DE2833379A1 - Verfahren zur bestimmung von extremwerten zeitlich veraenderlicher elektrischer groessen, insbesondere in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung mit ultraschall - Google Patents
Verfahren zur bestimmung von extremwerten zeitlich veraenderlicher elektrischer groessen, insbesondere in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung mit ultraschallInfo
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Description
, 1978
.ai 1978
IG/vh
K 115
Krautkrämer GmbH.
K 115
Krautkrämer GmbH.
Luxemburger Str. 449, 5000 Köln 41
Verfahren zur Bestimmung von Extremwerten zeitlich veränderliche?
elektrischer Grö-ßen, insbesondere in der zerstörungsfreien Werk-f
stoffprüfung mit Ultraschall ;
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen
Lage von Minimal- und Maximalwerten zeitlich veränder- ' licher elektrischer Signalgrößen auf der Zeitachse, insbesondere ;
in der Werkstoffprüfung und Prüfstückmessung mit Ultraschall.
Bei der Auswertung von zeitabhängigen elektrischen Signalwerten,
z.B. elektrischen-Spannungen oder Strömey im folgenden kurz
elektrisches Signal genannt, wie sie bei der Umwandlung von
zeitlichen Schalldruckänderungen in der Ultraschallwelle in
analoge elektrische Signal z.B. zeitliche Spannungsänderungen ; auftreten, ist es aus mehreren Gründen erforderlich, diese
analogen Signale in digitale Signale umzusetzen, derart, daß
erst dann, wenn ein Extremwert des zeitlich veränderlichen
Signals vorhanden ist (ein Maximum oder ein Minimum), ein digitales Signal gebildet wird. So soll z.B. beim Durchlaufen des ;
z.B. elektrischen-Spannungen oder Strömey im folgenden kurz
elektrisches Signal genannt, wie sie bei der Umwandlung von
zeitlichen Schalldruckänderungen in der Ultraschallwelle in
analoge elektrische Signal z.B. zeitliche Spannungsänderungen ; auftreten, ist es aus mehreren Gründen erforderlich, diese
analogen Signale in digitale Signale umzusetzen, derart, daß
erst dann, wenn ein Extremwert des zeitlich veränderlichen
Signals vorhanden ist (ein Maximum oder ein Minimum), ein digitales Signal gebildet wird. So soll z.B. beim Durchlaufen des ;
030009/0011
Signalmaximums ein digitales Signal mit Minimumpegel und beim Durchlaufen des Signalminimums ein digitales Signal mit Maximumpegel
entstehen.
Es ist bekannt, bei zeitlich periodischem Signalwertverlauf kon-i
stanter Periodizität einen Extremwert immer ein viertelfPeriodeftdäuer
nach dem Uulldurchgang des Signalwertes anzunehmen,
wie nachstenend anhand der Pig. 1 erläutert, ;
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren anzugeben, daß die I
Lage der Extremwerte bei zeitabhängigen elektrischen Signalen, !
wie z.B. elektrischen Spannungen oder Strömen in einem großen Prequenzbereich, beispielsweise bis 30 MHz, unabhängig von dem
zeitlichen Verlauf des Signals anzugeben. ;
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den Gegenstand des j
Patentanspruches 1 gelöst.
Eine Ausführungsform der Erfindung ist in der Zeichnung (Pig. 2-:
Pig. 3) dargestellt und wird im folgenden näher erläutert. Es ''■
zeigen: !
Pig. 1 eine graphische Darstellung eines Signals konstanter
Frequenz im Spannungs- (Strom )-Zeitdiagramm für eine an sich !
bekannte Extremwertbestimmung am Signal. j
Pig. 2 eine graphische Darstellung von elektrischen Signalen !
j im Spannungs- (Strom)-Zeitdiagramm, wobei der zeitliche Verlauf j
030009/0011
283337S
eines zu analysierenden elektrischen Signals,ein zeitlich verschobenes
Signal und ein entstehendes Ligitalsignal veranschau- ; licht sind.
Mg. 3 eine graphische Darstellung einer elektrischen Schaltung,
die eine Verzögerungsleitung enthält.
Bei dem in Jig. 1 veranschaulichten Verfahren ist es von Nachteil,
daß die Frequenz der zu analysierenden Signale bekannt und konstant sein muß, daß keine Phasensprünge auftreten dürfen und
daß der Signalverlauf symmetrisch zur Nullinie sein muß. I
Mit einem anderen Verfahren kann die erste zeitliche Ableitung des Signalverlaufes mit Hilfe einer Widerstand-Kondensator-Kombination
(R-C-G-lieder) gebildet und die Nulldurchgänge des abgeleiteten
Signals bestimmt werden. Der Nachteil dieses Verfahrens ist es, daß ein E-C-Glied nur dann richtig die zeitliche Ableitung
bildet, wenn die Zeitkonstante dieses R-C-Gliedes ein
festes Verhältnis zur Frequenz des zu untersuchenden Signales hat. Impulsförmige Signale enthalten aber ein großes Frequenzspektrum,
wodurch die Nulldurchgänge des abgeleiteten Signals und damit die Extremwert-Lagebestimmung sehr ungenau wird.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren nach Fig. 2 wird der zeitliche
Verlauf eines Signals 1 durch eine Verzögerungsleitung verzögert, die falls sie mit ihrem Wellenwiderstand reflexionsfrei
abgeschlossen wird das Signal verzerrungsfrei
D300O9/
'-JS-. ■ ■
verzögert, dargestellt durch Kurve 2.Diese beiden Signale, also
das unverzögerte und das verzögerte, werden einem Differenzverstärker, z.B. einem Komparator (einer Vergleicherstufe) züge- ·
führt. Das unverzögerte Signal wird auf den einen Eingang, z.B. den Plus-Eingang, und das verzögerte auf den anderen, z.B. den ';
: Minus-Eingang des Komparatorsjgegeben. Ist der Spannungsbetrag ;
: am Plus-Eingang des Komparators höher als am Minus-Eingang,
steht am Ausgang des Komparators ein Maximalsignal, z.B. eine
: Maximal spannung, zur Verfügung. Wird dagegen der Spannungsbetrag;
am Minus-Eingang höher als am Plus-Eingang, entsteht am Ausgang des Komparators ein Minimumsignal, z.B. in Form einer Rest- !
spannung. Ein solcher Spannungsverlauf am Ausgang des Komparators
ist durch Kurve 3 dargestellt. Die Spannung am Ausgang des Korn- ,
parators springt also immer dann von einem Maximum 3& auf '
einen Minimumwert 3*>
oder umgekehrt, wenn sich die Spannungs- | Verhältnisse am Komparator-Eingang umkehren und dabei der ■
. Differenzwert zwischen dem unverzögerten und dem verzögerten :
Signal den Wert UuIl durchläuft. Hier ist wichtig die - auf i dieses bestimmte Verfahren bezogene- Auswertung der Erkenntnis, i
daß die Zeitverzögerung^t einen Minimalwert, der von der Umschalthysterese
des Komparators gegeben ist, nicht unterschreitet
\ darf. Ein Komparator kann nämlich nicht exakt bei Spannungs- !
Ί gleichheit an den Eingängen umspringen, sondern nur innerhalb i
: eines durch seine Bauweise gegebenen Spannungsbereiches (Um- ;
; schalthysterese). . j
;'■■■■.■ i
! Beispiel ■ . j
ι - . 1
• Mit einer Schaltung zur Ausführung des Verfahrens nach Fig. 3
030009/0044
wird das zu analysierende Signal 1 auf einen Breitband-Puffer-
- Terstärker 5 geführt, um die Signalquelle M- möglichst wenig j
zu belasten. Als Breitband-Pufferverstärker kann das Bauelement j BB 3553 der Firma Burr-Brown verwendet werden. Dieser Verstärker!
hat eine Bandbreite bis 30 MHz. Das unverzögerte Signal 1 wird j
über einen Widerstand E 1 auf den Impuls-Eingang des Komparatorsj
6, z.B. des Bauelementes vom Typ MC 1651 der Firma Motorola gegeben.
Über eine Verzögerungsleitung 7 in. Form einer 2 m langen
gedruckten 120 Ohm-Leitung mit einer Verzögerungszeit von ca. 8 ns wird ein verzögertes Signale/erzeugt und auf den Minus-Eingang
des !Comparators gegeben. Der Widerstand E 5 schließt die
Verzögerungsleitung mit ihrem Wellenwiderstand ab. Die Widerstände R 1 und E 4- dienen zur Anpassung des maximalen Eingangssignals
an die maximal zulässige Eingangsspannung des Eomparators. Die Kombination aus den Widerständen ß 2 (z.B. 33O.rO,
E 3 (z.B. 150_n_) und dem Potentiometer P 1 (z.B. 500_λ_) ermöglicht
einen Feinabgleich für die Spannungsbeträge am Eingang des Komparators. Der Komparator nach diesem Ausführungsbeispiel
. hat. eine Umschalthysterese von ca. 7 mV , wodurch die
■ Unscharfe bezüglich des Umschalten genügend klein bzw. die
Flankensteilheit in der Kurve 3 sehr groß wird, wenn man Signal-
■ spannungen von ca. 10 V Spitze/Spitze - _ ' . zugrunde legt.
; Konstante Verzögerungszeiten, z.B. die Verzögerungszeit des
. Komparators oder des Pufferverstärkers, sind bei diesem Beispiel
bewußt weggelassen worden. Sie können durch eine ent-' sprechende Verzögerung des Analogsignals für die übrigen Aus-
■ wertebausteine, also durch.die.. D_imensi.onierung_„der...Verzögerungs-
030009/001 1
-JS -
leitung, kompensiert werden.
Dieses Verfahren ermöglicht es mit handelsüblichen Bauelementen
und "bei geringerem Kostenaufwand elektrische zeitabhängige Analog-Signale einfacher als bisher auf ihre Maxima und Minima
zu analysieren und zeitlich zu bestimmen. Ein bevorzugtes Anwendungsgebiet ist gerade die Prüf- und Meßtechnik mit Ultraschall,
wo wichtige Meßergebnisse unmittelbar von hinreichend
genauer Auswertung der Signalextremwerte abhängen, wo aber gleichzeitig eine Vereinfachung der Meßvorrichtung angestrebt
wird.
OSOOOB/ 00 -IA
Leerseite
Claims (5)
- • 2 7. JuLi 197824. Mai 1978 IG/vhK 115 KRAUTKEÄMER GMBHPATENTANSPRÜCHE -1 J Verfahren zur Bestimmung der Lage von Minimal- und Maximally _..-.· · ■■■ ■-werten zeitlich veränderlicher elektrischer Signalgrößen auf der Zeitachse, insbesondere in der Werkstoffprüfung und Prüfstuckmessung mit Ultraschall, dadurch gekennzeichnet, daß zunächst das zu analysierende Signal in seiner Laufzeit verzögert and somit ein Hilfssignal gebildet wird, dann das unverzögerte Signal als auch das verzögerte Hilfssignal getrennt jeweiligen Eingängen einer elektrischen Vergleicherstufe zugeführt und dort verglichen werden und am Ausgang der Vergleicherstufe ein digitales Signal mit Maximalwert dann vorhanden ist und zur Zeitbestimmung ausgewertet wird, wenn der Betrag des unverzögerten zu analysierenden Signals größer wird als der Betrag des verzögerten Hilfssignals, und ein digitales Signal als Signalminimumwert vorhanden ist und zur Zeitbestimmung ausgewertet wird, wenn das verzögerte Hilfssignal im Betrag größer wird als das unverzögerte Signal.
- 2. Verfahren zur Bestimmung der Lage von Minimal- und Maximalwerten zeitlicil veränderlicher elektrischer Signal-030 0 0 9/0011 0RlGlNALι _ 2 —größen auf der Zeitachse, insbesondere in der Werkstoffprüfung und Prüfstückmessung mit Ultraschall, dadurch gekennzeichnet, daß zunächst das zu analysierende Signal in seiner Laufzeit "ver-zögert und somit ein Hilfssignal gebildet wird, darm das unver- j zögerte Signal als auch das verzögerte Hilfssignal getrennt je- j weiligen Eingängen einer elektrischen Vergleicherstufe zugeführt und dort verglichen werden und am Ausgang der Vergleicherstufe ein digitales Signal mit Minimalwert dann vorhanden ist und zur jZeitbestimmung ausgewertet wird, wenn der Betrag des unverzögerten zu analysierenden Signals größer wird als der Betrag des verzögerten Hilfssignals, und ein digitales Signal als Signalmaximalwert vorhanden ist und zur Zeitbestimmung ausgewertet wird, wenn das verzögerte Hilfssignal in seinem Betrag größer wird als das unverzögerte Signal.
- 3. Schaltung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Laufzeitverzögerung (At) desi Hilfssignals so groß gewählt ist, daß die zwischen diesem und den unverzögerten Signal vorhandenen elektrischen Spannungsdifferenzen im Bereich neben dem Schnittpunkt ihrer Spannungskurven größer sind als die Spannungswerte der Umschalthysterese des Kompaxsrtors
- 4·. Schaltung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleicherstufe ein Differenz verstärker (6) ist.
- 5. Schaltung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie als laufzeitverzögerndes Gliec030009/0011eine mit ihrem Wellenwiderstand abgeschlossene laufzeitverzögernde Leitung (7) aufweist.030 009/001 1
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782833379 DE2833379A1 (de) | 1978-07-29 | 1978-07-29 | Verfahren zur bestimmung von extremwerten zeitlich veraenderlicher elektrischer groessen, insbesondere in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung mit ultraschall |
NL7905742A NL7905742A (nl) | 1978-07-29 | 1979-07-25 | Werkwijze voor het bepalen van de uiterste waarden van veranderlijke elektrische grootheden, en keten voor het uitvoeren van deze werkwijze. |
IT7949878A IT7949878A0 (it) | 1978-07-29 | 1979-07-26 | Procedimento e dispositivo per la determinazione dei valori di picco di grandezze variabili nel tempo in particolare nelle prove non distruttive dei materiali con gli ultrasuoni |
FR7919272A FR2433757A1 (fr) | 1978-07-29 | 1979-07-26 | Procede pour la determination des extrema de grandeurs electriques variables dans le temps, en particulier dans l'examen non destructif par ultra-sons |
DK317579A DK317579A (da) | 1978-07-29 | 1979-07-27 | Fremgangsmaade og kobling til bestemmelse af ekstremumsvaerdier af tidsvarierende elektriske stoerrelser navnlig til brug forstyrrelsesfri materialeproevning med ultralyd ved forstyrrelsesfri materialeprae |
GB7926471A GB2026803A (en) | 1978-07-29 | 1979-07-30 | Defining the maximum and minimum points of a varying electrical signal |
JP9718179A JPS55149867A (en) | 1978-07-29 | 1979-07-30 | Extreme value measurement of electrical quantity for ultrasonic nonndistructive material test |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782833379 DE2833379A1 (de) | 1978-07-29 | 1978-07-29 | Verfahren zur bestimmung von extremwerten zeitlich veraenderlicher elektrischer groessen, insbesondere in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung mit ultraschall |
Publications (1)
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Country Status (7)
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NL (1) | NL7905742A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3043921A1 (de) * | 1980-11-21 | 1982-06-03 | Polygram Gmbh, 2000 Hamburg | Schaltung zur breitbandigen detektion der amplitudenmaxima von signalen |
DE3418486C1 (de) * | 1984-05-18 | 1986-01-02 | Krautkrämer GmbH, 5000 Köln | Ultraschallprüfverfahren und Schaltungsvorrichtung zur automatischen Ermittlung von rückwandnahen Ungänzen |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2120030B (en) * | 1982-03-04 | 1986-11-12 | Sansui Electric Co | Digital signal demodulator circuit |
FR2566915B1 (fr) * | 1984-06-29 | 1987-08-21 | Saphymo Stel | Detecteur de la valeur de crete d'un signal periodique |
FR2612659B1 (fr) * | 1987-03-20 | 1994-04-29 | Iceti | Procede de traitement de signal et circuit de mise en oeuvre |
DE4138661C1 (de) * | 1991-11-25 | 1993-06-03 | Siemens Ag, 8000 Muenchen, De | |
US5428307A (en) * | 1993-10-20 | 1995-06-27 | Silicon Systems, Inc. | Closed-loop peak detector topology |
CN116840356B (zh) * | 2023-09-01 | 2023-11-17 | 南京安盛电子有限公司 | 一种灌封变压器裂纹的监测方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3668532A (en) * | 1971-01-25 | 1972-06-06 | Sperry Rand Corp | Peak detection system |
DE2322742C2 (de) * | 1973-05-05 | 1975-01-16 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Schaltungsanordnung zur Erkennung von einen Scheitelpunkt enthaltenden Abschnitten einer elektrischen Wellenform |
-
1978
- 1978-07-29 DE DE19782833379 patent/DE2833379A1/de not_active Ceased
-
1979
- 1979-07-25 NL NL7905742A patent/NL7905742A/nl not_active Application Discontinuation
- 1979-07-26 FR FR7919272A patent/FR2433757A1/fr not_active Withdrawn
- 1979-07-26 IT IT7949878A patent/IT7949878A0/it unknown
- 1979-07-27 DK DK317579A patent/DK317579A/da unknown
- 1979-07-30 JP JP9718179A patent/JPS55149867A/ja active Pending
- 1979-07-30 GB GB7926471A patent/GB2026803A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3043921A1 (de) * | 1980-11-21 | 1982-06-03 | Polygram Gmbh, 2000 Hamburg | Schaltung zur breitbandigen detektion der amplitudenmaxima von signalen |
DE3418486C1 (de) * | 1984-05-18 | 1986-01-02 | Krautkrämer GmbH, 5000 Köln | Ultraschallprüfverfahren und Schaltungsvorrichtung zur automatischen Ermittlung von rückwandnahen Ungänzen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2433757A1 (fr) | 1980-03-14 |
NL7905742A (nl) | 1980-01-31 |
GB2026803A (en) | 1980-02-06 |
JPS55149867A (en) | 1980-11-21 |
DK317579A (da) | 1980-01-30 |
IT7949878A0 (it) | 1979-07-26 |
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