DE3006071C2 - Lichtsammelanordnung in einer Vorrichtung zur Abtastung einer Fläche wie z.B. einer Materialbahn längs einer Geraden mittels eines Lichtstrahls - Google Patents
Lichtsammelanordnung in einer Vorrichtung zur Abtastung einer Fläche wie z.B. einer Materialbahn längs einer Geraden mittels eines LichtstrahlsInfo
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- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 108010010803 Gelatin Proteins 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 229920000159 gelatin Polymers 0.000 description 1
- 239000008273 gelatin Substances 0.000 description 1
- 235000019322 gelatine Nutrition 0.000 description 1
- 235000011852 gelatine desserts Nutrition 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Lichtsammelanordnung in einer Vorrichtung zur Abtastung einer Fläche wie z. B.
einer Materialbahn längs einer Geraden mittels eines Lichtstrahls, wobei die von jeweils einem Punkt der
Fläche innerhalb eines bestimmten Winkelbereichs ausgehenden, im wesentlichen monochromatischen,
reflektierten oder transmitticrten Lichtstrahlen etwa
senkrecht auf eine längliche Lichtablenkvorrichtung auftreffen und zumindest teilweise mittels dieser
Lichtablenkvorrichtung auf eine LicJi'-samnielfläche wie
z. B. einen photoelektrischen Wandler gerichtet werden.
Eine Lichtsammelanordnung im Sinne vorliegender Erfindung ist dazu bestimmt, einen entlang einer Linie
vorhandenen Lichtfluß großer Linearabmessung mit begrenztem Winkclbereich in einen flächenförmigen
Lichtfluß mit großem Winkclbereich umzuwandeln, wobei eine Verkleinerung der Austrittsfläche im
Vergleich zur Eintrittsfläehe erreicht wird. Bekannte Lichtsammelanordnungen arbeiten mit Spiegelkasten.
Lichtleitstäben und/oder diffus reflektierenden Hohlräumen (siehe z. B. DE-OS 19 4! 905. Df-AS 21 15 979.
DE-AS 25 32 bOJ).
Alle bekannten l.ichts.iinmclanordniingeii haben die
Eigenschaft, daß eine Winkelbeeinflussung der cinfallendcn
Strahlung erreicht werden muß. damit die zunächst innerhalb des Gren/winkcK der Anordnung
eintretende Strahlung außerhalb dieses Grenzwinkels sich fortpflanzt. Bei Lichtleiistiiben ist dieser Gren/winkel
der Grenzwinkel der Toialrcilesion.
Um bei den bekannten Lichtfeilstabanordnungen (las im wesentlichen senkrecht v.w styb.ichse ;mf die eine
Mantelseite de* Stabes auftreffende Licht unter
Winkeln der Totalreflexion in das Stabinnere abzulenken,
ist es bekannt, an der l.ichlemtrittsmantelseitc eine
mattscheibenartige Aufrauhung vorzusehen (DIwVS 21 15 979). Weiter hat man auf der dem Lichteinlritt
diametral gegenüberliegenden Mantclseite bereits lichtstreuendes Material angeordnet, um das einfallende
Licht aus seiner Einfallsrichtung abzulenken (AT-PS
2 06 663), Nachteilig an diesen beiden bekannten Lichtleitstabanordnungen ist, daß ein großer Teil des
Einfallslichtes nicht in Totalreflexions-Winkelbereiche abgelenkt wird und so für die Messung verlorengeht.
Aus diesem Grunde hat man bereits auf der dem Lichteintritt diametral gegenüberliegenden Mantelseite
eine Stufenspiegelanordnung vorgesehen (DE-AS 25 32 603). Die Einzelspiegel dieser Stufenspiegelanordnung
sind so zur Längsachse des Lichtlcitstabes gerichtet, daß alles auftreffende Licht unter Winkeln der
Totalreflexion in das Innere des Lichtleitstabes abgelenkt wird. Auch diese Lichtleitstäbe befriedigen noch
nicht völlig, weil wegen des relativ groben Spiegelrasters eine störende Modulation auftritt, wenn ein
Abtastlichtstrahl entlang der Längsachse des Lichtleitstabes diesen periodisch abtastet. Durch Nebenstrahlen
weisen diese Lichtleitstäbe einen begrenzten Wirkungsgrad auf, der mit von der Normaleinfallsrichtung
zunehmend abweichenden Lichtstrahlen stark abfällt.
Die Lichtsammeifläche bei allen bekannten Lichtsammelanordnungen
besteht im allgemeinen aus einem oder mehreren photoelektrischen Wandlern, welche ein der
auftreffenden Lichtmenge entsprechendes elektrisches Signal abgeben. Es kommt somit bei allen Lichtsammelanordnungen
darauf an, daß von dem an irgendeiner Stelle der Länge auftreffenden Licht möglichst viel zu
der Lichtsammeifläche gelangt. Weiter ist es wichtig, daß unter gleichen Winkeln an unterschiedlichen Steilen
der länglichen optischen Lichtablenkvorrichtung auftreffendes Licht am photoelektrischen Wandler ein
gleich starkes elektrisches Signal auslöst.
Derartige Lichtsammelanordnungen werden im allgemeinen
parallel zu einer Materialbahn angeordnet, welche durch einen Laserstrahl periodisch mit einem
Lichtfleck abgetastet wird. Das von der Materialbahn reflektierte bzw. durch sie hindurchgehende Licht wird
dann von der Lichtsammelanordnung aufgenommen und zu dem photoelektrischen Wandler gelenkt, dessen
elektrisches Ausgangssignal zur Erkennung von MaterialbahnfehLrn
ausgewertet wird.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, für eine Lichtsammelanordnung der eingangs genannten
Gattung eine längliche optische Lichtablenkvorrichtung zu schaffen, welche die Nachteile der bekannten
Vorrichtungen nicht aufweist und bei hohem Wirkungsgrad, d. h. bei nur geringen Lichtverlusten an unterschiedlichen
Stellen unter gleichen Winkeln auftreffendes Licht in der gleichen Weise auf die Lichtsammelfläche
lenkt, so daß bei Anordnung eines photoelektrischen Wandlers an dieser Stelle ein gleiches elektrisches
Ausgangssignal erzielt wird Bei Anwendung der Lichtsainmelanordnung an einer von einem Abta.stlichlfleck
periodisch abgetasteten Materialbahn soll das elektrische Ausgangssignal des photoclcktrischen
Wandlers keine merkliche Modulation aufweisen.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung vor. daß die Lichtablenkvorrichtung ein Hciigungsgiticr ist.
Insbesondere soll das Beugungsgitter nls Hologramm, vorzugsweise Volunienhologramm, von solcher Dicke
ausgebildet sein, daß gerade alle unter Winkeln eines
vorbestimmten Winkelbcrcichcs auftreffende Lichtstrahlen unter Umlenkung durchgelassen werden,
außerhalb dieses Winkelbereiches liegende Lichtstrahlen dagegen nicht. Von besonderem Vorteil ist es. wenn
das Hologramm ciii Phasenhologramm ist.
Grundsätzlich kann das Beugungsgitter ein periodisches zweidimensionalej oder dreidimensionales Gitter
sein. ^
Da ein Hologramm ohne weiteres mit einem sich sinusförmig verändernden Durchlaß- bzw. Reflexionsvermögen
bzw. Brechungsindex hergestellt werden kann, gelingt es, unter einem ganz bestimmten Winkel
eintretende Eintrittsstrahlen unter einem vorbestimmten Austrittswinkel auf die Lichtsammelfläche zu
lenken, wobei höhere Ablenkungsordnungen vermieden werden. Hierzu wird das Hologramm durch Überlagerung
einer Referenzwelle und einer Objektwelle mit einem photoempfindlichen Material hergestellt. Die
Richtung der Referenzwelle entspricht der des Einfallslichtes in der erfindungsgemäßen Lichtsammdanordnung.
Auf diese Weise tritt das Licht so aus dem Hologramm aus, wie die Objektwelle bei der Herstellung
des Hologramms in das lichtempfindliche Material eintritt. Solange bei der Belichtung des Hologramms die
Intensität so gewählt wird, daß die Grenzen des Linearitätsbereiches des Photomaterials nicht überschritten
werden, werden die aufgezeichneten Interferenzen sireng sinusförmig, und e* entstehen keine
höheren Beugungsordnungen. Wenn das Hologramm
dick gegen die Wellenlänge ist, wird auch die eine der symmetrischen ersten Beugungsanordnungen unterdrückt,
so daß das Hologramm nur eine Ausgan^swelle erzeug'.
Für die praktische Ausführung der erfindungsgemäßen Lichtsammelanordnung ist die Dicke des Hologramms
ein wesentlicher Faktor. Mit dünnen Phasenhologrammen sind Wirkungsgrade von 33% bis über 50%
bei einigen Wellenlängen Dicke erreichbar. Bei einem dicken Hologramm, bei dem die Dicke ein Vielfaches
der Wellenlänge beträgt, können Wirkungsgrade bis nahe 100% erreicht werden. Wegen der Notwendigkeit
der Einhaltung der Bragg-Bedingung lassen jedoch dicke Hologramme nur Lichtstrahlen durch, die in
einem engen Winkelbereich um den Winkel der Referenzwelle herum in das Hologramm eintreten. Je
dünner das Mologramm wird, umso großer wird dieser Winkelbereich. Man kann also die Winkel-Trennschärfe
des Beugungsgitters durch entsprechende Dicke des Hc'ogramms von vornherein bestimmen. Für solche
Fälle, in denen eine geringe Winkel-Trennschärfe gewünscht wird, kann man auch bei einem dünnen
Hologramm hohe Wirkungsgrade dadurch erreichen, daß eine starke Modulation des Materials erzielt wird.
Ein hierfür geeignetes Material ist z. B. dichromatische Gelatine, mit der bereits bei einer Dicke von nur 5 μπι
Wirkungsgrade nahe 90% erreicht werden.
Für die erfindungsgemäßen Zwecke ist daher eine
solche Dicke des Hologramms optimal, bei der gerade der von der Lichtsa.nmelanordniing in der Einfallscbene
zu erfassende Winkelbereich durchgelassen wird, im
Winkel darüber hinausgehende Lichtstrahlen jedoch nicht. Die erfindungsgemäße l.iclnsammelanordnuiig
kann somit auch als selektive Winkelbereichsfüter
verwendet werden, indem cm bestimmter Winkelbereich
durchgelassen wird, ein linderer nicht. Diese vorteilhafte Eigenschaft des erfindungsgemäßen Beugungsgiltcrs
k,nr, zur Fehlererkennung ausgenutzt werden.
Die Erfindung liilit siih mit Vorteil bei solchen
l.iditsammclanordnungen anwenden, bei denen an allen
Stellen entlang der Lidiiahlcnkvorriditung der Winkelbereich
in gleicher Weise zur Längsrichtung der Lichtablenkvorrich.jng gerichtet ist. Dieser Fall liegt
/.. B. bei Materialbahnfehlercnniulungsvorrichtungcn
vor. bei denen die Materialbahn durch einen parallel zu
sich selbst verschobenen seharfgebündelten Lichtstrahl abgetastet wird. In diesem Fall tritt vor allen
ungestörten Stellen der Materialbahn das Licht unter
dem vorbestimmten Winkelbereich aus der Bahn aus und kann dann durch die erfindungsgemäüe Lichtsammclanordnung
gleichmäßig auf einen phoioelektrischen Wandler gelenkt werden, daß das Beugungsgitter aul
der gesamten Länge die gleiche Gitterkonstante hat.
Wesentlich bei allen Ausführungsformen ist natürlich,
daß das \on der erfindungsgemäßen Lichtsammelanordnung
erfaßte Licht bezüglich seiner Frequenz an die (litlerkonstanle dos Beugungsgitters angepaßt ist.
l'.in besonderer Vorteil der l.ichtsammelanordmirg
gemäß der Erfindung besteht lednch dann, daß sie auch
mit Voileil angewendet werden kann, wenn an
wenigstens einigen Stellen entlang der l.ichtablenkvor
iichtiing der Winkelbereich in unterschiedlicher Weise
zu r I a πgsrieh tu ng der I .ich !ablenkvorrichtung gerichtet
ι*.; [η iji.wm lull hr.imhi nämlich nur die Cjitterkon-Mante
des Beugungsgitters in Längsrichtung derart veränderlich zu sein, daß irot/ der veränderlichen
Richtung des Winkelhereichcs ,in alli'n Stellen entlang
der Längsrichtung die abgelenkten Strahlen im
wesentlichen die gleiche Richtung haben. Hort, wo der
Winkelbereich des von der Materialbuhn ausgehenden
Lichtes auch schon bei ungestörter Bahn etwas anders
als :in anderen Stellen ist. kann durch Änderung der
Ciitterkiinsiante in diesem Bereich eine etwas andere
Ablenkung tier von der Bahn zurückgeworfenen b/w. durch sie hindurchgehenden Lichtstrahlen erzielt
w erd'-n. damit sämtliche normal einfallenden I ichtstr ahien
unter gleichen Winkeln zur Längsachse der Lieh !ablenkvorrichtung verlaufen.
Diese Aiisführungsforni eigne! sich besonders zur
Anwendung bei solchen Lichtsammelanordnungen. bei denen das von einer mit einem sektorförmig bewegten
Abtaststrahl uberstrichenen Materialbahn kommende Licht abgelenkt werden soll. In diesem Fall nimmt die
("litierkonstante erfindungsgemäö entsprechend dem
Auftreffwinkel auf die Bahn zur Lrzielung einer im wesentlichen gleichen Richtung aller abgelenkten
.Stvahlen stetig zu bzw. ab. [-"rfindungsgemäU kann somit
auf einfachste Weise der ansonsten zur F-~r/ie!ung eines
parallel zu sich selbst verschobenen Fahrstrahls erforderliche aufwendige Hohlspiegel eingespart werden,
ohne c:<:[l die Qualität der Fehlererkennung
beeintr.ich'ig; wird, weil die unterschiedlichen Auftreffwinkel
des sektorförmigen. scharfgebündelten Lichtstrahls auf die Oberfläche der Bahn durch Variation der
Gitterkonsiante ohne weiteres berücksichtigt werden
können.
Die firfindung läßt sich auch vorteilhaft mit einem
sich parallel zu der Lichtablenkvorrichtung erstreckenden und im optischen Kontakt mit ihr befindlichen,
vorzugsweise runden Lichtleitstab kombinieren. Bei dieser Anwendung ist erfindungsgemäß der Ablenkwinkel
aller Lichtstrahlen innerhalb des vorbestimmten Winkelbereiches so groß, daß sie unter Winkeln der
Totalreflexion zur Wand des Lichtleitstabes verlaufen. Bei sinusförmigem Verlauf der Gitterstriche und
aufgrund einer optimal an den zu erfassenden Winkelbereich angepaßten Beugungssgitterdicke kann
somit ein hoher Wirkungsgrad bezüglich des in die Winkel der Totalreflexion eintretenden Lichtes erzielt
werden.
Das Beugungsgitter kann sowohl auf der Lichteintrittsmanteiseite
als auch auf der dem Lichteintritt diametral gegenüberliegenden Mantelseite angeordnet
sein. Im letzteren Fall ist es als Reflexionsgitter ausgebildet.
Eine völlig neue Anordnung besteht jedoch darin, daß
das Beugungsgitter entlang der Achse des l.iclitleitstabes
in diesen eingebettet ist. wobei die Breite des eingebetteten Beugungsgitters vorzugsweise lediglich
einen Bruchteil des Lichtleilstabdiirchmessers ausmacht.
Insbesondere bei der letztgenannten Ausführungsform ist es vorteilhaft, wenn das unter einem Winkel in
der Mitte des vorbestimmten Winkelbcreiehes auftref-Iwtide
Licht υηΐιτ einem Winkel \on etwa 1W m den
I κ liileitsiab abgelenkt wird Durch dwse Ausführungen
können die auch bei Totalreflexion noch auftretenden
geringen Verluste fast vollständig vermieden werden
Da das Licht, das \nii einer abgetasteten Materialbahn
zurückgeworfen wird bzw. durch sie hindurchgeht, nicht
nur in der Linfallebene. sondern unter einem Raumwinkel
v'cMreut wird, ist es auf jeden Fall zweckmäßig, wenn
ή ,in sich bekannter Weise die in Lbenen senkrecht zur
Stab,κ hse befindlichen Divergenz.lichtbiindel diii\h eine
parallel zum l.iehtlcitstab angeordnete Zylinderlinse
und gegebenenfalls den runden l.ichtleitstab auf da*·
Beugungsgitter konzentriei t sind
Die Erfindung eignet sich grundsatzlieh auch zur
Erfassung von kontinuierlichen 1 ichtstrahlen auf Materialbahnen.
D'° Erfindung wird im folgenden beispielsweise
anhand der Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt
Fig. 1 eine schematische Seitenansicht einer ersten
Ausführungsform einer rrfindungsgemäßen Lichtsamnielanotdnung
ohne l.ichtleitstab. wobei die Erzeugung eines Abtastlichtfleckes auf einer Materialbahn durch
einen parallel zu sich selbst verschobenen Fahrstrahl angenommen ist.
F i g. 2 eine /u F ι g. 1 analoge Ansicht, bei der ledoch
ein innerhalb eines Sektors hin- und hergeschwenkter
I ahrstrahl verwendet wird.
F i g. 3 eine zu F i g. 1 analoge Ansicht einer mit einem l.ichtleitstab arbeitenden Lichtsammelanordnung gema'ß
der Erfindung,
F ι g. 4 cine F i g. 3 ähnliche Ansicht mit einer etwas
anderen Ausbildung des Beugungsgitters.
F i g. 5 einen schematischen Querschnitt des Gegen-Standes der F i g. 4,
F ι g. 6 eine zu F ι g. 3 analoge Ansicht einer weiteren Ausführungsform mit einem auf der Lichteintrittsseite
angeordneten Beugungsgitter.
F i g. 7 einen schematischen Querschnitt des Gegen-Standes der F i g. 6.
Fig. 8 eine Ansicht analog Fig. 3 mit einer Anordnung des Beugungsgitters an der dem Lichteintritt
diametral gegenüberliegenden Mantelseite des Lichtleitstabes,
Fig.9 einen schematischen Querschnitt des Gegenstandes
der F i g. 8.
Fig. 10 eine Fig.6 entsprechende Ansicht eines
Ausführungsbeispiels, bei dem ein eine sektorförmige Bewegung ausführender Fahrstrahl verwendet wird,
und
F i g. 11 eine schematische Darstellung des Herstellungsvorganges
für ein erfindungsgemäßes Beugungsgitter.
Nach F i g. 1 tastet ein in Richtung des Doppelpfeiles f hin- und hergehender scharfgebündelter Laserstrahl 20
vorgegebener Frequenz eine Materialbahn 16 quer zu ihrer Längsrichtung entlang einer Abtastlinie 17 ab. In
jedem Augenblick wird somit an einer anderen Stelle
der Abtastlinie 17 ein scharfer Lichtfleck 18 auf der
Oberfläche der Materialbahn 16 erzeugt. Insbesondere unter dem Reflexionswinkel wird dieses Licht in Form
von reflektierten Lichtstrahlen 12, 13 von der Oberfläche der Materialbahn 16 reflektiert. Es ist jedoch
ebensogut möglich, das Licht durch eine transparente
Materialbahn geradlinig hindurchtreten zu lassen. Die Erzeugung des Fahrstrahls 20 des Laserstrahls kann
z. B. s,r vor sich gehen, wie das in der DE-OS 24 33 682 beschrieben ist.
Aufgrund der individuellen Eigenschaften der Materialhiihn
16 wird nun das reflektierte bzw hindurchgehende Licht in der Reflexions· bzw. Durchgangsebene
zumindest innerhalb eines Winkelb';reiehs ψ gestreut.
Nach F i g. 1 ist parallel zu de/ Abtastlinie 17 ein
beugungsgitter 11 angeordnet, dessen Beugungseigen· schuften derart gewählt sind, daß bei der vorgegebenen
Lichtfrequenz eine scharfe Ablenkung der innerhalb des Wink'-Ibereichs f) auftreffenden Lichtstrahlen 12 unter
dieser abgelenkten Lichtstrahlen wird ein photoelektrischer Wandler 19 aufgestellt, welcher somit das gesamte
innerhalb des vorbestimmten Winkelbereiches ψ an unterschiedlichen Stellen der Länge des Beugungsgitters
11 auftreffendes Licht empfängt, und zwar unabhängig davon, an welcher Stelle das Licht auf das
Beugungsgitter 11 auftrifft. In F i g. 1 sind beispielsweise
zwei verschiedene Positionen des parallel zu sich selbst verschobenen Fahrstrahls 20 wiedergegeben. Die
kleinste Wandlerfläche wird bei einem mittleren Winkel γ = 0 erzielt.
F i _.·. 2 zeigt schematisch einen von einem Punkt 22
ausgehenden, eine sektorförmige Abtastbewegung in Richtung des Doppelpfeiles F ausführenden Fahrstrahl
21. An derStelle 22 kann beispielsweise ein Schwingspiegel angeordnet sein, welcher von einem von einer
feststehenden Lichtquelle ausgehenden Laserstrahl beaufschlagt wird. Aufgrund dieser Anordnung trifft der
Fahrstrahl 21 je nach seiner Winkellage unter unterschiedlichen Auftreffwinkeln λ. λ' bzw. λ" auf die
Abtastlinie 17 der Materialbahn auf. Dementsprechend sind die von der Materialbahn gestreuten Winkelbcreiche
q unter unterschiedlichen Winkeln zum Beugungsgitter 11 angeordnet. Um dies zu kompensieren, weist
das Beugungsgitter 11 in Richtung von links nach rechts in Fig. 2 eine abnehmende Gitterkonstante auf. was
durch in grober Weise schematisch angedeutete, zunehmende Abstände der Gitterstriche von links nach
rechts veranschaulicht ist. Demgemäß werden die weiter links auf das Beugungsgitter 11 auftreffenden
Lichtstrahlen stärker abgelenkt als die in der Mitte oder weiter rechts auf das Beugungsgitter 11 auffallenden
Lichtstrahlen.
Die gleichen Lichteintrittsstrahlen entsprechenden Lichtaustrittsstrahlen 23 treten aufgrund geeigneter
Variation der Gitterkonstante unter gleichen Winkeln aus dem Beugungsgitter U aus und treffen auf den
photoelektrischen Wandler 19 in gleicher Weise wie bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1. Die ständige
Winkeländerung des Fahrstrahls 21 kann so auf einfachste Weise kompensiert werden.
Die Herstellung eines für die Zwecke der Erfindung geeigneten Beugungsgitters ist in F i g. 11 schematisch
angedeutet.
Eine beispielsweise durch einen aufgeweiteten Laserstrahl gebildete kohärente ebene Welle 24 vorbestimmter
Frequenz trifft auf einen teüdurchiässigen Spiege! 30
und wird hierdurch in eine Referenzwelle 26 und in eine
Objektwelle 27 aufgespalten. Die Objektwelle wird durch abermalige Reflexion an Planspiegeln 28, 29 mit
der Referenzwelle 26 in der aus Fig. 11 ersichtlichen Weise zum Schnitt gebracht. An der Schnittstelle wird
ein photoempfindliches Material aufgestellt, in dem das durch die Überschneidung der Wellen 26, 27 gebildete
Interferenzmuster latent aufgezeichnet wird. Nach Entwicklung liegt ein Beugungsgitter It in Form eines
Volumenhologramms vor. Bei Beaufschlagung dieses Hologramms mit einem der Referenzwelle 26 entsprechenden
Lichtstrahl wird die Objektwelle in der in F i g. 11 gestrichelt angedeuteten Weise reproduziert.
Es können somit durch geeignete Herstellung des Hologramms praktisch beliebige Ablenkwinkel verwirklicht
werden, so daß man erfindungsgemäß mit relativ kleinflächigen photoelektrischen Wandlern 19
insbesondere dann auskommen kann, wenn der abzulenkende Winkelbcreich φ relativ schmal ist.
Der von dem Hologramm 11 durchgelassene
Winkrlhrrrirh tr hängt von der Dicke des Hologramms
ab. Je dicker das Hologramm ist, umso größer die Winkeltrennschärfe. Optimal ist das Hologramm dann
ausgebildet, wenn gerade der vorbestimmte Winkelbereich φ mit den Strahlen 12 durchgelassen wird, ein
unter einem größeren Winkel auftreffender Strahl 13 (Fig. 1.2) dagegen nicht.
Ein relativ dickes Phasenhologramm ist vor allen Dingen deswegen vorteilhaft, weil sein Wirkungsgrad
relativ hoch ist. Allerdings ist dann der durchgelassene Winkelbereich φ beschränkt.
Um auch bei relativ großen Winkelbereichen φ mit
einem nicht zu großflächigen photoelektrischen Wandler 19 auskommen zu können, ist nach F i g. 3 das
erfindungsgemäße Beugungsgitter 11 in einen im Querschnitt runden Lichtleitstab 14 eingebettet. Die
estremen Ablenkwinkel j·, y' werden so gewählt, daß das
Licht sämtlicher Lichtstrahlen 12 unter Winkeln der Totalreflexion in den Lichtleitstab 14 eintritt. Es gelangt
so weitgehend vollständig zum am Ende des Lichtleitstabes optisch angekoppelten photoelektrischen Wandler
19. Auch in der entgegengesetzten Stirnseite kann ein photoelektrischer Wandler 19 angeordnet sein. An
dieser Stelle kann aber auch eine Spiegelfläche vorliegen.
