DE3114008A1

DE3114008A1 - Automatislcher waehler bei der zwischenmodulationsverzerrungspruefung

Info

Publication number: DE3114008A1
Application number: DE19813114008
Authority: DE
Inventors: Richard Corona Cabot; Bruce Edward 97005 Beaverton Oreg. Hofer
Original assignee: Tektronix Inc
Current assignee: Tektronix Inc
Priority date: 1980-04-11
Filing date: 1981-04-07
Publication date: 1982-02-04
Also published as: CA1167107A; GB2073894A; FR2480439A1; JPS6112550B2; DE3114008C2; FR2480439B1; NL8101508A; JPS56157870A; GB2073894B

Description

Patentanwälte Dipl.'.Πα. Joachim StraSSe München

Tel. (089)22 J T»taxS22 0!

31 U008

ZweibrucKenslr 15 Am Markt 11 ,_ D-eO0O Münctwn 2 D-6450 Hanau 1

SSCIT Dr. Hans-Herbert Stoffregen Hanau SJ/SSf"

TEKTRONIX, Inc. München, den 7. April 1981

Beaverton, Oregon er-lö. 12 299

Automatischer Wähler bei der Zwischenmodulationsverzerrungsprlifung

Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zum automatischen Bestimmen der Prozente der Zwischenmodulationsverzerrung, die in einer in der Prüfung befindlichen Vorrichtung vorhanden ist, wobei entweder SMPTE- oder CCIF-Prüfsignale verwendet werden.

Die Zwischenmodulation kann wie folgt definiert werden: Die Erzeugung von Frequenzen in einem nichtlinearen Schaltungselement, die der Summe und den Differenzen der Grundwellen und Harmonischen zweier oder mehr Frequenzen entsprechen, die durch das Element geleitet werden. Wenn daher zwei Frequenzen an den Eingang einer Tonfrequenzeinrichtung gelegt werden, erscheinen nicht nur die Grundwellenfrequenzen am Ausgang, sondern auch die Summen- und Differenzfrequenzen, die in der Regel nicht Harmonische der Grundwellenfrequenzen sind.

Mehrere Techniken und verschiedene Instrumente wurden für die Messung der Verzerrung der Zwischenmodulation entwickelt. Zwei der breiter benutzten Prüfungen sind dieSMPTE- (Society of Motion Picture and Television Engineers) und die CCIF- (International Telephonic-Consultative Committee) Prüfungen.

Die SMPTE-Prüfung scheint in den Vereinigten Staaten von Frayne und Scoville (siehe Frayne, J.G. und Scoville, R.R. "Analysis and Measurement of Distortion in Variable-Density Recording" in J.S.M.P.T.E., 32 (Juni 1939) Seiten 648 - 673) eingeführt worden zu sein, die die Erfassung der Verzerrung einer Schallaufzeichnung auf Film mit veränderlicher Dichte untersucht haben.

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Das Prüfsignal, das in der SMPTE-Prüfung benutzt wird, ist ein Ton von niederer Frequenz (zwischen 40 Hz und 100 Hz) und ein Ton 'öherer Frequenz (zwischen 1000 Hz und 12000 Hz), die in einem Amplitudenverhältnis von 4 zu 1 aufsummiert werden. Andere Amplitudenverhältnisse werden gelegentlich verwendet. Die CCIF-Prüfung, die 1933 durch von Braunmühl und Weber (siehe: von Braunmühl, H.J. und Weber, W. "Nichtlineare Verzerrungen von Mikrophonen", Elektrotechnische Zeitschrift, Band 54, Nov.1933) eingeführt wurde, unterscheidet sich von der SMPTE-Prüfung insofern, als ein Paar von Signalen gleicher Amplitude, deren Frequenzen eng beeinander liegen, an die zu prüfende Einrichtung angelegt wird. Die Nichtlinearität in der gerade getesteten Einrichtung verursacht Zwischenmodulationsprodukte zwischen den beiden Signalen, d.ie anschließend gemessen werden. Für den typischen Fall von Eingangssignalen von 14 kHz und 15 kHz sind die Zwischenmodulationskomponenten 1 kHz, 2 kHz, 3 kHz usw. und 13 kHz, 12 kHz usw. Verzerrungen gerader Ordnung ocjer unsymmetrischer Art erzeugen die niederfrequenten Komponenten, während Verzerrungen ungerader Ordnung oder symmetrischer Art die Frequenzkomponenten nahe bei den Eingangssignalen erzeugen. Charakteristischerweise werden nur d,ie Frequenzkomponenten gerader Ordnung gemessen.

Es sind Instrumente entwickelt worden, die sowohl die SMPTE- als auch die CCIF-Zwischenmodulationsprüfung durchführen. Die Analysatoren benötigen jedoch eine Bedienungsperson, die zwischen den beiden Prüfungen umschaltet.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Verzerrungsanalysator zu entwickeln, der automatisch feststellt, ob ein SMPTE- oder ein CCIF-Prüfsignal für Zwischenmodulationsverzerrung an seinem Eingang vorhanden ist. Weiterhin besteht die von der Erfindung zu lösende Aufgabe in der Entwicklung einer Vorrichtung, die den Ausgang eines Analysators für die Zwischenmodulationsverzerrung in Abhängigkeit von der Art des Eingangssignals umschaltet.

Die Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch eine Einrichtung für den Empfang des jeweiligen Prüfsignals von der gerade geprüften Vorrichtung, einen SMPTE-Zwischenmodulationsverzerrungsanalysator, der mit einem Eingang an die Einrichtung zur Verstärkung angekoppelt ist, eine Schalteinrichtung zum Um-

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schalten zwischen einem Ausgang des SMPTE-Zwischenmodulationsverzerrungsanalysators und einem Ausgang des CCIF-Zwischenmodulationsverzerrungsanalysators und eine Vergleichseinrichtung zum Vergleichen des niederfrequenten Energieinhalts des Prüfsignals mit einem Bezugssignal, das den Energieinhalt eines charakteristischen SMPTE-Prüfsignals darstellt, wobei die Vergleichseinrichtung an einen Steueranschluß der Schalteinrichtung angekoppelt ist. Gemäß der vorliegenden Erfindung ist eine Vorrichtung vorhanden, die feststellt, ob ein SMPTE-Prüfsignal für Zwischenmodulation vorliegt, und die die Ausgangsschaltung eines Verzerrungsanalysators auf eine passende Betriebsart umschaltet. Die SMPTE-Prüfmethode verwendet einen niederfrequenten und einen hochfrequenten Ton. Die nichtlineare Verzerrung in dem jeweils geprüften Gerät ergibt Seitenbänder auf dem hochfrequenten Ton. Die CCIF-Prlifmethode benutzt zwei hochfrequente Töne, so daß die nichtlineare Verzerrung ein Signal mit der Differenz zwischen den beiden Frequenzen ergibt.

Wenn die Frequenzspektren der SMPTE- und CCIF-Prüfsignale analysiert werden, ist zu ersehen, daß ein bedeutender Betrag niederfrequenter Energie immer im SMPTE-Signal vorhanden ist. Der einzige Fall jedoch, bei dem ein bedeutender Betrag an niederfrequenter Energie in dem CCIF-Signal vorhanden ist, liegt dann vor, wenn es sehr stark verzerrt ist (mehr als 30 Prozent oder -1OdB). Die Verzerrungsniessungen werden daher auf unter 30 Prozent beschränkt, wobei die Niederfrequenzenergie gemessen und mit einem Bezugswert verglichen wird. Wenn der Niederfrequenzenergiegehalt größer als der Bezugswert ist, dann wird unterstellt, daß eine SMPTE-Prüfung vorliegt, im ande- ren Falle wird angenommen, daß es eine CCIF-Prüfung ist. Der Vergleich wird von einem Komparator durchgeführt, der eine Schalteinrichtung steuert, um die Ausgangsschaltungen des Verzerrungsanalysators umzuschalten.

Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung eines zeichnerisch dargestellten Ausführungsbeispiels.

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Es zeigen:

Fig. 1 ein Blockschaltbild einer bevorzugten Ausflihrungsform einer Vorrichtung zur Zwischenmodulationsanalyse,

Fig.2 ein teilweises Frequenzspektrum des SMPTE-Prüfsignals, wie es auf der Anzeige eines Spektrumsanalysators erscheinen kann,

Fig.3 eine teilweises Frequenzspektrum des CCIF-Prüfsignals, wie es auf der Anzeige eines Spektrumanalysators erscheinen kann.

Die Fig.1 zeigt ein Blockdiagramm eines Zwischenmodulationsanalysators gemäß der vorliegenden Erfindung.

Das Eingangssignal zum Zwischenmodulationsanalysator der Fig.1 ist das Ausgangssignal von der gerade in der Prüfung befindlichen Einrichtung. Das heißt das Eingangssignal ist das Ergebnis des Durchgangs entweder des SMPTE- oder des CCIF-Prüfsignals durch die in der Prüfung befindliche Einrichtung. Das Prüfsignal wird zuerst an einen Eingangsverstärker 10 angelegt. Das unsymmetrische Ausgangssignal des Verstärkers 10 wird in zwei getrennte Richtungen geleitet.

Der eine Weg des Ausgangssignals des Verstärkers 10 führt über ein Hochpaßfilter 20 zu einem Demodulator 30. Der Trägerpegel des demodulierten Signals wird durch eine Pegeleinstellschaltung 35 bestimmt. Die Pegeleinstellschaltung kann eine herkömmliche manuelle Stellvorrichtung (z.B. ein Potentiometer) oder eine automatische Steuerschaltung wie diejenige sein, die in der gleichzeitig eingereichten Anmeldung "Automatischer Analysator für die Zwischenmodulationsverzerrung" von R.C. Cabot beschrieben ist, die hierin durch die Bezugnahme eingeschlossen ist. Das demodulierte Signal wird an ein Tiefpaßfilter 25 angekoppelt. Die vorstehend beschriebenen Elemente 20, 30, 35 und 25 umfassen einen SMPTE-Zwischenmodulationsanalysator.

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Der andere Weg des Ausgangssignals des Verstärkers 10 führt über eine Pegeleinstell schaltung 50 zu einem Tiefpaßfilter 60. Die Pegel einstell schaltung kann eine herkömmliche Pegel steuerschaltung sein. Diese Elemente 50 und 60 umfassen einen CCIF-Zwischenniodulationsanalysator.

Der AusijiUKj des 1 ielpaßl i Hers 00 ist an einen Pol ü eines zweipoligen Umschalters 90 angekoppelt, während der Ausgang des Tiefpaßfilters 25 an den anderen Pol A des Schalters 90 angekoppelt ist. Der Schalter 90 kann ein elektronischer Schalter (z.B. ein Transistor oder CMOS-Schalter), ein Relais, wie in Fig.1 dargestellt, oder irgend eine andere äquivalente Schalteinrichtung sein. Zusätzlich zu der Ankoppelunq an den Pol B des Schalter·, ist. der Ausgang des 1iefpaßfliters 60 noch über einen Gleichrichter 80 an einen Komparator 70 angekoppelt. Der andere Eingang des Komparators 70 liegt an einem externen Bezugspegel, mit dem das Ausgangssignal des Tiefpaßfilters verglichen wird. Wenn das Ausgangssignal des Tiefpaßfilters 60 kleiner als das Bcvugssiqnal ist, dann verbindet der Schalter 90 (über die Spule 75) den Ausgang des lief paßfi Herr, 60 iniL dem Verzerrungsverstärker 40. Wenn aber das Ausgangssignal des Filters 60 größer als das Bezugssignal ist, so verbindet der Schalter 90 den Ausgang des Amplitudenmodulationsdetektors 30 mit dem Verzerrungsverstärker 40. Die verstärkte Verzerrungskomponente wird dann in den Effektivwertdetektor und die Ausleseeinrichtung 100 eingespeist, worin der Effektivwert der Verzerrung gemessen und in herkömmlicher Weise angezeigt wird. Die Verzerrung kann als Prozent- oder als dB-Ablesung dargestellt werden.

Vor dem Fortfahren mit der Beschreibung der Arbeitsweise der vorliegenden Erfindung ist eine kurze Erläuterung der bei den SMPTE- und CCIF-Prüfungen beteiligten Frequenzen hilfreich. Für zwei Frequenzen f₁ und f₂ bestehen die Zwischenmodulationsprodukte aus Gliedern zweiter Ordnung (f. + f„) und f₁ - f₂), Gliedern dritter Ordnung (Zf₁ + fj, (2f. - fj, (f. + 2f_?) und (f₁ -2f₂) und so weiter für die höheren Summen- und Differenzfrequenzen.

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U)

Die Fig.2 zeigt einen Teil des Frequenzspektrums, wie es am Eingang des Verstärkers 10 erscheint, wenn das SMPTE-Prüfsignal an die gerade zu prüfende Einrichtung angelegt wird, wobei Grundwellenfrequenzen von 60 Hz und 7000 Hz nur zu Darstellungszwecken verwendet werden. Die anderen Frequenzen sind die in der geprüften Einrichtung erzeugten Summen- und Differenzfrequenzen. Es ist zu erkennen, daß die niedrigere Grundwellenfrequenz f.| als 100%-Amplitude angenommen wird und daß alle anderen Frequenzen relativ zu dieser Frequenz dargestellt sind. Die Amplitude der Grundwellenfrequenz f~ ist 12dB niedriger, was dem 25%-Amplitudenpegel entspricht. Dies ist das oben erwähnte 4 zu 1 Amplitudenverhältnis. Die Amplituden der Summen- und Differenzfrequenzen hängen von dem Betrag der Zwischenmodulationsverzerrung ab, die in der gerade geprüften Einrichtung vorhanden ist. Der Prozentsatz der Zwischenmodulation wird auf die Amplitude des Signals mit höherer Frequenz bezogen. Weitere Frequenzen oberhalb und unterhalb f₂ werden noch erzeugt, sie wurden in Fig.2 aus Gründen der Übersichtlichkeit weggelassen.

Die CCIF-Prüfung verwendet wie bei der SMPTE-Prüfung zwei Grundwellenfrequenzen f. und f~, jedoch haben f. und f~ gleiche Amplituden mit einer Differenz in der Frequenz an irgendeiner Stelle zwischen 30 und 1000 Hz. Zwischenmodulationsprodukte werden von der gerade geprüften Einrichtung zwischen jeder Grundwellenfrequenz und der zweiten Harmonischen der anderen Grundwellenfrequenz erzeugt. Die Fig.3 zeigt einen Teil des Frequenzspektrums, wie es am Eingang des Verstärkers 10 erscheint, wenn das CCIF-Prüfsignal an die in der Prüfung befindliche Einrichtung angelegt wird. Grundwellenfrequenzen von 14000 und 15000 Hz werden nur zu Darstellungszwecken verwendet. Die gezeigten Frequenzen sind die Summen- und Differenzfrequenzen, die von der in der Prüfung befindlichen Eintichtung erzeugt werden. Es ist zu erkennen, daß sowohl f. als auch f₂ die 100% Amplitudenpegel haben. Die Amplituden der anderen Frequenzen hängen von dem Betrag der Zwischenmodulationsverzerrung ab, der in der gerade geprüften Einrichtung vorhanden ist.

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Beim Vergleich der Spektren der SMPTE- und CCIF- Prüfsignale ist zu ersehen, daß immer ein bedeutender Betrag an niederfrequenter Energie (beispielsweise bei weniger als 10000 Hz) in den SMPTE-Prüfsignalen vorhanden ist. Das einzige Mal,bei dem ein bedeutender Betrag an niederfrequenter Energie im CCIF-Spektrum vorhanden ist, ist dann gegeben, wenn in der gerade geprüften Einrichtung eine sehr große Verzerrung auftritt. Wenn daher der CCIF-Teil des Analysators niemals dazu benötigt wird, Verzerrungen von mehr als ungefähr 30 Prozent oder -1OdB zu messen, dann kann die niederfrequente Energie festgestellt und, wie in Fig.1 gezeigt,mit einem Bezugswert verglichen werden.

Im Betrieb wird das Ausgangssignal der gerade geprüften Einrichtung durch den Verstärker 10 auf einen vorher bestimmten Pegel verstärkt, bevor es sowohl in einen SMPTE- als auch in einen CCIF-Analysator eingespeist wird. Der SMPTE-Analysator umfasst das Hochpaßfilter 20, den Demodulator 30, die Pegeleinstellschaltung 35 und das Tiefpaßfilter 25. Um die von dem SMPTE-Signal verursachten Zwischenmodulationsprodukte zu messen, muß die ursprüngliche Signal komponente f,. von niedriger Frequenz beseitigt werden. Dies wird im Hochpaßfilter 20 bewirkt. Das Ausgangssignal des Filters 20 besteht aus Signal, das als Träger und seine resultierenden Seitenbänder bezeichnet werden könnte. Der Träger wird dann vom Demodulator 30 demoduliert. Der Trägerpegel wird automatisch oder manuell eingestellt, um einen 100 Prozent Trägerpegel so zu erzeugen. Dies bewirkt die unmittelbare Auslegung des Analysators in Prozenten an Modulation. Das Ausgangssignal des Demodulators 30 wird vom Tiefpaßfilter 25 übertragen, das den Träger beseitigt und die Modulationshüllkurve an den Effektivwertdetektor und die Ausleseeinrichtung 100 über den Verzerrungsverstärker 40 leitet, wenn der Schalter 90 in der Stellung "A" ist.

Der CCIF-Analysator umfasst die Pegeleinstellschaltung 50 und das Tiefpaßfilter 60. Die Pegeleinstellschaltung 50 paßt die Eingangssignale so an, daß die Amplituden der Grundwellenfrequenzen auf 100 Prozent sind, wodurch eine unmittelbare Ablesung in Prozenten an Modulation möglich ist. Das Signal

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wird vom Tiefpaßfilter 60 gefiltert und in den Effektivwertdetektor und die Ausleseeinrichtung 100 über den Verzerrungsverstärker 40 eingespeist, wenn der Schalter 90 in der Stellung "B" ist.

Das Ausgangssignal des Filters 60, das im wesentlichen die tieferen Differenzfrequenzkomponenten umfasst, die in der gerade geprüften Einrichtung von den unsymmetrischen Verzerrungen gerader Ordnung erzeugt werden, wird auch von einer Diode 80 gleichgerichtet und an den Eingang eines Komparators 70 angekoppelt. Der andere Eingang des Komparators 70 ist ein Bezugspegel 95, der einen typischen niederfrequenten Energieinhalt eines SMPTE-Zwischenmodulationsprlifsignals darstellt. Wenn das Signal aus dem Tiefpaßfilter 60 geringer als der Bezugspegel 95 ist, dann veranlaßt das Ausgangssignal des Komparators 70 über die Spule 75 die Schalteinrichtung 90 in die "B"-Stellung überzuwechseln und dabei das Ausgangssignal des Tiefpaßfilters 60 an den Eingang des Verzerrungsverstärkers 40 zu legen. Wenn jedoch das Signal aus dem Tiefpaßfilter 60 größer als der Bezugspegel ist, veranlaßt das Ausgangssignal des Komparators 70 über die Spule 75 die Schalteinrichtung 90 in die "A"-Stellung überzuwechseln und dabei das Ausgangssignal des Tiefpaßfilters 25 an den Eingang des Verzerrungsverstärkers 40 zu legen. Der Verstärker 40 verstärkt dann das Verzerrungssignal, bevor es von einem Effektivwertdetektor gemessen und auf der Anzeigeeinrichtung dargestellt wird. Dieses Meßgerät kann in Prozenten der Modulation oder dB geeicht sein. Die Verwendung eines den Mittelwert erfassenden Detektors an Stelle eines Effektivwertdetektors kann in machen Fällen annehmbar sein.

Die vorstehenden Ausführungen zeigen, daß die Anmelderin eine neue und ungewöhnliche Einrichtung zur Automatisierung der Auswahl der Ausgangsschaltung in Zwischenmodulationsanalysatoren für eine Zweifachprüfung geschaffen hat. Es kann jedoch bemerkt werden, daß die vorstehende Beschreibung nicht durch den Einschluß einer großen Menge von Einzel- und Spezialangaben belastet wurde, die sich auf Dinge wie Zeitsteuerung und Vorspannungen beziehen, da diese als innerhalb des Fachkönnens liegend angesehen werden.

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Es sollte noch angemerkt werden, daß das besondere Ausführungsbeispiel der Erfindung, das dargestellt und beschrieben wurde, zu Zwecken der Erläuterung und nicht der Beschränkung der Erfindung dargelegt wurde. Die beigefügten Ansprüche sollen daher alle Abwandlungen, die in den Bereich der vorstehenden Beschreibung fallen, umfassen.

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Claims

TEKTRONIX» INC. Beaverton» Oregon

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Automatischer Waehler bei der
Zwi schenmodu Tat ions- verzerrungspruefun9

Patentansprueche

I.J Einrichtung zum automatischen Bestimmen der Prozente der Zwischenmodulatiorisverzerrung» die in einer in der Puefung befindlichen Vorrichtung vorhanden ist» wobei entweder SMPTE- oder CCIF-Pruefsignale verwendet werden»
gekennzeichnet durch:

eine Einrichtung (10) fuer den Empfang des Jeweiligen -

Puefsignals von der gerade geprueften Vorrichtung»

einen SMPTE-ZwischenmodulationsverzerrungsanalYsator (20» 30» 35» 25)» der mit einem Eingang an die Einrichtung (10) zur Verstaerkung angekoppelt ist»

eine Schalteinrichtung (75» 90) zum Umschalten zwischen einem Ausgang des SMPTE^Zwischenmodulatiorisverzer·- rungsanalYsators (20» 30» 35» 25) und einem Ausgang des CCIF-ZwischenmodulationsverzerrungsanalYsators (50» 60) und

eine Ver-gleichseinrichtung (70) zum Vergleichen des niederfrequenten Energieinhalts des Pruefsignals mit einem Bezugssignal» das den Energieinhalt eines charakteristi-

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TEKTRONIXj INC.

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sehen SMPTE-Pruefsignals darstellt» wobei die Ver-gleichseinrichtung an einen Steueranschluss der Schalteinrichtung <75» 90) angekoppelt ist.
2. Einrichtung nach Anspruch Ii

dadurch ge kennzeichne dass
zur Verstaerkung des Ausgangssignals der Schalteinrichtung (75) ein Verzerrungsverstaerker (40) vorhanden ist» an dem eine Effektivmertdetektor— und Anzeigevorrichtung (100) zum Feststellen und Darstellen der Prozente der Zmischenmodulation angekoppelt ist.
3. Einrichtung nach Anspruechen 1 oder 2»

dadurch gekennzeichnet» dass
die Schalteinrichtung <75) ein Relais enthaelt.
4. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2»

dadurch gekennzeichnet» dass
die"Schalteinrichtung einen CMOS-Schalter enthaelt.
5. Einrichtung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden Ansprueche»

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■ :' : .^: TEKTRONIX) INC. ßeaverton» Oregon

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dadurch gekennzeichnet» dass
der· CCIF-Zuiischenmodul ationsverzerrungsanal vsator eine Pegel anpasseinrichtung (50)? die fuer den Empfang des Ausgangssignals der Ver-staer-ker-einrichtung (10) an diesen angekoppelt ist» um den Pegel des Pruefsignals einzustei-1eri5 und ein Tiefpassfilter (60) zum Filtern und Beseitigen der hochfrequenten Komponente aus dem Pruefsignal enthaelt» uiobei der Ausgang des Tiefpassfilters (έ>0) an die Ver—-gleichseinrichtung (70) und die Schalteinrichtung (75» 90) angekoppelt ist.
6. Einrichtung nach Anspruch 1 oder einem der Ansprueche 2 bis 4)

dadurch gekennzeichnet» dass
der SMPTE-Verzerrungsanalvsator ein an den Ausgang der Verstaerkereinrichtung fuer den Signal empfang angekoppeltes Hochpassfilter· (20) zum Beseitigen der niederfrequenten Komponente aus dem Pruefsignal sowie einen Demodulator (30) zum Demodulieren des Ausgangssignals des Hochpassfi1ters (20) und ein Tiefpassfilter (25) zum Beseitigen der hochfrequenten Komponenten vom Ausgangssignal des Demodulators (30) enthaelt» wobei das Tiefpassfilter (25) an die Schalteinrichtung (75) angekoppelt ist.

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7. Einrichtung nach Anspruch 6?

dadurch gekennzeichnetj dass der SMPTE-ZüjischenmodulationsverzerrungsanaiYtor ,«ine Pegel steuereinrichtung (35) zum Anpassen des Traeger-pegel s des Pruefsignals aufweist.
8. Einrichtung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden» dadurch gekennzeichnet» dass fuer die Verstaerkung des Ausgangssignals der Schalteinrichtung <75» 90) ein Verzerrungsverstaerker (40) vorgesehen ist.

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