DE2755493A1 - Ladungsuebertragungsanordnung mit doppelspalt-elektrode - Google Patents
Ladungsuebertragungsanordnung mit doppelspalt-elektrodeInfo
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims 1
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 210000003296 saliva Anatomy 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
- G11C19/282—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements with charge storage in a depletion layer, i.e. charge coupled devices [CCD]
- G11C19/285—Peripheral circuits, e.g. for writing into the first stage; for reading-out of the last stage
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
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- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76866—Surface Channel CCD
- H01L29/76891—Four-Phase CCD
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H15/00—Transversal filters
- H03H15/02—Transversal filters using analogue shift registers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/30—Time-delay networks
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft ein Ladungsübertragungsgerät zur Benutzung bei Transversalfiltern und dergl. und sie betrifft
im besonderen ein Gerät, bei dem ein Doppelspalt in der Fühlelektrode benutzt wird, um die Gesamtelektrodenkapazität
und damit die Gleichtakt-Signalkomponente der erfaßten Spannungen zu vermindern.
Ladungsübertragungsgeräte (CTD), wie z.B. CCDs (chargecoupled
devices) und BBDs (bucket brigade devices) können bei der Signalverarbeitung,beispielsweise bei Spaltelektroden-Transversalfiltern,
einfach eingesetzt werden. Eine Besprechung der Entwurfsbetrachtungen für einen solchen
Filter ist in einem Aufsatz von Richard D. Baertsch u.a. mit dem Titel "The Design and Operation of Practical
Charge-Transfer Transversal Filters" enthalten, der in den IEEE Transactions on Electron Devices, Bd. ED-23, Nr. 2,
Februar 1976, S. 133-142, erschienen ist. In diesem Aufsatz werden eine Anzahl von Schwierigkeiten aufgezeigt, die man
beim Aufbau eines solchen Filters unter Benutzung der Spaltelektroden-Ladungsübertragungstechnik
antrifft. Bei einem solchen Transversalfilter wird das Ausgangssignal dadurch erhalten, daß wiederholt die Summe der erfaßten Signale
jeder Spaltelektrode von der der anderen Spaltelektroden abgezogen werden, während bewegliche Ladungen längs des
Gerätes übertragen werden. In Fig. 15 dieses Aufsatzes ist zu ersehen, daß bei einem typischen Filter bei einer grossen
Mehrzahl der Spaltelektroden nur ein kleines Differenzsignal zwischen den beiden Segmenten erhalten wird. Wie in
dem Aufsatz gezeigt ist, wird dadurch das Differentialsignal vernachlässigbar größer, während die Gesamtelektrodenkapazität
weiter ansteigt, wodurch sich insgesamt eine
Abnahme der Signalspannung und eine Verschlechterung des Signal-Rauschverhältnisses ergibt.
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Durch die vorliegende Erfindung wird dieser Effekt dadurch wesentlich verringert, daß eine Doppelspalt-Elektrodenstruktur
verwendet wird, bei der die Sensorelektroden in drei Segmente unterteilt werden, von denen nur zwei differenziell erfaßt
werden. Das dritte, nicht erfassende Segment wird getrennt getaktet, um sicherzustellen, daß die gesamte bewegliche
Ladung in jeder Stufe längs des Gerätes übertragen wird. Bei diesem Aufbau ist die mit jeder Erfassungsleitung verbundene
Gesamtelektrodenflache so klein wie möglich gehalten und das Taktübergangssignal, die kapazitive Belastung und das an
dem Differentialverstärker anliegende Gleichtaktsignal auf diese Weise verringert. Zusätzlich zum verbesserten Betrieb
wird den peripheren Schaltungen die Erfassung des Ausgangssignales erleichtert.
So betrifft die vorliegende Erfindung ein verbessertes Ladungsübertragung
sgerät, das besonders zur Verwendung bei Transversalfiltern und dergl. geeignet ist und das eine Ladungsspeicher-Grundschicht,
eine über der Grundschicht angeordnete dielektrische Schicht und eine Vielzahl von Speicherelektroden umfaßt,
die einander benachbart über der dielektrischen Schicht angeordnet sind, um die aufeinanderfolgende übertragung beweglicher
Ladungen längs eines Kanals in dem Körper in Abhängigkeit von anliegenden Taktspannungssignalen zu steuern. Bei einem solchen
Gerät sind mindestens einige der Speicherelektroden dadurch verbessert, daß sie durch in Richtung der Ladungsübertragung verlaufende
Spalte in drei Segmente geteilt sind, von denen nur jeweils zwei differenziell summiert werden.
Eines der bei jedem Spaltelektrodengerät auftretenden Probleme ist die Vieldeutigkeit, mit der sich die Ladungen unterhalb der
Sensorelektroden verteilen. Bei einem Verfahren zur Herstellung eines solchen Gerätes wird eine begrenzte Feldoxidregion oder
-insel unterhalb des Spaltes in jeder Elektrode gebildet. Diese Struktur kann dadurch verbessert werden, daß man eine schmale
Zunge an der Vorderkante jeder begrenzten Region benutzt, die
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sich teilweise unter die davorliegende Speicherelektrode erstreckt,
so daß das Aufteilen der Ladungen während des UbertragungsVorganges
früher beginnt. Diese schmale Zunge verringert die Breite der zur Doppeldeutigkeit führenden Fläche
und verstärkt das Feld im Spaltbereich.
Die Hinzufügung dieser begrenzten Feldoxidregion verkleinert die aktiven Abschnitte der Sensorelektroden. Um das auszugleichen,
ist bei einer Ausführung der Erfindung eine Kerbe an der Seite des Kanals enthalten. Die Fläche dieser Kerbe
ist gleich der Hälfte der Fläche unter der begrenzten oder örtlichen Oxidregion, so daß sie beim Aufteilen der Ladung
die gleiche Fläche unterhalb der Spaltelektrode einnimmt, die unterhalb einer niht gespaltenen Elektrode eingenommen wird.
Dadurch wird sichergestellt, daß die Ladungsdichte und damit das Oberflächenpotential der Spaltelektrode unter jedem
Sensorsegment der Elektroden gleich bleibt und so die Störung des Ausgangssignals so gering wie möglich gehalten wird.
Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise anhand der Zeichnung näher erläutert; in der Zeichnung zeigt:
Fig. 1 eine Draufsicht auf einen Abschnitt einer CCD-Anordnung , und
Fig. 2 einen Querschnitt durch die Anordnung nach Fig. 1 längs der Linie U-II.
Die Herstellung der hier beschriebenen CCD-Anordnung geschieht unter Verwendung von Technologien, die auf dem Gebiet
der Halbleitergeräte gut eingeführt und bekannt sind. Es wird deshalb für unnötig erachtet, die einzelnen Bearbeitungsschritte
im einzelnen zu beschreiben. Ein Verfahren zum Aufbau eines Polysilizium-CCD-Elementes mit zwei
Schichten, das die Grundstruktur der besprochenen Anordnung darstellt, wird in der CA-PS 941 072 beschrieben. Es
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wird darauf hingewiesen, daß die Zeichnungen das Erfindungswesentlihe
im Aufbau darstellen und nicht notwendigerweise maßstabgerecht sind.
Bei der folgenden ins Einzelne gehenden Beschreibung und in der Zeichnung sind die Einzelelemente der Anordnung mit Grund-Referenznummern
bezeichnet. Wenn zwischen solchen Elementen unterschieden werden muß, sind zusätzliche Referenzzeichen
zu den Grundziffern hinzugefügt. Im allgemeinen wird nur die Grundnummer angesprochen.
Der in Fig. 1 und 2 dargestellte Abschnitt der CCD-Anordnung umfaßt ein Substrat 10 aus p-Silizium, auf dem eine Isolierschicht
11 aus Siliziumdioxid von variabler Stärke angeordnet ist. Eine Reihe von SpeicheiELektroden 12 und Transfergattern
13 sind in Querrichtung in oder an der Isolierschicht 11 so angebracht, daß jede Elektrode die benachbarten der anderen
Art teilweise überdeckt.
Wie in Fig. 1 gezeigt, enthält die Isolierschicht 11 aus Siliziumdioxid
eine Gate-Region 15, die den Kanal zur übertragung der beweglidien Ladung unter Beeinflussung der Taktspannungen
an den Elektroden 12 und 13 bestimmt. Diese Gate-Oxidregionen werden durch dickere Feldoxidregionen 16 begrenzt, die die
Grenzen des Kanals bilden. Die Feldoxidregionen 16 sind stark genug, um die Abschnitte des Halbleitersubstrates 10 unmittelbar
unter ihnen unter dem Einfluß anliegender Taktspannungen an den Elektroden 12 und 13 nicht invertieren zu
lassen. Folglich werden Minoritätsladungsträger nur in dem durch die Gate-Oxidregionen 15 bestimmten Kanal längs des Substrates
10 befördert. Zusätzlich sind kleine Inseln oder Bereiche aus Feldoxid unterhalb jedes Spaltes der Speicherelektroden
12 gebildet. Zusätzlich werden dann, um die Herstellung zu erleichtern, Feldoxidregionen 18 ebenfalls dort verwendet,
wo die Mittelsegmente 12F" und 12H" der Spalt-Speicher-
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elektroden 12 durch einen Leiter 19 verbunden sind. Jede der Inseln 17 und 18 besitzt eine schmale Zunge 20 aus Feldoxid,
die sich nach vorne unterhalb einen Abschnitt der vorhergehenden Elektrode 12 erstreckt. Die Aufgabe dieser Zunge 20
ist es, die Teilung der Ladung unterhalb der Spaltelektrode einzuleiten, wenn sie von der Stelle unterhalb der vorderen
Elektrode weg übertragen wird, um irgendeine Mehrdeutigkeit möglichst klein zu halten und die Breite der Spaltfläche zu
verringern.
Bei einer typischen CCD-Anordnung mit Spaltelektroden wird unterhalb jeder zweiten Speicherelektrode die Ladung erfaßt.
Folglich sind die Speicherelektroden ΈΑ, 12C, 12E und 12G
nicht geteilt. Die Elektroden X2B und 12D sind typische bekannte
Spaltelektroden, die zusammen mit den Doppelspalt-Elektroden 12F und 12H der vorliegenden Erfindung verwendet
werden können. So können, wenn große Differenzen erforderlich sind, die Einzelspaltelektroden (z.B. 12B) verwendet
werden, während bei kleinen Differenzen die Doppelspaltelektroden (z.B.12F) die gleiche Funktion erfüllen.
Die in Fig. 2 dargestellte typische CCD-Anordnung nach der vorliegenden Erfindung weist Elektroden 12 und 13 auf, die in
Richtung des Ladungsflusses 8 um breit sind und voneinander durch einen Spalt von 4 um Breite getrennt sind. Auf diese
Weise ergibt sich eine Uberdeckung von 2 um zwischen benachbarten Speicherelektroden 12 und Transfergattern 13.
Wie aus Fig. 1 zu ersehen ist, ist die Begrenzung 15' zwischen
der Gate-Oxidregion 15 und der Feldoxidregion 16 jeweils unter den Spaltelektroden etwas breiter gestuft als es unterhalb
der nichtgespaltenen Elektroden der Fall ist. Das hat den Zweck, die verringerten Flächen der Gate-Regionen infolge
der Feldoxidinseln 17 in der Spaltelektrode auszugleichen. Die Fläche dieser Stufe oder dieses Einschnittes ist gleich
der Hälfte der Fläche unter der vorangehenden Speicherelek-
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trode,der Spaltinsel 17 benachbart, so daß die Ladung beim
Aufteilen die gleiche Fläche unter den Sensorelektroden 12B, 12D, 12F und 12H einnimmt wie unter den vorhergehenden nicht
gespaltenen Speicherelektroden 12A,12C,12E und 12G. Dadurch wird sichergestellt, daß die Ladungsdichte uid das Oberflächenpotential
unter jedem Sensorsegment der Elektroden gleich bleibt und so die Störung des Ausgangssignals möglichst klein gehalten
wird.
Im Betrieb werden Ladungsmengen längs des Kanals 15 von links nach rechts,gesteuert von Taktspannungen 0.. , 0~, 0?' ' 0o" ' ^3
und 0. übertragen, indem die Stellen der Potential-Minima in wohlbekannter Weise entsprechend geändert werden. Die Erfassung
der Differenzen der Spannungsänderungen in den Leitungen 02 und 0-', die von der Ladungsübertragung unterhalb der mit
ihnen verbundenen Elektrodensegmente herrühren, kann unter Benutzung der üblichen Differentialverstärkertechnik erreicht
werden, wie es in Abschnitt IV "Clocking and Signal Recovery" des Aufsatzes von Baertsch u.a. beschrieben ist.
Der Takt 0^" ist im Gleichklang mit dem Signal auf den Taktleitungen
02 und 02', so daß die beweglichen Ladungen gleichzeitig
unter den drei Segmenten der Doppelspaltelektroden übertragen werden. Es sind jedoch nur die beiden Endsegmente 12F
und 12H bzw. 12F' und 12H1 nach ihrer Differenz erfaßt, während
die Mittelsegmente 12F" und 12H" nur dazu dienen, die Ausgleichsmenge der beweglichen Ladung längs der Anordnung
zu übertragen, um eine gleichförmige Ladungsdichte im Kanal 15 unter den Doppelspaltelektroden aufrechtzuerhalten. Diese
Differenz wird mit einer merklichen Abnahme der Gesamtkapazität der Sensorelektroden 12F, 12F1, 12H und 12H1 erreicht.
Das ist besonders bei der Doppelspaltelektrode 12H augenfällig,
bei der die Differenz zwischen den beiden Endsegmenten 12H und 12H1 vergleichsweise klein ist und das nicht erfaßte
Mittelsegment 12H" mehr als 80 % der Breite des Kanals 15 überdeckt.
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Wie bereits gezeigt, wird dort, wo, wie in der Elektrode 12B,
eine sehr große Differenz erforderlich ist, die übliche Einzelspaltelektrode statt der Doppelspaltelektrode benutzt. So
können in einer einzigen Anordnung beide Arten vorteilhaft Verwendung finden.
In Fig.15 des angeführten Aufsatzes von Baertsch u.a. ist die
Verwendung eines parallelen Kanals an einer Seite beschrieben, um die Gesamtkapazität zwischen den beiden Reihen von Sensorelektroden
auszugleichen. Da die Ätzverfahren fehlerbehaftet sind, kann ein verbesserter Ausgleich erreicht werden, wenn
ein schmaler Kanal an der anderen Seite hin zugefügt wird. Wiederum sind die Flächen dieser Kanäle so groß, daß die Gesamtkapazität
der beiden Seiten ausgeglichen wird. Jedes Unteroder Überätzen der Anordnung während der Bildung des einen
parallelen Kanals wird durch ein gleiches über- und Unterätzen beim anderen Kanal ausgeglichen.
Es wird also eine Ladungsübertragungsanordnung beschrieben, bei der eine verminderte kapazitive Belastung dadurch erreicht
wird, daß eine Doppelspaltelektrode (im Gegensatz zur üblichen Einzelspaltelektrode) verwendet wird. Die Ladungsübertragung
unterhalb der Doppelspaltelektrode wird durch zwei der Segmente differenziell erfaßt. Der Anteil der Gesamtladung,
der sich unter dem dritten Segment befindet, wird gleichzeitig längs übertragen, so daß eine gleichmäßige Ladungsdichte unterhalb
der ganzen Elektrode erhalten wird. Diese Anordnung ist besonders für Transversalfilter-Anwendungen geeignet, bei denen
bei einem großen Anteil der Elektroden die erfaßte Differenz relativ klein ist.
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Claims (4)
1.ILadungsübertragungsanordnung für Transversalfilter und dergl.
mit einer Ladungsspeicher-Grundschicht und einer darüber angeordneten dielektrischen Schicht sowie mit einer Vielzahl
von aneinander angrenzend über die dielektrische Schicht hin angeordneten Speicherelektroden zur Steuerung der sequentiellen
übertragung beweglicher Ladungen längs der Grundschicht unter dem Einfluß anliegender Taktspannungen, dadurch gekennzeichnet , daß mindestens einige der Speicherelektroden
durch in Richtung der Ladungsübertragung verlaufende Spalte in drei Segmente (12F, 12F1, 12F") geteilt sind,
und daß nur zwei (12F, 12F1) der jeweils drei Segmente mit
Einrichtungen (02, 02'Ϊ zur Erfassung von Differenzen gekoppelt
sind.
2. Ladungsübertragungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß eine Reihe von Endsegmenten
(12F, 12H) durch eine Einrichtung (02) un<3 die andere Reihe
von Endsegmenten (12F1, 12H1) durch eine weitere Einrichtung
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(02') zur Erfassung von Differenzen miteinander verbunden
sind und daß die Mittelsegmente (12F", 12H") mittels einer
Einrichtung (19, 02") zur Nicht-Erfassung verbunden sind,
wodurch die Gesamtkapazität der differenzmäßig erfaßten Endsegmente verringert ist.
3. Ladungsübertragungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die dielektrische Schicht in
dünne Gate-Oxidregionen (15) und dicke Feldoxidregionen (16) unterteilt ist, und daß die Grenze dieser Regionen die Begrenzung
des Kanals in der Halbleiterschicht (10) bildet, und daß eine örtliche Feldoxidregion (18) unterhalb jedes
Spaltes der Speicherelektroden vorhanden ist, wobei die örtliche Feldoxidregion eine schmale Zunge (20) besitzt,
die sich nach vorne unter einen Abschnitt der unmittelbar vorhergehenden Speicherelektrode erstreckt, um die Aufteilung
der längs des Kanals übertragenen beweglichen Träger weiter zu bestimmen.
4. Ladungsübertragungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , daß der Kanal unter jeder Spaltelektrode
in Querrichtung verbreitert ist, um die von den örtlichen Feldoxidregionen unterhalb der Spalte herrührende
verringerte Breite des Kanals auszugleichen, so daß die Ladungsdichte mindestens unterhalb der erfaßten Abschnitte der
Spaltelektroden die gleiche ist wie die unterhalb der nicht gespaltenen Speicherelektroden.
809825/0800
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CA268,093A CA1080355A (en) | 1976-12-17 | 1976-12-17 | Double split-electrode for charge transfer device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2755493A1 true DE2755493A1 (de) | 1978-06-22 |
Family
ID=4107524
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19772755493 Ceased DE2755493A1 (de) | 1976-12-17 | 1977-12-13 | Ladungsuebertragungsanordnung mit doppelspalt-elektrode |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5375878A (de) |
CA (1) | CA1080355A (de) |
DE (1) | DE2755493A1 (de) |
FR (1) | FR2374741A1 (de) |
GB (1) | GB1552545A (de) |
NL (1) | NL7712907A (de) |
SE (1) | SE415615B (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2453470A1 (fr) * | 1979-04-06 | 1980-10-31 | Thomson Csf | Dispositif de lecture et d'injection de charges electriques et application d'un tel dispositif |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3819958A (en) * | 1972-11-03 | 1974-06-25 | Texas Instruments Inc | Charge transfer device analog matched filter |
FR2302636A1 (fr) * | 1975-02-28 | 1976-09-24 | Thomson Csf | Procede de filtrage de signaux analogiqu |
-
1976
- 1976-12-17 CA CA268,093A patent/CA1080355A/en not_active Expired
-
1977
- 1977-11-11 GB GB47087/77A patent/GB1552545A/en not_active Expired
- 1977-11-23 NL NL7712907A patent/NL7712907A/xx not_active Application Discontinuation
- 1977-12-13 FR FR7737543A patent/FR2374741A1/fr active Granted
- 1977-12-13 DE DE19772755493 patent/DE2755493A1/de not_active Ceased
- 1977-12-15 JP JP14999577A patent/JPS5375878A/ja active Granted
- 1977-12-16 SE SE7714368A patent/SE415615B/sv unknown
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
In Betracht gezogenes älteres Paten: DE-PS 27 47 512 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE7714368L (sv) | 1978-06-18 |
JPS6135722B2 (de) | 1986-08-14 |
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CA1080355A (en) | 1980-06-24 |
FR2374741B1 (de) | 1983-01-28 |
NL7712907A (nl) | 1978-06-20 |
FR2374741A1 (fr) | 1978-07-13 |
SE415615B (sv) | 1980-10-13 |
JPS5375878A (en) | 1978-07-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8131 | Rejection |