Fig.4 zeigt, wie die Gitterkonstante des Beugungsgitters
11 bei Anordnung in einem Lichtleitstab 14 optimiert werden kann. Die Gitterkonstante wird hier
nämlich so gewählt, daß der mittlere, senkrecht zur Stabachse 25 auftreffende Eintrittslichtstrahl 12' genau
in Richtung der Stabachse 25, d. h. unter einem rechten Winkel abgelenkt wird. Die Randstrahlen des Winkelbereichs
φ verlaufen damit nur unter relativ kleinen Winkeln zur Achse 25, so daß sie weitgehend ohne eine
Totalreflexion zum photoelektrischen Wandler 19 gelangen. Sofern eine Totalreflexion stattfindet, erfolgt
sie unter einem so kleinen Winkel, daß Verluste hierbei praktisch nicht auftreten.
Nach den Fig.4 und 5 ist vor dem Lichtleitstab 14
und parallel zu ihm eine Zylinderlinse 15 angeordnet welche den Zweck hat, zusammen mit der brechenden
Wirkung des runden Lichtleitstabes 14 das auch in der zur Stabachse 25 senkrechten Ebene von der Bahn
gestreute Licht auf der Oberfläche des Beugungsgitters 11 in der aus F i g. 5 ersichtlichen Weise zu konzentrieren und somit voll für die Messung auszunutzen. Aus
F i g. 5 ist weiter ersichtlich, daß das in den Lichtleitstab
t4 eingebettete Beugungsgitter 11 verglichen mit dem Durchmesser des Lichtleitstabes 14 relativ schmal ist.
Nach Fig.6, 7 ist das Beugungsgitter 11 in einem
schmalen Bereich der Lichteintrittsmantelseite des Lichtleitstabes 14 angeordnet. In diesem Fall ist es
zweckmäßig, daß der kleinste Ablenkwinkel γ' gegen 0 geht, um Totalreflexionen nach Möglichkeit zu vermeiden
und dort, wo sie stattfinden, einen möglichst flachen Lichtauftreffwinkel zu erzielen.
Nach F i g. 7 muß die Brechkra't der Zylinderlinse 15
etwas gröber als bei dem Ausführungsbeispiel nach F i g. 4, 5 sein, da hier zur Konzentration des in Ebenen
senkrecht zur Stabachse 25 von der Abtastlinie 17 ausgehenden Lichtbündeln die Brechkraft des runden
Lichtleitstabes 14 nicht mitwirkt.
Die Fig. 8 und 9 zeigen, daß das erfindungsgemäße Beugungsgitter 11 auch an der dem Lichteintritt
diametral gegenüberliegenden Mantelseite des Lichtleitstabes 14 in optischem Kontakt mit diesem
angeordnet sein kann. Das Beugungsgitter Il ist in diesem Fall als Reflexionsgitter ausgebildet und kann
eüeinaii:>
uacii ciiiciü Vci'iäliicii äi'iaiog Fig.!!
hergestellt werden.
Nach Fig. 9 kann für die Konzentration des in Ebenen senkrecht zur Stabachse 25 konvergenten
Lichtes die Brechkraft des Lichtleitstabes 14 wieder mitausgenutzt werden, so daß hier ähnliche Verhältnisse
wie beim Ausführungsbeispiel der Fig.4, 5 vorliegen.
Die Brechkraft der Zylinderlinse 15 braucht jedoch beim Ausführungsbeispiel der Fig.8, 9 nicht ganz so
groß wie bei dem Ausführungsbeispiel nach den F i g. 4, 5 sein, da das Beugungsgitter 11 einen größeren
Abstand von der Lichteintrittsseite hat.
Fig. 10 zeigt, daß auch bei den mit einem Lichtleitstab ausgestatteten erfindungsgemäßen Lichtsammelanordnungen
ein eine sektorförmige Abtastbewegung entsprechend Fig. 2 ausführender Fahrstrahl
21 verwendet werden kann. In Fig. 10 ist ein Lichtleitstab analog dem Ausführungsbeispiel nach den
Fig. 6. 7 gezeigt, auf dessen Lichteintrittsseite ein
Beugungsgitter 11 analog dem nach F i g. 2 angeordnet ist. so daß auch unter unterschiedlichen Winkeln auf das
Beugungsgitter 11 auftreffende Lichtstrahlen als abgelenkte
Strahlen 23 unter gleichen Winkeln zur Stabachse 25 in del, Lichtleitstab 14 eintreten. Die
Totalreflexionsverhältnisse sind somit für sämtliche abgelenkten Strahlen 23 die gleichen, so daß bei gleich
intensivem Eintrittslichtstrahl auch ein entsprechendes elektrisches Signal am Ausgang des photoelektrischen
Wandlers 19 erzielt wird.
Der Einfachheit halber sind im Anschluß an die Abtastlinie 17 in Fig. 10 nur die mittleren Eintritts-Strahlen
12' gezeigt, während der tatsächlich vorhandene Winkelbereich φ gemäß den vorangehenden
Ausführungsbeispielen der Übersichtlichkeit halber fortgelassen ist
Das erfindungsgemäße Beugungsgitter kann auch photographisch oder mechanisch hergestellt werden. Es
kann auch von einem bereits vorhandenen Gilter photochemisch oder thermoplastisch oder holographisch
kopiert werden.
Wenn das Gitter geblazt ist, d. h, wenn das Gitter
aufgrund seiner mechanischen Ausbildung bevorzugte Reflexionsrichtungen aufweist, können für ein Oberflä-
chenphasengitter Ablenkungswirkungsgrade über 50% erreicht werden.
Zu dem Ausführungsbeispiel nach Fig.4 mit im
wesentlichen parallel zur Stabachse 25 verlaufenden abgelenkten Lichtstrahlen ist noch zu bemerken, daß im
Fall eines dicken Beugungsgitters 11 wegen der Bragg-Bedingung sichergestellt ist, daß am Stab
reflektiertes Licht wegen des dabei auftretenden spiegelnden Reflexionswinkels bei nochmaligem Durchtritt
durch das Gitter 11 seine Richtung nicht mehr in nachteiliger Weise ändert.
Aufgrund der erfindungsgemäßen Ausbildung lassen sich Wirkungsgrade bis nahe 100% erreichen. Aufgrund
der geringen Perioclenlänge des Gitters von ca. einer
halben Wellenlänge des verwendeten Lichtes tritt keine Modulation des abgelenkten Lichtes auf. Mit einem
sektorförmig abtastenden Fahrstrahl kann annähernd die gleiche Präzision der Messung erreicht werden, wie
mit einem parallel zu sich selbst verschobenen Fahrstrahi. Durch entsprechende Dickenwani des
Beugungsgitters kann eine Filierwirkung bezüglich der durchgelassenen Winkelbereiche erzielt werden.
Insbesondere ermöglicht die erfindungsgemäße Lichtsammelanordnung eine Kosteneinsparung beim
Lichtleitstab und beim Gesamtsystem. Die Fehlererkennungssicherheit ist wesentlich erhöht.
Die Ablenkung des Mittelstrahls eines Winkelbereiches in eine Richtung parallel zum Beugungsgitter hat
sowohl bei der Ausführung mit als auch ohne Lichtleitstab den Vorteil, daß das Licht des Mittelstrahles
sich nicht bis zum Ende des Beugungsgitters fortpflanzt, sondern sukzessive seitlich herausgestreut
wird. Es gelangt also nicht zu dem im Bereich des Endes des Beugungsgitters vorgesehenen photoelektrischen
Wandler. Dies ist für die Fehlerermittlung ein großer Vorteil, wen'i der Mittelsirahl der normalen, ungestörten
Reflexion bzw. dem normalen, ungestörten Durchgang des Lichtes durch die Materialbahn entspricht und
Fehler durch mehr oder weniger große Lichtablenkungen sich bemerkbar machen. Mit anderen Worten
ermöglicht die Erfindung auf diese Weise eine Art Dunkelfeldbeleuchtung durch Eliminie;- jng des sehr
intensiven mittleren Lichtstrahles. Hinzu kommt der Vorteil, daß der photoelektrische Empfänger bei der
besagten Ablenkung des Mittelstrahles in eine Richtung parallel zum Beugungsgitter die minimal mögliche
Fläche aufweisen kann.
Ein besonderer Vorteil bei der Benutzung von Hologrammen als Beugungsgitter besteht noch darin,
daß man hier frei in der gewählten Richtung der rekonstruierten Welle ist. In Fig. 7 ist beispielsweise
gezeigt, wie innerhalb der senkrecht zur Längsrichtung verlaufenden Ebene der Ablenkwinkel des auftreffenden
Lichtes so gewählt werden kann, daß die abgelenkte Strahlung unter einem großen Winkel auf die
Mantelfläche des runden Lichtleitstabes fällt und der nach Menrfachreflexion auf das Hologramm zurückfallende
Anteil gering ist. Das abgelenkte Licht ist in F i g. 7 gestrichelt angedeutet Es kann in dieser Ebene
auch jede andere gewünschte Ablenkung verwirklicht werden.
Claims (13)
1. Lichtsammelanordnung in einer Vorrichtung
zur Abtastung einer Fläche wie z. B. einer Materialbahn längs einer Geraden mittels eines Lichtstrahls,
wobei die von jeweils einem Punkt der Fläche innerhalb eines bestimmten Winkelbereichs ausgehenden,
im wesentlichen monochromatischen, reflektierten oder transmittierten Lichtstrahlen etwa
senkrecht auf eine längliche Lichtablenkvorrichtung to auftreffen und zumindest teilweise mittels dieser
Lichtablenkvorrichtung auf eine Lichtsammeifläche wie z. B. einen photoelektrischen Wandler gerichtet
werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtablenkvorrichtung ein Beugungsgitter (1) ist.
2. Lichtsammelanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Beugungsgitter (11)
als Hologramm, insbesondere Phasenhologramm, von solcher Dicke ausgebildet ist, daß gerade alle
unter Winkeln eines vorbestimmten Winkelbereiches (φ) auf treffenden Lichtstrahlen (12) unter
Umlenkung durchgelassen werden, außerhalb dieses Winkelbereiches (φ) liegende Lichtstrahlen (13)
dagegen nicht.
3. Lichtsammelanordnung nach Anspruch 1 oder 2, bei der an allen Stellen entlang der Lichtablenkvorrichtung
der Winkelbereich in gleicher Weise zur Längsrichtung der Lichtablenkvorrichtung gerichtet
ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Beugungsgitter (11) auf der gesamten Länge die gleiche Gitterkonstante
hat.
4. Lichtsaii.melanordnung nach Anspruch 1 oder
2. bei der an wenigster^ einig ,1 Stellen entlang der
Lichtablenkvorrichiungder Winkelbereich in unterschiedlicher
Weise zur Längsri' "ltung der Lichtab- J5
lenkvorrichtung gerichtet ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Gitterkonstante des Beugungsgitters
(11) in Längsrichtung des Beugungsgitters derart veränderlich ist, daß trotz der veränderlichen
Richtung des Winkelbereiches an allen Stellen entlang der Längsrichtung des Beugungsgitters die
abgelenkten Strahlen im wesentlichen die gleiche Richtung haben.
5. Lichtsammelanordnung, nach Anspruch 4 zur
Ablenkung des von einer mit einem sektorförmig bewegten Abiaststrahl iiberstrichenen Materialbahn
kommenden Lichtes, dadurch gekennzeichnet, daß die Gitterkonstante entsprechend dem Auftreffwinkel
(a, V, λ") auf die Bahn zur Erzielung einer im
wesentlichen gleichen Richtung aller abgelenkten so Strahlen stetig zu- bzw. abnimmt.
6. Lichlsamnieianordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, mit einem sich parallel zu der
Lichtablenkvnrrichiung erstreckenden und im optischen
Kontakt mit ihr befindlichen vorzugsweise >J runden Lichtlcitstab, dadurch gekennzeichnet, daß
der Ablenkwinkel (γ. ·/') aller Lichtstrahlen innerhalb
des vorbestimmten Winkelbereichs (η.) so groß ist, dal! sie unter Winkeln der Totalreflexion zur Wand
des l.ichtleitstabcs (14) verlaufen w>
7. l.iehtsammulanorilmiMg nat.h Anspruch b. da=
durch gekennzeichnet, dal! das Beugungsgitter (11) auf der l.iehteintrittsmaMtelseite des l.ichtleitstabcs
(14) angeordnet ist.
8. I.iclitsammelaiioidnung nach Anspruch 6, da- "■>
durch gekennzeichnet, dal! das Beugungsgitter (II) auf der dem 1 .ichleintritt diametral gegenüberliegenden
Mantelseitc des Lichtlcitstabes (14) angeordnet und als Reflexionsgitter ausgebildet ist-
9. Lichtsammelanordnung nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß das Beugungsgitter (11)
entlang der Achse des Lichtlettstabes (14) in diesen eingebettet ist,
10. Lichtsammelanordnung nach einem der
Ansprüche 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß das unter einem Winkel in der Mitte des vorbestimmten
Winkelbereiches (φ) auftreffende Licht unter einem Winkel von etwa 90° abgelenkt wird.
11. Lichtsammelanordnung nach Anspruch 9 oder
10, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite des eingebetteten Beugungsgitters (11) lediglich einen
Bruchteil des Lichtlsitstabdurchmessers ausmacht.
12. Lichtsammelanordnung nach einem der
Ansprüche 6 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die in Ebenen senkrecht zur Stabachse befindlichen
divergenten Lichtbündel durch eine parallel zum Lichtleitstab (14) angeordnete Zylinderlinse (15) und
gegebenenfalls den runden Lichtleitstab (14) auf das Beugungsgitter (11) konzentriert sind.
13. Lichlsamnieianordnung nach einem der Ansprüche 1—5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Lichtstrahlen (12) innerhalb des Winkelbereichs (φ) im Mittel parallel zur Oberfläche des Beugungsgitters
(1 1) abgelenkt werden.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| DE3006071A DE3006071C2 (de) | 1980-02-19 | 1980-02-19 | Lichtsammelanordnung in einer Vorrichtung zur Abtastung einer Fläche wie z.B. einer Materialbahn längs einer Geraden mittels eines Lichtstrahls |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3006071A DE3006071C2 (de) | 1980-02-19 | 1980-02-19 | Lichtsammelanordnung in einer Vorrichtung zur Abtastung einer Fläche wie z.B. einer Materialbahn längs einer Geraden mittels eines Lichtstrahls |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3006071A1 DE3006071A1 (de) | 1981-09-03 |
| DE3006071C2 true DE3006071C2 (de) | 1987-05-27 |
Family
ID=6094930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3006071A Expired DE3006071C2 (de) | 1980-02-19 | 1980-02-19 | Lichtsammelanordnung in einer Vorrichtung zur Abtastung einer Fläche wie z.B. einer Materialbahn längs einer Geraden mittels eines Lichtstrahls |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4458979A (de) |
| JP (1) | JPS56130704A (de) |
| DE (1) | DE3006071C2 (de) |
| FR (1) | FR2476330B1 (de) |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8363 | Opposition against the patent | ||
| 8366 | Restricted maintained after opposition proceedings | ||
| 8325 | Change of the main classification |
Ipc: G02B 5/32 |
|
| 8305 | Restricted maintenance of patent after opposition | ||
| D4 | Patent maintained restricted | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |