DE3128091C2 - Schaltvorrichtung zum Entladen einer Kapazität - Google Patents
Schaltvorrichtung zum Entladen einer KapazitätInfo
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- 238000007599 discharging Methods 0.000 title 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 34
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 23
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 15
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 3
- 101150110946 gatC gene Proteins 0.000 claims 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/10—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
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- H01L27/1055—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration including field-effect components comprising charge coupled devices of the so-called bucket brigade type
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
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Abstract
MOS-Schalter, insbesondere für eine Kamera, mit dem innerhalb der Zeilenrücklaufzeit das ganze optisch erzeugte Signal dadurch übertragen werden kann, daß periodisch eine feste Ladungsmenge von Drain auf Source rückübertragen wird.
Description
Die Erfindung be/ichi sich auf eine Halblcitcranord-
nung entsprechend dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1. wie sie aus IEEE Electron Device Letters,
EDL-I, Nr. 5(1980), S.86-88 bekannt ist.
Derartige Halbleiteranordnungen werden insbesondere in Aufnahmekameras verwendet, bei denen das
aufzunehmende Bild in einer photoempfindlichen Schicht in ein Muster von Ladungspaketen Q5 umgewandelt
wird, die über verhältnismäßig lange Signalleitungen auf ein Ausleseglied übertragen werden. Eine
derartige Kamera ist unter anderem in der DE-PS 27 04 193 der Anmelderin beschrieben. Die photoempfindliche
Auftreff platte in dieser Anordnung ist auf einer Seite für das aufzunehmende Bild zugänglich und ist auf
der anderen Seite mit einer Anzahl sich in der Spaltenrichtung erstreckender Signalstreifen versehen. Ober
durch Feldeffekttransistoren gebildete Schalter sind die Signalstreifen mit einem waagerechten Ausleseregister
in Form eines Ladungsübertragungsregisters, z. B. einer Eimerketlenspeicheranordnung (BBD) oder einer ladungsgekoppelten
Anordnung (CCD) gekoppelt.
Die Übertragung der Signalladungen Q, von den Signalstreifen
auf das Ausleseregister kann in einem beschränkten Zeitintervall T. vorzugsweise während der
Zeilenrücklaufzeit stattfinden. Ein besonderer Wert für dieses Zeitintervaii bcrrägi !0 jisec.
Die üblichen Feldeffekttransistoren weisen bei den auftretenden Strömen im allgemeinen eine annähernd
exponentiell /- V^-Kennimie auf, wobei / den Strom
durch den Transistor und V4n die Spannung zwischen
der Gate-Elektrode und der Source-Zone darstellen. Wenn daher in dem Fall, daß die Transistoren eine
Schwellwertspannung V,h = 0 aufweisen, V^5 kleiner
wird, wird der Strom exponentiell nach Null gehen. Dies hat zur Folge, daß die Übertragung der Ladungspakete
(?i immer träger vor sich geht, weil während der Übertragung
sich die Spannung der Source-Zone und damit auch V^ ändert. Da das Zeitintervall, das für die Übertragung
von Ladung zur Verfügung steht, endlich ist, wird daher stets Ladung auf den Signalstreifen zurückbleiben.
Diese Ladung und daher das Potential der Signalsireifcn ist von der Größe des Signals abhängig. Bei
konstanter Belichtung über das ganze Bild werden sich die .Signalstreifen auf ein Potential Us° einstellen, das
derart ist. daß jedes Signalpaket Qs°, dem Potential LV
überlagert, innerhalb des Zeitintervalls Γ völlig übertragen wird. Bei einem schroffen Sprung in dem Bild, ζ. Β.
zwischen einem Gebiet geringer Intensität und einem Gebiet hoher Intensität, werden die Signalstreifen erst
nach einer Anzahl von Zeilen das neue Gleichgewichtspotential erreichen. Diese Anzahl hängt im allgemeinen
von der Größe der Signale ab, aber wird insbesondere größer, je kleiner die Signale sind, und kann in besonderen
Ausführungsformen sogar eine Größenordnung von 25 erreichen. Dadurch kann im aufgenommenen Bild bei
dessen Wiedergabe auf z. B. einem Fernsehbildschirm vor allem bei niedriger Lichtintensität eine große Unscharfe
zwischen Zeilen verschiedener Intensität eingeführt werden.
Die Tatsache, daß die Gleichgewichtsspannung LV
der Signalstreifen von der Größe der Ladung Qs und
somit von der Lichtintensität abhängt, kann, wie gefunden wurde, auch in waagerechter Richtung eine Unscharfe
infolge eines Übersprechens zwischen benachbarten Signalstreifen über Streukapazitäten herbeiführen.
Auch wenn andere photoempfindliche Auftreffplatten als die obenbeschriebenen verwendet werden, können
infolge der exponentiellen /-V^-Kennlinie und der damit zusammenhängenden unvollständigen Ladungsübertragung
sich ähnliche Probleme ergeben, wie z. B. bei Bildaufnahmevorrichtungen, in denen die photoempfindlichen
Zellen je eine Photodiode und einen Feldeffekttransistor zum Selektieren und Auslesen der
Zelle enthalten. Auch in Biidaufnahmevorrichtungen dieser Art können sich Probleme in bezug auf Unscharfe
infolge unvollständiger und signalabhängiger Signaliadungen, wie oben beschrieben, ergeben.
Außerdem ist die Weise, in der die Signalladungen Q5.
die in Bildsensoren durch Erzeugung von Ladung infolge von Absorption von Strahlung entstehen, gebildet
werden, für die Erfindung nicht wesentlich und daher könnte die Erfindung außer in Kameras auch mit Vorteil
in Vorrichtungen anderer Art angewandt werden, in denen in einem verhältnismäßig kleinen Zeitintervall Signalladungen
von einem ersten Kondensator auf einen zweiten Kondensator übertragen werden müssen. Auch
können die beschriebenen Probleme bei Anwendung anderer Schalter als Feldeffekttransistoren mit isolierter
Gate-Elektrode auftreten, so daß die Erfindung nicht
auf diese Feldeffekttransistoren beschränkt werden soll. Es sei noch bemerkt, daß in der DE-OS 26 42 209
beschrieben ist, wie in einem Bildsensor sogenannte »Nachläufer«, die nicht in 10 μ5 übertragen sind, abgeführt
werden können, um so ein Verschmieren des Bildes zu vermeiden. Die gegebene Lösung kann jedoch zu
unerwünschten Sigr.aiveriusten führen.
Weiter ist aus der DE-OS 26 06 308 ein xy-Sensor bekannt, bei dem die Ladung dadurch verlustlos über Ausleseleitungen transportiert wird, daß eine MOS-Leitung verwendet wird, an deren Ende unterschiedliche Potentiale angelegt werden. Eine solche Lösung ist jedoch nicht immer anwendbar.
Weiter ist aus der DE-OS 26 06 308 ein xy-Sensor bekannt, bei dem die Ladung dadurch verlustlos über Ausleseleitungen transportiert wird, daß eine MOS-Leitung verwendet wird, an deren Ende unterschiedliche Potentiale angelegt werden. Eine solche Lösung ist jedoch nicht immer anwendbar.
Die Erfindung hat die Aufgabe, eine Feldeffektanordnung anzugeben, mit der eine Signalladung Q5 innerhalb
eines vorher bestimmten Zeitintervalls Γ völlig übertragen werden kann, wobei das Potential des ersten Kondensators
nach Übertragung von Qs grundsätzlich ganz signalunabhängig ist.
Die genannte Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 gekennzeichnete Erfindung gelöst.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Einige Ausführungsformen der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher
beschrieben. Es zeigt
F i g. 1 schematisch eine Bildaufnahmevorrichtung mit Schaltern nach der Erfindung,
Fig.2 und 5 Spannungssignale, die beim Betrieb in
einer Vorrichtung nach F i g. 1 auftreten,
F i g. 3 schematisch eine MOS-Kennlinie.
Fig.4 einen Querschnitt durch eine Halbleiteranordnung nach der Erfindung,
F i g. 3 schematisch eine MOS-Kennlinie.
Fig.4 einen Querschnitt durch eine Halbleiteranordnung nach der Erfindung,
F i g. 6 Potentialprofile, die beim Betrieb in der Vorrichtung nach F i g. 4 auftreten, und
Fig. 7 schematisch eine zweite Bildaufnahmei'orrichtung
nach der Erfindung.
F i g. 1 zeigt ein Schaltbild einer Bildaufnahmevorrichtung, die, mit Ausnahme der Schalter 17Ί, 17'2, \7'i
in der bereits genannten DE-PS 27 04 193 im Namen der Anmelderin, beschrieben ist.
Die Vorrichtung enthält ein zweidimensionales Muster photoempfindlicher Elemente 41n, 4Ii2, 41n, 4I22,
4I32 usw. in einer photoempfindlichen Auftreffplatte 5.
Diese Elemente sind schematisch durch Kondensatoren dargestellt.Die Auftreffplatte 5 ist derart in einer Aufnahmeröhre
montiert, daß die Rückseite der Auftreff-
31
28 091
platte von einem Elektronenstrahl 6 abgetastet werdon
kann und daß die Vorderseite für einfallende Strahlung Li, Li, Li usw. zugänglich ist.
Die Vorderseite der Auftreffplatte 5 ist mit Signalelektrodenstreifen
4|, 42, 43 versehen, von denen in der
Zeichnung drei dargestellt sind, aber deren tatsächliche Anzahl in praktischen Beispielen einige Hundert betragen
kann. Die Signalstreifen 4i, 42, 4j, die spaltenweise
mit den Elementen 41n, 41]2, 4I22 usw. gekoppelt sind,
sind über die Schalter 17'j, 17'2,17'3 mit dem Schieberegister
19' verbunden, das im dargestellten Ausführungsbeispiel aus einem Eimerkettenspeicher (BBD) besteht,
aber z. B. auch eine CCD enthalten könnte. Die Ausgangsstufe des Eimerkettenregisters wird durch eine
Source-Folgerschaltung mit einem Feldeffekttransistor 62 und einer Ausgangsklemme 20 gebildet.
Die Transistoren 50, 52, 54, 56, 58 und 61 des Registers 19' sind, gleich wie der Transistor 62, hier beispielsweise
vom n-Kanal-Typ.
Die Gate-Elektroden der Transistoren des Eimerkettenregisters
sind wechselweise mit den Taktleitungen S$ und 56 und über diese Taktleitungen mit der Taktspannungsquelle
21' verbunden. Das Register 19' ist außerdem mit einer Anzahl von Paralleleingängen 18), IS2,18j
usw., versehen, die über die Schaltvorrichtungen 17Ί, 17'2,17'j usw. mit den Signalelektrodenstreifen 4|, 42,43
usw. verbunden werden können.
Die Bildinformation, die in der photoempfindlichen Auftreffplatte erzeugt wird, kann über die Streifen 4
und die Schaller 17' in den Kondensatoren 53,57 und 60
des Eimerkettenregisters geschoben werden.
Die Vorrichtung der hier beschriebenen Art unterscheidet sich im wesentlichen nur durch die Schalter 17'
von der in der oben genannten DE-PS 27 04 193 beschriebenen Vorrichtung, in der die Schaltvorrichtungen
durch übliche Feldeffekttransistoren mit isolierter Gate-Elektrode gebildet werden.
Für eine detailliertere Beschreibung der Bauart und der Wirkung der Kamera sei daher auf diese Patentschrift
verwiesen.
Hier werden im wesentlichen nur diejenigen Elemente genannt, die für eine deutliche Beschreibung der Erfindung
unentbehrlich sind.
In Fig.2 sind die Amplituden der Signale S\ bis Si2
und des Bildsignals PS, wie sie in der bekannten Vorrichtung auftreten, als Funktion der Zeit t dargestellt.
Mittels des Elektronenstrahls 6 wird die Rückseite der Auftreffplatte 5 auf die Spannung Uc (z. B. —5 V)
aufgeladen. In F i g. 2 bezeichnet A das Steuersignal, das die Abtastung der Auftreffplatte 5 durch den Elektronenstrahl
steuert. TH bezeichnet eine Zeilenperiode und umfaßt eine Zeilenrücklaufzeit Tb und eine Zeilenabtastzeit
Ts- Die Signalelektrodenstreifen 4|, 42; 43 usw.
liegen annahmeweise am Anfang einer Zeilenrücklaufzeit an Bezugspotential, z. B. 0 V.
Während der Integrationsperiode kann Licht auf die photoempfindliche Auftreffplatte einfallen, wodurch die
Kondensatoren 41n, 4I]2, 4I22 usw. entladen werden
können, wie in F i g. 1 schematisch durch die Leckwiderstände 42ii, 42i2 usw. dargestellt ist, deren Größe von
der Intensität Li, L2, L3 usw. abhängig ist. Beim Abtasten
durch einen Elektronenstrahl 6 zu den Zeitpunkten t\, f2,
h treten auf den Signalelektrodenstreifcn 4|, 42, 4j die
Potentialsenkungen U\, Ui bzw. L/3 in bezug auf das
Bezugspotential auf. die den Signalladungen Qt, <?2 bzw.
Qs in den Streukapazitäten 40i, 4O2 bzw. 4O3 entsprechen.
Zu einem Zeitpunkt r* fängt die Zeilenrücklaufzeit
oder Zeilenaustastzeit ΤΉ an. die zu einem Zeitpunkt ti
endet. In der Zeit TB tritt zwischen den Zeitpunkten i-,
und f6 ein Impuls in dem Signal S5 auf, während zu
gleicher Zeit die Schalter 17' geschlossen werden (schematisch durch den Impuls im Signal Si dargestellt), um
die Signale an den Kondensatoren 40i, 4O2, 4Oj auf das
Eimerkettenregister 19' übertragen zu können.
Für das Schieberegister 19' gilt, daß zwischen den Zeitpunkten U und f5 die Kapazitäten 51, 53, 55, 5739
und 60 auf je 3 V aufgeladen sind, was aus dem Vorhandensein der Spannung —3 V in den Signalen Ss und Sb
und des Massenpotentials 0 V in den Signalen S? bis S12
folgt. Der Impuls im Signal Sa,, das an die Gate-Elektroden
der Transistoren 17' angelegt wird, und der Impuls im Signal S% zwischen den Zeitpunkten fs und /b weisen
eine Spannung von +0 V auf. Die Spannung von 0,7 V an den Gate-Elektroden der Transistoren 17', 17Ί bewirkt,
daß bei einer genügend hohen Spannung an den Drain dieser Transistoren die Spannung an der Source,
d. h. an dem mit ihr verbundenen Signalelektrodcnstreifen 4|, 42, 4j oder noch anders gesagt, die Spannung an
den Kondensatoren 4Oi. 4O2. 4Oj auf das Massenpoiential
0 V, und nicht weiter, zunehmen kann. Die Spannung von 0,7 V ist nämlich die Schwellwenspannung. die zu 1-schen
den Gate-Elektroden und den Sources der Transistören 17' vorhanden sein muß, um diese Transistoren in
den leitenden Zustand zu bringen und in diesem Zustand zu halten. Die zu dem Zeitpunkt t% auftretende Impulsflanke
mit einem Spannungssprung von —3 V bis + 0,7 V im Signal S5 ergibt über die Kapazitäten 53, 57
und 60 einen gleichen Spannungssprung von 3,7 V an den Drains der Transistoren 17Ί, 17'2. Zusammen mit
der Spannung von 0,7 V an den Gate-Elektroden bewirken die Spannungen in den Signalen Sn, Sw und Si2. daß
die Kapazitäten 40|, 4O2, 4O3 der Signalstreifen 4|, 42
bzw. 43 auf Massenpotential 0 V (Signale Si, S2 und S3 in
F i g. 2 zu /5) von den Kapazitäten 53,57 und 60 (Signale
Se, Sio und Si2) her aufgeladen werden können. Die den
Spannungssenkungen U\, L/2, L/3 an den Kapazitäten
40i,40:> bzw. 4O3 entsprechenden Ladungszustände können
aus den Kapazitäten 53,57 bzw. 60 ergänzt werden und dort die Spannungssenkungen U\. U'; und {/'■ ergeben,
die U\, LZ2 bzw. Ui entsprechen.
Der Spannungssprung in den Signalen Sj und S-, /um
Zeitpunkt tu bewirkt, daß die Schalter 17',. 17';. 17';
gesperrt werden und ein gleich großer Spannungssprung in den Signalen Sg, Si 0 und Si2 auftritt.
Zum Zeitpunkt r? beginnt die Zeilenabtastzcil Ts mit
einerseits wiederum einer Zeilenabtastung der Schicht 5 durch den Elektronenstrahl 6 und andererseits der
Übertragung der Signale U\, U'2, U'i zwischen den Kapazitäten
51.53,55,57,59 und 60 unter dem Einfluß der
Impulse, die in den Signalen Sf1 und S5 auftreten. Die
Signale U\, U'2, U'i werden auf an sich bekannte Weise
vom Register 19' transportiert und können dem Ausgang PS entnommen werden.
In der hier beschriebenen bekannten Vorrichtung werden die Signalelektrodenstreifen 4|, 42, 43 bei der
Übertragung der Signalladungen von den Kondensatoren 40i, 4O2,4O3 auf das Schieberegister 19' auf Bezugspotential
gebracht, wobei die Bezugsspannung durch die Schwellwenspannung der Transistoren 17Ί, I7'2,
17'3 gegeben wird. Derartige MOS-Transistoren weisen
(im Unicr-Mikroampcrebercich) eine Strom-Spannungskennlinic
auf, die einen mehr oder weniger expo-
b5 nentiellen Verlauf hat, wie in F i g. 3 durch die Kurve A
dargestellt ist. In dieser Figur ist auf die Ordinate der Strom und auf die Abszisse die Gate-Spannung abzüglich
der Schwellwenspannung (für einen n-Kanal-
MOST) aufgetragen, wobei V1. die Spannung der Gate-F.lcktrode
in bezug auf das Source-Gebiet bezeichnet. Während der Übertragung von Ladung ändert sich das
Potential der Sourcc-Elektroden der Transistoren derart, daß Ve— V,h nach Null geht. Dies bedeutet, daß der
Strom auch nach Null geht und daß, wenn die Transistoren wieder gesperrt werden, nicht die ganze Menge
Ladung übertragen ist. Das Bezugspotential der Signalclektrodenstreifen ist dann nicht mehr gleich der
Schwellwertspannung der Transistoren, sondern ist mehr oder weniger signalabhängig. Infolge von Streukapazitäten
zwischen den Signalelektrodenstreifen 4|, 42. 4i können Änderungen in der Bezugsspannung an
einem Streifen sich außerdem an benachbarten Streifen auswirken. Um diese und andere mögliche Nachteile
wenigstens größtenteils zu vermeiden, sind in der Vorrichtung
nach der Erfindung statt Feldeffekttransistoren Schalter 17' verwendet, die in Fi g. 4 im Schnitt gezeigt
und im Schaltbild nach F i g. 1 durch je eine Feldeffektanordnung mit drei Gate-Elektroden dargestellt sind.
Es sei bemerkt, daß der Schalter nach der Erfindung insbesondere, aber nicht ausschließlich, für die Anwendung
in einer Kamera geeignet ist, aber auch mit Vorteil in anderen Systemen verwendet werden kann, bei denen
ein schneller Ladungstransport erforderlich ist.
Fig.4 zeigt im Schnitt eine Halbleiteranordnung mit
einem Halbleiterkörper 1 mit einem Schalter, mit dem im allgemeinen innerhalb der Zeilenaustastzeit im Falle
einer Kamera ein Ladungssignal von dem Kondensator C, auf den Kondensator C/ übertragen werden kann.
Die Kondensatoren C und Qi. die nicht notwendigerweise
auf dem Halbleiterkörper 1 integriert zu sein brauchen, sind h Fig.4 nur durch gestrichelte Linien
angegeben.
Der Schalter enthält zwei Klemmen 2 und 3, die mit G bzw. C1/ verbunden sind oder verbunden werden können
und die eine Source- bzw. Drain-Elektrode einer Feldeffektanordnung mit isolierten Steuerelektroden
Ci, Ci und C3 bilden. Die Vorrichtung enthält in einer
besonderen Ausführung einen p-leitenden Halbleiterkörper
aus Silicium, aber es ist einleuchtend, daß auch von einem η-leitenden Halbleiterkörper ausgegangen
werden kann und daß sich die Erfindung auch nicht auf die Anwendung von Silicium beschränkt, sondern daß
auch andere Halbleitermaterialien mit Vorteil verwendet werden können.
Der Siliciunikörpcr 1. der einen für integrierte MOS-Schaltungcn
üblichen spezifischen Widerstand von 0.3—5 ti ■ cm aufweisen kann, ist an der Oberfläche 4
mil η-leitenden Oberflächenzonen 5 und 6 versehen, die
ein Source- bzw. Draingebiet bilden.
Die Klemmen 2 und 3 sind mii dem Source- bzw. dem
Draingebiet über die Source- bzw. Drain-Elektroden 7 bzw. 8 aus z. B. Silicium verbunden, die mit den Zonen 5
bzw. 6 kontaktiert sind.
Die Oberfläche 4 des Halbleiterkörpers ist mit einer Isolierschicht 9 überzogen, die auf übliche Weise als
eine Schicht aus Siliciumoxid angebracht werden kann, aber die auch andere dielektrische Materialien, wie Siliciumnitrid
oder Aluminiumoxid, enthalten kann. Die Schicht 9 weist wenigstens in dem von den Zonen 5 und
6 begrenzten Gebiet eine Dicke von etwa 70 nm — 100 nm auf. Außerhalb des in F i g. 4 dargestellten wirksamen
Gebietes kann die Oxidschicht 9, die dann als Feldoxid dient, eine viel größere Dicke aufweisen, wie in
Halbleiteranordnungen mit Feldeffekttransistoren allgemein gebräuchlich ist.
Auf der Isolierschicht 9 ist zwischen dem Sourcc-Gebiet
5 und dem Draingebiet 6 eine erste Gate-F.lektrodc G\ angebracht, deren Funktion mit der der Gate-Elektrode
eines Feldeffekttransistors vergleichbar ist und mit der der Schalter nach Wunsch geöffnet oder geschlossen
werden kann.
Nach der Erfindung enthält der Schalter Mittel CG:.,.
Gib, 10), mit deren Hilfe während der Übertragungszeit
T(ti—tt) periodisch eine feste Ladungsmenge ζ>, auf G
mit einer derartigen Frequenz η rückübertragen werden kann, daß in einem Zeitintervall t
< T eine Gleichgewichtssituation erreicht wird, in der die pro Zeiteinheit
(see) aus G übertragene Menge Ladung gleich der pro Zeiteinheit rückübertragene Ladungsmenge ist. In dieser
Gleichgewichtssituation wird das Potential der Kapazität G nicht mehr von der Anfangsladung (Signal) Qh,
sondern im wesentlichen noch von η und O, abhängen.
Die Gate-Elektrode Gi weist zwei miteinander verbundene
Teile Gi11, Gib auf. Unter Gia sind Mittel 10
vorhanden, mit deren Hilfe beim Anlegen einer Span· nung an Gi in dem Halbleiterkörper ein asymmetrisches
Potentialprofil mit einer Potentialmulde unter Gia. in
der die rückzuübertragende Ladung Q1 gespeichert werden
kann, und mit einer Potentialsperre unter Gib erhalten
wird.
Das asymmetrische Potentialprofil unter der Elektrode Gi kann durch verschiedene an sich aus der Technik
der ladungsgekoppelten Anordnungen bekannte Verfahren, z. B. durch Anbringung zweier Oxidschichten
unter den Elektroden Gi^ und Gib mit verschiedenen
jo Dicken, erhalten werden. In dem Ausführungsbeispiel
nach Fig.4 wird die Asymmetrie durch den Unterschied
in Dotierung in dem Halbleiterkörper unter den Elektrodenteilen Gia und Gib gebildet, der durch das
Anbringen der n-!eitenden Zone 10 unter dem Elektrodenteil G2a erhalten wird. Die Dotierungskonzentration
der Zone 10 kann zum Erhalten einer Potentialmulde mit der gewünschten Tiefe und damit einer Ladung Q,
mit der gewünschten Größe mit Hilfe von Ionenimplantation passend gewählt werden und beträgt z. B.
1012-10"· Atome/cm3.
Obgleich man in einer Anzahl von Anwendungen mit den Ruckübertragungsmitteln Gi11, Gib, 10 auskommen
kann, sind im vorliegenden Ausführungsbeispiel zusätzliche Mittel vorhanden, mit deren Hilfe die Potentialmulde
unter der Elektrode Gi* wenn sie leer ist, bevor
Ladung von G auf Qi übertragen wird, nachgefüllt wird. Diese Mittel, die hier zwischen Gi und dem Draingebiet
6 liegen, enthalten eine dritte isolierte Gatc-Elcklrode
Gi. In bezug auf die Struktur entspricht die Elektrode
Gj der Elektrode Gi und enthält, gleich wie Gi, zwei
miteinander verbundene Teile G^ und Gib- Unter dem
Teil Gu ist ein n-lcitendes Gebiet !! mit der gleichen
Dotierungskonzentration wie die Zone 10 angebracht. Die lateralen Abmessungen von Gs^ und der Zone 11
werden vorzugsweise mindestens gleich oder größer als die von Gia, 10 gewählt Dadurch kann beim Anlegen
einer geeigneten Spannung unter G?a eine — gefüllte —
Potentialmulde gebildet werden, die als Behälter für die Lieferung der Ladung Q, verwendet werden kann.
ω Die Gate-Elektroden Gi. Gi und Gj sind, wie in Fig. 1
dargestellt ist, über die Signalleitungen Sau Sai bzw. Sai
mit der Taktspannungsquelle 21 gekoppelt. F i g. 5 zeigt schematisch die Signale 541,542 und S^, die das Signal Sa
in F i g. 2 ersetzen.
In F i g. 5 sind wieder die Zeitpunkte fs und fb angegeben,
die innerhalb der Zeilenaustastzeit Tfl liegen und die das Zeitintervall bestimmen, während dessen Signalladung
von den Signalstreifen 4i.42,4j auf das Eimerkei-
tenregister 19' übertragen wird. Das Signal S^ in F i g. 2
'< wird in der Aufnahmevorrichtung nach der Erfindung
durch das Signal S41 in F i g. 5 ersetzt, das an die Gate-Elektrode
G\ angelegt wird. Aus dem Verlauf von S^ ist
ersichtlich, daß der Ladungstransport nicht kontinuierlich, sondern unterbrochen vor sich geht, wie nachstehend
noch näher auseinandergesetzt wird.
Zum Zeitpunkt f5 sind auch die Signale S42 und S43
positiv. Die Werte von S41, S42 und S43 können vom Fachmann
auf einfache Weise derart gewählt werden, daß im Halbleiterkörper das in F i g. 6a gezeigte Potentialprofil
erhalten wird. In dieser Figur entsprechen s und ddem
Source-Gebiet 5 und dem Draingebiet 6 in Fi g. 4, während die in F i g. 6 mit Gi, G2 und G3 bezeichneten Gebiete
den unter den Gate-Elektroden Gi, G7 bzw. G3 liegenden Teilen des Halbleiterkcrpers entsprechen.
Die Gebiete in G2 und G3, die in F i g. 6 schraffiert dargestellt
sind, entsprechen den η-dotierten Gebieten 10 bzw. 11 in Fig.4 und stellen Ladungspakete dar, die in
den durch die Dotierung erhaltenen Potentialmulden gespeichert sind. In der in Fig.6a gezeigten Situation
kann Ladung (in Form von Elektronen) von s zu d fließen, die mit dem Pfeil in F i g. 6a schematisch angegeben
ist.
