DE3112444C2 - - Google Patents

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DE3112444C2
DE3112444C2 DE19813112444 DE3112444A DE3112444C2 DE 3112444 C2 DE3112444 C2 DE 3112444C2 DE 19813112444 DE19813112444 DE 19813112444 DE 3112444 A DE3112444 A DE 3112444A DE 3112444 C2 DE3112444 C2 DE 3112444C2
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Germany
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DE19813112444
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German (de)
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DE3112444A1 (de
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Hermann Dipl.-Phys. Ney
Ruediger Dipl.-Ing. 2000 Hamburg De Frehse
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Philips Intellectual Property and Standards GmbH
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Philips Patentverwaltung GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D1/00Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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