JPS6093360A - 相互変調ひずみ試験信号発生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、増巾器の相互変調ひずみを測定する試験４１
号、特にＣＣＩＦ及びＳＭＰＴＥ標準試験信号を発生す
る装置に関する。

〔従来の技術〕

増巾器の相互変調ひずみを試験する方法とじて次の２つ
が一般に知られている。その１つは、ソサエティ・オブ
・モーション・ピクチャ・アンド・テレビジョン書エン
ジニアズ（ｔｈｅ　５ｏｃｌｅｔｙ　ｏｆＭｏｔｉｏｎ
　Ｐｉｃｔｕｒｅ　ａｎｄ　Ｔｅ１ｅｖｌｓｌｏｎ　Ｅ
ｎｇｉｎｅｅｒｓ　）にヨシ採用され、アメリカン・ス
タンダーズ・アソシエイショｙ　（ｔｈｓ　Ａｍｅｒｉ
ｃａｎ　５ｔａｎｄａｒｄｓ　Ａ＋５ｏｅｌａｔｌｏｎ
）によシ標準化されたＳＭＰＴＥ法であり、他の１つは
、インタナショナル・テレホニツク・コンサルテイプ・
コミイテイ（ｔｈｅ　Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ　Ｔ
ｅ１ｅｐｈｏｎｉｃＣｏｎｓｕｌｔｌｖｓ　Ｃｏｍｍ１
ｔｔｓ　）によシ推薦されたＣＣＩＦ法である。ＳＭＰ
ＴＥ法において、試験信号は、振巾比を通常４：１で混
合した低周波及び高周波から成っておシ、高周波は低周
波よＪ）ＩＭＩが１２ｄｂ低い・低周波は一般に約４０
〜５００Ｈｚの範囲にあシ、高周波は一般に約２，００
０〜１６０，０００Ｈｚの範囲にある。

これら周波数は、被試験装置の周波数特性に応じて選択
する。複合試験信号を増巾器の入力端に供給すると、と
の増巾器の非直線性により側波帯周波数の和及び差が発
生する。スペクトラム・アナライザ又は専用ひずみ分析
器によυ、この増巾器の出力を分析する。側波帯の実効
値（ＲＭＳ）振巾を加算し、ひずみをこの加算値と上側
波帯周波数のＲＭＢ　＆巾の比として、百分率で表わす
。

ＣＣＩＦ試験においては、周波数の接近した１対の信号
を被試験装置に供給する。この被試験装置の非直線性に
よシ、これら２つの信号間に相互変調が生じる。差周波
数の振＋ｌＪを６１１１定し、ＲＭＳ差周波数振巾とＲ
ＭＳ試験周波数振巾の和との比によυ、ゴ分率で総合相
互変調ひずみを表わす。８ＭＰＴＥ試験はいくつかのア
プリケーションに好適でｓｂ、Ｃ（ＪＦ試験は他のアプ
リケーションに好適である。

ＣＣＩＦ試験個号を発生する従来方法では、高周波発振
器が発生した信ぢを低周波発振器が発生した信号で変調
する。変調器が適切に平衡していれば、この変調器は２
つの周波数のオロ及び差のみを発生する。よって、低周
波発振器ｅよこれら和及び差周波数の間隔を設定し、高
周波発振器は中心周波数を設定する。仁のような動作を
する発振器は、「オーディオ・アマチア（Ｔｈｅ　Ａｕ
ｄｉｏ　Ａｍａｌｅｕｒ　）　Ｊ（１９８Ｊ年２月）の
２１頁におけるビー・ミュラー（Ｂ、Ｍａｉｌ＠ｒ）及
びディ・カールストローム（Ｄ。

Ｃａｒｌｓｔｒｏｍ　）による［魔術師の弟子：掃引フ
ァンクション発生器（Ｔｈｅ　５ｏｒｃｅｒｅｒ’ｓ　
Ａｐｐｒｅｎｔｉｃ＠：Ａ　Ｓｗ＠ｐｔ　Ｆｕｎｃｔｉ
ｏｎ　Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ月に開示されている。これら
同じ２つの発振器を用いてＳＭＰＴＥ試験信号も発生す
るのが望ましい。このようにすることによシ、２種類の
試験に同じ装＋ｇ−ｔが利用でき、これら２種類の試験
を選択的に行なうのが一層便利になる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

したがって本発明の目的の１つは、ＳＭＰＴＥ試験信号
及びＣＣＩＦ試験信号を発生する納規な試験信号発生装
置の提供にある。

本発明の他の目的は、低周波発振器及び高周波発振器を
用いて２つの）上式の試験（１ｔ−発生する装置の提供
にある＠ 〔問題点を解決するだめの手段〕 本発明によれば、同一の装置によｆｉ　ＳＭＰＴＥ　（
８号及びＣＣＩＦ信号の両方を発生できる。即ち、本発
明は、１個の低周波発振器（第１ＩＴＩ変周波数発生手
段）と１個の高周波発振器（第２可変周波数発生手段）
とを用いて、複合ＳＭＰＴＥ試験信号及び複合ＣＣＩＦ
試験侶号の両方を発生する。これは、２個の発振器の出
力を乗算してＣＣＩＦ試験信号を発生し、またこれら２
個の発振器出力を加７すして８ＭＰＴＩ信号を発生する
仁とによシ行なう。

〔作用〕

本発明は、一方の発振器、即ち低周波発振器によシ２つ
のＣ（ＪＦ信号成分の周波数間隔を調整でき、他方の発
」辰器によシそれらの中心周波数を調整できるばかりで
なく、たった２個の発振器を用いて両方の試験信号を発
生できる。

本発明の上述及びその能の目的、特徴及び利点は、添付
図を参照した以下の説明よシ容易に理解できよう。

〔実施例〕

第１図は本発明の試験信号発生装置の好適な実施例のブ
ロック図であり、代表的には約４０〜５００Ｈｚの周波
数範囲の可変低周波発振器（第１可変周波数発生手段）
αりと、代表的には約２，０００−１６０，０００Ｈｚ
の周波数範囲の可変高周波発振器（第２可変周波数発生
手段）α埠とを備えている。これら発振器としては、低
ひずみ正弦波形で、良好な周波数及び振巾安定性を有す
る高精度発振器が望ましく、概念的には、特定のアプリ
ケーションに対して適切な信号純度及び安定性を有する
発振器を用いる。

加算回路（加算手段）α→によシ発振器（１（ｅ及びに
）の出力を加算して標準ＳＭＰＴＥ試験信号（第２試験
信号）　（１３を発生する。冶害なひずみを発生しない
適当な加算回路の設計及び構成は当業者に周知である。

第２Ａ図は低周波発振器ａ１の出力ｆＬの周波数ｆに対
する振巾人の関係を示す図であシ、第２Ｂ図は高周波発
振器ＣＩ埠の出力ｆｎの同様な関係を示す図でらシ、第
２Ｃ図は加算回諮り４の出力信号ＯＱの同様な関係、即
ち低周波及び高周波発振信号の両方に対応する成分を含
む複合信号を示す図である。

乗算回路（乗算手段）α→において、低周波発振器α１
の出力に高周波発振器（２）の出力を乗算し、標準ＣＣ
ＩＦ試験信号（第１試験信号）に）を発生する。

このＣＣＩＦ信号に）は第２Ｄ図に示す如く、高周波信
号及び低周波信号の差、即ちＦＨ−ＦＬと、これら２つ
の信号の和、即ちＦＨ＋ＦＬとを表わす信号成分を有す
る複合信号である。ひずみが最少の適当な乗算回路の設
計及び構成は当朶者に周知である。しかし、いくつかの
アプリケーションでは、加算回路の低周波通過作用及び
残留２次ひずみを除去するために、高域フィルタに）を
設けることが必要である。

〔発明の効果〕

乗算回路を用いて、低周波信号源及び尚周波信号源から
２つの接近した高周波を発生するので、同一の信号源が
ＣＣＩＦ　（Ｍ号の発生及びＳＭＰＴＥ信号の発生に利
用できる。更に、低周波を１度設定すれば２つの高周波
の差が決定でき、これら２つの同周波の中心周波数は筒
周波発振器の周波数のみを調整することによシ調整でき
る。

上述の用語及び表現は単に説明のためであり、何ら本発
明を限定するものではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の好適な一実施例のブロック図、第２Ａ
〜第２Ｄ図は第１図で発生した信号の周波数に対する振
幅を表わす図である０ 図において、α０は第１可変周波数発生手段、（Ｌｌは
第２可変周波数発生手段、αゆは加算手段、０１は乗算
手段である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 低周波信号を発生する第１可変周波数発生手段と、高周
   波信号を発生するｔ？Ｊ２可変周波数発生手段と、上記
   低周波信号及び上記高周波信号を乗算して、上記低周波
   信号の周波数及び上記高周波信号の周波数の和及び差の
   周波数成分を有する第１試験信号を発生する乗算手段と
   、上記低周波信号及び上記高周波信号を加算して上記低
   周波信号の周波数及び上記高周波信号の周波数の周波数
   成分を有する第２試験信号を発生する加算手段とを具え
   た相互変調ひずみ試験信号発生装置。