DE2755576B1 - Pruefeinrichtung fuer eine bestueckte Leiterplatte - Google Patents

Pruefeinrichtung fuer eine bestueckte Leiterplatte

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DE2755576B1 DE19772755576 DE2755576A DE2755576B1 DE 2755576 B1 DE2755576 B1 DE 2755576B1 DE 19772755576 DE19772755576 DE 19772755576 DE 2755576 A DE2755576 A DE 2755576A DE 2755576 B1 DE2755576 B1 DE 2755576B1
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

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Description

  • Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung vor, daß eine Eingabeeinrichtung für Prüfsignale über ein Schieberegister mit einem Zwischenspeicher verbunden ist, dessen erste Ausgänge mit den Eingängen der zu prüfenden Leiterplatte und dessen zweite Ausgänge mit den ersten Eingängen eines Komparators verbunden sind, dessen zweite Eingänge mit den Ausgängen der Leiterplatte verbunden sind, daß ein mit der Eingabeeinrichtung verbundener Eingabesignalzähler über einen Umschalter mit dem Schieberegister und dem Zwischenspeicher verbunden ist und daß eine eingegebene Signalkombination durch einen vom Eingabesignalzähler abgegebenen Impuls mittels des Umschalters vom Schieberegister auf den Zwischenspeicher gegeben wird und von diesem die Prüfeingangssignale auf die Leiterplatte und die Prüfausgangssignale auf den Komparator gegeben werden, um diese mit den Ausgangssignalen der Leiterplatte zu vergleichen.
  • Hierdurch wird es ermöglicht, die auf einer bestückten Leiterplatte befindliche elektronische Schaltung aus mehreren elektronischen Bauteilen in ihrem Funktionsablauf zu überprüfen. Die Überprüfung erfolgt unmittelbar an den Ein- bzw. Ausgängen der Leiterplatte, so daß eine fertigmontierte und gelötete Leiterplatte auf ihre Funktion hin überprüft werden kann.
  • Bei der erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung ist zwischen dem Zwischenspeicher und dem Komparator einerseits und der Leiterplatte andererseits ein Koordinatenschalter angeordnet, um mit diesem die einzelnen erforderlichen elektrischen Verbindungen herstellen zu können. Eine über einen Decoder geschaltete Datenanzeige zur optischen Anzeige der eingegebenen Signalkombination aus Eingangs- und Soll-Ausgangssignalen der Leiterplatte ist zwischen das Schieberegister und den Zwischenspeicher eingeschaltet. Ferner ist eine Einrichtung zur Anzeige der Ausgangssignale der zu prüfenden Leiterplatte zwischen die Ausgänge der Leiterplatte und die zweiten Eingänge des Komparators geschaltet. Dabei besteht die Einrichtung zur Anzeige der Ausgangssignal der Leiterplatte vorzugsweise aus einer Reihe von Leuchtdioden, von denen jedem Ausgang der Leiterplatte eine Leuchtdiode zugeordnet ist.
  • Um die einzelnen Signalkombinationen des gesamten Schaltungsprogrammes in kurzer Zeit und nacheinander überprüfen zu können, ist in weiterer erfindungsgemäßer Weise zur fortlaufenden Prüfung des aus mehreren Signalkombinationen bestehenden Programms der elektronischen Schaltung der Leiterplatte ein Zwei-Spur-Tonbandgerät eingeschaltet, dessen erste Spur zur Aufnahme der eingegebenen Prüfsignale mit der Serienausgabe des Schieberegisters und zur Wiedergabe der Prüfsignale mit der Serieneingabe des Schieberegisters verbunden ist und dessen zweite Spur zur Aufnahme und Wiedergabe einer Taktfrequenz vorgesehen und zur Aufnahme der Taktfrequenz mit einem Taktgenerator verbunden ist, der mit dem Umschalter in einer Zweiwegverbindung steht. Hierdurch kann in besonders einfacher Weise mittels der Eingabeeinrichtung jede einzelne Signalkombination der elektronischen Schaltung eingegeben und auf Spur 1 des Zwei-Spur-Tonbandgerätes gespeichert werden, wobei jeder Signalkombination eine bestimmte Taktfrequenz auf der zweiten Spur des Tonbandgerätes beigegeben wird. Das derart einspeicherbare Programm der elektronischen Schaltung kann bei Wiedergabe kontinuierlich ablaufen, wodurch die fortlaufende Prüfung der auf der Leiterplatte angeordneten elektronischen Schaltung möglich ist. Bei einem Fehler, der vom Komparator festgestellt wird, wird unmittelbar der Tonbandantrieb gestoppt, so daß die Fehlstelle schnell ermittelt werden kann.
  • In weiterer Ausbildung der Erfindung sind zur Aufnahme und Wiedergabe der Prüfsignale und der Taktfrequenz Daten und Taktmodulatoren bzw. Daten-und Taktmodulatoren in die jeweilige Leitungsverbindung eingeschaltet. Die Anschlüsse des Antriebsmotors des Zwei-Spur-Tonbandgerätes sind über eine Relais unmittelbar mit dem Komparator verbunden.
  • Zwischen Umschalter und Schieberegister ist ein Taktzähler eingeschaltet, der bei Erreichen des letzten Taktimpulses einer Signalkombination ein Schaltsignal an den Umschalter abgibt. Ein Zeilenzähler mit angeschlossener Zeilenanzeige ist mit dem Taktzähler verbunden, um die jeweilige Zeile der Signalkombination zu zählen bzw. anzuzeigen.
  • Die Erfindung ist nachfolgend anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert. Die einzige Figur zeigt ein Blockschaltbild der Schaltung für die Prüfeinrichtung.
  • Bei der in der einzigen Figur dargestellten Prüfeinrichtung für eine auf einer mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatte 1 befindliche elektronische Schaltung ist eine Eingabeeinrichtung 2 für Prüfsignale in Form einer Eingabetastatur über ein Schieberegister 3 mit einem Zwischenspeicher 4 elektrisch verbunden, dessen erste Ausgänge 5 mit den Eingängen 6 der zu prüfenden Leiterplatte 1 und dessen zweite Ausgänge 7 mit den ersten Eingängen 8 eines Komparators 9 verbunden sind, dessen zweite Eingänge 10 mit den Ausgängen 11 der Leiterplatte 1 verbunden sind.
  • Zwischen dem Zwischenspeicher 4 und dem Komparator 9 einerseits und der Leiterplatte 1 andererseits ist ein Koordinatenschalter 12 angeordnet, der zur schnellen Verbindung der verschiedenen Ein- und Ausgänge 6 bzw. 11 der Leiterplatte 1 mit der Prüfeinrichtung dient und über den gleichzeitig die Leiterplatte 1 mit der erforderlichen Spannung versorgt werden kann. Die Prüfeinrichtung ist im Ausführungsbeispiel für eine Betriebsspannung von 12 Volt vorgesehen, jedoch können Leiterplatten 1 mit anderen Betriebsspannungen mit Hilfe von Anpassungsadaptern 13 ebenfalls geprüft werden, wie auch Leiterplatten 1 mit Leistungsausgängen oder ähnlichen Verbrauchern, so daß eine universelle Verwendung der Prüfeinrichtung möglich ist. Die Anpassungsadapter 13 werden zweckmäßigerweise über den Koordinatenschalter 12 mit der Leiterplatte 1 verbunden.
  • In einer Parallelschaltung ist ein mit der Eingabeeinrichtung 2 verbundener Eingabesignalzähler 14 über einen Umschalter 15 mit dem Schieberegister 3 und dem Zwischenspeicher 4 elektrisch verbunden. Zur optischen Anzeige der mittels der Eingabeeinrichtung 2 eingegebenen Signalkombinationen aus Eingangs- und Soll-Ausgangssignalen der Leiterplatten ist eine über einen Decoder 16 geschaltete Datenanzeige 17 in die Verbindung zwischdn Schieberegister 3 und Zwischenspeicher 4 eingeschaltet. Im dargestellten Auslührungsbeispiel umfaßt die Datenanzeige 17 sieben Signale, von denen drei Eingangs- und vier Ausgangssignale sind. Zur Anzeige der Ausgangssignale der zu prüfenden Leiterplatte 1 ist zwischen die Ausgänge 11 der Leiterplatte 1 und die zweiten Eingänge 10 des Komparators 9 eine Anzeigeeinrichtung 18 geschaltet, die aus einer Reihe von Leuchtdioden gebildet ist, von denen jedem Ausgang der Leiterplatte 1 eine Leuchtdiode zugeordnet ist.
  • Zur fortlaufenden Prüfung des aus mehreren Signalkombinationen bestehenden Funktionsprogrammes der elektronischen Schaltung auf der Leiterplatte 1 ist ein Zwei-Spur-Tonbandgerät eingeschaltet. dessen erste Spur (angeschlossen an Ausgang von 19) zur Aufnahme der mittels der Eingabeeinrichtung 2 eingegebenen Prüfsignale mit der Serienausgabe 20 des Schieberegisters 3 und zur Wiedergabe der Prüfsignale mit der Serieneingabe 21 des Schieberegisters 3 verbunden ist und dessen zweite Spur (angeschlossen an Ausgang von 22) zur Aufnahme und Wiedergabe einer Taktfrequenz vorgesehen und zur Aufnahme der Taktfrequenz mit einem Taktgenerator 23 verbunden ist, der mit dem Umschalter 15 in einer Zweiwegverbindung 24 in Verbindung steht. Zur Tonbandaufnahme 25 und Tonbandwiedergabe 26 der Prüfsignale und der Taktfrequenz sind Sinusgeneratoren 27, 28 und Daten-und Taktmodulatoren 19, 22 bzw. Daten- und Taktdemodulatoren 29, 30 in die jeweilige Leitungsverbindung eingeschaltet. Die Anschlüsse des Antriebsmotors 31 des Zwei-Spur-Tonbandgerätes sind über ein Relais 32 unmittelbar mit dem Komparator 9 verbunden, wobei in diese Verbindung ein Stoppsignalgeber 33 eingeschaltet ist.
  • Zwischen Umschalter 15 und Schieberegister 3 ist ein Taktzähler 34 eingeschaltet, der bei Erreichen des letzten Taktimpulses einer Signalkombination ein Schaltsigal an den Umschalter 15 abgibt. Ferner ist ein Zeilenzähler 35 mit angeschlossener Zeilenanzeige mit dem Taktzähler 34 elektrisch verbunden, um die jeweilige Zeile der Signalkombination zu zählen bzw.
  • anzuzeigen.
  • Bei dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel besteht eine Signalkombination aus sieben Einzeldaten, die mit der Eingabeeinrichtung 2 eingegeben und an der Datenanzeige 17 angezeigt werden. Jedem dieser Einzeldaten werden vom Taktgenerator 23 vier Taktimpulse zugeordnet, so daß eine Signalkombination aus sieben Einzeldaten und 28 Taktimpulen besteht, wobei die ersten drei Daten Eingangssignale und letzten vier Daten Ausgangssignale der Leiterplatte 1 darstellen. Ein einfaches Programm für die Prüfeinrichtung wird nachstehend wiedergegeben. Bei diesem Programm steht in der linken Spalte die Zeilenanzeige. Bei den Ein- und Ausgängen sind die Einzelsignale mit den Buchstaben H = Hight bzw. L= Low angegeben, wobei jeder Vierergruppe eines einzelnen Signales in der rechten Spalte eine Codebezeichnung beigegeben ist, die an der Datenanzeige 17 ablesbar ist. Die Taktimpulse der Ausgänge sind an den 16 Leuchtdioden 18 ablesbar.
  • Zeile Eingänge Ausgänge Daten 200038 F700FB9 1. HHHH HHHL LLLL LLLL HLLH HHLH HLLH F7009B9 2. LHHH HHHL LLLL LLLL HLLH LHLH HLLH E7009A9 3. HHHL HHHL LLLL LLLL HLLH HHLL HLLH 7700939 4. HHHH LHHL LLLL LLLL HLLH HHLH LLLH F6009B8 5. HHHH HHLL LLLL LLLL HLLH HHLH HLHH F3009BD 6. HHHH HLHL LLLL LLLL HLLH HHLH HHLH F5009BB 7. HLHH HHHL LLLL LLLL HLLH HLLH HLLH D700999 8. HHHH HHHL LLLL LLLL HLLH HHLH HLLH F7009B9 9. HHLH HHHL LLLL LLLL HLLL HHHH HLLH B7001F9 10. HHLH HHHL LLLL LLLL HLLL HHLH HLLH B7001B9 E000000 Mit der oben beschriebenen Prüfeinrichtung wird wie folgt gearbeitet. Es werden die einzelnen Daten einer jeden Datenzeile 1 - 10 nacheinander mittels der Eingabeeinrichtung 2 in Form einer Eingabetastatur eingegeben. Sobald eine Datenzeile eingegeben ist, was vom Eingabesignalzähler 14 nach Eingabe des 7.
  • Signalimpulses festgestellt wird, tritt der Taktgenerator 23 in Tätigkeit. Aus dem Schieberegister 3, in welchem die eingegebenen Daten gespeichert sind, werden diese nun mittels des Umschalters 15 über die Serienausgabe 20 auf Spur 1 der Tonbandaufnahme 25 gegeben, wobei diese mittels des Datenmodulators 19 einer Niederfrequenz des Sinusgenerators 27 überlagert werden.
  • Gleichzeitig erfolgt die Aufzeichnung der vom Taktgenerator 23 abgegebenen Taktimpulse auf Spur 2 der Tonbandaufnahme 25, wobei ebenfalls über den Taktmodulator 22 eine Sinusmodulation erfolgt. Die Aufnahme der Daten und Taktimpulse auf das Tonband erfolgt nach Einschaltung des Tonbandmotors 31 in Abhängigkeit vom 7. Eingabeimpuls bzw. 28. Taktimpuls über den Umschalter 15. Es ist somit möglich, jede Signalkombination durch einfaches Bedienen der Tastatur der Eingabeeinrichtung 2 herzustellen bzw.
  • einzugeben und auf dem Tonband zu speichern. Durch fortlaufendes Eintasten aller Daten einer auf einer Leiterplatte 1 gebildeten elektronischen Schaltung können somit alle Funktionen der Schaltung nacheinander auf dem Tonband gespeichert werden. Nach jedem 28. Taktimpuls wird der Tonbandmotor 31 bei der Aufnahme der einzelnen Signalkombinationen gestoppt und das Schieberegister 3 automatisch gelöscht, um zur Aufnahme einer weiteren Signalkombination bereit zu sein.
  • Die Prüfung der Leiterplatte 1 mittels des auf einem Tonband aufgezeichneten Programmes erfolgt durch die Tonbandwiedergabe 26, wobei die auf Spur 1 aufgezeichneten Daten über den Datenmodulator 29 in die Serieneingabe 21 des Schieberegisters 3 eingegeben und gleichzeitig von Spur 2 die Taktimpulse über den Taktdemodulator 30 auf den Umschalter 15 gegeben werden. Nach dem 28. Taktimpuls ist das Schieberegister 3 belegt und es wird der Zwischenspeicher 4 eingeschaltet, der die Daten übernimmt und auf den Prüfling in Form der Leiterplatte 1 gibt. Am Komparator 9 werden nun die an den Ausgängen der Leiterplatte 1 erhaltenen Ausgangssignale mit den im Zwischenspeicher 4 gespeicherten Soll-Ausgangssignalen verglichen. Wenn die elektronische Schaltung der Leiterplatte 1 in Ordnung ist, läuft das Prüfprogramm durch Prüfen der nächsten Signalkombination weiter.
  • Wird vom Komparator 9 ein Fehler festgestellt, so wird ein Stoppimpuls an den Stoppsignalgeber 33 abgegeben und gleichzeitig der Tonbandmotor 31 abgestellt. An den Leuchtdioden 18 kann dann der fehlerhafte Ausgang der Leiterplatte 1 leicht festgestellt werden.
  • Alternativ kann auch gleichzeitig mit der Tonbandaufnahme 25 eine Prüfung des erstellten Programms durchgeführt werden, wobei diese Leiterplatte 1 jedoch eine bereits geprüfte Leiterplatte sein muß, deren elektronische Schaltung einwandfrei arbeitet. In diesem Falle kann bei Eingabe der Daten sofort erkannt werden, ob das Programm in Ordnung ist. Wenn eine Datenzeile eingegangen ist, werden deren Eingangs-und Ausgangssignale sofort am Prüfling mittels des Komparators 9 überprüft. Ist das eingegebene Programm richtig, so können die Daten sofort auf die Tonbandaufnahme 25 gegeben werden. Andernfalls wird das Stoppsignal mittels des Stoppsignalgebers 33 gegeben, sodaß eine Aufnahme nicht möglich ist.
  • Mit der beschriebenen Prüfeinrichtung kann auch eine Prüfung ohne Tonbandaufnahme bzw. ohne Tonbandwiedergabe erfolgen. Hierbei werden die Eingabedaten wiederum mittels der Eingabeeinrichtung 2 eingegeben. Nach Eingabe einer Datenzeile erfolgt sofort die Prüfung des Prüflinges 1, woraufhin - nach Kontrollprüfung - die Datenzeile wieder zur Eingabe einer weiteren Datenzeile gelöscht wird.
  • Die elektronischen Bauteile der Prüfeinrichtung bestehen aus integrierten Schaltkreisen (IC). Das Zwei-Spur-Tonnbandgerät ist vorzugsweise ein Kassettengerät mit zwei synchronen Tonspuren.
  • Wie es oben bereits beschrieben worden ist, erscheinen nach jeder eingetasteten Datenzeile an den dafür vorgesehenen Leuchtdioden 18 die Ausgangssignale der Leiterplatte 1, die von der Prüfeinrichtung sofort mit dem Sollwert verglichen werden, der zusammen mit den Eingangssignalen in die Schaltung eingegeben worden ist und automatisch mit dem von der Leiterplatte abgegebenen Ausgangswert verglichen wird. Durch fortlaufendes Eintasten aller Daten einer Leiterplatte können daher alle Funktionen einer elektronischen Schaltung nacheinander überprüft werden. Während auf diese Weise eine Leiterplatte geprüft wird, kann das mitlaufende Kassettengerät den Prüfvorgang aufzeichnen. Bei serienmäßigen oder späteren Prüfungen ist dann nur noch das Kassettengerät einzuschalten, das dann den gesamten Prüfvorgang übernimmt. Tritt ein Fehler auf, stoppt das Kassettengerät den Prüfvorgang und am Zustand der Ein- und Ausgangssignale kann ermittelt werden, an welchem Ausgang der Leiterplatte 1 der Fehler zu suchen ist. Der Prüfvorgang dauert bei einer Leiterplatte mit z. B. 28 Ein- und Ausgängen nur eine Minute, obwohl z. B. 80 Funktionen überprüft werden müssen. Die gleichzeitig anzulegende Anzahl von Signalen an die zu prüfende Leiterplatte kann beliebig gewählt werden und ist nur von der Dimensionierung der Prüfeinrichtung abhängig.
  • Alternativ können mit der Eingabeeinrichtung 2 die einzelnen Ein- und Ausgangssignalimpulse der 28 Ein-und Ausgänge der Leiterplatte 1 eingegeben und über die Leitungsverbindung 37 in die Prüfeinrichtung eingegeben werden.

Claims (10)

  1. Patentansprüche: 1. Prüfeinrichtung für eine auf einer mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatte befindliche digitale elektronische Schaltung, d a d u r c h g e -k e n n z ei c h ne t, daß eine Eingabeeinrichtung (2) für Prüfsignale über ein Schieberegister (3) mit einem Zwischenspeicher (4) verbunden ist, dessen erste Ausgänge (5) mit den Eingängen (6) der zu prüfenden Leiterplatte (1) und desssen zweite Ausgänge (7) mit den ersten Eingängen (8) eines Komparators (9) verbunden sind, dessen zweite Eingänge (10) mit den Ausgängen (11) der Leiterplatte (1) verbunden sind, daß ein mit der Eingabeeinrichtung (2) verbundener Eingabesignalzähler (14) über einen Umschalter (15) mit dem Schieberegister (3) und dem Zwischenspeicher (4) verbunden ist und daß eine eingegebene Signalkombination durch einen vom Eingabesignalzähler (14) abgegebenen Impuls mittels des Umschalters (15) vom Schieberegister (3) auf den Zwischenspeicher (4) gegeben wird und von diesem die Prüfeingangssignale auf die Leiterplatte (1) und die Prüfausgangssignale auf den Komparator (9) gegeben werden, um diese mit den Ausgangssignalen der Leiterplatte (1) zu vergleichen.
  2. 2. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Zwischenspeicher (4) und dem Komparator (9) einerseits und der Leiterplatte (1) andererseits ein Koordinatenschalter(l2) angeordnet ist.
  3. 3. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine über einen Decoder (16) geschaltete Datenanzeige (17) zur optischen Anzeige der eingegebenen Signalkombination aus Eingangs- und Soll-Ausgangssignalen der Leiterplatte (1) zwischen Schieberegister (3) und Zwischenspeicher (4) geschaltet ist.
  4. 4. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine Einrichtung (18) zur Anzeige der Ausgangssignale der zu prüfenden Leiterplatte (1) zwischen die Ausgänge (11) der Leiterplatte (1) und die zweiten Eingänge (10) des Komparators (9) geschaltet ist.
  5. 5. Prüfeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (18) zur Anzeige der Ausgangssignale der Leiterplatte (1) aus einer Reihe von Leuchtdioden gebildet ist, von denen jedem Ausgang (11) der Leiterplatte (1) eine Leuchtdiode zugeordnet ist.
  6. 6. Prüfeinrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur fortlaufenden Prüfung des aus mehreren Signalkombinationen bestehenden Programms der elektronischen Schaltung der Leiterplatte (1) ein Zwei-Spur-Tonbandgerät eingeschaltet ist, dessen erste Spur (19) zur Aufnahme der eingegebenen Prüfsignale mit der Serienausgabe (20) des Schieberegisters (3) und zur Wiedergabe der Prüfsignale mit der Serieneingabe (21) des Schieberegisters (3) verbunden ist und dessen zweite Spur (22) zur Aufnahme und Wiedergabe einer Taktfrequenz vorgesehen und zur Aufnahmne der Taktfrequenz mit einem Taktgenerator (23) verbunden ist, der mit dem Umschalter (15) in einer Zweiwegverbindung (24) steht.
  7. 7. Prüfeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß zur Aufnahme und Wiedergabe der Prüfsignale und der Taktfrequenz Daten- und Taktmodulatoren (27 bzw. 28) bzw. Daten- und Taktdemodulatoren (29 bzw. 30) in die jeweilige Leitungsverbindung eingeschaltet sind.
  8. 8. Prüfeinrichtung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlüsse des Antriebsmotors (31) des Zwei-Spur-Tonbandgerätes über ein Relais (32) unmittelbar mit dem Komparator (9) verbunden sind.
  9. 9. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß ein Taktzähler (34) zwischen Umschalter (15) und Schieberegister (3) eingeschaltet ist, der bei Erreichen des letzten Taktimpuses einer Signalkombination einen Schaltimpuls an den Umschalter (15) abgibt.
  10. 10. Prüfeinrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß ein Zeilenzähler (35) mit angeschlossener Zeilenanzeige (36) mit dem Taktzähler (34) verbunden ist, um die jeweilige Zeile der Signalkombination zu zählen bzw. anzuzeigen.
    Die Erfindung bezieht sich auf eine Prüfeinrichtung für eine auf einer mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatte befindliche elektronische digitale Schaltung.
    Bei einer bekannten Prüfeinrichtung dieser Art werden die einzelnen Anschlußdrähte der elektronischen Bauteile vor dem Verlöten mit der Leiterplatte mit federnd gelagerten Kontaktstiften in elektrische Verbindung gebracht, woraufhin die auf der Leiterplatte befindliche elektronische Schaltung durch eine mit den Kontaktstiften in Verbindung stehende Prüfschaltung überprüft werden kann. Diese bekannte Prüfeinrichtung hat den Nachteil, daß die Prüfung vor dem Verlöten der Bauteile mit den Kontakten der Leiterplatte erfolgen muß, so daß spätere Lötfehler nicht berücksichtigt werden können.
    Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfeinrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, mit welcher eine auf einer mit elektronischen Bauteilen bestückten und fertiggelöteten Leiterplatte befindliche elektronische Schaltung unmittelbar an ihren Ein- und Ausgängen überprüft werden kann, die einfach im Schaltungsaufbau ist und die darüber hinaus ermöglicht, das gesamte, von der elektronischen Schaltung abgegebene Schaltungsprogramm in kurzer Zeit nacheinander auf seine Funktion hin zu überprüfen.
DE19772755576 1977-12-09 1977-12-09 Prüfeinrichtung für eine bestückte Leiterplatte Expired DE2755576C2 (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3131151A1 (de) * 1980-09-09 1982-05-13 The Bendix Corp., 48076 Southfield, Mich. Schaltvorrichtung fuer messgeraet

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3131151A1 (de) * 1980-09-09 1982-05-13 The Bendix Corp., 48076 Southfield, Mich. Schaltvorrichtung fuer messgeraet

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