DE2931757C2 - - Google Patents

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DE2931757C2
DE2931757C2 DE19792931757 DE2931757A DE2931757C2 DE 2931757 C2 DE2931757 C2 DE 2931757C2 DE 19792931757 DE19792931757 DE 19792931757 DE 2931757 A DE2931757 A DE 2931757A DE 2931757 C2 DE2931757 C2 DE 2931757C2
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Germany
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impedance
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DE19792931757
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Gerhard Dr.-Ing.Habil. 7910 Neu-Ulm De Moenich
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Telefunken Systemtechnik AG
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Licentia Patent Verwaltungs GmbH
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    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00—Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/38—Impedance-matching networks
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G01R27/06—Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio

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