DE3006267A1 - Festkoerper-abbildungsanordnung - Google Patents

Festkoerper-abbildungsanordnung

Info

Publication number
DE3006267A1
DE3006267A1 DE19803006267 DE3006267A DE3006267A1 DE 3006267 A1 DE3006267 A1 DE 3006267A1 DE 19803006267 DE19803006267 DE 19803006267 DE 3006267 A DE3006267 A DE 3006267A DE 3006267 A1 DE3006267 A1 DE 3006267A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
horizontal
mos transistor
imaging arrangement
arrangement according
capacitance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19803006267
Other languages
English (en)
Other versions
DE3006267C2 (de
Inventor
Masakazu Aoki
Masaharu Kubo
Shinya Ohba
Iwao Takemoto
Shuhei Tanaka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Denshi KK
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Denshi KK
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Denshi KK, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Denshi KK
Publication of DE3006267A1 publication Critical patent/DE3006267A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3006267C2 publication Critical patent/DE3006267C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • H04N25/677Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction for reducing the column or line fixed pattern noise
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/14Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
    • H04N3/15Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation
    • H04N3/155Control of the image-sensor operation, e.g. image processing within the image-sensor
    • H04N3/1568Control of the image-sensor operation, e.g. image processing within the image-sensor for disturbance correction or prevention within the image-sensor, e.g. biasing, blooming, smearing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Description

1. HITACHI, LTD.
5-1, 1-chome, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo (Japan)
2. HITACHI DENSHI KABUSHIKI KAISHA
23-2, Sudacho-1-chome, Kanda, Chiyoda-ku^ Tokyo (Japan)
Pestkörper-Abbildungsanordnung
Die Erfindung bezieht sich auf eine Festkörper-Abbildungsanordnung zur Verwendung in einer Fernsehkamera usw. Insbesondere bezieht sie sich auf eine Festkörper-Abbildungsvorrichtung, die eine Mehrzahl von in einem Oberflächenbereich eines Halbleiterkörpers angeordneten Bildelementen auf v/eist. Ganz insbesondere bezieht sie sich auf einen Signalablesekreis in der Festkörper-Abbildungsvorrichtuna, der Bildelemente zum Ablesen von darin gespeicherter Photodiodenphotoinformation hat.
Der Stand der Technik ist in den Fig. 1, 2A und 2B veranschaulicht; darin zeigen:
Fig. 1 schematisch das Schaltbild einer herkömmlichen Festkörper-Abbildungsanordnung; und
Fig. 2A und 2B die typischen Wellenformen von Abtastimpulsen bzw. die Wellenformen von Ausgangssignalen, die in der in Fig. 1 dargestellten Festkörper-Abbildungsanordnung verwendet werden.
Als Bildabtasteinrichtung zur Verwendung in einer Fernsehkamera usw. wurde anstelle der herkömmlichen Bildabtaströhre eine Festkörper-Abbildungsanordnung mit Verwendung integrierter Halbleiterschaltungen entwickelt.
030035/0836
BAD ORIGINAL
Gemäß der Darstellung in Fig. 1 speichert eine Photodiode 3 bei Lichteinfall Photoelektronen in ihrer Übergangskapazität, wenn die Photodiode ein N-Kanalelement ist. Ein durch einen vertikalen Abtastkreis 2 erzeugter positiver Abtastimpuls schaltet vertikale Schalt-MOS-Transistören 4 ein, die mit einer ausgewählten der vertikalen Abtastleitungen 6 verbunden sind. Andererseits schalten durch einen horizontalen Abtastkreis 1 erzeugte Abtastimpulse nacheinander horizontale Schalt-MOS-Transistoren ein, so daß die in den Photodioden 3 gespeicherten Photoelektronen davon zu einem Sxgnalausgangsanschluß 15 abgegeben werden, um ein Videosignal zu liefern, üblicherweise wird das Videosignal in der Form einer SpannungsSchwankung ausgenutzt, die durch einen Lastwiderstand 11 abgeleitet wird. Die Bezugsziffer 12 deutet eine Spannungsquelle für Videovorspannung an.
Bei dieser Festkörper-Abbildungsanordnung wird, wenn kontinuierlich verkettete Abtastimpulse ohne Invervalle als eine horizontale Abtastimpulskette verwendet werden, der ( η + 1)te horizontale Schalt-MOS-Transistor beim Ausschalten des η-ten horizontalen Schalt-MOS-TransistorS eingeschaltet. Demgemäß wird der unter dem Tor des η-ten horizontalen Schalt-MOS-Transistors festgehaltene Restteil der Ladung zum Leiten als das (n + 1) te Signal geliefert, was zu einer Art von Festmusterrauschen führt.
Die Erfinder schlugen daher ein Abtastsystem vor, bei dem diskontinuierlich folgende Kettenabtastimpulse mit Intervallen als eine horizontale Abtastimpulskette verwendet werden (JP-OS 27313/79). Fig. 2A zeigt solche diskontinuierlichen Abtastimpulse H1, H2, H3, H4 ... . Vertikale Abtastimpulse sind darin mit V(n) und V(n+1) angedeutet.
0 3 0035/0836
3001-267
Die horizontalen Abtastimpulse H1, H2, H3, H4 ... haben dazwischenliegende Intervallzeiten T.
Fig. 2B zeigt die Wellenform 21 eines horizontalen Abtastimpulses, der der Steuerelektrode des horizontalen Schalt-MOS-Transistors 5 zugeführt wird, und auch die Wellenform 22 eines am Signalausgangsanschluß 15 erhaltenen Signalimpulses. SpannungsSchwankungen 23 und 24, die aufgrund der z_wischen der Steuerelektrode des MOS-Transistors (oder der horizontalen Abtastleitung 7) und einer horizontalen Signalausgangsleitung 9 gebildeten parasitären Kapazität auftreten, werden Spitzenrauschen genannt. Eine gestrichelte Kurve 25 tritt in dem Fall auf, wo die Signalladungen anwesend sind. Wenn das Spitzenrauschen die gleiche Form an jedem gegebenen Abtastpunkt hat, kann es leicht durch die Einschaltung eines Tiefpaßfilters beseitigt werden, so daß seine Störung beim erzeugten Videosignal kaum beträchtlich ist. In der Praxis variieren jedoch die Form und die Amplitude.des Spitzenrauschens sehr weit in Abhängigkeit von den Änderungen der Impulswellenform und der Schwellenspannung Vth des MOS-Transistors 5, und daher verursacht das Spitzenrauschen ein Störsignal. Dieses Störsignal überlagert sich den jeweiligen Signalen von den gemeinsam an eine vertikale Signalausgangsleitung 8 angeschlossenen Photodioden 3 und wird daher Ursache einer Störung festen Musters, die sich als vertikaler Streifen (oder Gürtel) auf einem Wiedergabebildschirm bemerkbar macht und die Bildqualität stark beeinträchtigt. Die von der Photodiode 3 abgeleiteten Signalladungen sind von sehr geringer Menge. Daher ist es sehr schwierig, die Abweichungen der Abtastimpulswellenform und der Eigenschaften des MOS-Transistors befriedigend klein im Vergleich mit der geringen Menge der Signa!ladungen zu machen. Dies ergibt ein Hindernis
030035/0836
BAD ORIGINAL
für die praktische Verwendung der Festkörper-Abbildungsanordnungen .
Die Erfinder schlugen ebenfalls Signalverarbeitungsschaltungen für Festkörper-Abbildungsanordnungen unter Verwendung einer diskontinuierlichen horizontalen Abtastimpulskette vor,in denen das Videoausgangssignal durch Verwendung einer Emitterfolgerschaltung integriert wird (JP-GM 155426/79 und JP-PA 12248/79). Obwohl dieser die integrierende Schaltung verwendende Sxgnalverarbeitungskreis die Festmusterstörung wirksam beseitigen kann, ist die Schaltung selbst kompliziert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, unter Überwindung der vorstehend beschriebenen Probleme eine Festkörper-Abbildungsanordnung zu entwickeln, die in einer einfachen Schaltungsgestaltung einen Signalverarbeitungskreis enthält, der die Festmusterstörung aufgrund des Spitzenrauschens beseitigen kann, damit bei der Festkörper-Abbildungsanordnung vertikale Streifen, infolge der Festmusterstörungen auf dem Bildschirm nicht mehr auftreten können.
Gegenstand der Erfindung, womit diese Aufgabe gelöst wird, ist eine Festkörper-Abbildungsanordnung mit einer zweidimensionen Matrix von photoelektrischen Wandlerelementen, vertikalen und horizontalen Schalt-MOS-Transistoren zum Übertragen von durch die photoelektrischen Wandlerelemente erfaßten Signalen zum Signalausgangsanschluß, vertikalen und horizontalen Abtastkreisen zum Zuführen von Abtastimpulsen zu den Steuerelektroden der vertikalen bzw. der horizontalen Schalt-MOS-Transistoren, mit dem Kennzeichen, daß ein Schaltsteuer-MOS-Transistor zwischen den horizontalen Schalt-MOS-Transistoren (oder einer horizontale , Schalt-MOS-
030035/0836
Transistoren verbindenden Signalausgangsleitung) und dem zugehörigen Signalausgangsanschluß angeschlossen ist.
Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung gibt also eine Festkörper-Abbildungsanordnung mit in einer zweidimensionalen Matrix angeordneten Photodioden, vertikalen und horizontalen Schalt-MOS-Transistoren zum Auswählen der Photodi-oden und vertikalen und horizontalen Abtastkreisen zum Zuführen der Abtastimpulse zu den Steuerelektroden der vertikalen bzw. der horizontalen Schalt-MOS-Transistoren, in der ein Signalschaltsteuer-MOS-Transistor zwischen einem Signalausgangsanschluß und einer die horizontalen Schalt-MOB-Transistoren gemeinsam verbindenden horizontalen Signalausgangsleitung angeschlossen ist.
Die Erfindung wird anhand der in den Fig. 3 bis 11 veranschaulichten Ausführungsbeispiele näher erläutert; darin zeigen:
Fig. 3 das Schaltbild eines Ausführungsbeispiels der Festkörper-Abbildungsanordnung gemäß der Erfindung;
Fig. 4 die Wellenformen verschiedener in der in Fig. 3 gezeigten Schaltung auftretenden Signale;
Fig. 5 und 6 Schaltbilder weiterer Ausführungsbeispiele der Festkörper-Abbildungsanordnung gemäß der Erfindung;
Fig. 7 im Querschnitt eine im Ausführungsbeispiel nach Fig. 6 verwendete MlS-Kapazität;
030035/0836
Fig. 8 die Wellenformen verschiedener in der Schaltung nach Fig. 6 auftretender Signale;
Fig. 9 und 10 Schaltbilder weiterer Ausführungsbeispiele der Festkörper-Abbildungsanor dnung gemäß der Erfindung; und
Fig.11 die Wellenformen verschiedener in der Schaltung nach Fig. 10 auftretender Signale.
Fig. 3 zeigt das Schaltbild des wesentlichen Teils eines Ausführungsbeispiels der Festkörper-Abbildungsanordnung gemäß der Erfindung. Ein Signalschaltsteuerelement, nämlich ein MOS-Feldeffekttransistor 30, der zur leichten Bildung geeignet ist, ist zwischen der horizontalen Signalausqangsleitung 9 und dem Signalausgangsanschluß 15 eingefügt. Die Teile 5, 7, 10, 11, 12 und 14 entsprechen gleichen Teilen im Schaltbild nach Fig. 1. Fig. 4 zeigt die Wellenform 21 eines horizontalen Abtastimpulses(aus einer Reihe von diskontinuierlich verketteten Abtastimpulsen mit Intervallen), die Wellenform 26 eines der Steuerelektrode 31 des MOS-Transistors 30 zugeführten Schaltimpulses, die Wellenform 27, die die Änderung der Spannung an der horizontalen Signalausgangsleitung 9 darstellt, und die Wellenform 22 eines am Sxgnalausgangsanschluß 15 verfügbaren Signals. In den Wellenformen 27 und 22 entsprechen voll ausgezogene Kurven den Fällen, wo keine Signalladungen existieren, während gestrichelte Kurven dem Fall entsprechen, wo Signalladungen existieren.
Der MOS-Transistor 30 wird eingeschaltet, nachdem der horizontale Schalt-MOS-Transistor ausgeschaltet ist (d. h. nachdem die Spannung an der Signalleitung 9 von der Beein-
030035/0836
OO -207
flussung durch die parasitäre Kapazität befreit ist und ihren Anfangszustand wieder einstellt), und der MOS-Transistor 30 wird abgeschaltet, bevor der horizontale Schalt-MOS-Transistor in der nächsten Reihe einaeschaltet wird. Während dar horizontale Abtastinpuls zugeführt wird, wird die horizontale Signalausganasleitung 9 elektrisch vom Signalausgangsanschluß 15 oder dan Lastwiderstand 11 getrennt. Demgemäß fließt kein Strom durch die betrachtete Bahn, und daher können die Einflüsse aufgrund der Abweichungen der Wellenforman der Abtastimpulse und der Eiaenschaftan der MOS-Transistoren eliminiert v/erden. WiG in Fin. 4 gezeiat ist, hat das Spitzenrauschen, das durch die Schaltwirkung des MOS-Transistors 30 allein erzeugt wird, in diesem Fall eine konstante Form und ist daher unschädlich, da es leicht durch Vorsehen eines Tiefpaßfilters od. dgl. beseitigt warden kann. Dies gilt ebenfalls für die folgenden Ausführungsbeispiele .
Fig. 5 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel· dar Erfindung. Bei diesem Ausfünrungsbeispial ist eine zusätzliche Kapazität 32 mit der horizontalen Signalausganrrsleitung 9 verbunden. Die Wirkungsweise dieses Ausführungsbeispiels ist ähnlich der des Ausführungsbeispiels nach rig. 3.
Da die vertikale Signalausgangsleitung 8 eine parasitäre Kapazität 13 bezüglich des Substrats (Krda) hat und die parasitäre Kapazität 14 der horizontalen Signalausgangslaitung 9 in Reihe mit der parasitären Kapazität 13 zwischen den vertikalen und horizontalen Signalausgangsleitunaen 3 und ist, bleiben Signalladungen mit ihrer der parasitären Kapazität 13 proportionalen Menge auf der vertikalen Signalausgangsleitung 8. Wenn die parasitäre Kapazität 14 viel
030035/0836 BAD ORIGiNAL
3005267
größer als die parasitäre Kapazität 13 ist, ergibt sich kein Problem (dies ist der übliche Fall). Wenn daaerren dia parasitäre Kapazität 14 im Vergleich mit der parasitären
über
er-\
Kapazität 13 nicht so groß ist, soHacrcrn sich die verbleibenden Signalladungen dem nächsten Signal unter Verschlechterung der Bildauflösung in der Vertikalrichtung auf dem Bildschirm. Dieses Problem läßt sich leicht durch Vorsehen dör zusätzlichen Kapazität 32 beseitigen, die viel größer als die parasitäre Kapazität 13 ist.
Fig. 6 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfinduna. Dieses Ausführungsbeispiel verwendet eine Metall-Isolator-Halbleiter (1MIS) -Kapazität 33 zur Schaffung einer zusätzlichen Kapazität, deren Wert variabel ist. Der Aufbau der MIS-Kapazität 33 ist im Querschnitt in Fig. 7 dargestellt. Wenn eine isolierte Steuerelektrode 41 mit einem ähnlichen Aufbau wie dem der Steuerelektrode eines MOS-Transistors an ein ausreichend hohes Potential bezüglich einer Diffusionsschicht 4 gelegt wird, dehnt sich eine aufgrund von aus der Diffusionsschicht 42 gezogenen Elektronen gebildete N-Inversionsschicht 47 in den Oberflächenbereich eines Halbleitersubstrats 43 unter der Elektrode 41 aus, so daß die Kapazität zwischen den Anschlüssen 45 und 46 groß wird. Wenn die hohe Spannung beseitigt wird, verschwindet die Inversionsschicht 47, und auch die große Kapazität verschwindet. In dem in Fig. 6 dargestellten Ausführungsbeispiel ist
der Anschluß 46 mit der horizontalen Signalausgangsleitung 9 verbunden, und der Anschluß 45 entspricht dem Anschluß 34.
Fig. 8 zeigt die Wellenform 50 eines dem Anschluß 34 zugeführten Spannungsimpulses. Während der MOS-Transistor
030035/0836
BAD ORIGINAL
3005267
leitend ist, wird dem Anschluß 34 ein positiver Impuls zugeführt, und wenn der MOS-Transistor 30 eingeschaltet wird, entfällt die Spannung. Als Ergebnis wird die Kapazität 33 groß, wenn die Signalladungen zur Signalausgangsleitung 9 abgezogen werden. Dies ist der gleiche Effekt wie durch die Kapazität 32 im Ausführungsbeispiel nach Fig. 5. Andererseits wird, während das Signal abgelesen wird (wobei der MOS-Transistor 30 leitend ist), die Kapazität 33 klein, was zu einer kleinen Zeitkonstanten für die Signalablesung und damit zu einer erhöhten Betriebsgeschwindigkeit führt.
Auch wenn die MIS-Kapazität 33 mit umgekehrter Polarität angeschlossen wird, läßt sich eine gleichartige Wirkung erhalten. In diesem Fall muß die Wellenform des dem Anschluß zugeführten Spannungsimpulses bezüglich der in Fig. 8 dargestellten Wellenform 50 von umgekehrter Polarität sein.
Fig. 9 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist eine zusätzliche Kapazität mit der horizontalen Signalausgangsleitung 9 an der Seite des Ausgangsanschlusses 15 des Ausführungsbeispiels nach Fig. 3 verbunden. Die Kapazität 35 dient zur Absorption der Signalladungen von der horizontalen Signalausgangsleitung 9, wodurch die Schaltfunktion des MOS-Transistors 30 unterstützt wird und die Menge der Restladungen auf der horizontalen Signaü^ausgangsleitung 9 sinkt. Diese Kapazität 35 kann auch in den Ausführungsbeispielen nach Fig. 5 und 6 verwendet werden.
030035/0836
BAD ORIGINAL
3008267
Pig. 10 zeigt noch ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung. Dieses Ausführungsbeispiel läßt sich verwirklichen, indem man einfach eine MlS-Kapazität 36 als variable Kapazität für die Kapazität 35 im Ausführungsbeispiel nach Fig. 9 einsetzt. Durch Zuführen einer Impulsspannung mit einer in Fig. 11 gezeigten Wellenform 51 zur Elektrode 37 wird die Kapazität 36 groß, während der MOS-Transistor 30 leitend ist, so daß die Signalladungen rasch von der horizontalen Signalausgangsleitung 9 zum Signalausgangsanschluß 15 überführt werden. Danach wird die Kapazität klein gemacht, so daß die.Zeitkonstante für die Signalablesung verringert wird und sich die Arbeitsgeschwindigkeit erhöht. Diese Kapazität 36 kann auch bei den Ausführungsbeispielen nach Fig.5 und 6 verwendet werden.
Ähnlich dem Fall des Ausführungsbeispiels nach Fig. 6 kann der Anschluß der MIS-Kapazität 36 umgekehrt werden, um eine ähnliche Wirkung zu erhalten, wenn auch die Polarität der Impulswellenform umgekehrt wird.
Das in Fig. 10 dargestellte Ausführungsbeispiel ergibt eine weitere Maßnahme zur Verbesserung. Wenn der Leitzustand des MOS-Transistors 30 so hoch wird, daß er von den mit dem Lastwiderstand 11, der horizontalen Signalausgangsleitung 9 und dem Signalausgangsanschluß 15 verbundenen parasitären Kapazitäten unabhängig ist, dann kann nämlich die MIS-Kapazität 36 aufgrund des oben beschriebenen Effekts entfallen. Jedoch ist ein MOS-Transistor mit so hoher Leitfähigkeit üblicherweise von großer Abmessung, so daß der MOS-Transistor hoher Leitfähigkeit starkes Spitzenrauschen der weiter oben beschriebenen Art erzeugt. Obwohl das Spitzenrauschen durch Vorsehen eines Tiefpaßfilters beseitigt werden kann, ist es schädlich im Verstärkunasverfahren und
03003 5/083 6
BAD ORIGINAL
300S267
sollte daher am Entstehen gehindert werden* Gemäß diesem Ausführungsbeispiel wird durch Zuführen eines Impulses mit einer in Fig. 11 dargestellten Wellenform 52 zur Elektrode der MIS-Kapazität 36, wobei die Polarität der Wellenform derjenigen der Wellenform 26 des der Steuerelektrode 31 des MOS-Transistors 30 zugeführten Impulses entgegengesetzt ist, das Spitzenrauschen aufgrund der inversen kapazitiven Kopplung zum Signalausgangsanschluß geleitet,um das Spitzenrauschen zu beseitigen. Demgemäß kann das Signal unabhängig vom Rauschen abgeleitet werden, so daß sich die Signalverarbeitung erleichtern läßt.
In allen vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen der Erfindung kann man als Schaltsteuer-MDS-Transistor 30 irgendeinen Schalttransistor, wie z. B. einen Ubergangstor- oder Feldeffekttransistortyp, einen Schottky-Sperrschicht-Feldeffekttransistor oder einen bipolaren Transistor anstelle des dargestellten Feldeffekttransistors mit isoliertem Tor verwenden.
Wie vorstehend beschrieben, kann erfindungsgemäß die Festmusterstörung, die bei einer Festkörper-Abbildungsanordnung sehr ernstliche Nachteile bringt, leicht beseitigt v/erden, und daher wird erfindungsgemäß eine praktisch einsatzfähige Festkörper-Abbildungsanordnung geboten, die zur Erzeugung von Bildern hoher Güte geeignet ist.
030035/0836
ORIGINAL

Claims (11)

  1. Patentansprüche
    \J. Festkörper-Abbildungsanordnung mit einer zweidimensionalen Matrix von photoelektrischen Wandlerelementen, vertikalen und horizontalen Schalt-MOS-Transistoren zum Übertragen von durch die photoelektrischen Wandlerelemente erfaßten Signalen zum Signalausgangsanschluß, vertikalen und horizontalen Abtastkreisen zum Zuführen von Abtastimpulsen zu den Steuerelektroden der vertikalen bzw. der horizontalen Schalt-MOS-Transistoren,
    dadurch gekennzeichnet, daß ein Schaltsteuer-MOS-Transistor (30) zwischen den horizontalen Schalt-MOS-Transistoren (5) und dem zugehörigen Signalausgangsanschluß (15) angeschlossen ist.
  2. 2. Abbildungsanordnung nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß der Schaltsteuer-MOS-Transistor (30) eingeschaltet wird, wenn der horizontale Schalt-MOS-Transistor (5) ausgeschaltet wird.
  3. 3. Abbildungsanordnung nach Anspruch 2,dadurch gekennzeichnet, daß eine Kapazität (32; 33) an einem Ende mit der horizontalen Signalausgangsleitung (9) zwischen dem Schaltsteuer-MOS-Transistor (30) und den horizontalen Schalt-MOS-Transistoren (5)
    verbunden ist.
  4. 4. Abbildungsanordnung nach Anspruch 3,dadurch gekennzeichnet, daß die Kapazität (33) vom MIS-Typ variabler Kapazität ist.
  5. 5. Abbildungsanordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß eine bestimmte Spannung an das andere Ende (34) der variablen MIS-Kapazität (33) angelegt wird, während der horizontale Schalt-MOS-Transistor (5) leitend ist. 81-(A4413-O3)TF 030035/0838
    30Of267
  6. 6. Abbildungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß eine Kapazität (35; 36) an ihrem einen Ende mit der horizontalen Signalausgangsleituna (9) zwischen dem Schaltsteuer-MOS-Transistor (30) und dem Signalausgangsanschluß (15) verbunden ist.
  7. 7. Abbildungsanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Kapazität (36) vom MIS-Typ variabler Kapazität ist.
  8. 8. Abbildungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch qekennzeichnet, daß eine bestimmte Spannung an das andere Ende (37) der variablen MIS-Kapazität (36) angelegt wird, während der Schaltsteuer-MOS-Transistor (30) leitend ist.
  9. 9. Abbildungsanordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die bestimmte Spannung die gleiche Polarität
    (31)
    wie die an die Steuerelektrode des Schaltsteuer-MOS-Transistors
    (30) angelegte Spannung hat.
  10. 10. Abbildungsanordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die bestimmte Spannung von entaegengesetzter Polarität zu der an die Steuerelektrode (31) der Schaltsteuer-MOS-Transistors (30) angelegten Spannung ist.
  11. 11. Abbildungsanordnung nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß der horizontale Abtastkreis (1) diskontinuierlich verkettete horizontale Abtastimpulse mit Intervallen dazwischen liefert.
    030035/0838
    , , ·, BAD ORIGINAL
DE3006267A 1979-02-21 1980-02-20 Festkörper-Abbildungsanordnung Expired DE3006267C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1834379A JPS55112081A (en) 1979-02-21 1979-02-21 Solid state pickup device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3006267A1 true DE3006267A1 (de) 1980-08-28
DE3006267C2 DE3006267C2 (de) 1983-11-17

Family

ID=11969003

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3006267A Expired DE3006267C2 (de) 1979-02-21 1980-02-20 Festkörper-Abbildungsanordnung

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4301477A (de)
JP (1) JPS55112081A (de)
CA (1) CA1127744A (de)
DE (1) DE3006267C2 (de)
FR (1) FR2450012B1 (de)
GB (1) GB2045572B (de)
NL (1) NL8001011A (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3138294A1 (de) * 1981-09-25 1983-04-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor mit steuerung oder regelung der integrationszeit
DE3236146A1 (de) * 1982-09-29 1984-03-29 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor und verfahren zu seinem betrieb
US4665422A (en) * 1983-08-20 1987-05-12 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Solid state image sensing device

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5848577A (ja) * 1981-09-18 1983-03-22 Semiconductor Res Found 固体撮像装置の画像信号読出し方法
DE3484804D1 (de) * 1983-05-16 1991-08-22 Fuji Photo Film Co Ltd Verfahren zur entdeckung eines strahlungsbildes.
JPH065861B2 (ja) * 1983-11-19 1994-01-19 京セラ株式会社 読取り装置
US5184232A (en) * 1985-10-17 1993-02-02 Michael Burney Holographic display imaging process
US5097338A (en) * 1988-11-17 1992-03-17 Sanyo Electric Co., Ltd. Scanning type image sensor
US5272345A (en) * 1989-09-22 1993-12-21 Ada Technologies, Inc. Calibration method and apparatus for measuring the concentration of components in a fluid
WO1991004633A1 (en) * 1989-09-23 1991-04-04 Vlsi Vision Limited I.c. sensor
JP2810526B2 (ja) * 1989-11-21 1998-10-15 キヤノン株式会社 光電変換装置及び該装置を搭載した装置
US5241169A (en) * 1989-11-21 1993-08-31 Canon Kabushiki Kaisha Photoelectric conversion device having an improved control electrode structure and apparatus equipped with same
US5134488A (en) * 1990-12-28 1992-07-28 David Sarnoff Research Center, Inc. X-Y addressable imager with variable integration
US5134489A (en) * 1990-12-28 1992-07-28 David Sarnoff Research Center, Inc. X-Y addressable solid state imager for low noise operation
JPH04246860A (ja) * 1991-02-01 1992-09-02 Fujitsu Ltd 光電変換装置
US5426515A (en) * 1992-06-01 1995-06-20 Eastman Kodak Company Lateral overflow gate driver circuit for linear CCD sensor
JPH10257392A (ja) * 1997-03-14 1998-09-25 Matsushita Electron Corp 物理量分布検知半導体装置およびその駆動方法ならびにその製造方法
US6476751B1 (en) * 2000-03-29 2002-11-05 Photobit Corporation Low voltage analog-to-digital converters with internal reference voltage and offset

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2527625B1 (de) * 1975-06-20 1976-09-16 Siemens Ag Optoelektronischer Sensor
DE2609731B2 (de) * 1975-03-10 1978-02-23 Matsushita Electronics Corp, Kadoma, Osaka (Japan) Festkoerper-abbildungsvorrichtung
DE2642209A1 (de) * 1976-09-20 1978-03-23 Siemens Ag Auslesevorrichtung fuer einen cid- bzw. bcid-sensor und verfahren zu deren betrieb
DE2543083B2 (de) * 1975-09-26 1978-05-24 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Bildsensor sowie Verfahren zum Betrieb eines solchen Bildsensors
DE3003992A1 (de) * 1979-02-07 1980-09-04 Hitachi Electronics Festkoerper-abbildungsvorrichtung

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583630B2 (ja) * 1977-09-16 1983-01-22 松下電子工業株式会社 固体光像検出装置
JPS6033346B2 (ja) * 1979-07-02 1985-08-02 株式会社日立製作所 固体撮像装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2609731B2 (de) * 1975-03-10 1978-02-23 Matsushita Electronics Corp, Kadoma, Osaka (Japan) Festkoerper-abbildungsvorrichtung
DE2527625B1 (de) * 1975-06-20 1976-09-16 Siemens Ag Optoelektronischer Sensor
DE2543083B2 (de) * 1975-09-26 1978-05-24 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Bildsensor sowie Verfahren zum Betrieb eines solchen Bildsensors
DE2642209A1 (de) * 1976-09-20 1978-03-23 Siemens Ag Auslesevorrichtung fuer einen cid- bzw. bcid-sensor und verfahren zu deren betrieb
DE3003992A1 (de) * 1979-02-07 1980-09-04 Hitachi Electronics Festkoerper-abbildungsvorrichtung

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3138294A1 (de) * 1981-09-25 1983-04-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor mit steuerung oder regelung der integrationszeit
DE3236146A1 (de) * 1982-09-29 1984-03-29 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor und verfahren zu seinem betrieb
US4665422A (en) * 1983-08-20 1987-05-12 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Solid state image sensing device
US4791070A (en) * 1983-08-20 1988-12-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of fabricating a solid state image sensing device

Also Published As

Publication number Publication date
NL8001011A (nl) 1980-08-25
US4301477A (en) 1981-11-17
JPS55112081A (en) 1980-08-29
CA1127744A (en) 1982-07-13
GB2045572B (en) 1983-05-11
FR2450012B1 (fr) 1985-06-14
FR2450012A1 (fr) 1980-09-19
GB2045572A (en) 1980-10-29
DE3006267C2 (de) 1983-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3006267A1 (de) Festkoerper-abbildungsanordnung
DE2938499C2 (de) Festkörper-Bildaufnahmevorrichtung
DE69920687T2 (de) Bildsensor mit erweitertem dynamikbereich
DE3752221T2 (de) Photoelektrischer Wandler
DE3345215C2 (de) Festkörper-Bildaufnahmewandler
DE3008858C2 (de) Fotoelektrische Halbleiteranordnung
DE2331093C2 (de) Strahlungsabtastvorrichtung
DE3003992A1 (de) Festkoerper-abbildungsvorrichtung
DE69922730T2 (de) Festkörperbildaufnahmevorrichtung
EP0025168A2 (de) Monolithisch integrierte Schaltung mit einem zweidimensionalen Bildsensor
DE3412861A1 (de) Rauscharme schwarzpegelbezugsschaltung fuer bildaufnahmeeinrichtungen
DE2352184A1 (de) Schaltung zur kohaerenten ablesung und signalverarbeitung einer ladungsgekoppelten anordnung
DE2609731A1 (de) Festkoerper-bilderfassungsvorrichtung
DE69227669T2 (de) Schaltung mit Source-Folger für Bildsensor
DE3120458A1 (de) Festkoerper-bildsensoranordnung
DE2342684A1 (de) Signaluebertragungssystem
DE69805555T2 (de) Verfahren zur Erzeugung eines Auslegesignals einer auf CMOS basierender Pixelstruktur und eine solche auf CMOS basierender Pixelstruktur
DE3688341T2 (de) Videokamera.
DE3039264A1 (de) Festkoerper-bildabtastvorrichtung und deren ladungsuebertragungsverfahren
DE3752224T2 (de) Photoelektrischer Wandler
DE2210303A1 (de) Aufnehmer zum Umwandeln eines physikalischen Musters in ein elektrisches Signal als Funktion der Zeit
DE3036905A1 (de) Signalverarbeitungsschaltung fuer festkoerper-kamera
DE3311917A1 (de) Optische bildaufnahmeeinrichtung
DE69810232T2 (de) Bildsensor mit Photosensorchips und Ausgangskreis auf einem einzigen Trägersubstrat
DE3138294A1 (de) Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor mit steuerung oder regelung der integrationszeit

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
8125 Change of the main classification

Ipc: H04N 3/15

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee