DE3213313C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3213313C2
DE3213313C2 DE3213313A DE3213313A DE3213313C2 DE 3213313 C2 DE3213313 C2 DE 3213313C2 DE 3213313 A DE3213313 A DE 3213313A DE 3213313 A DE3213313 A DE 3213313A DE 3213313 C2 DE3213313 C2 DE 3213313C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
oscillator
output
button
frequency
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3213313A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3213313A1 (de
Inventor
Richard O. Romeo Mich. Us Juengel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Valenite LLC
Original Assignee
GTE Valeron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GTE Valeron Corp filed Critical GTE Valeron Corp
Publication of DE3213313A1 publication Critical patent/DE3213313A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3213313C2 publication Critical patent/DE3213313C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/003Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring position, not involving coordinate determination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2210/00Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/58Wireless transmission of information between a sensor or probe and a control or evaluation unit

Description

Die Erfindung betrifft eine Tasteinrichtung für eine Werk­ zeugmaschine gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Die Tasteinrichtung, von der die Erfindung ausgeht (US 41 18 871), bedient sich eines amplituden- oder frequenz­ modulierten HF-Funksignals zur drahtlosen Übertragung. Ein anderes bekanntes drahtloses Ubertragungssystem (DE 28 41 424) bedient sich eines Tasters, der mit Resonanzfrequenz schwingt, eines Wandlers für die Aufnahme der mechanischen Schwingungen des Tasters und eines Detektorsystems, dessen Ausgangssignal beim Antasten des Tasters entweder über Radiowellen, Lichtwellen oder Ultraschallwellen übertragen wird. Eine derartige Übertragung ist für Tasteinrichtungen, die an Werkzeugmaschinen, also im Fertigungsprozeß Verwen­ dung finden, infolge der dort auftretenden Verunreinigungen durch Späne und Öl störanfällig. Ferner ist es bekannt (US 41 45 816), eine Tasteinrichtung in das Futter einer Werk­ zeugmaschine einzusetzen und das beim Antasten erzeugte Sig­ nal induktiv auf eine stationär angeordnete Aufnahmespule zu übertragen, der eine Detektorschaltung nachgeschaltet ist. Hier sind die Übertragungswege sehr kurz.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Tasteinrich­ tung der eingangs geschilderten Art zu schaffen, die ein hohes Auflösungsvermögen hat und gegen Störungen durch Rau­ schen unempfindlich ist, und die vor allem zur Verwendung im Fertigungsprozeß selbst geeignet ist.
Die genannte Aufgabe ist erfindungsgemäß durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
Die Modulation der Infrarotlichtquellen ermöglicht es, daß der Empfänger in einem großen Abstand zur Tasteinrichtung aufgestellt werden kann und daß auch nicht unmittelbar eine Sichtlinie eingehalten werden muß. Die Signaländerung im Infrarotbereich kann von einem in großem Abstand aufgestell­ ten Empfänger mit hoher Zuverlässigkeit erfaßt werden. Die Signalübertragung ist unbeeinflußt von Licht, das an Ober­ flächen des Werkzeuges, der Werkstücke und der Bearbeitungs­ maschine reflektiert werden kann. Hierzu trägt auch maßgeb­ lich bei, daß die Infrarotlichtquellen einen Abstrahlbereich von 360° aufweisen.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Tasteinrichtung;
Fig. 2 ein Schaltbild der Funktionsblöcke 100 und 200 der Fig. 1;
Fig. 3 ein Schaltbild der Funktionsblöcke 400, 500 und 600 der Fig. 1;
Fig. 4 eine perspektivische Ansicht einer erfindungsge­ mäßen Tasteinrich­ tung.
Bezüglich der Zeichnungen sei bemerkt, daß dieselben Einrichtungen oder Bauteile dieselben Bezugszeichen in allen Figuren tragen, welche diese Einrichtung und Bau­ teile darstellen.
In Fig. 1 erzeugt ein spannungsgeregelter Oszillator 100 ein Wechselspannungssignal mit einer bestimmten Frequenz an einem Ausgang, der über eine Leitung 103 an den Ein­ gang eines Leistungsverstärkers 200 und über eine Leitung 102 an den Steuereingang einer Leuchtdiodenanordnung 600 geführt ist. Falls erforderlich, kann die Frequenz des Ausgangssignals des spannungsgeregelten Oszillators 100 um die gewählte Ausgangsfrequenz in Abhängigkeit vom Spannungspegel eines Signals auf der Leitung 101 ver­ ändert werden, die an einen Frequenzgebereingang des Oszillators 100 geführt ist.
Der Ausgang des Leistungsverstärkers 200 erzeugt ein Tastkopfansteuerungssignal auf einer Leitung 104 für entweder einen induktiven Wandler über eine frei wählbare Überbrückung I oder für einen Wandler mit me­ chanischen Schaltkontakten über eine frei wählbare Über­ brückung II. Das Ausgangssignal des Wandlers gelangt über die Überbrückung I oder II und eine Leitung 307 an einen Eingang des Wechselspannungsverstärkers 400.
Der induktive Wandler ist nicht Gegenstand der Erfindung. Wie aus Fig. 1 hervorgeht, ge­ langt das Tastkopfansteuerungssignal auf der Leitung 104 über die Überbrückung I, die Leitung 301 und eine Ein­ gangswicklung 304 des Ringkerns des Stromtransformators 300 an den Taster 330. Außerdem steht das Ansteuerungs­ signal über die Leitung 302 an einer Seite der Ausgleichs­ wicklung 303 an, von wo es über einen Ausgleichsdrehkon­ densator 320 an Masse geleitet wird. Der Drehkondensator 320 dient zum Annullieren der Auswirkungen von Streukapa­ zitäten auf den Taster 330, in dem er an der Wicklung 303, die im Gegensinne zur Eingangswicklung 304 gewickelt ist, einen Wechselstrom entwickelt. Auf den Ringkern 300 ist auch die Ausgangswicklung 305 gewickelt, zu welcher ein Abstimmkondensator 322 parallel geschaltet ist. Ein Anschluß des Kondensators 322 ist an Bezugsmasse gelegt, während der andere das Ausgangssignal des Wandlers über einen Koppelkondensator 321 und die Überbrückung I über die Leitung 307 an den Eingang des Wechselspannungsver­ stärkers 400 leitet.
Wenn der Taster 330 in Betrieb kein Werkstück berührt, ist der in der Wicklung 304 fließende Strom gleich dem Strom in der Ausgangswicklung 303, wodurch sich eine induzierte Nullspannung an der Ausgangswicklung 305 er­ gibt. Kommt der Taster 330 mit der Werkstückoberfläche in Berührung (oder nähert er sich dieser auf einen vor­ gegebenen Wert an), dann erhöht sich der durch die Ein­ gangswicklung 304 fließende Strom erheblich, wodurch sich ein größerer Spannungsabfall an der Ausgangswicklung 305 ergibt. Der Kontakt des Tasters an einem Werk­ stück muß nicht notwendigerweise absolut fest sein. Selbst wenn keine körperliche Berührung erfolgt, ist ge­ nügend Tastkopfstrom für ein verwendbares Wandlerausgangs­ signal an der Ausgangswicklung 305, wenn die Kapazitäts­ erhöhung zwischen dem Taster 330 und dem Werkstück hin­ reichend groß ist. Um diese Wirkung zu unterstützen, benützt man eine genügend hohe Frequenz, beispielsweise 150 kHz zusammen mit einem verhältnismäßig hoch ver­ stärkten Ansteuerungssignal, beispielsweise in der Größen­ ordnung von 350 VSS. Mit diesem Spannungspegel kann die Erfindung in Werkstätten eingesetzt werden, wo Stoffe wie ein Schneidölfilm zwischen dem Tastkopf und der Werkstück­ oberfläche liegen können.
Wie Fig. 1 zeigt, ist ein Wandler in Form eines mechanischen Schalters unter Verwendung der Überbrückun­ gen II in der Tasteinrichtung vorgesehen. Bei dieser Ausführung wird das Ansteuerungssignal des Tasters auf der Leitung 104 über einen Drehkondensator 310 an die in Reihe geschalteten Ruheschaltkontakte 311A, 311B und 311C des Tasters 311 geleitet. Der Knotenpunkt zwischen Kondensator 310 und Kontakt 311A ist außerdem über die Wahlüberbrückung II und die Leitung 307 an den Eingang des Wechselspannungsverstärkers 400 geführt.
Der Drehkondensator 310 dient dazu, die Ausgangsimpedanz des Leistungsverstärkers 200 an die Ruhekontakte 311A, B und C anzupassen. Diese Impedanzanpassung gestattet einen Stromfluß von verhältnismäßig großer Hochfrequenz durch die Ruhekontakte. Jeder Kontakt der Kontaktanord­ nung, der sich zu öffnen beginnt, bewirkt, daß am Wechselspannungsverstärker 400 eine Ein­ gangsspannung anliegt. Der Kontakt braucht nicht voll zu öffnen, um dieses Ausgangswandlersignal zu erzeugen, und muß lediglich beginnen, einen ansteigenden Widerstand an seinen Kontakten zu zeigen. Die Kontakte 311A, B und C sind mechanisch am Taster 311 in einer Weise angebracht, die nicht in Fig. 1 dargestellt ist. Solche Kontaktanord­ nungen sind jedoch allgemein bekannt und beispielsweise in früheren Patentschriften wie US-Patentschrift 41 38 823 oder 41 53 998 offenbart.
Im Rest der Fig. 1 ist ein Ausgang des Wechselspannungs­ verstärkers 400 über eine Leitung 800 an den Eingang eines Detektors oder Meßkreises 500 geführt, wo das ver­ stärkte Wechselspannungsausgangssignal des Wandlers in ein Anzeigesignal für Meßkopfberührung umgesetzt wird, das auf einer Leitung 900 anliegt. Das Ausgangssignal des Detektors gelangt entweder über die Wahlüberbrückung FM und die Leitung 101 an den frequenzbestimmenden Ein­ gang des spannungsgeregelten Oszillators 100 oder über die Wahlüberbrückung AM und eine Diode 700 an den Steuer­ eingang einer Leuchtdiodenanordnung 600 wobei diese zweite Möglichkeit nicht Gegenstand der Erfindung ist. Der Ausgang des spannungsgeregelten Oszillators 100 wird doppelt ausge­ nützt. Einmal wird dem Leistungsverstärker 200 ein Signal zur Ansteuerung des Tastkopfes eingespeist und zum zwei­ ten ist der Ausgang des Oszillators 100 über die Leitung 102 an den Steuereingang der Leuchtdiodenanordnung 600 geführt, um eine Quelle von Infrarotstrahlung zu steuern, was näher anhand der Beschreibung der Fig. 3 erläutert wird.
Durch Einbau der Überbrückung AM und Entfernung der Über­ brückung FM arbeitet die Einrichtung mit Amplitudenmodu­ lation. Bei dieser wahlweisen Anordnung wird eine Ein- Ausschaltung des Trägersignals geboten, das über die Lei­ tung 102 an der Leuchtdiodenanordnung 600 anliegt. Eine Tastkopfberührung wird Abwesenheit eines solchen Träger­ signals gemeldet, indem ein Anzeigeausgangssignal am Detektorausgang 900 ansteht, das die Diode 700 in Vor­ wärtsrichtung durchsteuert, wodurch das Trägersignal vom Steuereingang an die Leuchtdiodenanordnung 600 abgeleitet wird.
Durch Einbau der Überbrückung FM und Entfernung der Über­ brücker AM kommt Frequenzmodulation zur Anwendung. Bei dieser Anordnung wird das Anzeigesignal am Detektor oder Meßkreisausgang 900 über die Leitung 101 an den frequenz­ bestimmenden Eingang des Oszillators 100 angelegt. Die Tasterberührung kann daher durch eine Frequenzverschie­ bung des Ausgangssignals des Oszillators 100 in einer Größe angezeigt werden, die in Abhängigkeit von den am Detektorausgang 900 anstehenden Spannungspegel festge­ legt wird.
Das von der Leuchtdiodenanordnung 600 abgegebene entste­ hende Infrarotsignal kann durch eine Fotodiode empfangen werden und in gleichwertige elektrische Signale umgesetzt werden, die ihrerseits durch herkömmliche Amplituden- oder Frequenzgleichrichtungsverfahren demoduliert werden können. Eine solche Empfängerschaltung ist in DE 31 33 018 A1 beschrieben.
In Fig. 2 sind die Bauteile des spannungsgeregelten Oszil­ lators 100 und des Leistungsverstärkers 200 in Einzelheiten dargestellt.
Eine Gleichspannungsquelle V1 ist an eine Seite eines Filterwiderstandes 116 sowie über einen Nebenschlußkon­ densators 118 an Masse geführt. Die zweite Seite des Fil­ ter- oder Siebwiderstandes 116 ist gemeinsam an den An­ schlußstift 4 des Oszillators 100, die Kathode einer Zenerdiode 117 und den positiven Anschluß des Filterkon­ densators 115 geführt. Die Anode der Zenerdiode 117 ist an Masse gelegt wie die negative Seite des Kondensators 115 und der Anschlußstift 7 des Oszillators 100. Der fre­ quenzbestimmende Eingang 101 des Oszillators 100 ist über einen Widerstand 110 an den Anschlußstift 2 des Oszilla­ tors geführt, der außerdem über durch den Überbrückungs­ kondensator 111 an Masse geschlossen ist.
Die vom Oszillator 100 erzeugte Mittelfrequenz, d. h. die Frequenz des erzeugten Ausgangssignals in Abwesenheit eines Modulationssignals am Amschlußstift 2 des Oszilla­ tors, wird durch die Schaltung aus Potentiometer 114, Widerstand 113 und Kondensator 112 vorgewählt. Das Po­ tentiometer 114 und der Widerstand 113 sind in Reihe zwi­ schen die Anschlußstifte 5 und 6 des Oszillators 100 ge­ schaltet. Der Stift 8 des Oszillators 100 ist außerdem über den Kondensator 112 an Masse gelegt.
Das Ausgangssignal des Oszillators 100 am Anschlußstift 5 gelangt über einen Widerstand 119 auf die Leitung 102 und über die Leitung 103 an einen Koppelkondensator 202, der den Eingang vom Leistungsverstärker darstellt. Dieser umfaßt hauptsächlich einen MOSFET 201 (Metalloxydhalb­ leiter-Feldeffekttransistor) und seine zugeordneten Bau­ teile zusammen mit einem Oszillatorschwingkreis, bestehend aus einem Kondensator 208 und einer Spule 207, der auf die Mittelfrequenz des Ausgangssignals am Stift 5 des Oszillators 100 abgestimmt ist.
Die andere Seite des Koppelkondensators 202 ist an eine erste Seite eines Koppelwiderstandes 203 sowie an ein Tor des MOSFET 201 geführt.
Die zweite Seite des Koppelwiderstandes 203 ist an Masse gelegt. Eine Quelle des MOSFET 201 ist über eine parallelschaltung mit einem Widerstand 204 und einem Kondensator 205 an Masse geführt. Eine Senke des MOSFET 201 ist an eine Anzapfung der Oszillator­ spule 207 angeschlossen, dessen Außenanschlüsse parallel zu den entsprechenden Anschlüssen des Schwingkreiskonden­ sators 208 geschaltet sind.
Eine Gleichspannungsquelle V1 ist über einen Überbrückungs­ kondensator 208 an Masse und an eine erste Seite des Oszillatorschwingkreises mit dem Kondensator 206 und der Spule 207 geführt. Die zweite Seite des Oszillator­ schwingkreises ist an den Ausgang 104 des Leistungsver­ stärkers 200 über einen Koppelkondensator 209 geführt.
Fig. 3 zeigt die Einzelheiten der Schaltbauteile des Wechselspannungsverstärkers 400, des Detektors 500 und der Leuchtdiodenanordnung 600, die als Funktionsblöcke in Fig. 1 dargestellt sind. Ein Ausgangssignal des Wand­ lers liegt an einem Eingang 307 des Wechselspannungsver­ stärkers 400 an. Der Eingang 307 ist mit dem Knotenpunkt zwischen der einen Seite eines Vorspannungswiderstandes 403 und der Basis eines NPN-Verstärkertransistors 401 verbunden. Ein Kollektor des Transistors 401 ist an den Eingang 800 des Detektors 500, an die zweite Seite des Widerstandes 403 und, über einen Lastwiderstand 404 an die Gleichspannungsquelle V1 geführt. Ein Emitter des Transistors 401 ist über einen Vorspannungswiderstand 402 an Masse gelegt.
Der Eingang 800 des Detektors 500 ist über einen Koppel­ kondensator 510 an die Basis eines NFN-Transistors 501 geführt. Ein Koppelwiderstand 511 ist zwischen die Ba­ sis des Transistors 501 mit Masse geschaltet. Ein Emit­ ter des Transistors 501 ist an Masse gelegt, und ein Kollektor über einen Lastwiderstand 512 an die Gleich­ spannungsquelle V1 geführt. Der Kollektor des Transistors 501 ist außerdem mit einem Knotenpunkt zwischen der er­ sten Seite eines Kondensators 513 und der eines Wider­ standes 514 verbunden. Die zweite Seite des Kondensators 513 ist geerdet.
Die zweite Seite des Widerstandes 514 ist mit einer Ba­ sis eines PNP-Transistors 502 verbunden, dessen Emitter an die Gleichspannungsquelle V1 und dessen Kollektor über die parallelschaltung von Kondensator 516 und Widerstand 517 an Masse geführt ist. Der Widerstand 515 ist zwischen die Basis und den Emitter des Transistors 502 geschaltet.
Der Kollektor des Transistors 502 ist auch an den Ein­ gang eines in Schmitt-Triggerschaltung ausgeführten In­ versionsverstärkers 503 angeschlossen. Der Ausgang des Verstärkers 503 ist mit einem Eingang einer Inversions­ stufe 504 und einem Eingang einer Inversionsstufe 505 verbunden. Ein Ausgang der Inversionsstufe 504 ist mit einer Anode einer Leuchtdiode 506 verbunden. Eine Kathode der Leuchtdiode 506 liegt an Masse. Ein Ausgang der In­ versionsstufe 505 ist an den Detektorausgang 900 geführt, der über die FM-Wahlüberbrückung FM mit der Leitung 10 (Fig. 2) und die Wahlüberbrückung AM mit der Anode eines Stromreglers wie einer Halbleiteriode 700 ver­ bunden ist.
Bei den nach vorstehender Beschreibung geschalteten Bauteilen ist die allgemeine Arbeitsweise des Detektors 500 wie folgt. Wird kein Wandlerausgangssignal vom Ver­ stärker 400 verstärkt, so sperren die Detektortransisto­ ren 501 und 502 normalerweise. Daher ist das Ausgangs­ signal des Schmitt-Triggerverstärkers 503 normalerweise hochpegelig, wodurch sich normalerweise ein niederpege­ liges Ausgangssignal des Detektors am Ausgang 900 ergibt. Liegt ein Wechselspannungsausgangssignal vom Wandler und Verstärker 400 her an, so wird der Transistor 501 des Detek­ tors 500 bei den positiven Spitzen dieses Signals ange­ steuert. Die am Kollektor von 501 entstehenden Impulse werden auf einen praktisch konstanten Gleichspannungs­ pegel durch den Kondensator 513 geglättet, wodurch ge­ nügend Grundenergie zur Ansteuerung des Transistors 502 erzeugt wird. Der durchsteuernde Transistor 502 erzeugt eine positive Eingangsspannung für den Verstärker 503, wodurch dessen Ausgangssignal niederpegelig und der Aus­ gang 900 des Detektors 500 hochpegelig wird. Daher ist ohne das vom Wandler her anliegende Ausgangssignal das Ausgangssignal des Schmitt-Triggerverstärkers 503 hoch­ pegelig (logische Eins), wodurch am Detektorausgang 900 ein logisch niederpegeliges Signal ansteht. Bei Amplitu­ denmodulation spannt dieser Zustand die Diode 700 nega­ tiv (geringer Durchlaß) vor, wodurch das Trägersignal auf der Leitung 102 am Steuereingang der Leuchtdiodenanord­ nung 600 anliegt. Wenn der Wandler die vorgegebene Stel­ lung des Tastkopfes gegenüber dem Werkstück abgreift, wird der Ausgang 900 des Detektors 500 positiv, wodurch die Diode 700 durchsteuert (niedriger Widerstand, hoher Durchlaß) um das Trägersignal von der Leuchtdiodenanord­ nung 600 abzulenken. Außerdem wird bei Erzeugung des An­ zeigesignals mit positiver Anstiegsflanke am Ausgang des Detektors 500 die Leuchtdiode angesteuert, wodurch sie eine Sichtanzeige am Tastkopfmeßkreis oder Detektor lie­ fert, vorausgesetzt, daß der Tastkopf mit dem Werkstück in Berührung steht.
Bei Frequenzmodulation dient das ansteigende Anzeige­ signal am Ausgang 900 des Detektors oder Meßkreises 500 dazu, wie oben erwähnt, die Frequenz des Ausgangssignals des Oszillators 100 zu verändern.
Das Steuereingangssignal der Leuchtdiodenanordnung 500 liegt über die das Trägersignal führende Leitung 102 am Knotenpunkt 620 an und gelangt von dort zu den Eingängen der Inversionsstufen 801 und 802.
Ein Ausgang des NIGHT-Gliedes oder der Inversionsstufe 601 ist über einen Widerstand 610 an ein Tor des MOSFET 605 geführt. Dieses Tor ist auch mit einem Kollektor eines stromregelnden NPN-Transistors 603 verbun­ den, dessen Emitter an Masse gelegt ist. Eine Basis des Transistors 603 ist an eine Quelle des MOSFET 605 geführt sowie an eine Seite eines Steuerstrommeßwiderstandes 612. Die zweite Seite des Widerstandes 612 liegt an Masse. Eine Senke des MOSFET 605 ist mit einer Kathode einer In­ frarot 607A verbunden, welche mit drei weite­ ren Leuchtdioden 607B-D in Reihe geschaltet ist. Eine Anode von 607D ist an die Gleichspannungsquelle V1 an­ geschlossen. Der Transistor 603 dient dazu, einen im wesentlichen konstanten Steuerstrom über den MOSFET 605 für die Leuchtdioden 607A-D auf einen für diesen Dioden optimalen Betriebspegel aufrecht zu erhalten.
Eine mit der des MOSFET 805 identische Schaltung ist zwi­ schen einen Ausgang der Inversionsstufe 602 und vier in Reihe geschaltete Infrarotleuchtdioden 608A-D gelegt. Daraus geht hervor, daß der Knotenpunkt 620 an so viele Inversionsstufeneingänge verzweigt werden kann, wie er­ forderlich ist, um die gewünschte Gesamtzahl von Leucht­ dioden zu versorgen, die in in Reihe geschalteten Vierer­ gruppen angesteuert werden.
Fig. 4 ist eine perspektivische Ansicht eines Gehäuses 10 für einen Taster 330 der Fig. 1. Das Gehäuse 10 enthält die gesamte anhand der Fig. 1-3 be­ schriebene Einrichtung. Die Infrarotleuchtdioden der Fig. 3 sind in Fig. 4 kreisförmig angeordnet (607, 608) und auf einer im wesentlichen zylinderförmigen Außenfläche 12 des Gehäuses montiert, wo sie infrarote Strahlung über 360° aussenden können. Auf der Gegenseite des Gehäuses für das Montageende des Tasters ist ein Adapter oder Anschlußstück 14 vorgesehen. Damit kann das Gehäuse 10 an ein numerisch gesteuertes Bearbeitungszentrum wie ein normaler Fräser oder ein normales Schneidwerkzeug ange­ schlossen werden. Das Gehäuse 10 kann auch von Hand be­ dient werden oder mit einem Anschlußstück versehen sein, womit es durch den Greifer eines Automaten wie eines In­ dustrieroboters bedient werden kann. Die Leuchtdiode 508 der Fig. 3 würde natürlich auch an einer richtigen Stelle auf der Außenfläche des Gehäuses 10 montiert sein.
Ein Beispiel für den Einsatz der Tasteneinrichtung ist eine numerisch gesteuerte Werkzeugmaschine, die sowohl mit Amplituden- als auch mit Frequenzmodulation arbeiten könnte. Beispielsweise könnte die Tastenbe­ rührung mit einem Werkstück durch frequenzmodulierte Infrarotstrahlung gemeldet werden, während ein Sicher­ heitsendschalter dazu eingesetzt werden könnte, das Trägersignal vollständig abzuschalten, wenn ein Über­ fahren angezeigt wird, das den Taster betätigen könnte. Das Abschalten des Trägersignals könnte wiederum bewirken, daß die Maschinenspindel anhält. Diese Wirkung könnte auch zum Anhalten der Maschine verwendet werden, falls ein Fehler des Infrarotgebers oder -empfängers während eines Meßganges der Werkzeugmaschine auftritt.

Claims (3)

1. Tasteinrichtung für eine Werkzeugmaschine mit einem an einem Oszillator zum Erzeugen eines Wechselspannungssignals angeschlossenen und mit einem Taster verbundenen Wandler, dessen elektrisches Ausgangssignal moduliert wird, wenn Kontakt zwischen dem Taster und einem Werkstück erfolgt, wobei das Wandlerausgangssignal drahtlos von einem Sender zu einem Empfänger übertragen wird und Taster, Oszillator, Wandler und Sender in einem gemeinsamen Gehäuse angeordnet sind, das in die Werkzeugmaschine einsetzbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Wandler mehrere an den Oszillator (100) angeschlossene und von dem Taster (311) betätigte elektrische Kontakte (311A-311C) aufweist, von denen mindestens einer beim Antasten des Werkstückes durch den Taster öffnet und damit die Frequenz des Oszillators ver­ ändert, und daß der Ausgang des Wandlers an mehrere einen 360° Abstrahlbereich überdeckende Infrarot-Lichtquellen (607, 608) angeschlossen ist, deren Abstrahlfrequenz abhän­ gig von der Veränderung der Oszillatorfrequenz moduliert wird.
2. Tasteinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die Kontakte (311A-311C) in Reihe geschaltet sind und zwischen einem Bezugsspannungspotential einerseits und dem Oszillator (100) sowie dem Eingang (800) eines Detektors (500) andererseits geschaltet sind.
3. Tasteinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich­ net, daß der Oszillator (100) einen frequenzbestimmenden Eingang (101) aufweist, der mit dem Ausgang (900) des Detek­ tors (500) verbunden ist und daß der Ausgang des Oszillators (100) mit dem Steuereingang (620) der Infrarot-Lichtquellen verbunden ist, und beim Antasten des Tasters die Oszillator­ frequenz umschaltbar ist.
DE19823213313 1981-04-30 1982-04-08 Stellungsmesstastkopf Granted DE3213313A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/259,257 US4401945A (en) 1981-04-30 1981-04-30 Apparatus for detecting the position of a probe relative to a workpiece

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3213313A1 DE3213313A1 (de) 1982-11-18
DE3213313C2 true DE3213313C2 (de) 1993-01-21

Family

ID=22984216

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19823213313 Granted DE3213313A1 (de) 1981-04-30 1982-04-08 Stellungsmesstastkopf

Country Status (12)

Country Link
US (2) US4401945A (de)
JP (1) JPS57182602A (de)
AU (1) AU559784B2 (de)
BE (1) BE892971A (de)
BR (1) BR8202477A (de)
CA (1) CA1172334A (de)
DE (1) DE3213313A1 (de)
FR (1) FR2505040B1 (de)
GB (1) GB2097930B (de)
IT (1) IT1147865B (de)
MX (1) MX151356A (de)
SE (1) SE8202683L (de)

Families Citing this family (71)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57113116A (en) * 1980-12-30 1982-07-14 Fanuc Ltd Robot control system
JPS57113115A (en) * 1980-12-30 1982-07-14 Fanuc Ltd Robot control system
US4978857A (en) * 1981-04-30 1990-12-18 Gte Valenite Corporation Optical data system having flash/receiver head for energizing/receiving information from a battery operated transmitter
US4401945A (en) * 1981-04-30 1983-08-30 The Valeron Corporation Apparatus for detecting the position of a probe relative to a workpiece
US4779319A (en) * 1981-04-30 1988-10-25 Gte Valeron Corporation Method and apparatus for performing workpiece inspection with a probe
US4670989A (en) * 1981-04-30 1987-06-09 Gte Valeron Corporation Touch probe using microwave transmission
US5065035A (en) * 1981-04-30 1991-11-12 Gte Valenite Corporation Optical data system having flash/receiver head for energizing/receiving information from a battery operated transmitter
US4510693A (en) * 1982-06-14 1985-04-16 Gte Valeron Corporation Probe with stylus adjustment
US4509266A (en) * 1982-06-14 1985-04-09 Gte Valeron Corporation Touch probe
US4454762A (en) * 1982-06-21 1984-06-19 Federal Products Corporation Measurement system with remote display
US4608763A (en) * 1983-06-14 1986-09-02 Gte Valeron Corporation Probe
US4543859A (en) * 1983-06-14 1985-10-01 Gte Valeron Corporation Probe adjustment tool and method of using same
AU555481B2 (en) * 1983-06-14 1986-09-25 Gte Valeron Corp. Remote measuring apparatus
US4553001A (en) * 1983-12-05 1985-11-12 Gte Valeron Corporation Touch probe having nonconductive contact carriers
US4523063A (en) * 1983-12-05 1985-06-11 Gte Valeron Corporation Touch probe having nonconductive contact carriers
US4627292A (en) * 1984-07-03 1986-12-09 Randek Inc. AC transducers, methods and systems
US4651074A (en) * 1984-12-04 1987-03-17 Wise James A Robotic sensor
JPS61214953A (ja) * 1985-03-15 1986-09-24 Dai Showa Seiki Kk 工具とワ−クの接触検知装置
US4683361A (en) * 1985-04-04 1987-07-28 Westinghouse Electric Corp. Brazing apparatus having a dual function heating and eddy current probe coil
US4693110A (en) * 1985-06-06 1987-09-15 Gte Valeron Corporation Method and apparatus for testing the operability of a probe
US4843640A (en) * 1986-04-24 1989-06-27 Gte Valeron Corporation Industrial identification transponder
JPH0765883B2 (ja) * 1986-06-05 1995-07-19 宣夫 福久 無線送受信器を有する位置検出装置
US4804896A (en) * 1987-09-30 1989-02-14 University Of Lowell Vibratory interference sensor
US4972155A (en) * 1988-11-29 1990-11-20 Dickey-John Corporation Weight responsive moisture tester
AU664722B2 (en) * 1991-11-29 1995-11-30 H.P.M. Industries Pty Limited Apparatus for determining the relative positions of power outlets within an electrical circuit
US6380751B2 (en) 1992-06-11 2002-04-30 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe station having environment control enclosure
US5345170A (en) 1992-06-11 1994-09-06 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe station having integrated guarding, Kelvin connection and shielding systems
US5561377A (en) 1995-04-14 1996-10-01 Cascade Microtech, Inc. System for evaluating probing networks
DE19547977A1 (de) 1995-12-21 1997-06-26 Zeiss Carl Fa Tastsystem für Koordinatenmeßgeräte
US5914613A (en) 1996-08-08 1999-06-22 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system with local contact scrub
US6002263A (en) 1997-06-06 1999-12-14 Cascade Microtech, Inc. Probe station having inner and outer shielding
US6256882B1 (en) 1998-07-14 2001-07-10 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
GB9826093D0 (en) * 1998-11-28 1999-01-20 Limited Locating arm for a probe on a coordinate positioning machine
US6578264B1 (en) 1999-06-04 2003-06-17 Cascade Microtech, Inc. Method for constructing a membrane probe using a depression
US6445202B1 (en) 1999-06-30 2002-09-03 Cascade Microtech, Inc. Probe station thermal chuck with shielding for capacitive current
US6838890B2 (en) 2000-02-25 2005-01-04 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US6965226B2 (en) 2000-09-05 2005-11-15 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US6914423B2 (en) 2000-09-05 2005-07-05 Cascade Microtech, Inc. Probe station
DE10143173A1 (de) 2000-12-04 2002-06-06 Cascade Microtech Inc Wafersonde
US6970634B2 (en) * 2001-05-04 2005-11-29 Cascade Microtech, Inc. Fiber optic wafer probe
AU2002327490A1 (en) 2001-08-21 2003-06-30 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US6777964B2 (en) 2002-01-25 2004-08-17 Cascade Microtech, Inc. Probe station
TW567333B (en) * 2002-09-20 2003-12-21 Benq Corp Method for phase matching by detecting magnetic flux
US6847219B1 (en) 2002-11-08 2005-01-25 Cascade Microtech, Inc. Probe station with low noise characteristics
US7250779B2 (en) 2002-11-25 2007-07-31 Cascade Microtech, Inc. Probe station with low inductance path
US6861856B2 (en) 2002-12-13 2005-03-01 Cascade Microtech, Inc. Guarded tub enclosure
DE10312884B4 (de) * 2003-03-22 2014-02-27 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Tastsystem
US7221172B2 (en) 2003-05-06 2007-05-22 Cascade Microtech, Inc. Switched suspended conductor and connection
US7057404B2 (en) 2003-05-23 2006-06-06 Sharp Laboratories Of America, Inc. Shielded probe for testing a device under test
US7492172B2 (en) 2003-05-23 2009-02-17 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US7250626B2 (en) 2003-10-22 2007-07-31 Cascade Microtech, Inc. Probe testing structure
US7187188B2 (en) 2003-12-24 2007-03-06 Cascade Microtech, Inc. Chuck with integrated wafer support
KR20060126700A (ko) 2003-12-24 2006-12-08 캐스케이드 마이크로테크 인코포레이티드 능동 웨이퍼 프로브
ITBO20040182A1 (it) * 2004-04-01 2004-07-01 Marposs Spa Sistema e metodo per il controllo di pezzi meccanici, con trasmissioni di segnali via etere
JP4324012B2 (ja) * 2004-05-20 2009-09-02 日立オムロンターミナルソリューションズ株式会社 変位検知装置および変位検知方法
US7176705B2 (en) 2004-06-07 2007-02-13 Cascade Microtech, Inc. Thermal optical chuck
US7330041B2 (en) 2004-06-14 2008-02-12 Cascade Microtech, Inc. Localizing a temperature of a device for testing
KR101157449B1 (ko) 2004-07-07 2012-06-22 캐스케이드 마이크로테크 인코포레이티드 멤브레인 서스펜디드 프로브를 구비한 프로브 헤드
KR20070058522A (ko) 2004-09-13 2007-06-08 캐스케이드 마이크로테크 인코포레이티드 양측 프루빙 구조
US7316313B1 (en) * 2004-10-15 2008-01-08 Juchau Jason R Heated equipment bag
US7535247B2 (en) 2005-01-31 2009-05-19 Cascade Microtech, Inc. Interface for testing semiconductors
US7656172B2 (en) 2005-01-31 2010-02-02 Cascade Microtech, Inc. System for testing semiconductors
DE102005037101A1 (de) * 2005-08-03 2007-02-08 Krones Ag Verfahren und Vorrichtung zur Wandstärkenkontrolle
US7764072B2 (en) 2006-06-12 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Differential signal probing system
US7723999B2 (en) 2006-06-12 2010-05-25 Cascade Microtech, Inc. Calibration structures for differential signal probing
US7403028B2 (en) 2006-06-12 2008-07-22 Cascade Microtech, Inc. Test structure and probe for differential signals
US7876114B2 (en) 2007-08-08 2011-01-25 Cascade Microtech, Inc. Differential waveguide probe
US7888957B2 (en) 2008-10-06 2011-02-15 Cascade Microtech, Inc. Probing apparatus with impedance optimized interface
WO2010059247A2 (en) 2008-11-21 2010-05-27 Cascade Microtech, Inc. Replaceable coupon for a probing apparatus
US8319503B2 (en) 2008-11-24 2012-11-27 Cascade Microtech, Inc. Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test
CN112431299A (zh) * 2020-11-11 2021-03-02 刘战军 一种水管爆裂应急排水装置

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US30975A (en) * 1860-12-18 Wrench
US2508051A (en) * 1944-05-26 1950-05-16 Charles W Warren Tolerance-limit comparator gauge
DE1031976B (de) * 1955-12-27 1958-06-12 Dr Felix Ernest Planer Vorrichtung zur elektrischen Bestimmung der geometrischen Ausgestaltung von isolierten Leitern
US3488586A (en) * 1965-06-02 1970-01-06 Gen Electric Frequency modulated light coupled data link
US3670243A (en) * 1970-02-27 1972-06-13 Federal Prod Corp Physical displacement measuring system utilizing impedance changing the frequency of an oscillatory circuit
US3795054A (en) * 1970-08-13 1974-03-05 American Welding Mfg Co Method and apparatus for calibrating the position of a tool and for gauging the dimension of a workpiece
US3783340A (en) * 1972-09-07 1974-01-01 Biotek Instr Inc Ground safe system
US4153998A (en) * 1972-09-21 1979-05-15 Rolls-Royce (1971) Limited Probes
US3855708A (en) * 1972-10-16 1974-12-24 Candid Logic Inc Self-actuated digital location sensor
DE2403402B1 (de) * 1974-01-22 1975-03-13 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Anordnung zum Überwachen von Meßwertgebern und deren Zuleitungen auf Leitungsbrüche
US3962911A (en) * 1974-11-21 1976-06-15 Beloit Corporation Method and apparatus for coupling signals from a rotating device with end shafts exposed
US4130941A (en) * 1975-03-20 1978-12-26 Rolls-Royce Limited Displacement gauge
US4119948A (en) * 1976-04-29 1978-10-10 Ernest Michael Ward Remote meter reading system
JPS5628984Y2 (de) * 1976-05-29 1981-07-10
US4197530A (en) * 1977-02-09 1980-04-08 Laue Eric G Passive intrusion detection system
US4150284A (en) * 1977-04-28 1979-04-17 Texas Instruments Incorporated Medical patient condition monitoring system
JPS53141717A (en) * 1977-05-13 1978-12-09 Suwa Seikosha Kk Dot printer head structure
DE2742899C3 (de) * 1977-09-23 1980-06-12 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Anordnung zur optischen Übertragung von Nachrichten
CH628137A5 (fr) * 1977-09-27 1982-02-15 Meseltron Sa Procede de mesure a l'aide d'une tete de mesure d'une machine a mesurer et tete de mesure pour la mise en oeuvre de ce procede.
GB2007355B (en) * 1977-10-29 1982-08-18 Lucas Industries Ltd Apparatus for transmitting electrical signals
US4145816A (en) * 1977-11-21 1979-03-27 Kearney & Trecker Corporation Spindle probe with orbital transformer
USRE30975E (en) 1977-11-21 1982-06-22 Kearney & Trecker Corporation Spindle probe with orbital transformer
US4118871A (en) * 1978-06-13 1978-10-10 Kearney & Trecker Corporation Binary inspection probe for numerically controlled machine tools
US4339714A (en) * 1978-07-07 1982-07-13 Rolls Royce Limited Probe having passive means transmitting an output signal by reactive coupling
SE413808B (sv) * 1978-09-22 1980-06-23 Asea Ab Metdon for overforing av metsignaler via en optisk lenk
US4259746A (en) * 1979-10-26 1981-03-31 Sandstedt Gary O Electrical communications system
US4443946A (en) * 1980-07-01 1984-04-24 Renishaw Electrical Limited Probe for measuring workpieces
US4328623A (en) * 1980-08-28 1982-05-11 The Valeron Corporation Telemetry gage system
US4330870A (en) * 1980-09-05 1982-05-18 Datapoint Corporation Optical data link
US4401945A (en) * 1981-04-30 1983-08-30 The Valeron Corporation Apparatus for detecting the position of a probe relative to a workpiece
US4451987A (en) * 1982-06-14 1984-06-05 The Valeron Corporation Touch probe

Also Published As

Publication number Publication date
MX151356A (es) 1984-11-12
CA1172334A (en) 1984-08-07
JPH0432321B2 (de) 1992-05-29
FR2505040B1 (fr) 1986-04-18
JPS57182602A (en) 1982-11-10
IT1147865B (it) 1986-11-26
BR8202477A (pt) 1983-04-12
DE3213313A1 (de) 1982-11-18
BE892971A (fr) 1982-08-16
AU559784B2 (en) 1987-03-19
GB2097930B (en) 1985-01-23
GB2097930A (en) 1982-11-10
SE8202683L (sv) 1982-10-31
FR2505040A1 (fr) 1982-11-05
AU8282282A (en) 1982-11-04
US4578874A (en) 1986-04-01
IT8248308A0 (it) 1982-04-29
US4401945A (en) 1983-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3213313C2 (de)
DE3038538C2 (de) Batterieladevorrichtung
DE60004991T2 (de) System zur feststellung der linearen dimensionen von mechanischen werkstücken mit einheiten zur übertragung von kabellosen signalen
DE4002356C1 (de)
DE3028751C2 (de) Einrichtung zum Senden und Empfangen eines modulierten Signals
DE3422181C2 (de)
DE3133018A1 (de) Telemetrisches messsystem
DE4103234C2 (de) Verfahren und Leitungssucher zum berührungslosen Suchen und Identifizieren von elektrischen Leitungen
EP1989521B1 (de) Schaltungsanordnung bzw. verfahren zur funktionsüberwachung eines vibrations-grenzschalters und/oder einer füllstand-messvorrichtung
EP0005791A1 (de) Ablagevorrichtung für zahnärztliche Handstücke
DE3044979A1 (de) Eigengeschuetzte instrumentierungsanordnung
DE2906492C2 (de) Signalverarbeitungsschaltung für ein Tonfrequenzsignal und ein Abstimmanzeige-Steuersignal
DE3503885A1 (de) Sender/empfaenger
EP1385266A1 (de) Mikrowellen-Pulsgenerator
DE3034148A1 (de) Ueberwachungsschaltung, insbesondere fuer den reifendruck von kraftfahrzeugen
DE102010002201A1 (de) Induktiver Näherungsschalter
DE3148552A1 (de) "vorrichtung zur meldung einer uebertemperatur an einem waehrend der fahrt rotierenden teil eines kraftfahrzeuges"
DE2833281C2 (de)
DE102015117246A1 (de) Lichtleiteranordnung zur optischen Tropfendetektion
DE2614359C3 (de) Optoelektronische Zweiwegekopplung
DE102011075175A1 (de) Signalübertragungsanordnung mit einem Transformator
DE2257689B2 (de) Gerat zur Suche von je ein gleiches Gerat tragenden verschütteten Personen
DE3131490C2 (de)
DE3340611A1 (de) Elektronischer relaisschalter
DE2827868A1 (de) Triggerverstaerker

Legal Events

Date Code Title Description
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: GTE VALERON CORP. (EINE GESELLSCHAFT N.D.GES.D. ST

8110 Request for examination paragraph 44
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: GTE VALENITE CORP. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE), T

8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: HAUCK, H., DIPL.-ING. DIPL.-WIRTSCH.-ING., 8000 MU

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee