DE102005001126A1 - Begrenzungskastensignal-Detektor - Google Patents

Begrenzungskastensignal-Detektor Download PDF

Info

Publication number
DE102005001126A1
DE102005001126A1 DE102005001126A DE102005001126A DE102005001126A1 DE 102005001126 A1 DE102005001126 A1 DE 102005001126A1 DE 102005001126 A DE102005001126 A DE 102005001126A DE 102005001126 A DE102005001126 A DE 102005001126A DE 102005001126 A1 DE102005001126 A1 DE 102005001126A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
time
transition
voltage
generated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102005001126A
Other languages
English (en)
Inventor
Glenn Colorado Springs Wood
David D. Colorado Springs Eskeldson
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agilent Technologies Inc
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agilent Technologies Inc filed Critical Agilent Technologies Inc
Publication of DE102005001126A1 publication Critical patent/DE102005001126A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/01Shaping pulses
    • H03K5/08Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31922Timing generation or clock distribution
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/3193Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
    • G01R31/31937Timing aspects, e.g. measuring propagation delay

Abstract

Eine Beschreibung des Signalverhaltens in der Nähe einer Zeit und Spannung von Interesse wird erzeugt durch Definieren einer Region in der (Zeit-, Spannungs-) Ebene, die eine geschlossene geradseitige Figur ist, deren Scheitelpunkte durch Schwellenüberkreuzungen identifiziert sind, versetzt für die Spannung von Interesse und getaktet durch die Zeitverzögerungen, versetzt von einer Taktzeit von Interesse. Ein erster Satz von Latches, getaktet durch die Zeitverzögerung, akkumuliert das Signalzustandsverhalten relativ zu den Schwellenspannungen, wenn es auftritt, und ihre Inhalte werden nachfolgend zu einem zweiten Satz von Latches an dem Start eines neuen Taktzyklus übertragen, wodurch ermöglicht wird, dass eine neue Akkumulation beginnt, und ferner ermöglicht wird, dass eine Erfassungslogikschaltung an einer zusammengeführten und vervollständigten Sammlung von Indikatoren darüber wirksam ist, was die soeben zusammengefasste Beschreibung ergibt. Die Erfassungslogikschaltung spricht auf die Kombinationen von zwischengespeicherten Anzeigen an, um ein Signal zu erzeugen, das dieser Beschreibung entspricht. Die geschlossene Figur muss kein Rechteck sein und kann ferner als eine Anzeige dienen, dass ein Signal in eine Region eingetreten ist, in die es nicht eingetreten sein sollte, z. B. einen Augenverletzungsdetektor.

Description

  • Es gibt viele Arten elektronischer Testausrüstung, deren Operation den digitalen Erwerb einer Reihe von analogen Spannungswerten umfasst. In manchen Fällen, wie z. B. bei der Echtzeitdigitaloszillographie, ist eine Erwerbsaufzeichnung für eine große Anzahl von aufeinander folgenden Abtastwerten erforderlich, die in schneller Folge genommen werden. Diese Arten von Anwendungen erfordern allgemein einen Hochgeschwindigkeits-ADC (ADC = Analog to Digital Converter = Analog-zu-Digital-Wandler) und sind üblicherweise sehr teuer zu implementieren. Es gibt andere Arten von verwandten Anwendungen, wo bedeutend niedrigere Kosten erwünscht sind, was erreicht werden kann, wenn bestimmte Verhaltensanforderungen gelockert werden können. Diese anderen Anwendungen ziehen häufig einen Vorteil aus einer erwarteten Periodizität, bei der sich das vorangehende Verhalten des Signals wiederholt, und mit genügend Zeit kann eine vollständige Beschreibung des Signals erzeugt werden, durch Abtasten unterschiedlicher Positionen innerhalb dieses Verhaltens während aufeinander folgender Instanzen des Verhaltens. Dies kann den Bedarf nach einer dauerhaften Hochgeschwindigkeitsoperation von dem ADC beseitigen. Einige digitale Oszilloskope arbeiten in diesem Modus. Es gibt eine wiederum andere Abweichung von diesem letztgenannten Modus, wo nicht erforderlich ist oder erwartet wird, dass das Signalverhalten seinen genauen Signalverlauf während den aufeinander folgenden Instanzen der Abtastung an unterschiedlichen Positionen wiederholt. Zum Beispiel ist ein EDA (EDA = Eye Diagram Analyzer = Augendiagrammanalysator) mehr interessiert an den Positionen von Flanken, ihren Anstiegs- und Abfallzeiten und ihren ausgeübten Spannungspegeln zwischen Übergängen und nicht an dem bestimmten Signalverlauf als eine Spannungshistorie über Zeit. EDAs erwerben häufig Daten für eine große Anzahl von Signalen gleichzeitig (z. B. für alle Signale in einem breiten Bus). Es ist ökonomisch unpraktisch, eine teure Datenerwerbstechnik zu verwenden, die für zwei oder vier Kanäle in einem digitalen Oszilloskop für alle 64 oder 128 Kanäle eines EDA berechtigt wäre. Dementsprechend wurden für solche Anwendungen verschiedene Möglichkeiten entwickelt, die Kosten der Datenerwerbshardware pro Kanal zu verringern. Diese Techniken basieren häufig auf Kombinationen von Verzögerungselementen und Schwellenkomparatoren, um Anzeigen zu erzeugen, dass eine bestimmte Kombination von Signalparametern beobachtet wurde. Das Auftreten (oder das Fehlen desselben) wird bemerkt, die Parameter werden verändert und der Prozess wird fortgesetzt.
  • Zum Beispiel beschreibt die U.S.-Patentanmeldung S/N 10/629,269 mit dem Titel IMPROVED EYE DIAGRAM ANALYZER CORRECTLY SAMPLES LOW dv/dt VOLTAGES, eingereicht am 29. Juli 2003 von David D. Eskeldson und Richard A. Nygaard JR. verschiedene Anordnungen von einstellbaren Verzögerungselementen und einstellbaren Schwellendetektoren, die relativ zu einem Zeitbezugspunkt anzeigen (wie z. B. der Flanke eines Taktsignals), ob ein Signal von Interesse innerhalb eines SUT (System Under Test; zu testendes System) unterschiedliche Beziehungen zu den Schwellen an nah beabstandeten Zeitpunkten aufwies, die ΔT entfernt sind. Falls nicht, liefert diese negative Information (alleinstehend jedenfalls) nicht viel Informationen darüber, wo das Signal war, aber falls unterschiedliche Beziehungen vorhanden waren, dann ist innerhalb bestimmter Zeit- und Spannungsauflösungen bekannt, dass das Signal innerhalb einer Region war oder durch dieselbe verlaufen ist, beschrieben durch die umfassten Schwellen und die Verzögerungen. Eine solche Erfassung wird ein „HIT" bzw. „Treffer" genannt. Es ist üblich bei einer Ordinate oder einer vertikalen Abmessung, Spannung darzustellen, während eine Abszisse oder horizontale Abmessung Zeit darstellt. In dem Fall eines EDA, der um diese Arten von Detektoren gebaut ist, wird die Region eine bestimmte Zeitlänge im Ruhezustand gelassen, die Anzahl von Treffern wird in einer Datenstruktur aufgezeichnet, deren Positionen den Werten entlang der Zeit- und Spannungsachsen entsprechen, und dann wird die Region zu einer benachbarten oder ausgewählten Position in der (Zeit, Spannungs-) Ebene bewegt. Das Bewegen der Region kann erreicht werden, entweder durch Wobbeln der Datenkanalverzögerung oder Wobbeln der Taktkanalverzögerung. Im Lauf der Zeit werden ausreichend Informationen angesammelt, um ein Augendiagramm für die Anzahl von Treffern aufzubauen, die an den verschiedenen Positionen der Datenstruktur aufgezeichnet wurden. Das Augendiagramm ist als ein Graph in der (Zeit-, Spannungs-) Ebene gezeichnet.
  • Die bekannten (Zeit-, Spannungs-) Erfassungsmechanismen, die beschrieben sind in IMPROVED EYE DIAGRAM ANALYZER CORRECTLY SAMPLES LOW dv/dt VOLTAGES, sind als ein Anfangspunkt von Interesse. Es wird nun eine äußerst abgekürzte Erörterung dieser Techniken vorgelegt.
  • Es wird nun Bezug auf 1 genommen, wo ein vereinfachtes Blockdiagramm 11 für eine gewobbelte Datenkanalverzögerungs- (Zeit-, Spannungs-) Erfassungstechnik gezeigt ist, die in einem EDA verwendbar ist. 2 ist ein vereinfachtes Blockdiagramm 12 einer ähnlichen gewobbelten Taktkanalverzögerungstechnik. Es wird darauf hingewiesen, dass sie beide denselben Mechanismus verwenden können, um die Datenkanalspannung abzutasten. Bezug nehmend auf das Diagramm 47 kann gesagt werden, dass das Signal von Interesse ein horizontales Leitungssegment (A zu B) an der Spannung der Schwelle überkreuzt haben muss und deren Länge die Zeitdifferenz ΔT ist (es wird ebenfalls verfolgt, wo ΔT beginnt).
  • Insbesondere wird darauf hingewiesen, dass in 1 eine variable GEWOBBELTE DATENSIGNALVERZÖGERUNG 10 ein spannungsverglichenes Datenkanalsignal 2 erzeugt, das um einen variablen Betrag verzögert wurde, gemäß dem Verzögerungsbetrag in einem Zyklus von gewobbelten Verzögerungsbeträgen, der gegenwärtig wirksam ist. Das Signal 2 wird an einen D- Eingang eines Latches 3(A) angelegt, das durch ein Signal 1 getaktet wird, das, während es durch einen konfigurierbaren Takttrimmverzögerungsmechanismus 9 verzögert wurde, derart betrachtet werden kann, dass es der „SUT-Takt" ist. Das spannungsverglichene Datenkanalsignal 2 wird ferner an den D-Eingang eines anderen Latches 4(B) angelegt, das durch eine etwas verzögerte (durch dt DELAY) Version des Taktsignals 1 getaktet wird. Die Vorstellung ist, dass, wenn das SUT-Datensignal für diesen Kanal durch die Vergleichsschwelle zu einer Zeit passiert ist, die der aktuellen WOBBEL-Datensignalverzögerung entspricht, dann die zwei Latches 3 und 4 unterschiedliche Werte erfassen, wobei dieser Zustand durch das XOR-Gatter 6 erfasst wird und verwendet wird, um einen TREFFERANZAHLZÄHLER 7 zu implementieren. Dieser Mechanismus wird ein ÜBERGANGSDETEKTOR (8) genannt und gibt an, dass ein TREFFER auftritt, wenn das SUT-Datensignal die Spannung überkreuzt, beschrieben durch das horizontale Leitungssegment A zu B (während ΔT).
  • In 2 ist ein Blockdiagramm 12 der gewobbelten Taktkanalverzögerungstechnik gezeigt, die, wie aus der Figur offensichtlich wird, denselben ÜBERGANGSDETEKTOR (8) aufweist. Tatsächlich sind die Blockdiagramme 11 und 12 scheinbar identisch, obwohl sie auf unterschiedliche Weise arbeiten. Was vorangehend eine Takttrimmverzögerung 9 in 1 war, wird nun als die GEWOBBELTE TAKTVERZÖGERUNG 13 in 2 betrieben, und was die GEWOBBELTE DATENSIGNALVERZÖGERUNG 10 in 1 war, wird nun als DATENSIGNALDE SKEW-VERZÖGERUNG 14 betrieben.
  • Bei beiden Techniken aus 1 und 2 bleibt der Verlass auf das Erfassen eines Übergangs durch eine bestimmte Schwelle, um über einen Signalwert zur Zeit der Abtastung zu entscheiden, offen für einen Ausfall, um einen HIT zu erfassen, wenn die Signalspannung nicht aggressiv zur Zeit der Abtastung übergeht. Der grundlegende Spannungsabtastmechanismus basiert gewisserweise auf dem Rauschen in dem Signal und der Ungewissheit bei dem Komparator, HITs ent lang den oberen (ausgeübt/nichtausgeübt) und den Basislinien- (nichtausgeübt/ausgeübt) Signalwerten zu verursachen. Ein vollständig sauberes rauschfreies Signal ohne dv/dt zwischen seinem Anstieg und Abfall, kombiniert mit einem idealen Komparator, würde keine HITs erzeugen, außer während dem Anstieg und Abfall. So besteht die Situation, in der, wenn die Signale des SUT tatsächlich relativ gut sind und die Messhardware ebenfalls tatsächlich relativ gut ist, das Augendiagramm sich entfernt, außer an den Übergängen; scheinbar ist das Bessere schlechter! Bislang ist keine Ausrüstung angemessen gut, aber der Ausdruck „besser ist schlechter" ist eine nachteilhafte Situation, die die Verbesserungen begründet, die in Verbindung mit 3 und 4 beschrieben sind.
  • Es wird nun Bezug auf 3 genommen, in der ein vereinfachtes Blockdiagramm 16 einer Verbesserung an dem oben beschriebenen ÜBERGANGSDETEKTOR 8 gezeigt ist, der ein niedriges dv/dt toleriert. Es umfasst die Verwendung eines zweiten Schwellenvergleichs und erzeugt ein Ergebnis, das als die OR-Operation des Überkreuzens des oben beschriebenen horizontalen Leitungssegments (A zu B) mit dem Zustand beschrieben werden könnte, dass das Signal in einem vertikalen Leitungssegment (A zu C) abgefallen ist oder dasselbe überkreuzt hat, angeordnet an einem Ende des horizontalen Leitungssegments. Diese Leitungssegmente sind in dem Diagramm 48 gezeigt. In 3 ist die gezeigte Architektur für eine gewobbelte Datenkanalverzögerung.
  • Ein konditioniertes SUT-Datenkanalsignal 17 wird an einen KOMPARATOR 19 angelegt, der ferner eine DATENSCHWELLEN-Spannung 20 empfängt. Das logische Ausgangssignal aus dem KOMPARATOR 19 wird durch eine einstellbare VERZÖGERUNG 23 (der GEWOBBELTE Teil dieser Architektur entsteht aus dem Verändern der einstellbaren Verzögerung) an die D-Eingänge der Latches 27 (A) und 35 (B) angelegt. (Es wird darauf hingewiesen, dass die verschiedenen einstellbaren Verzöge rungselemente, die gezeigt sind, abgegriffene Sequenzen von Puffern in Reihe sein können.)
  • Ein konditioniertes SUT-Signal CLOCK IN (Takt ein) 29 wird an einen anderen KOMPARATOR 30 angelegt, der eine Spannung CLOCK THRESHOLD (Taktschwelle) 31 empfängt. Der logische Ausgang des Komparators 30 wird durch eine CLOCK TRIM DELAY (Takttrimmverzögerung) 32 (die üblicherweise eingestellt und dann gelassen wird) als ein Taktgebungssignal 33 an das LATCH 27 angelegt, und über eine 34 (Verzögerung) an das Latch 35. Die Verzögerung 34 entspricht der dt-Verzögerung 5 aus 1 und 2, und die zwei Latches 27 und 35 aus 3 den Latches 3 bzw. 4 (für entweder 1 und 2). Das XOR-Gatter 38 aus 3 dient zu demselben Zweck wie das XOR-Gatter 6 aus 1 und 2, und bis zu diesem Punkt wurde weitgehend die gleiche grundlegende Struktur beschrieben wie die des TRANSITION DETECTOR (Übergangsdetektors) 8 aus 1 und 2. Das heißt, wenn das Signal DATA IN (Dateneingangssignal) 17 einen Übergang durch die Schwelle 20 während einer Zeitperiode erfährt, belegt durch die Verzögerung 34, wie durch Verzögerung 23 lokalisiert ist, dann weisen die zwei Latches 27 und 35 unterschiedliche Werte auf und das ausgeübte Ausgangssignal aus dem XOR-Gatter 38 verläuft durch das OR-Gatter 39, um das Latch 40 einzustellen und einen Signal-Treffer 41 zu erzeugen, der dann auf verschiedene Weisen durch den Abgleich des EDA verwendet wird und hier nicht berücksichtigt werden muss.
  • Es wird nun darauf hingewiesen, dass das Signal DATA IN 17 ferner an einen zweiten Komparator 18 angelegt wird, dessen Schwelle 22 sich von der Datenschwelle 20 um einen Betrag unterscheidet, eingestellt durch eine Versatzspannung 21. Das logische Ausgangssignal aus dem Komparator 18 wird durch die Verzögerung 24 (die vorzugsweise die Verzögerung 23 verfolgt, vorausgesetzt, dass sie versetzt werden kann, um einen Kanal-zu-Kanal-Versatz zu kompensieren) als das Signal 26 an dem D-Eingang des Latches 28 (C) angelegt, das durch das Signal 33 getaktet wird. Ein Moment Überlegung wird bestätigen, dass, wenn das Signal DATA IN 17 zu der Zeit, die durch die Verzögerung 32 lokalisiert wird (d. h. getaktet durch das Signal 33), von einem Wert ist, der innerhalb der (signierten) Versatzspannung 21 von der Datenschwelle 20 ist, dann die zwei Latches 28 und 27 unterschiedliche Werte aufweisen, nachdem sie durch das Signal 33 getaktet wurden. Als ein bestimmtes Beispiel, wenn der Versatzwert 21 positiv ist, wird das Latch 27 eingestellt und das Latch 28 wird nicht eingestellt. Die zugrundeliegende Implikation, die daraus gezogen werden kann, ist, dass der Pegel (Spannungswert der Abtastzeit) des SUT-Datensignals von Interesse in der Nähe des (innerhalb des Versatzwerts 21) des Werts der Datenschwelle 20 ist. Andererseits, wenn der SUT-Datensignalpegel sicher auf einer Seite der Datenschwelle 20 ist, um einen Betrag, der den Versatz 21 überschreitet, dann sind beide Latches 27 und 28 eingestellt, während in dem anderen Fall (Spannungspegel auf der „anderen Seite") keines der Latches eingestellt ist. In jedem Fall sind sie (27, 28) beide gleich, nachdem sie durch das Signal 33 getaktet wurden. Wie jedoch erwähnt wurde, sind in dem Fall von Interesse (der ein Treffer ist) die Latches unterschiedlich, und das XOR-Gatter 37 erfasst dies und ein OR-Gatter 39 verbindet diese Treffer-Anzeige mit dem Ausgangssignal des XOR-Gatters 38. Das zusammengeführte Ergebnis wird an den Latch 40 angelegt, von wo an wie üblich fortgefahren wird, außer dass es nun möglich ist, Treffer zu erfassen, die dem Übergangsdetektor 8 aus 1 und 2 möglicherweise entgangen sind. Dieser verbesserte Mechanismus wird TRANSITION/RANGE DETECTOR (Übergangs-/Bereichsdetektor) genannt und erfasst einen Treffer, wenn entweder das SUT-Datensignal die Spannung überkreuzt, beschrieben durch das horizontale Leitungssegment A bis B (während ΔT), oder wenn das SUT-Signal innerhalb des Spannungsbereichs A bis C am Start von ΔT liegt, oder vielleicht (und was entsprechend ist, aber eine etwas unterschiedliche Schaltungsanordnung erfordert) innerhalb des Spannungsbereichs B zu C an dem Ende von ΔT liegt.
  • Abschließend wird auf die optionale Verzögerung 36 hingewiesen. Wenn keine solche Verzögerung 36 vorliegt, dann erfasst das Latch 40 die Ergebnisse für einen Zyklus von CLOCK IN 31, der ein Zyklus weiter fortgeschritten ist als der vorliegende Zyklus. Bei einem Pipelinesystem ist dies kein großer Mangel, da später sowieso eine Ausrichtung durch Pipelineverzögerungen erfolgt. Wenn die Verzögerung vorhanden ist und ausgewählt ist, um mehr als die Verzögerung 34 und weniger als ein Taktzyklus zu sein, dann werden die „neuesten" Ergebnisse in den Latch 41 getaktet.
  • Eine kurze Bezugnahme auf 4 ergibt ein vereinfachtes Blockdiagramm 45, das so ähnlich zu dem Blockdiagramm 16 aus 3 ist, wie 2 ähnlich zu 1 ist. Die Operation der Schaltung ist im Wesentlichen dieselbe, wie für 3 beschrieben wurde, außer dass die Verzögerungen 43 und 44 eine Trimmverzögerung erzeugen, die die zeitliche Verschiebung der Datenkanäle aufhebt, und die Verzögerung 42 wirkt als eine gewobbelte Taktverzögerung.
  • Es ist nicht unbedingt so, dass die oben beschriebenen Systeme nicht funktionieren – sie tun es. Aber es gibt andere Umstände, in denen eine umfassendere Anzeige, die nicht so einfach ist wie „es war vorhanden" oder „es war nicht vorhanden" für diese Zwecke wünschenswert wäre. Zum Beispiel: „Ist es durch die gesamte Region verlaufen, und wenn ja, in welcher Richtung?" Es könnte sogar bevorzugt werden, dass die Region etwas anderes umfasst als ein Leitungssegment oder zwei Leitungssegmente. Aber andererseits wird betrachtet, dass egal wie die Erfassungsschaltungsanordnung vergrößert wird, dies für alle 64 oder 128 Kanäle erforderlich ist, was ein hoher Anreiz für Techniken ist, die große Informationsbeträge für relativ wenig zusätzliche Hardware zurücksenden.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Charakterisieren des Verhaltens eines Arbeitssig nals während eines Zeitintervalls mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.
  • Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 gelöst.
  • Eine informativere Beschreibung des Verhaltens eines Signals in der Nähe einer Zeit relativ zu einem Übergang in einem Takt und mit einer Spannung von Interesse kann erzeugt werden, durch Definieren einer Region in der (Zeit-, Spannungs-) Ebene, die eine geschlossene geradseitige Figur ist, deren Scheitelpunkte durch Schwellenüberkreuzungen identifiziert sind, versetzt um die Spannung von Interesse und getaktet durch die Zeitverzögerungen, versetzt von der Taktzeit von Interesse. Ein erster Satz von Latches, die durch die Zeitverzögerung getaktet werden, akkumuliert den Zustand des Verhaltens des Signals relativ zu den Schwellenspannungen, wenn es auftritt, und ihre Inhalte werden nachfolgend zu einem zweiten Satz von Latches am Beginn eines neuen Taktzyklus übertragen, wodurch ermöglicht wird, dass eine neue Akkumulation beginnt, und ebenfalls ermöglicht wird, dass eine Erfassungslogikschaltung an einer vereinigten und vollständigen Sammlung von Indikatoren wirksam ist, was die soeben zusammengefasste Beschreibung ergibt. Die Erfassungslogikschaltung, die eine kombinatorische Logik oder eine Nachschlagtabelle sein kann, antwortet auf die Kombinationen von zwischengespeicherten Anzeigen, um ein Signal zu erzeugen, das dieser Beschreibung entspricht. Die geschlossene Figur muss kein Rechteck sein, und ihre Verwendung muss nicht auf das Herausfinden der bestimmten Weise beschränkt sein, auf die ein Signal dessen Inneres überquert hat, sondern kann ferner als eine Anzeige dienen, dass ein Signal in eine Region eingetreten ist, in die es nicht eingetreten sein sollte, z. B. als ein Augenverletzungsdetektor.
  • Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen
  • 1 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines bekannten Übergangsdetektors für einen Augendiagrammanalysator, der eine überstrichene Datenkanalverzögerung verwendet;
  • 2 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines bekannten Übergangsdetektors für einen Augendiagrammanalysator, der eine überstrichene bzw. gewobbelte Taktkanalverzögerung verwendet;
  • 3 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines bekannten Übergangs-/Bereichsdetektors für einen Augendiagrammanalysator, der eine überstrichene Datenkanalverzögerung verwendet;
  • 4 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines bekannten Übergangs-/Bereichsdetektors für einen Augendiagrammanalysator, der eine überstrichene Taktverzögerung verwendet;
  • 5 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines Vierpunkt-Begrenzungskastendetektors, der gemäß den Prinzipien der Erfindung aufgebaut ist;
  • 6 ein Diagramm, das einen Aspekt der Operation des Blockdiagramms aus 4 darstellt; und
  • 7 ein vereinfachtes Blockdiagramm, das Elemente darstellt, die zu dem Blockdiagramm aus 5 hinzugefügt werden sollen, um einen Sechspunkt-Begrenzungskastendetektor zu erzeugen.
  • Es wird nun Bezug auf 5 genommen, in der ein vereinfachtes Blockdiagramm 46 davon gezeigt ist, was ein Vier punkt-Begrenzungskastendetektor genannt wird. Das Diagramm 49 in der oberen linken Ecke der Figur stellt allgemein eine Art eines Vierpunkt-Begrenzungskastens dar, der in diesem Fall durch die vier Scheitelpunkte definiert ist, markiert durch A, B, C und D. Jeder Scheitelpunkt stellt eine bestimmte Kombination einer Schwelle dar, die zu einer bestimmten Zeit erfüllt wird. Somit weisen A und B dieselbe Schwellenspannung auf (die in diese Fall VOFF ist), sind jedoch zeitlich um ΔT getrennt.
  • Ein Signal X1 (72) wird erzeugt durch eine variable Verzögerung 71, angelegt an SUT_CLK 70, und ist verzögert von SUT_CLK durch einen Bereichszeitversatz, genannt TOFF. X1 ist der Anfang eines Zeitintervalls, genannt ΔT, abgegrenzt durch ein anderes Signal X2 (74). X2 wird erzeugt aus X1 durch eine andere variable Verzögerung 73. Es wird darauf hingewiesen, dass die Variable-Verzögerung-Schaltungen z. B. eine abgegriffene Reihe von Puffern sein können.
  • Die Arbeitsweise wird offensichtlich durch Erkennen, dass das Eingangssignal 50, das in diesem Fall als ein Differenzpaar D_IN(+) und D_IN(–) dargestellt ist, an einen Komparator 53 angelegt wird, dessen Ausgang 45 Y1 genannt wird. Der Vergleich umfasst ferner eine Bereichsversatzspannung VOFF in Reihe mit D_IN(–). Durch Variieren von VOFF kann Y1 eine Funktion eines gewünschten Spannungspegels sein.
  • Relativ zu einem Taktsignal aus dem zu testenden System (SUT_CLK 70) erzeugt eine Variable-Verzögerung-Schaltung 71 ein Signal X1. Wenn die optionalen Vorwärtsverzögerungen 57 und 58 ignoriert werden, zeichnet ein Latch A 59, das durch X1 getaktet wird und das Y1 erfasst, auf, ob das Eingangssignal 50 VOFF bei X1 überschreitet.
  • VOFF ist ein Ende eines Spannungsbereichs, genannt ΔV, dessen anderes Ende durch eine Spannungsquelle 52 erhalten wird, auf die als der (–)-Eingang des Komparators 53 Bezug genommen wird. Der kombinierte Versatz von VOFF und ΔV wird an den (–)-Eingang des Komparators 54 angelegt, dessen Ausgangssignal 56 Y2 genannt wird. Werden die optionalen Vorwärtsverzögerungen 57 und 58 ignoriert, zeichnet ein Latch C 60, das durch X1 getaktet wird und Y2 erfasst, auf, ob das Eingangssignal 50 VOFF + ΔV bei X1 überschreitet.
  • Nach kurzem Überdenken erkennt der Leser, dass nach X1 bestimmte Kombinationen von A und C nützliche Bedeutung haben. Zum Beispiel kann A und nicht C interpretiert werden als der Spannungswert von D_IN, der zwischen den zwei Schwellen liegt, dargestellt durch Y1 und Y2, zur Zeit X1, was heißt, entlang der Linie AC in dem Diagramm 49.
  • Auf ähnliche Weise erfasst die Schaltung mit den Latches B 61 und D 62 die Werte von Y1 und Y2 zur Zeit X2 (74).
  • Nach der nächsten Instanz von X1 werden die vier Werte für A, B, C und D in einen zweiten Satz von Latches A' (63), B' (64), C' (65) und D' (66) getaktet. Jetzt sind diese Werte ein Taktsignal hinter der Realität, aber alle vier sind gleichzeitig und es ist ein ganzer Taktzyklus vorhanden, um zu entscheiden, was ihre Kombination bedeutet. Diese Teilzykluslatenzzeit kann für bestimmte Anwendungen zu langsam sein, sie ist jedoch auf keinen Fall zu langsam für alle, und ist mit Sicherheit schnell genug z. B. zur Verwendung bei einem EDA. Dementsprechend werden die Werte der vier Latches A' (63), B' (64), C' (65) und D' (66) an die Erfassungslogikschaltung 67 angelegt, die Ausgangssignale erzeugt, die nützliche Kombinationen dieser Latches anzeigen. Diese angezeigten Kombinationen werden nach dem nächsten X1 in entsprechende Latches 68 und 69 zwischengespeichert, woraufhin sie von einem System erkannt und bearbeitet werden (nicht gezeigt, das jedoch Teil eines ETA sein kann), das daran interessiert ist. Es wird ferner darauf hingewiesen, dass die Leitung BD ähnlich zu Leitung AC ist, außer dass es für das Ende von ΔT steht, wo AC der Start von ΔT ist.
  • Ferner, so wie über die Kombinationen von A und C angefordert wurde, kann dies auch für B und D und ebenfalls für die gesamte Sammlung von A und B und C und D durchgeführt werden. Zum Beispiel, wenn A und nicht B beobachtet wird, dann besteht ein guter Grund zu glauben, dass D_IN gefallen ist und die Leitung AB während ΔT überkreuzte. Da jedoch in diesem Fall vier bestimmte Ausdrücke berücksichtigt werden müssen, kann durch ein wenig Nachdenken bestätigt werden, dass nicht alle Kombinationen für diese bestimmten Ausdrücke möglich sind. Zum Beispiel ist es nicht logisch, dass die Eingangsspannung sowohl über als auch unter derselben Schwellenspannung gleichzeitig sein kann. Somit ist eine Kombination, die C UND NICHT A umfasst, verdächtig. 6 enthält ein Diagramm 75, das die Umstände für jede der 16 Möglichkeiten für die vier Ausdrücke A, B, C und D aus 5 anzeigt. Die Erfassungslogik, die das Diagramm 75 implementiert (oder ein Unterschiedliches für eine unterschiedliche Anwendung), kann eine Sammlung aus Gattern sein, die eine kombinatorische Logik ausführen, oder wenn die Anzahl von Eingangssignalen hoch ist, möglicherweise eine Nachschlagtabelle, die durch einen kleinen ROM implementiert ist.
  • Es wird darauf hingewiesen, dass A und B (oder A' und B') dieselbe Spannung VOFF zur Zeit ΔT darstellen, beginnend bei TOFF, dass C und D (oder C' und D') dieselbe Spannung VOFF + ΔV zur Zeit ΔT entfernt darstellen, beginnend bei TOFF, und dass diese Bedingungen in dem Diagramm 49 durch die Leitungssegmente AB bzw. CD dargestellt sind. Auf ähnliche Weise stellt das Leitungssegment AC einen Bereich von Spannungen ΔV entfernt zur Zeit X1 dar, während das Leitungssegment BD denselben Spannungsbereich zur Zeit X2 darstellt. Die vier Scheitelpunkte A, B, C und D bilden eine geschlossene Figur, und innerhalb bestimmter Grenzen ist es möglich, derselben bestimmte Eigenschaften zuzuweisen, wie durch das Diagramm in 6 durchgeführt wird. Es gibt jedoch Grenzen, wie z. B. Signale, deren Zeitabwei chungsspuren Wendepunkte aufweisen, die innerhalb der Figur liegen, die durch die Scheitelpunkte gebildet wird. So wird z. B. ein Signal, das CD von außerhalb des Kastens ABCD überkreuzt, seine Richtung ändert und zurück nach außen durch erneutes Überkreuzen von CD von innen kehrt, nicht derart erfasst, dass es den Kasten getroffen hat. Es gibt eine Reihe solcher Umstände, und sie führen zu der gut bekannten Situation, in der Hochgeschwindigkeitsphänomene häufig ungenau durch eine langsame Abtastung beschrieben werden.
  • Um hierbei fortzufahren, wird darauf hingewiesen, dass das „Überkreuzen" eines vertikalen Leitungssegments (wie z. B. AC), wobei „Überkreuzen" bedeutet, dass ein Auftreten jeglicher Spannung auf dem Leitungssegment zur Zeit von Interesse vorlag, tatsächlich als eine Kombination von Ausdrücken erfasst werden kann. Die bestimmte Hardware jedoch, die gezeigt wurde, führt nicht das gleiche für horizontale Leitungen durch: „War das Signal jemals auf dieser Spannung während dieses Zeitintervalls?" Eine Hardware zum Durchführen hiervon kann erdacht werden und führt zu folgendem: (1) dass „auf dieser Spannung" „gleich" bedeutet; (2) dass eine vorliegende praktische Toleranzfrage vorliegt, dass die rein mathematische Gleichheitswahrnehmung nicht erforderlich ist, mit der Implikation, dass für eine gegebene Auflösung dieselbe ein Bereich von Werten ist, der tatsächlich erfasst wird, und nicht eine exakte Spannung; und (3) dass der Zeitbetrag, der an der Spannung von Interesse verbracht wird, einem Punkt und nicht einem Intervall entsprechen könnte.
  • Wenn nun ein „Istgleich-Komparator" vorläge, der eine Exaktheit besäße und eine Null-Dauer zum Hochladen tolerierte, würde einfach vorgesehen werden, dass sein Ausgangssignal (falls vorhanden) während des Zeitintervalls von Interesse „verriegelt" werden würde. Aber es gibt keine Komparatoren und wird sie wahrscheinlich nie geben, die tatsächlich den „Istgleich"-Vergleich durchführen. Ohne einen solchen Komparator ist es nicht möglich, die angegebene Aufgabe zu erreichen. Statt dessen antworten tatsächliche Komparatoren für analoge Quantitäten auf einen Bereich, wenn sie „Gleichheits-Detektoren" sind, oder haben ansonsten ≤ oder ≥ als ihre Funktion (Schwellenvergleich). Eine Lösung ist das Kombinieren von zwei Schwellenvergleichern, um einen kleinen Bereich zu identifizieren, der als die praktische Entsprechung eines Punkts genommen werden kann. Es verbleibt die Operationsgeschwindigkeitsfrage, die betrifft, wie schnell Dinge erkannt und aufgezeichnet werden können. Es besteht ein ähnlicher Satz von philosophischen Beobachtungen, die die Operationsgeschwindigkeit betreffen, die als bekannt weggelassen werden können, und für die die übliche Lösung ist, das dv/dt des Eingangssignals auf eine Grenze einzuschränken, die behandelt werden kann. Dementsprechend wird angenommen, dass das Eingangssignal bandbreitenmäßig darauf eingeschränkt wurde, was durch die verfügbaren Komparatoren und Latches behandelt werden kann.
  • Um zu der korrekten Interpretation der horizontalen Leitungssegmente zurückzukehren, ist es nun möglich zu fragen, ob sie die überarbeitete Frage darstellen: „War das Signal jemals ausreichend nahe an einem bestimmten Wert während des Zeitintervalls?" Dies ist die strengste Frage, von der erwartet werden kann, dass unsere Hardware sie beantwortet.
  • All diese Ideen zusammengenommen ist die Operation an einer besser informierten Position, wo jetzt nur gefragt wird: „War das Eingangssignal innerhalb eines Bereichs von Spannungen während eines bestimmten Zeitintervalls?" Die Frage muss praktikabel sein und nicht ideal. Nach Überlegung wird z. B. darauf hingewiesen, dass der Begrenzungskasten ABCD eine praktische Darstellung eines solchen Spannungsbereichs während eines Zeitintervalls ist, und dass, während tatsächlich Einschränkungen darüber vorliegen, was es bedeutet, AB zu „kreuzen", AB zusammen mit CD definitiv ist, vorausgesetzt, die Einschränkungen der Auflösung werden akzeptiert. Als physische Lebewesen in einem physischen Universum scheint es, als ob wir keinen physischen Zugriff auf das Ideal der exakten Gleichheit oder auf augenblickliches Verhalten hätten, und arrangieren uns mit guten Näherungen. Folgendes wird erhalten, wenn der Begrenzungskasten ABCD klein genug gemacht wird, und der Begrenzungskasten dann als eine Einheit behandelt wird. Somit wird die gesamte Kombination der zwischengespeicherten Zustände A', B', C' und D' als ein Einheitsresultat betrachtet und es wird fortgefahren. Anders ausgedrückt kann ein ausreichend kleiner Begrenzungskasten als ein korrekter Ersatz dafür genommen werden, dass man nicht in der Lage ist, anzugeben, ob der Wert eines Signals „tatsächlich" eine horizontale Leitung während eines Intervalls überkreuzt hat: Der Begrenzungskasten wirkt anstelle der Leitung und man verlässt sich darauf, dass zwei parallele horizontale Leitungen in dem Begrenzungskasten vorliegen, dessen Vorhandensein die Frage der Exaktheit sozusagen lockert. Bandbreitenbegrenzung des Eingangssignals und schnelle Abtastung decken die Geschwindigkeitsfrage ab.
  • Somit ist es eine Möglichkeit des Verwendens der Schaltungsanordnung aus 5, den Begrenzungskasten ABCD zu einem kleinen Rechteck zu machen und dann VOFF und TOFF zu variieren, um sie durch eine (Zeit-, Spannungs-) Ebene oder einen Raum zu bewegen, je nach Wunsch. Bei einer EDA-Anwendung z. B. würde die Größe des Begrenzungskastens gemäß den Auflösungsanforderungen des Benutzers ausgewählt werden, und dürfte an verschiedenen Positionen (Werte für VOFF und TOFF) für ausreichende Zeitspannen verweilen, und die Anzahl von aufgezeichneten Treffern, etc.
  • Wenn es möglich ist, mehr Komparatoren und/oder Taktsignale hinzuzufügen, können mehr Scheitelpunkte zu einem Begrenzungskasten hinzugefügt werden, um mehr Ausdrücke zu liefern, die an die Erfassungslogik angewendet werden können. Zum Beispiel könnte die Seite eines Begrenzungskastens eine Treppenform haben.
  • Es ist deutlich aus der philosophischen Erörterung oben ersichtlich, dass Scheitelpunkte, deren Verbindungslinien nicht vertikal oder horizontal sind, Ergebnisse erzeugen, die lockerer interpretiert werden müssen. Zum Beispiel kann eine Linie, die aufwärts und nach rechts geneigt ist, nur bedeuten, dass das Eingangssignal über einer Schwelle zu Beginn eines Zeitintervalls und unter einer höheren Schwelle am Ende dieses Zeitintervalls war. Wenn eine Kontinuität des Eingangssignals vorliegen soll (ein vernünftiger Glaube), besteht eine Kombination von Ausdrücken, die impliziert, dass die Neigungslinie überkreuzt wurde, aber nicht bekannt ist, wann innerhalb des Intervalls oder bei welcher Spannung innerhalb der Differenz der zwei Schwellen.
  • Eine andere Möglichkeit zum Verwenden des Begrenzungskastens ist, denselben groß herzustellen, z. B. so, dass er gerade in eine erwartungsgemäß ordnungsgemäße Augenbeschreibung einpasst. Nun kann derselbe als ein Augenverletzungsdetektor funktionieren, der ebenfalls im allgemeinen anzeigt, wie viele Verletzungen aufgetreten sind.
  • Zusammenfassend werden einige Erweiterungen der oben ausgeführten Ideen betrachtet. Zuerst, zurück zu 5 und unter Berücksichtigungen der optionalen Vorwärtsverzögerungen 57 und 58. Wenn dieselben vorliegen, ermöglichen dieselben, dass der Begrenzungskastendetektor „verankert" wird, im Hinblick auf X1. Somit, wenn die Vorwärtsverzögerung auf einen Wert δ eingestellt ist (und es sei hier angenommen, dass δ klein ist; ein Bruchteil eines Taktzyklus), dann stellen die Eingangssignale in die Latches A und C Zeitpositionen früher als X1 dar, während die Latches B und D weiterhin ΔT nach X1 getaktet werden. Somit könnte δ auf einen minimalen Einstellwert eingestellt werden, während ΔT auf einen minimalen Haltewert eingestellt ist. Auf diese Weise, mit korrekten Werten für die Bereichsversätze und die geeignete logische Funktion in der Erfassungslogik, wird ein Signal erhalten, das einen Einstell-/Halte- und Rauschspannenauslöser darstellt, der ebenfalls ein taktzentrierter Augenverletzungsauslöser genannt werden kann.
  • 7 stellt eine Erweiterung 76 des Blockdiagramms 46 aus 5 dar. Es fügt die zusätzlichen Ausdrücke E, F und G hinzu, wie durch das Diagramm 77 angezeigt wird. Zu diesem Zweck werden die Latches E, F und G durch ein Signal X1.5 (90) getaktet, das durch eine Verzögerungsschaltung 88 erhalten wird, getrieben durch X1. Das Signal X1.5 tritt zwischen den Instanzen X1 und X2 auf. Das Signal X2 fährt dort fort, wo es war, aber wird nun durch eine andere (kürzere) Verzögerungsschaltung 89 erzeugt. X1 wird verwendet, um die Latches E, F und G in die Latches E', F' und G' zu takten. Die Latches E und F sprechen auf Spannungsvergleiche Y1 und Y2 an, so wie die Latches A bzw. C. Das Latch G spricht auf einen neuen Ausdruck Y3 an, der eine Schwelle darstellt, die z. B. ½ von VDIFF ist oder ΔV/2. Die Erfassungslogik (vorher 67, jetzt 87) wird natürlich erhöht, um mit den zusätzlichen Ausdrücken E', F' und G' umzugehen. Es wird darauf hingewiesen, dass G' als der logische Wert des Signals D_IN genommen werden kann, das zur Zeit existierte, die jedem der anderen Ausdrücke A' – F' entspricht. Ferner ist es deutlich, dass der Sechspunkt-Begrenzungskasten (76 mit 46) mit den Ausdrücken A' bis G' als eine Einheit für sich selbst verstanden werden kann, oder als zwei individuelle Vierpunkt-Begrenzungskästen AECF und EBFD, die EGF als eine gemeinsame Seite verwenden.

Claims (12)

  1. Verfahren zum Charakterisieren eines Verhaltens eines Arbeitssignals während eines Zeitintervalls, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: (a) Definieren eines Zeitintervalls durch Start- (X1) und Ende- (X2) Zeitgebungssignalübergänge; (b) Vergleichen (53) des Arbeitssignals (50) mit einer ersten Schwellenspannung (51), um einen logischen ersten Vergleichswert (Y1) zu erzeugen; (c) Vergleichen (54) des Arbeitssignals mit einer zweiten Schwellenspannung (51 + 52), um einen logischen zweiten Vergleichswert (Y2) zu erzeugen; (d) Erfassen (59) als einen ersten Ausdruck (A) den logischen ersten Vergleichswert nach einem Auftreten des Start-Übergangs; (e) Erfassen (60) als einen zweiten Ausdruck (C) des logischen zweiten Vergleichswerts nach einem Auftreten des Start-Übergangs; (f) Erfassen (61) als einen dritten Ausdruck (B) den logischen ersten Vergleichswert nach einem Auftreten des Ende-Übergangs; (g) Erfassen (62) als einen vierten Ausdruck (D) den logischen zweiten Vergleichswert nach einem Auftreten des Ende-Übergangs; und (h) Erzeugen (67) von zumindest einem Charakterisierungssignal, das das Auftreten in dem ersten bis zum vierten Ausdruck von einer ausgewählten Kombination derselben anzeigt.
  2. Verfahren gemäß Anspruch 1, bei dem der Start- und End-Übergang Übergänge in separaten Signalen sind, erzeugt durch Verzögern (73) der aktiven Flanke eines Taktsignals, und das ferner den Schritt des Erfassens (6366) des ersten bis vierten Ausdrucks aufweist, als gepufferten ersten bis vierten Ausdruck (A' – D'), nach dem Auftreten des Start-Übergangs, und bei dem Schritt (h) ferner auf den gepufferten ersten bis vierten Ausdruck hin wirksam ist.
  3. Verfahren gemäß Anspruch 2, bei dem ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (h) erzeugt wird, anzeigt, dass das Arbeitssignal über die Zeit des Start-Übergangs angestiegen ist.
  4. Verfahren gemäß Anspruch 2 oder 3, bei dem ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (h) erzeugt wird, darstellt, dass das Arbeitssignal zur Zeit zwischen dem Start- und End-Übergang angestiegen ist.
  5. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 4, bei dem ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (h) erzeugt wird, darstellt, dass das Arbeitssignal ungefähr zur Zeit des End-Übergangs angestiegen ist.
  6. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 5, bei dem ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (h) erzeugt wird, darstellt, dass das Arbeitssignal über die Zeit des Start-Übergangs abgefallen ist.
  7. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 6, bei dem ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (h) erzeugt wird, darstellt, dass das Arbeitssignal zu der Zeit zwischen dem Start-Übergang und dem End-Übergang abgefallen ist.
  8. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 7, bei dem ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (h) erzeugt wird, darstellt, dass das Arbeitssignal ungefähr zu der Zeit des End-Übergangs abgefallen ist.
  9. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 8, bei dem ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (h) erzeugt wird, darstellt, dass das Arbeitssignal zwischen dem Start- und End-Übergang im Wesentlichen ruhig war.
  10. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 9, bei dem der Start- und End-Übergang und die erste und zweite Schwellenspannung ausgewählt wurden, um eine gewünschte Augenöffnung darzustellen, und ein Charakterisierungssignal (68), das bei Schritt (f) erzeugt wird, darstellt, dass das Arbeitssignal in die gewünschte Augenöffnung eingetreten ist.
  11. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, bei dem die Vergleiche bei Schritt (b) und (c) nach dem Start-Übergang jeweils um ausgewählte Beträge verzögert (57, 58) werden.
  12. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 11, das ferner folgende Schritte aufweist: (i) Erzeugen (88, 89) eines mittleren Zeitgebungssignalübergangs (X1.5) zwischen dem Auftreten des Start- und End-Übergangs; (j) Vergleichen (79) des Arbeitssignals mit einer dritten Schwellenspannung (51 + 78), die zwischen der ersten und der zweiten Schwellenspannung liegt, um einen logischen dritten Vergleichswert (Y3) zu erzeugen; (k) Erfassen (83) des logischen dritten Vergleichswerts als einen fünften Ausdruck nach einem Auftreten des mittleren Übergangs; und (l) wobei Schritt (h) weiter ansprechend ist auf den fünften Ausdruck.
DE102005001126A 2004-04-28 2005-01-10 Begrenzungskastensignal-Detektor Withdrawn DE102005001126A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/834,678 2004-04-28
US10/834,678 US7257173B2 (en) 2004-04-28 2004-04-28 Bounding box signal detector

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102005001126A1 true DE102005001126A1 (de) 2005-11-17

Family

ID=34654445

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102005001126A Withdrawn DE102005001126A1 (de) 2004-04-28 2005-01-10 Begrenzungskastensignal-Detektor

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7257173B2 (de)
DE (1) DE102005001126A1 (de)
GB (1) GB2413641A (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8650470B2 (en) 2003-03-20 2014-02-11 Arm Limited Error recovery within integrated circuit
US8185812B2 (en) * 2003-03-20 2012-05-22 Arm Limited Single event upset error detection within an integrated circuit
JP2007248379A (ja) * 2006-03-17 2007-09-27 Fujitsu Ltd 半導体装置及び半導体装置のテスト方法
US8171386B2 (en) * 2008-03-27 2012-05-01 Arm Limited Single event upset error detection within sequential storage circuitry of an integrated circuit
US8161367B2 (en) * 2008-10-07 2012-04-17 Arm Limited Correction of single event upset error within sequential storage circuitry of an integrated circuit
US8493120B2 (en) 2011-03-10 2013-07-23 Arm Limited Storage circuitry and method with increased resilience to single event upsets

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3165296B2 (ja) * 1992-12-25 2001-05-14 三菱電機株式会社 フレーム間符号化処理方式及びフレーム間符号化処理方法及び符号化制御方式
US6744813B1 (en) * 1999-04-16 2004-06-01 Paradyne Corporation System and method for estimating noise characteristics in the presence of non-stationary noise
US6785622B2 (en) * 2001-10-29 2004-08-31 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for performing eye diagram measurements
US6760676B2 (en) * 2002-07-31 2004-07-06 Agilent Technologies, Inc. On-screen tools for eye diagram measurements

Also Published As

Publication number Publication date
US20050243905A1 (en) 2005-11-03
GB2413641A (en) 2005-11-02
US7257173B2 (en) 2007-08-14
GB0508452D0 (en) 2005-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69822917T2 (de) Abtast- und Halteschaltung
DE3001263A1 (de) Signalform-erfassungsschaltungsanordnung
DE3715237A1 (de) Mit bereichsteilung arbeitender analog/digital-wandler
DE102005001126A1 (de) Begrenzungskastensignal-Detektor
DE2208310C3 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erzeugung einer Impulsfolge konstanter Impulsamplitude aus einer bivalenten Signalfolge veränderlicher Signalamplitude, der eine zeitlich veränderliche Gleichgröße überlagert ist
DE102004015023B4 (de) Augendiagramm-Analysator und Verfahren zum Ermitteln von Zeit-Spannungs-Meßpunkten für die Augendiagramm-Analyse
DE2923026A1 (de) Verfahren und anordnung zur analog/digital-umsetzung
DE2634426A1 (de) Bandkompressionseinrichtung
DE2439937A1 (de) Verzoegerungspulsgenerator
DE3538735C2 (de)
DE4132294C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Digitalisierung analoger Signale mit einem analogen Oszilloskop
DE3533467C2 (de) Verfahren und Anordnung zum störsicheren Erkennen von in Datensignalen enthaltenen Daten
DE4222788A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Feststellen einer Kapazitätsänderung durch einen Computer
DE1499394A1 (de) Anordnung zum Messen der Groesse von Zeichen
DE102006018207B4 (de) Verfahren zum Testen einer A/D-Wandlerschaltung
DE2833379A1 (de) Verfahren zur bestimmung von extremwerten zeitlich veraenderlicher elektrischer groessen, insbesondere in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung mit ultraschall
DE102016119244B4 (de) Zeit-zu-Digital-Konverter
DE3937055C2 (de)
DE10139883C1 (de) Vorrichtung zum Einstellen eines Arbeitspunktes eines Magnetfeldsensors und ein Verfahren dafür
EP0143485B1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Vergrösserung des Signalrauschabstandes eines periodischen elektrischen Signals
DE4109490C1 (en) A=D conversion method - using successive approximation and separate threshold switch for each bit place
DE2653037C2 (de) Schaltungsanordnung zur Vermeidung von Störungen
EP0141122B1 (de) Schaltungsanordnung zur Messung Kurzer Zeit
EP0283662B1 (de) Verfahren und Einrichtung zur Aufbereitung asynchroner digitaler Daten
DE3240528C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D. STAATES, US

8139 Disposal/non-payment of the annual fee