Während des Ladungstransports nimmt der Potentialpegel
von S ab, wodurch der Ladungstransport träger vor sich gehen wird. Zur Vermeidung dieses Problems
und mit diesem zusammenhängender Probleme wird der Transport unterbrochen und wird das Potential von
G2 derart weit herabgesetzt, daß das unter G? gespeicherte
Ladungspaket auf 5 rückübertragen wird. Zur Illustrierung dieses Vorgangs ist in F i g. 6b das Potentialprofil
zum Zeitpunkt fB dargestellt.
In dem nächsten Schritt könnte der Ladungstransport von 5 zu d, wie in Fig.6a dargestellt, fortgesetzt werden.
In diesem Falle wird die (leere) Potentialmulde unter G2 wieder mit Ladung ausgefüllt, wodurch sich das
Potential in der Potentialmulde wieder ändert. Da der Verstärkungsfaktor
{Vds) .
—
— 1 = c
des Transistors, dessen Source durch die Zone 5. dessen
Gate durch Gi und dessen Drain durch die Potentialmulde gebildet wird, nicht unendlich groß ist, ergibt diese
Spannungsänderung eine Rückwirkung auf S. Bei einem besonderen Verstärkungsfaktor von 10 und einem
Kapazitätsverhältnis zwischen s und der Potentialmulde unter G2 von etwa 100 wird ein Zehntel der etwa hundertmal
größeren Spannungsänderung unter G2 auf den Eingang des Transistors rückwirken. um diese Rückwirkung
und auch die Rückwirkung von d auf s wenigstens größtenteils zu vermeiden, ist zwischen G2 und d das
Gebiet G3 angebracht. Zum Zeitpunkt fs wird an G3 eine
derartige positive Spannung S43 angelegt, daß unter Gi
das in F i g. 6a dargestellte Potentialprofil erhalten wird, wobei das Potential unter Gj etwas tiefer als unter C2
liegt, während an der Stelle der η-dotierten Zone 11
unter Gj eine Potentialmulde gebildet wird, die mit Ladung
gefüllt ist In Fig.6a ist dieses Ladungspaket schraffiert dargestellt.
Nach der Übertragung der Ladung unter G2 auf die in
Fig.6b dargestellte Weise wird der Ladungstransport von .ν zu d nicht wieder angefangen, sondern wird zunächst
eine positive Spannung ;in G> angelegt, während
die Spannung .V41 an Cm herabgesetzt wird. I·" i g. be zeigt
das Potentialprofil in dem Schalter zum Zeitpunkt f*
Das Ladungspaket unter Gj kann nun in die Potentialmulde unter G2 fließen und diese ausfüllen. Zum Zeitpunkt
im sind die Signale S»i, S«2 und 5<j wieder gleich
denen zum Zeitpunkt fs, so daß wieder Ladung auf die in
F i g. 6a dargestellte Weise von szu dfließen kann. Während
des Ladungstransports wird sich das Potential unter G-; wenigstens praktisch nicht ändern, so dab Ruckkopplung
auf s vermieden wird. Etwaige Rückkopplung von G3 auf S kann als ein Effekt zweiter Ordnung vernachlässigt
werden.
Die Übertragung der Signalladung Q von den Signalstreifen 4t, 4j, 4j auf das Schieberegister 19' kann auf die
hier beschriebene Weist fortgesetzt und periodisch /ur Rückübertragung von Losung unterbrochen werden.
Im Gleichgewichtszustand ist die Ladungsmenge, die pro Zeiieiriiicii rÜCiCÜberträgen Wird, gleich grob wie UiO
Ladungsmenge, die pro Zeiteinheit von s zu d fließt. Die Frequenz der Rückübertragung wird derart gewählt,
daß eine Gleichgewichtssituation mit In. Vn (siehe
Fig. 3) erhalten wird, in der die Impedanz des Schalters genügend niedrig ist, um jedes Signal, ungeachtet seiner
Größe, innerhalb der Zeilenaustastzeit zu übertragen. Diese Frequenz kann vom Fachmann auf einfache Weise,
je nach den besonderen Bedingungen in einem praktischen Fall, gewählt werden. In einer praktischen A'isführungsform,
bei der C, etwa 1 pF betrug und Uii· 1 ■'■·.
übertragene Ladungsmenge stets 10 fC war, stellte sieh heraus, daß sehr befriedigende Ergebnisse bei einer Frequenz
von 1 MHz erzielt werden konnten, d. h. wenn zwischen fs und ft, (F i g. 5) etwa zehnmal Ladung utif .S"
rückübertragen wurde. Dadurch, das innerhalb der vorgegebenen Zeitdauer fs—/e das ganze Signalpaket von .v
auf d übertragen werden kann, können Bilder mit Intensitätsunlerschieden
in senkrechter Richtung mit großer Schärfe umgewandelt werden, während in waagerechter
Richtung eine erheblich bessere Schärfe erhalten werden konnte, infolge der Tatsache, daß die Signalstreifen
4|. 42. 4j jeweils auf eine genau definierte Endspannung
(V0) eingestellt werden konnten, so daß Streuübersprecheffekte
zwischen den Streifen praktisch nicht auftraten.
Außer in der hier beschriebenen Kameraröhre kann ein Schalter nach der Erfindung auch in Kameras eines
anderen Typs, wie z. B. in Kameras mit einer Bildaufnahmevorrichtung der schematisch in F i g. 7 dargestellten
Art. verwendet werden. Die Vorrichtung enthält eine an sich bekannte Matrix in Zeilen und Spalten angeordneter
photoempfindlicher Elemente 70, die je eine Diode Dund einen Feldeffekttransistor Tenthalten. Das
eine Hauptelektrodengebiet der Transistoren T ist mit den Dioden und das andere Hauptelektrodengebiet mit
den Leseieitungen 7i verbunden. Die Gate-Eiekirodcn der Transistoren sind mit Selektionisleitungcn 72 verbunden,
die von einem Schieberegister 73 angesteuert werden können. Wenn eine der Leitungen 72 selektiert
wird, können die in den Dioden D der betreffenden Zeile gespeicherten Signalladungen über die zugehörigen
Transistoren Tauf die Leseleitungen 71 übertragen werden. Für die Übertragung der Signale von den Lei-
bo tungen 71 auf eine Ausleseleitung 74 sind zwischen den
Leitungen 71 und der Leitung 74 Schalter 75 angebracht, die in bezug auf Bauart und Wirkung den Schaltern
17Ί, 17'2,17'3 im vorhergehenden Ausführungsbeispiel
entsprechen. Die Schalter 75 sind mit einer Takt-
h5 spannungsquelle 76 verbunden, wie an die Gatc-Rlcktroden
der Schalter Spannungen der in Fig.5 dargestellten Art anlegt.
Die Schalter 75 können, gleich wie im vorhergehen-
11
den Ausführungsbeispiel, parallel mit einem CTD-Rcgister
verbunden sein, wobei die Signale an den Signalleitungen 71 gleichzeitig übertragen werden können. Im
hier gezeigten Ausführungsbeispiel sind jedoch die Schalter 75 gemeinsam mit dem Ausgang 74 verbunden
und werden daher nacheinander angesteuert.
Es dürfte einleuchten, daß die Erfindung nicht auf die obenbeschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt
ist, sondern daß im Rahmen der Erfindung für den Fachmann noch viele Abwandlungen möglich sind. So könncn
statt Silizium auch andere geeignete Halbleitermaterialien, wie Ge oder A'"BV-Verbindungen, z. B. GaAs,
verwendet werden. Auch können statt der implantierten Zonen 10 und 11 andere aus der CTD-Technik bekannte
Mittel zum Erhalten von Potentialmulden mit der ge- is wünschten Tiefe, wie verschiedene Oxiddicken und/
oder Vorschaltspannungsquellen zwischen den Elektroden Gj, und C2/, und zwischen den Elektroden Gj8 und
Cih, verwendet werden. Weiter können an die Elektroden
C2., und dt. gleich wie an den Elektrodensatz G3,,,
Gih, cin/.elne Taktspannungen angelegt werden.
In den beschriebenen Ausführungsbeispielen enthalten
die Schalter einen Obcrflächcnkanal. Stattdessen sind a'rx-r auch Ausführungsformen mit einem vergrabenen
Kanal, entsprechend CCD1S mit einem vergrabenen
Kanal, möglich.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
30
40
■J
50
60
es
Claims (13)
1. Halbleiteranordnung, insbesondere in Kameras, mit einer Schaltungsvorrichtung (17') auf einem
Halbleiterkörper (1) durch die innerhalb eines bestimmten Zeitintervalls endlicher Zeitdauer T(ts bis
te) iterativ eine Ladungsmenge Q* die ein Signal
darstellt, von einem ersten Kondensator (C1) auf einem
zweiten Kondensator (Cd) übertragen werden kann, bei der die Schaltungsvorrichtung (17') vom
Feldeffekttyp ist und ein Source- und ein Drain-Gebiet (5 bzw. 6) enthält, die mit dem ersten bzw. dem
zweiten Kondensator (Cs bzw. Cd) gekoppelt und
voneinander durch ein Kanalgebiet getrennt sind, das mit einer Gate-Elektrode (Gi) versehen ist, um
den Stromdurchgang durch das Kanalgebiet zu steuern,
und bei der Mittel (Gi, 21') vorhanden sind, mit
deren Hilfe während des genannten Zeitintervalls T n-ma) (n>
!) eine Ladungsmenge Q, auf den ersten 2» Kondensator (C\) rückübertragen wird, welche Mittel
eine hinter der Gate-Elektrode (G\) angeordnete zweite Gate-Elektrode (G2) enthalten, die dazu
dient, in dem darunterliegenden Teil des Kanalgebietes eine Potentialmulde zur Speicherung der festen
Ladungsmenge Q, zu induzieren, die durch das Anlegen einer geeigneten Spannung (Sn, F i g. 5) an
die zweite Gate-Elektrode (Gi) mit einer Frequenz
n/Tauf den ersten Kondensator (C1) rückübertragen
werden kann, wobei π und die feste Ladungsmenge Qi derart gewählt sind, daß in einem Zeitraum t
< T, wobei t vom Anfang des Ladungstransports an gemessen
wird, eine Gleichgewichtssituation erreicht wird, in der die aus dem Kondensator (C5) abfließende
Ladungsmenge praktisch gleich der auf den ersten Kondensator rückübertragenen Ladungsmenge
Qi ist, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel
(Gz) vorhanden sind, mit deren Hilfe die Potentialmulde
unter der /weiten Gate-Elektrode (Gt) nach Rückübertragung der Ladungsmenge Q, auf das
Source-Gebiet wieder mit Ladung gefüllt werden kann, bevor wiederum Ladung von dem Sourcc-Gebiet
auf das Drain-Gebiet übertragen wird, welche Mittel eine dritte Gate-Elektrode (G3) zwischen der
zweiten Gate-Elektrode (Gi) und dem Drain-Gebiet enthalten, mit deren Hilfe in den darunterliegenden
Teil des Halbleiterkörpers eine zweite Potentialmulde induziert werden kann, in der Ladung mit mindestens
der Größe der festen Ladungsmenge Qi gespeichert werden kann.
2. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Q, höchstens etwa ein Zehntel
des Höchstwertes von Qs beträgt.
3. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Anzahl von EIementen
(41) vorhanden ist, in denen Information in Form elektronischer Ladung erzeugt und/oder gespeichert
werden kann, und daß weiter Selcktionsmittel (6) vorgesehen sind, mit deren Hilfe die genannten
Elemente selektiv mit der mit der Schalt- ω vorrichtung verbundenen Elektrode von C5 zur
Übertragung der in den Elementen gespeicherten Information auf C, gekoppelt werden können.
4. Halbleiteranordnung nach einem der Ansprüche 1—3, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel (10) b5
vorhanden sind, mit deren Hilfe beim Anlegen einer Spannung an die zweite Gate-Elektrode in dem Teil
des Halbleiterkörpers unter der /weiten Gatc-Elcktrode ein asymmetrisches Potentialprofil mit einer
Potentialmulde in der Nähe des Randes der zweiten Gate-Elektrode auf der Seite des Source-Gebietes
erhalten wird.
5. Halbleiteranordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die genannten Mittel ein an der
Stelle der Potentialmulde liegendes Gebiet (10) enthalten,
dessen Dotierungskonzentration von der angrenzender Oberflächenteile des Halbleiterkörpers
verschieden ist
6. Halbleiteranordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das genannte Gebiet (10) an der
Stelle der Potentialmulde unter der zweiten Gate-Elektrode durch eine mit Verunreinigungen implantierte
Zone gebildet wird.
7. Halbleiteranordnung nach Anspruch !,dadurch
gekennzeichnet, daß Mitlei (II) vorhanden sind, mit
deren Hilfe beim Anlegen einer Spannung an die dritte Gate-Elektrode im darunterliegenden Teil des
Halbleitcrkörpers ein asymmetrisches Potentialprofil
mit einer Potentialmulde unter und nahe bei dem Rand der dritten Gate-Elektrode auf der Seile des
Source Gebietes gebildet wird.
8. Halbleiteranordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die genannten Mittel ein an der
Stelle der zu bildenden Potentialmulde liegendes Oberflächengebiet (11) enthalten, dessen Dotierungskonzentration
von der angrenzender Teile des Halbleiterkörpers verschieden ist.
9. Halbleiteranordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die genannte Elektrode von C
einen streifenförmigen Leiter (4) enthält, der zusammen mit den zugehörigen informationsenthaltcnden
Elementen einen Teil einer Bildaufnahmcvorrichtung bildet, die eine Anzahl ähnlicher streifenförmiger
Leiter (4) und zugehöriger informationshaiiigi-r
Elemente (41) enthält, wobei die informaiionshalienden
Elemente durch ein Mosaik in Zeilen und Spülten angeordneter photo-empfindlieher Zellen gebildet
werden.
10. Halbleiteranordnung nach Anspruch W, dadurch
gekennzeichnet, daß sich die streifenförmigen Leiter parallel zu der Spaltenrichtung des Mosaiks
erstrecken und je für sich mit einer zugehörigen Schaltvorrichtung(17) verbunden sind.
11. Halbleiteranordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltvorrichtungen
(17), die auf einer Seite mit den streifenförmigen Leitern (4) verbunden sind, auf der anderen Seite mit
Paralleleingängen eines Ladungsübertragungsregisters (19) verbunden sind, wobei die Signalladungen
Qs pro Zeile über die Schaltvorrichtungen parallel auf das Ladungsübertragungsregister übertragen
und über das Ladungsübertragungsregister /u einem Ausgang (57) transportiert werden können, um
in Serie entnommen zu werden.
12. Halbleiteranordnung nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Parameter
η und Qi derart gewählt sind, daß f kleiner als
oder gleich der Zeilenrücklauf/eit ist.
13. Bildaufnahmekamera mit einer Halbleiteranordnung nach einem oder mehreren der Ansprüche
9 bis 12.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8004328A NL8004328A (nl) | 1980-07-29 | 1980-07-29 | Schakelinrichting voor het ontladen van een capaciteit. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3128091A1 DE3128091A1 (de) | 1982-04-22 |
DE3128091C2 true DE3128091C2 (de) | 1985-06-27 |
Family
ID=19835679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3128091A Expired DE3128091C2 (de) | 1980-07-29 | 1981-07-16 | Schaltvorrichtung zum Entladen einer Kapazität |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4402014A (de) |
JP (1) | JPH0254663B2 (de) |
AU (1) | AU546067B2 (de) |
CA (1) | CA1173520A (de) |
DE (1) | DE3128091C2 (de) |
FR (1) | FR2488085A1 (de) |
GB (1) | GB2081017B (de) |
IT (1) | IT1138877B (de) |
NL (1) | NL8004328A (de) |
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- 1981-07-16 DE DE3128091A patent/DE3128091C2/de not_active Expired
- 1981-07-23 US US06/286,232 patent/US4402014A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-07-23 CA CA000382402A patent/CA1173520A/en not_active Expired
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- 1981-07-24 IT IT23146/81A patent/IT1138877B/it active
- 1981-07-27 JP JP56117577A patent/JPH0254663B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1981-07-27 FR FR8114556A patent/FR2488085A1/fr active Granted
- 1981-07-27 AU AU73431/81A patent/AU546067B2/en not_active Ceased
Also Published As
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---|---|
GB2081017A (en) | 1982-02-10 |
AU546067B2 (en) | 1985-08-15 |
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IT1138877B (it) | 1986-09-17 |
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JPS5753980A (de) | 1982-03-31 |
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US4402014A (en) | 1983-08-30 |
GB2081017B (en) | 1984-04-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |