DE3144040C2 - - Google Patents

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DE3144040C2
DE3144040C2 DE3144040A DE3144040A DE3144040C2 DE 3144040 C2 DE3144040 C2 DE 3144040C2 DE 3144040 A DE3144040 A DE 3144040A DE 3144040 A DE3144040 A DE 3144040A DE 3144040 C2 DE3144040 C2 DE 3144040C2
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DE3144040A
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Miklos Dipl.-Ing. Bogdany
Csaba Csaszar
Andras Dipl.-Ing. Fekete
Istvan Dipl.-Ing. Szemok
Peter Dipl.-Ing. Budapest Hu Walny
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ELEKTRONIKUS MEROEKESZUELEKEK GYARA BUDAPEST HU
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ELEKTRONIKUS MEROEKESZUELEKEK GYARA BUDAPEST HU
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601Apparatus or methods therefor

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