DE3225178A1 - Mehrebenenschaltung und verfahren zu ihrer herstellung - Google Patents
Mehrebenenschaltung und verfahren zu ihrer herstellungInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 32
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 6
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 8
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000003292 glue Substances 0.000 claims description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims description 3
- 239000000725 suspension Substances 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims 17
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 abstract description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910007116 SnPb Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001464 adherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001476 alcoholic effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- ZPPSOOVFTBGHBI-UHFFFAOYSA-N lead(2+);oxido(oxo)borane Chemical compound [Pb+2].[O-]B=O.[O-]B=O ZPPSOOVFTBGHBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 description 1
- 235000011837 pasties Nutrition 0.000 description 1
- 239000000256 polyoxyethylene sorbitan monolaurate Substances 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 101150071892 snb-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000003351 stiffener Substances 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/538—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
- H01L23/5385—Assembly of a plurality of insulating substrates
-
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/4857—Multilayer substrates
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
-
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4611—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
- H05K3/4626—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials
- H05K3/4629—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials laminating inorganic sheets comprising printed circuits, e.g. green ceramic sheets
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/05—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/16—Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0302—Properties and characteristics in general
- H05K2201/0305—Solder used for other purposes than connections between PCB or components, e.g. for filling vias or for programmable patterns
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
- H05K2201/095—Conductive through-holes or vias
- H05K2201/09536—Buried plated through-holes, i.e. plated through-holes formed in a core before lamination
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/18—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
- H05K3/181—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4038—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
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- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
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Description
- Nehrebenenschaltung und Verfahren zu ihrer Herstellung.
- Die Erfindung betrifft eine Mehrebenenschaltung nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1 und ein diesbezügliches Verfahren zur Herstellung nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 9.
- In der Zeitschrift Elektronik, Produktion und Prüftechnik, November 1981, Seiten 621 bis 623 ist beschrieben, wie eine solche Mehrebenenschaltung aussehen kann, deren Hauptzweck es ist, eine höhere Packungsdichte von elektronischen Bauelementen zu erzielen. Es werden dazu mehrere einseitig mit teiterzügen undXodermf- integrierten Schaltkreisen versehene, scheibenförmige Sewamissubstrate übereinander gestapelt, wobei auch in Stapelrichtwng dieser Block von Keramikscheiben oder -ebenen von Leiterzügen durchzogen sein kann, welche durch Durchbrche innerhalb der einzelnen Ebenen elektrische Verbindungen zwischen verschiedenen Ebenen herstellen.
- In den Wissenschaftlichen Berichten AEG-TELEFUNKEN 52 (1979) 1 - 2, Seiten 71 bis 77, sind "Mikrowellenschaltungen nach dem CMS-Ver£ahren" beschrieben, mit denen es gelingt, die Vorteile der Dünnschichttechnik und der Dickschichttechnik miteinander zu kombinieren.
- Das Verfahren basiert auf der chemischen, außenstromlosen Metallisierung von Nichtleitern (insbesondere von Keramik) und orientiert sich in seinem Ablauf an der einfachen Herstellungstechnologie der Leiterplatten.
- Da das Verfahren außerdem im Prinzip eine Dünnschichttechnik darstellt, liefert es Mikrowellenschaltungen hoher Präzision und Güte und erlaubt gleichzeitig die Integration von Widerständen nach einem artgleichen chemischen Verfahren.
- Ausgehend von diesem Stand der Technik und der Tatsache, daß Mehrebenenschaltungen in der Elektronikindustrie besonders gefragt sind, ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Mehrebenenschaltung und ein Verfahren zu ihrer Herstellung zu schaffen, welche es gestatten, zu hoher Packungsdichte zu gelangen, wcbei Erschütterungsunempfindlichkeit gewährleistet sein soll. Solche Anforde rungen werden beispielsweise bei Großrechneranlagen oder in der Weltraumelektronik in besonderem Naße gefordert.
- Diese aufgabe wird gelöst durch die M.ehrebenenschaltung mit den Merkmalen aus dem Patentanspruch @ beziehungsweise durch das Verfahren mit den Merkmalen aus dem Patentanspruch 9. Vorteilhafte Weiterbildungen sind jeweils in den zugeordneten Unteransprüchen angegeben.
- Als Ebene oder Substrat wird vorzugsweise eine o; bis o,7 mm dicke Keramikscheibe verwendet, die nach dem CIS-Verfahren (siehe oben) beidseitig stromlos - chemisch metallisiert wurde, wie beispielsweise beschrieben in den DE - PS 20 04 133, 24 53 192, 2453 227, 25 33 524, 22 14 773 und in den DE - OS 26 34 232 und 28 03 782.
- Die Herstellung der Struktur aus einer Leiterschicht, bevorzugt einer Feinstleiterstruktur, kann beispielsweise nach einer Additiv - Methode oder auch nach durchgehender Flächenmetallisierung durch nachfolgende ätztechnische Strukturierung erfolgen. Auf diese Weise sind bekanntermaßen Leiterbahnen von wenigen bis 20 P Dicke und sehr geringer Breite (30 bis 50/Im) herstellbar. Elektrische Widerstände. lassen sich nach der gleichen Methode, zum Beispiel durch Abscheidung von NiP - Schichten haftfest erzeugen und in die Leiterebene integrieren. Festkörperschaltkreise und einzelne aktive oder passive Bauelemente werden am Schluß diskret, zum Beispiel unter Verwendung eines SnPb - Lotes, in die Schaltung eingesetzt. Durchkontaktierungen oder Substratdurchbrüche lassen sich vor dem Brennprozeß der Keramik durch Einstechen oder Stanzen oder nach dem Brennen durch Bohren oder schneiden erzeugen, wobei anschließend auch hier eine chemische Netallisierung der Wandungen, zum Beipiel mit Kupfer, erfolgt.
- Zur Herstellung einer erfindungsgemäßen Nehrebenenschaltung werden zwei oder mehrere solcher Ebenen (bohne diskrete Bauelemente) übereinander Justiert und durch Aufbringen einer wässrigen oder alkoholischen Suspension einer niedrigschmelzenden Glasfritte (Glaslot) in dünnster Schicht voneinander getrennt, also in einem Abstand voneinander gehalten. Diese Fritte kann pastenförmig sein und beispielswiese mittels Siebdruck aufgebracht werden, so daß Durchkontaktierungen (Bohrungen und Lötaugen) frei bleiben.
- Zur stabilen und feuchteunempfindlichen Verbindung Temperatur der Ebenen wird anschließend bei erhöhter/gesintert, beispielsweise bei Verwendung einer SiO2 - armen Bleiboratfritte bei etwa 400 Grad Celsius unter Druckanwendung.
- Auf diese Weise läßt sich eine Mehrebenenschaltung mit hoher Packungsdichte erzeugen, die schockunempfindlich und feuchteresistent und damit über lange Zeiträume funktionsstabil ist. Für weniger anspruchsvolle Ausführungen können bekanntermaßen auch Kleber oder aushärtbare Kunstharze, zum Beispiel auf Epoxidharzbasis verwendet werden. Zu beachten ist ähnlich wie bei Fritten (Glasloten) eine weitgehende Anpassung der thermischen Ausdehnungskoeffizienten der beteiligten Materialen aneinander, beispielsweise durch geeignete Zuschläge wle Kieselgel.
- Eine andere Verfahrensvariante geht von einer beidseitig anodisch-oxidierten AluminiumscFeibe aus, auf die ebenfalls stromles-chemisch Leiterbahnen aufgebracht wurden. Zur Durchkontakierung werden die feinstherstellbar n Bohrungen innen ebenfalls oxidiert und danach metallisiert. Wenn bei dieser Variante ein Masseschluß, also eine elektrische Verbindung mit der Aluminiumscheibe selbst erwünscht ist, kann die Oxidation In der Bchrung entfallen und eine dIrekte Verbindung mit dem Aluminiumsubstrat hergestellt werden. Die stabile mechanische Verbindung mit dem nächsten Substrat (Ebene) der Mehrebenenschaltung kann analog dem vorhergehenden Beispiel mittels einer niedrigschmelzenden Glasf@@t@e erfolgen oder durch ein Gießharz oder einen geeigneten Klebstoff.
- Sollen mehrere Ebenen an verschiedenen Stellen elektrisch leitend miteinander verbunden werden, kann dies durch Letkugeln, zum Beispiel aus CdAg - Lot (95/5) mit einem Arbeitspunkt von 340 bis 395 Grad Celsius geschehen. Diese Kugeln sollen etwas größer als die metallisierten Kontaktlöcher oder Durchkontaktierungen sein und einen Durchmesser on der Dicke der Glaafrittenschicht, also der Zwischenschicht zwischen den Ebenen aufweisen. Sie werden auf die Löcher aufgesetzt und beispielsweise zunächst durch einen Adhäsionskleber befestigt. Danach wird die Zwischenschicht, zum Beispiel Fritte, aufgebracht und die nächste Ebene (Substrat) aufgedrückt. Beim nachfolgenden Sintern bei 00 Grad Celsius zersetzt sich der Kleber, und die Kugel verbindet sich fest mit den Metallringen (Lötaugen oder Durchkontaktierungen) der Leiterbahnen. Zugleich wird die Fritte gesintert und verbindet schockfest die Substrate und passiviert gleichzeitig die Oberflächen der Substrate und der Struktur auf der Leiter- beziehungsweise Widerstandsschicht gegen äußere Einflüsse. Anstelle der Kugeln lassen sich auch andere geometrische Gebilde wie kegelförmig verjüngte Stifte, die in die Durchkontaktierungen ragen, verwenden.
- Auch Lotpasten, die im Siebdruckverfahren auf den staugen und in Durchkontaktierungen auf- gebracht werden, können in vorteilhafter Weise herangezogen werden, wenn die Fritten-oder Glaslotpaste ebenfalls siebgedruckt wird. In diesem Falle ergänzen sich die Siebmasken, was sich hinsichtlich Präzision und Verfahrensvereinfachung günstig auswirkt.
- Bei der Wahl des Lots ist die Art der Verbindungsschicht wischen den einzelnen Ebenen zu berücksichtigen, so daß beispielsweise die Sinterung des Glaslots und das Aufschmelzen des Metallots in einem Arbel tsgsng erfolgen können.
- Im Falle einer Zwischenschicht aus Klebstoff oder Gießharz wird zweckmäßigerweise ein niedrigschmelzendes Lot wie SnB1 mit einem Arbeitspunkt von rund 150 Grad Celsius eingesetzt.
- Eine weitere Alternative zur Realisierung von Durchkontaktierungen innerhalb des Mehrebenensc~altunbsblocks besteht in der Anwendung von Leitklebern, zum Beispiel von Al- oder Ag- gefülltem Epoxidharz - Kleber, der mit Feindosierspritzen und unter Druck selektiv in die Bohrungen eingebracht werden kann.
- Sollen mehrere Ebenen miteinander in der Weise leitend verbunden werden, daß die Durchkontaktierungen zentrisch übereinander liegen, können auch feinste Hülsen oder Drähte als Stifte zur Anwendung kommen oder die durchgehenden Bohrungen der Durchkontaktierungen in bekannter Weise stromlos - chemich oder galvanisch mit Kupfer verstärkt werden, so daß die aufeinanderliegenden Lötaugen zusammenwachsen. Auf diese Weise ist auch eine elektrisch leitende und mechanisch verbindende Leiterbrücke zwischen verschiedenen Ebenen herstellbar.
- Der haupt sächliche Vorteil der erfindunsgemäßen Mehrebenenschaltung wird darin gesehen, daß es damit möglich ist, bisherige Mehrebenenschaltungen von beispielsweise 12 bis 24 Lagen auf die Häalfte bis ein Drittel der Lagen zu reduzieren und damit die Ausfallquote zu erniedringen beziehungsweise die Fertigungsausbeute wesentlich zu steigern. Dies wird unter anderem auch dadurch bewirkt, daß in Gegensatz zu anderen Techniken,wie zum Beispiel der Dickfilmtechnik,von doppelseitig mit Strukturen aus versehenen Substraten Leiter- beziehungsweise Widerstandsschichten / ausgegangen werden kann. Durch Verwendung von Glasfritten als dielektrische Zwischenschlcht kann auch eine weitereVerkapselung der Mehrebenenschaltung entfallen. Das beschriebene Verfahren führt somit zu einer wesentlichen Verbilligung solcher Mehrebenenschaltungen.
Claims (21)
- Patentansprüche init Mehrebenenschaitung mit wenigstens zwei mechanisch L miteinander erbimdenen, übereinander gestapelten F.benen, bestehend jeweils aus einem Substrat mit nichtleitend Oberfläche, auf der sich eine Struktur aus einer Leiter- und/oder Widerstandsschicht befindet, wobei wenigstens zwei Strukturen verschiedener Substrate elektrisch miteinander verbunden sind durch Um - und/oder Durchkontaktierungen, dadurch gekennzeichnet, daß die Ebenen mit einem Abstand voneinander miteinander in nicht zerstörungsfrei lösbarer Weise verbunden sind und zwar - durch eine den Abstand ausfüllende elektrisch isolierende, mechanisch verbindende Zwischenschicht - und/oder durch wenigstens eine, an wenigstens zwei übereinander liegenden Um - beziehungsweise Durch kontaktierungen vorgesehene, elektrisch leitende und mechanisch verbindende Leiterbrücke.
- 2. Mehrebenenschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischenschicht aus einer erstarrten Fritte, insbesondere einer Glasfritte oder einem Glaslot besteht.
- 3. Mehrebenenschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischenschicht aus einem Klebstoff oder aus einem ausgehärteten Kunststoff, insbesondere Kunstharz, besteht.
- 4. Mehrebenenschaltung nach einem vorangehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eine Ebene aus nach dem CMS-Verfahren (Chemisches Metallisierungs-System) metallisierten Substrat aus A1203- Keramik besteht.
- 5. Mehrebenenschaltung nach einem vorangehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eine Ebene aus einer anodisch oxidierten Aluminiumscheibe besteht, und deren Oxidschicht nach dem CMS-Verfahren (Chemisches Metallisierungs-System) naßchemlsch stromlos metallisiert ist.
- 6. Mehrebenenschaltung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eine Ebene beidseitig eine Struktur aus einer Leiter - und/oder Widerstandsschicht aufweist.
- 7. Mehrebenenschaltung nach einem vorangehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiterbricke aus einer Hülse oder einem Stift besteht, die elektrisch leitfähig sind.
- 8. Mehrebenenschaltung nach einem der Anspruche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiterbrücke aus einer erstarrten Metallschmelze besteht.
- 9. Mehrebenenschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiterbrücke aus chemisch oder galvanisch aufgebrachtem Metall besteht.
- 10. Verfahren zur Herstellung einer Uehrebenenschaltung, bei dem Substrate mit nichtleitender Oberfläche jeweils mit einer Struktur aus einer Leiter - und/oder Widerstandsschicht und mit wenigstens einer Um - und/oder Durchkontsktierung versehen werden und zwei Strukturen auf versXhiedenen Substraten über wenigstens eine Um -oder Durchkontaktierung elektrisch miteinander verbunden werden, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen zwei übereinander zu stapelnden Ebenen - eine elektrisch isolierende Zwischenschicht - undZoder wenigstens eine zwischen zwei im Stapel übereinander liegenden m - beziehungsweise Durchkontaktierungen angeordnete, elektrisch leitende teiterbrücke vorgesehen wird, :obeI anschliessend die Zwischenschicht beziehungsweise die Leiterbrücke als auch mechanische und nicht zerstörungsfrei lösbare Verbindung der Ebenen ausgebildet wird.
- 11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischenschicht aufgedruckt wird.
- 12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Ebenen mit einem Abstand voneinander aufgestapelt werden, der durch die Zwischenschicht gehalten wird.
- 13. Verfähren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Ebenen beidseitig eine Struktur aus einer Leiter-und/oder Widerstandsschicht aufweisen.
- 14. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß als Zwischenschicht eine Suspension oder Paste einer Fritte, insbesondere Glasfritte oder Glaslot, auf eine Ebene aufgebracht und nach Abdecken mit einer weiteren Ebene anshließend aufgeschmolzen oder gesintert wird.
- 15. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß als Zwischenschicht ein Klebstoff oder ein aushärtbarer Kunststoff, insbesondere Kunstharz, auf eine Ebene aufgebracht und nach Abdecken mit einer weiteren Ebene anschließend zum Kleben beziehungsweise Aushärten gebracht wird.
- 16. Verfahren nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Abdecken mit einer weiteren Ebene Druck auf diese ausgeübt wird.
- 17. Verfahren nach einem der Anspruche 10 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die nicht zerstörungsfreie,lösbare Verbindung gleichzeitig zwischen mehr als zwei miteinander zu verbindenden Ebenen hergestellt wird.
- 18. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen unmittelbar übereinander- liegenden Durchkontaktierungen verschiedener Ebenen ein Stück Metallot oder Lotpaste angeordnet und nach Zusammenfügen der Ebenen geschmolzen und wieder zur Erstarrung gebracht wird.
- 19. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen unmittelbar übereinanderliegenden DurchRontaktierungen verschiedener Ebenen ein Leitkleber angeordnet und nach dem ZUsammenfügen der Ebenen zum Rleben gebracht wird.
- 20. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß bei mehreren Ebenen mit direkt übereinanderliegenden Durchkontaktierungen in diese eine Hülse oder ein Stift eingebracht wird, die elektrisch leitfähig sind.
- 21. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß,Durch - und/oder Umkontaktierungen verschiedener Ebenen durch eine abschließende stromlos chemische oder galvanische Metallabschei.1ung miteinander leitend verbunden werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823225178 DE3225178A1 (de) | 1982-07-06 | 1982-07-06 | Mehrebenenschaltung und verfahren zu ihrer herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823225178 DE3225178A1 (de) | 1982-07-06 | 1982-07-06 | Mehrebenenschaltung und verfahren zu ihrer herstellung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3225178A1 true DE3225178A1 (de) | 1984-01-12 |
Family
ID=6167713
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19823225178 Ceased DE3225178A1 (de) | 1982-07-06 | 1982-07-06 | Mehrebenenschaltung und verfahren zu ihrer herstellung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3225178A1 (de) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE7806339U1 (de) * | 1978-03-02 | 1978-06-15 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verdrahtungsplatte mit bohrungen zur aufnahme von einpressbaren kontaktteilen |
US4221047A (en) * | 1979-03-23 | 1980-09-09 | International Business Machines Corporation | Multilayered glass-ceramic substrate for mounting of semiconductor device |
DE3035749A1 (de) * | 1980-09-22 | 1982-05-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Waermeableitende leiterplatten |
-
1982
- 1982-07-06 DE DE19823225178 patent/DE3225178A1/de not_active Ceased
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE7806339U1 (de) * | 1978-03-02 | 1978-06-15 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verdrahtungsplatte mit bohrungen zur aufnahme von einpressbaren kontaktteilen |
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Kober,H., Materialprobleme beim Herstellen starr- flexibler Leiterplatten, ELEKTRONIK PRODUKTION & PRÜFTECHNIK, Dez.1981, S.759-763 * |
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