbildungsgeschwindigkeit (d. h. die Abscheidungsgeschwindigkeit)
beträgt 520 nm/min.
Aus den obigen Ergebnissen geht hervor, daß im Falle der
Co-V-Mo-Schicht gemäß der vorliegenden Erfindung selbst
bei Steigerung der Substrattemperatur von 20° auf 200°C
die Koerzitivkraft [Hc (⟂)] nur um 13528 A/m (170 Oe) zunimmt und
daß die Abhängigkeit der Koerzitivkraft von der Temperatur
so gering ist wie 795 A/m (10 Oe)/10°. Hierdurch wird überzeugend
dargelegt, daß die Änderung der magnetischen Eigenschaften
der Co-V-Mo-Schicht gemäß der vorliegenden Erfindung
extrem gering ist, selbst wenn die Substrattemperatur
durch die Strahlungshitze von dem Target während
der kontinuierlichen Herstellung variiert wird. Die Co-
V-Mo-Schicht gemäß der vorliegenden Erfindung ist somit
für die Massenproduktion geeignet.
Andererseits übersteigt im Falle der Co-Cr-Schicht die Koerzitivkraft
[Hc (⟂)] selbst dann 47746 A/m (600 Oe), wenn mit Wasser
gekühlt wird. Dadurch ist es nicht nur unmöglich, eine
zweckentsprechende Überschreibcharakteristik zu erreichen,
die Schicht zeigt darüber hinaus auch eine starke Abhängigkeit
von der Substrattemperatur. So steigt die Koerzitivkraft
[Hc (⟂)] um 53317 A/m (670 Oe), wenn die Substrattemperatur
von 20° auf 200°C erhöht wird. Die Steigerungsrate der
Koerzitivkraft ist somit so hoch wie 2864 A/m (36 Oe)/10°C, d. h., sie
beträgt wenigstens das Dreifache der Steigerungsrate im
Falle der Co-V-Mo-Schicht gemäß der vorliegenden Erfindung.
Erfindungsgemäß wird eine neue, senkrecht magnetisierbare
Co-V-Mo-Magnetaufzeichnungsschicht geschaffen, wobei die
mit den herkömmlichen Co-Cr-Schichten verbundenen Probleme
hinsichtlich der Überschreibcharakteristik zum Zeitpunkt
der digitalen Aufzeichnung und hinsichtlich der Abhängigkeit
der Koerzitivkraft von der Substrattemperatur gelöst
werden. Die senkrecht magnetisierbare, magnetische Aufzeichnungsschicht
gemäß der vorliegenden Erfindung eignet
sich zur Massenproduktion im industriellen Maßstab. Die
vorliegende Erfindung leistet somit einen großen Beitrag
auf dem Gebiet der Aufzeichnung mit überragend hoher Signaldichte,
dessen marktreife Entwicklung in naher Zukunft
erwartet werden kann.
Claims (7)
1. Magnetisches Aufzeichnungsmedium, umfassend ein Substrat
und eine auf dem Substrat ausgebildete, magnetische Aufzeichnungsschicht
aus einer Kobaltlegierung mit einer Achse leichter
Magnetisierung in senkrechter Richtung bezüglich der Oberfläche
des Mediums, dadurch gekennzeichnet, daß die magnetische Aufzeichnungsschicht
zusammengesetzt ist aus 75 bis 90 Gew.-% Co,
höchstens 15 Gew.-% Mo und 6 bis 15 Gew.-% V, Rest unvermeidbare
Verunreinigungen, und wobei die Halbwertsbreite
ΔR 50 einer Röntgenstrahlen-Reflexionsschwingungskurve
von der (002)-Ebene der magnetischen Aufzeichnungsschicht innerhalb
eines Bereichs von 2,8 bis 3,4° liegt.
2. Magnetisches Aufzeichnungsmedium gemäß Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß zwischen dem Substrat und der magnetischen
Aufzeichnungsschicht eine auf dem Substrat ausgebildete Schicht
hoher magnetischer Permeabilität vorliegt.
3. Magnetisches Aufzeichnungsmedium gemäß einem der Ansprüche
1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Menge an Mo von 3 bis
15 Gew.-% und die Menge an V von 6 bis 16 Gew.-% beträgt.
4. Magnetisches Aufzeichnungsmedium gemäß einem der Ansprüche
1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die magnetische Aufzeichnungsschicht
eine Koerzitivkraft von höchstens 47746 A/m (600 Oe)
aufweist.
5. Magnetisches Aufzeichnungsmedium gemäß einem der Ansprüche
1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die magnetische Aufzeichnungsschicht
eine Koerzitivkraft von 23873 A/m (300 Oe) bis
47746 A/m (600 Oe) aufweist.
6. Magnetisches Aufzeichnungsmedium gemäß einem der Ansprüche
1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die magnetische Aufzeichnungsschicht
eine Dicke von 0,05 bis 3 µm aufweist.
7. Magnetisches Aufzeichnungsmedium gemäß Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schicht hoher magnetischer Permeabilität
aus einer Mo-Fe-Ni-Legierung besteht.
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: TDK CORPORATION, TOKYO, JP |
|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |