DE2729024C2 - Photometermikroskop mit einer Einrichtung zur mikrophotometrischen Abtastung feiner Objektstrukturen - Google Patents

Description

Die Erfindung befaßt sich mit einem Photometermikroskop mit einer Einrichtung zur mikrophotometrischen Abtastung feiner Objektstrukturen, welches im Strahlengang zwischen dem Objektiv und dem Photometerteil eine in einer zur optischen Achse senkrechten Ebene verschiebliche Schiebelinse aufweist

Photometermikroskope mit einer Einrichtung zur mikrophotometrischen Abtastung feiner Objektstrukturen werden zur Untersuchung der verschiedensten Gegenstände verwendet Ein Anwendungsgebiet ist beispielsweise die Untersuchung von Chromosomen, da es seit einigen Jahren Methoden gibt, mit denen es möglich wurde, auf Chromosomen Querstreifen verschiedener Farbintensität zu erzeugen. Diese Färbung ermöglicht es, die Chromosomen-Paare sicher voneinander zu unterscheiden und sie entsprechend einzuteilen.

Die Unterschiede in der Farbintensität der Querstreifen sind nun mit bloßem Auge nur sehr schwer zu erkennen, weshalb Photometermikroskope verwendet werden, mit deren Hilfe die unterschiedlichen Farbintensitäten gemessen und graphisch aufgezeichnet werden können. Zu dieser Auswertung ist es nun erforderlich, daß das zu untersuchende Objekt relativ zu der Einrichtung zur mikrophotometrischen Abtastung bewegt wird, um so die interessierenden Teile des Objektes in entsprechender zeitlicher Aufeinanderfolge Punkt für Punkt abtasten zu können. Die ermittelten Meßwerte werden dann unter Umständen in einen Rechner eingespeichert, der nach Beendigung der Abtastung Form, Absorption usw. der Objekte ausrechnet und ausdruckt.

Zur Erzeugung dieser Relativbewegungen sind nun verschiedene Einrichtungen bekannt. Im allgemeinen geht man dabei so vor, daß das Objekt auf einem Schiebetisch befestigt wird, der mittels Motoren beweglich ist. Bei den Motoren kann es sich dabei um Gleichstrom-Motoren, die über einen Steuerknüppel gesteuert werden, oder um Schritt-Motoren handeln. Im ersten Falle erhält man eine kontinuierliche, praktisch beliebig einstellbare Bewegung des Motortisches, während im zweiten Falle die Schrittgröße vorgegeben ist. Bei dem Arbeiten mit Schritt-Motoren läßt sich dabei als minimale Schrittgröße 0,5 μπι erreichen, was aber für die Untersuchung von Chromosomen nicht ausreichend ist, da dort eine Schrittgröße von 0,1 μηι erforderlich wäre. Infolgedessen kann mit einem Schiebetisch im allgemeinen nur dann gearbeitet werden, wenn verhältnismäßig grobe Strukturen untersucht werden sollen.

Um trotz Verwendung eines Schiebetisches eine feinere Abtastung zu ermöglichen, ist es auch bereits bekannt, elektronisch die Zahl der Meßwerte zu erhöhen, wobei während eines Schiebeschrittes des Tisches vier Meßwerte genommen werden, was bedeutet, daß die Meßpunkt-Distanz etwa 0,125 μπι beträgt. Dieses Vorgehen ist aber nicht in beiden Koordinaten-Richtungen, sondern nur in einer Richtung

möglich. Darüber hinaus ist natürlich die für eine Messung zur Verfugung stehende Zeit sehr kurz, wodurch die Auswertemöglichkeiten beschränkt sind.

Um hier abzuhelfen, wird nun vielfach versucht, die Chromosomen od. dgl. zu photographieren i<nd dann die so erhaltenen Photos, die größer als die Originale sind, mit dem Photometermikroskop auszuwarten. Es leuchtet ein, daß dieses Vogehen auch nicht befriedigt, da es einen erhöhten Zeit- und Arbeitsaufwand bedeutet Außerdem können natürlich durch das Photographieren ι ο Fehler eingeschleppt werden, beispielsweise durch Mängel der photographischen Emulsion.

Es ist weiter bereits bekannt (CH-PS 1 29 178, DE-AS 11 10 444), im Strahlengang des Mikroskopes zwischen dem Objektiv und dem Photometerteil eine Schiebelinse vorzusehen, welche das Bild vor der Meßblende vorbeibewegt, wobei bei dem Mikroskop gemäß DE-AS 11 10 444 die Bewegung der Schiebelinse motorisch erfolgt. Dieses Vorgehen hat den Vorteil, daß sich verhältnismäßig kleine Schritte erzielen lassen, da ja das bereits vergrößerte Bild bewegt wird, also der Vergrößerungsfaktor des Objektives unberücksichtigt bleiben kann. Ein Nachteil der bekannten Anordnungen ist jedoch vor allem, daß durch die zusätzliche Linse der Strahlengang des Mikroskopes verändert wird, so daß das Mikroskop unter Berücksichtigung der zusätzlichen Schiebelinse ausgestaltet, d. h. mechanisch entsprechend angepaßt sein muß. Dies bedeutet aber, daß die Schiebelinse immer im Mikroskop verbleiben muß, auch wenn sie gar nicht benötigt werden sollte. Dies hat jo natürlich eine Verschlechterung der Korrektion zur Folge, da bewußt von der richtigen Zentrierung abgegangen wird. Selbst wenn die Schiebelinse nach Benutzung einwandfrei in die Zentralstellung zurückgeführt wird, ergeben sich noch Abweichungen, da äußerst genaue Zentriertoleranzen eingehalten werden müssen. Die Beeinträchtigung der Korrektion bzw. der Zentrierung des Mikroskopes bedeutet aber eine entsprechende Beeinträchtigimg bei der visuellen Beobachtung und Photographic

Ein weiterer Mangel der bekannten Mikroskope ist darin zu sehen, daß die Messung unter Bewegung der Linse mittels einer panthographeaähnlichen Einrichtung in Abhängigkeit von der jeweiligen Stellung des Panthographen intermittierend erfolgt. Dies hat natürlieh zur Folge, daß keine durchgehende Abtastung des Objektes möglich ist, sondern nur jeweils diskrete, voneinander getrennte Bereiche erfaßt werden.

Schließlich ist es auch bereits bekannt, eine Bildverschiebung durch optische Maßnahmen im Abbildungsraum vorzunehmen, wozu gegenläufig gedrehte Glaskeile bzw. Prismen oder drehbare bzw. verschiebbare Ablenkspiegel vorgesehen werden. Auch hier ergibt sich jedoch das Problem, daß die Abtastschritte im allgemeinen nicht so fein werden, wie dies erforderlich ist. Darüber hinaus sind Einrichtungen mit mehreren Prismen oder Ablenkspiegeln sehr ausladend, so daß sie sich nur mit Schwierigkeiten — wenn überhaupt — im Mikroskop-Tubus unterbringen lassen und vor allem nicht zur Verwendung in hu Zusatzgeräten geeigret sind.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Photometermikroskop mit einer Einrichtung zur mikrophotometrischen Abtastung feiner Objektstrukturen vorzuschlagen, welches derart ausgebildet ist, daß die >· > Abtastung in ausreichend feinen Schritten und auch in beliebiger Richtung erfolgen kann, wobei zudem die Möglichkeit gegeben sein soll, die Einrichtung zur mikrophotometrischen Abtastung als Zusatzeinheeit auszubilden, die ohne Schwierigkeiten an ein vorhandenes Mikroskop angebaut werden kann.

Zur Lösung dieser Aufgabe wird nach der Erfindung bei einem gattungsgemäßen Photometermikroskop vorgeschlagen, daß im Strahlengang, im allgemeinen unmittelbar, vor bzw. nach der Schiebelinse eine ortsfeste Kompensationslinie angeordnet ist, deren Brechkraft gleich, jedoch entgegengesetzt zu der der Schiebelinse ist

Bei dem Photometermikroskop gemäß der Erfindung erfolgt also die Verschiebung des Bildes vor der Phtometerblende über eine im Strahlengang dem Objektiv nachgeschaltete Schiebelinse, wodurch trotz relativ großer Verschiebewege eine kleine Schrittweite erreicht werden kann im Vergleich zu den bekannten Schiebetischen. Trotz des Vorhandenseins dieser Schiebelinse wird aber der Strahlengang des Mikroskopes an sich nicht verändert, da ja eine entsprechende Kompensationslinse vorgesehen ist Auf diese Weise ist erstmals die Möglichkeit gegeben, ein Mikroskop ohne Änderung im Strahlengang mit der Abtasteinrichtung zur Verschiebung des Objektbildes vor der Photometerblende auszurüsten. Die beiden bei dem Mikroskop gemäß der Erfindung zusätzlich vorgesehenen Linsen, nämlich die bewegliche Schiebelinse und die ortsfeste Kompensationslinse, können, wenn sie unmittelbar benachbart zueinander angeordnet werden, was ja ohne ■veiteres möglich ist, ohne Schwierigkeiten in den Strahlengang, beispielsweise im Rahmen eines Zusatzgerätes, eines vorhandenen Mikroskopes eingesetzt werden, wobei ja die meisten Photometermikroskope ohnehin derart ausgerüstet sind, daß Zusatzgeräte Verwendung finden können.

Wenn die Schiebelinse und die Kompensationslinse im Strahlengang zwischen dem Objektiv und einem gegebenenfalls ausrückbaren, eine Aufteilung des ankommenden Lichtes in einen Strahl zum Photometerteil und/oder Okular, das mit einer Markierung, z. B. einem Fadenkreuz oder einer Strichplatte, versehen sein müßte, vornehmenden Strahlteilers angeordnet sind, besteht zusätzlich die Möglichkeit, über das Okular die Verschiebung des Bildes vor der Photometerblende zu beobachten, so daß die Möglichkeit gegeben ist, manuell oder über eine spezielle Einrichtung die Schiebelinse derart zu bewegen, daß die Beobachtung des Objektes entlang einer vorbestimmten Bahn, z. B. einer gekrümmten Linie, erfolgt

Eine besonders gleichmäßige Bewegung, die vor allem für Computer-Auswertung geeignet ist, erhält man dann, wenn die Schiebelinse motorisch in der zur optischen Achse senkrechten Ebene bewegbar ist, wobei vorteilhafterweise zum motorischen Antrieb der Schiebelinse zwei Motoren dienen, die entsprechend die Schiebelinse in zueinander senkrechten Richtungen bewegen.

Es gibt eine Vielzahl von Motoren, die für diesen Zweck geeignet sind. Besonders günstig ist es jedoch, wenn man so vorgeht, daß die Drehzahl der beiden Motoren zumindest nahezu kontinuierlich einstellbar ist, was z. B. für Gleichstrom-Motoren gilt, und daß die Motoren mittels eines gemeinsamen Steuergliedes derart ansteuerbar sind, daß die maximale aus den Bewegungen mittels der einzelnen Motoren resultierende Bewegungsgeschwindigkeit der Schiebelinse in allen Bewegungsrichtungen gleich ist, da dann die Führung des Abtaststrahles, z. B. auf einer gekrümmten Linie, erleichtert wird.

Um diese Art der Steuerung der Motoren zu erreichen, wird vorteilhafterweise als Steuerglied für die beiden Motoren ein allseits schwenkbarer, das Drehzahl-Verhältnis der beiden Motoren regelnder Steuerknüppel verwendet, wobei es von Vorteil sein kann, wenn der Steuerknüppel zentrisch in einer etwa kreisförmigen Aussparung einer seine maximale Auslenkung begrenzenden Anschlagplatte gelagert ist. Bei maximaler Auslenkung erhält man dann die höchste resultierende Bewegungsgeschwindigkeit, so daß durch entsprechende Verstellung des Steuerknüppels sowohl Bewegungsrichtung als auch -geschwindigkeit verändert werden können.

Um dies zu erreichen, wird ein sogenannter »Joy-Stick« verwendet, der derart ausgebildet sein kann, daß der Steuerknüppel an einem kardanisch gelagerten Tragglied angeordnet ist, welches zwei Potentiometer od. dgl. in Abhängigkeit von der jeweiligen Kippstellung gegenüber zwei zueinander senkrechten, etwa in Bewegungsrichtung der beiden Motoren verlaufenden Achsen verstellt.

Zur Erleichterung der Auswertung und genaueren Erfassung der Meßdaten ist nach der Erfindung vorgesehen, daß zur Ansteuerung des motorischen Antriebs für die Schiebelinse ein gleichzeitig die Auswertung der photometrischen Meßsignale vornehmender Rechner dient

Wenn, wie nach der Erfindung weiter vorgesehen, die Schiebelinse und die Kompensationslinse in einem Einschubteil angeordnet sind, welches in einen Schlitz od. dgL öffnung des Mikroskop-Tubus seitlich einschiebbar ist, läßt sich die Abtasteinrichtung ohne weiteres abnehmen, wenn keine entsprechende Bewegung erfolgen soll. Gegebenenfalls kann der Schlitz oder die öffnung zur Anbringung anderer Zusatzteile eingesetzt werden.

Bei Unterbringung der beiden zusätzlichen Linsen in einem Einschubteil ist es günstig, wenn an diesem ein die Motoren und sonstigen Antriebsteile zur Bewegung der Schiebelinse aufnehmendes Gehäuse befestigt ist, da dann die Antriebselemente für die Schiebelinse stets mit dieser verbunden bleiben können und somit eine einma! vorgenommene Justierung unverändert erhalten bleibt

Schließlich liegt es im Rahmen der Erfindung, daß das Gehäuse, welches die Motoren und sonstigen Antriebsteile zur Bewegung der Schiebelinse aufnimmt oberseitig eine Anzeigeeinrichtung für die Position der Schiebelinse aufweist um z. B. ohne Schwierigkeiten den Abtaststrahl vor Beginn der Abtastung im Hinblick auf das Objekt einstellen zu können.

Weitere Merkmale, Einzelheiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung eines bevorzugten Ausführungsbeispieles anhand der Zeichnung. Es zeigt

F i g. 1 schematisch den Strahlengang in einem Photometermikroskop nach der Erfindung;

F i g. 2 in Draufsicht ein zu untersuchendes, entsprechend gefärbtes Chromosom;

F i g. 3 eine mögliche Aufzeichnungskurve des photometrischen Meßwertes auf einem Schreiber;

F i g. 4 schematisiert ein Zusatzgerät mit der Schiebe- und Kompensationslinse und deren Antriebseinrichtungen;

F i g. 5 in schematischer Darstellung ein Steuergerät für die Bewegung der Schiebelinse und

F i g. 6 eine Skizze zur Erläuterung der Funktion des Steuergerätes gemäß F i g. 5.

Das in F i g. 1 gezeigte Photometermikroskop weist, wie schematisch dargestellt ist, einen Objektträgertisch

1 auf, auf welchem ortsfest das zu untersuchende Objekt

2 angeordnet ist. Im Strahlengang folgen ausgehend von dem Objekt 2 aufeinander ein Objektiv 3 relativ hoher Vergrößerung, eine Schiebelinse 4, eine ortsfeste Linse 5, die hinsichtlich ihrer Brechkraft der Schiebelinse 4 entspricht, jedoch entgegengesetzte Wirkung hat. Beim gezeigten Ausführungsbeispiel ist die Schiebelinse 4 eine Sammel-, die Kompensationslinse 5 eine Zerstreuungslinse. Anschließend an die Kompensationslinse 5 gelangt der Lichtstrahl über einen gegebenenfalls verschieblichen Strahlenteiler 6 einerseits zum Okular 7 und andererseits zu einer weiteren Zerstreuungslinse 8, die einem Spiegel 9 vorgeschaltet ist welcher eine als

Photometerblende dienende öffnung 10 aufweist. Die durch die Blende 10 tretende Strahlung gelangt dann auf das eigentliche Photometerglied 11, im vorliegenden Falle einen Sekundär-Elektronen-Vervielfacher, wobei beim gezeigten Ausführungsbeispiel der Strahl über einen weiteren Spiegel 12 abgelenkt wird.

Der Strahlenteiler 6 befindet sich normalerweise in der gestrichelt in F i g. 1 dargestellten Position. Sofern jedoch keine Betrachtung durch das Okular 7 erwünscht ist, kann er in die ausgezogen wiedergegebene Position verstellt werden, in der er aus dem Strahlengang ausgerückt ist.

Wie in F i g. 1 angedeutet ist kann die Schiebelinse 4 aus der ausgezogen dargestellten Position, in der sie sich in der optischen Achse 13 befindet in die gestrichelte Position 4a verschoben werden. Dies hat zur Folge, daß zur Abtastung nicht der in der optischen Achse liegende Strahl 14, sondern der in Pfeilrichtung 15 verschobene Strahl 14a dient. Infolgedessen wird ein Punkt bzw. Bereich des Objektes 2 abgetastet, der sich — in der Zeichnung — rechts von dem durch den Strahl 14 abgetasteten Bildpunkt befindet. Vorstehender Sachverhalt kann auch dahingehend erläutert werden, daß bei Bewegung der Schiebelinse 4 in Pfeilrichtung 15 sich das im Bereich der Meßblende 10 erzeugte Bild in

■to Pfeilrichtung 16 verschiebt, so daß nacheinander in Pfeilrichtung 15 wandernd verschiedene Bereiche des Objektes 2 vor der Meßblende 10 vorbeiwandern.

Die Schiebelinse 4 kann mittels nicht gezeigter Motoren in zwei zueinander senkrechten Richtungen, die in einer Ebene senkrecht zur optischen Achse 14 liegen, bewegt werden. Dadurch ist natürlich die Möglichkeit gegeben, die Verschiebung des zur tatsächlichen Abtastung dienenden Strahles 14a beliebig vorzunehmen. Beispielsweise besteht die Möglichkeit

so bei einem in F i g. 2 schematisch gezeigten Chromosom 17 den Abtaststrahl 14a entlang des durch den Pfeil 18 angedeuteten, gekrümmten Weges zu führen, so daß unabhängig von der jeweiligen Krümmung des Chromosoms 17 eine Abtastung über dessen gesamte Länge erfolgt, ohne daß der Meßstrahl 14a jemals das Chromosom verläßt

Bei einer derartigen Abtastung und Aufzeichnung der Meßsignale des Sekundär-Elektronen-Vervielfachers 11 in einem Schreiber erhält man auf dem Papier 19

^hn beispielsweise die in Fig.3 gezeigte Kurve 20, die Aufschluß über die unterschiedliche Farbgebung des Chromosoms 17 entlang des Weges 18 gibt Aus dieser Kurve 20 kann dann auf gewisse Eigenschaften des untersuchten Objektes 2 geschlossen werden.

^h"> Eine andere Möglichkeit ist natürlich die, die Signale des Sekundär-Elektronen-Vervielfachers 11 in einen Rechner einzugeben, der dann nach Abschluß des Meßvorganges ausgehend von einem gewissen Pro-

gramm entsprechende Werte ausdruckt.

Wie bereits oben erwähnt wurde, ist es bei dem Photometermikroskop gemäß der Erfindung möglich, die Schiebelinse 4 und die Kompensationslinse 5 zusammen mit den Antriebselementen für die Schiebe- ~> linse 4 als Zusatzeinrichtung auszubilden. In F i g. 4 ist nun schematisch dargestellt, wie eine derartige Zusatzeinrichtung aussehen könnte. Diese Einrichtung umfaßt einen Einschubteil 21, der beim gezeigten Ausführungsbeispiel im wesentlichen quaderförmig ausgebildet ist κι und dessen Größe so gewählt werden kann, daß er ohne Schwierigkeiten in eine ohnehin im Mikroskop-Tubus vorgesehene Aussparung paßt. Derartige Aussparungen sind beispielsweise zur Aufnahme von Analysatoren, Interferenzkontrasteinrichtungen od. dgl. vorhanden. r> Der Einschubtei! 2! umfaßt zwei miteinander fluchtende, vertikal übereinanderliegende Öffnungen 22, hinter denen die beiden Linsen 4, 5 angeordnet sind. Beim Ansetzen des in F i g. 4 gezeigten Zusatzteiles wird der Einschubteil 21 derart an dem Mikroskop festgelegt, daß die Öffnungen 22 und damit die Linsen 4, 5 sich genau in der optischen Achse 14 befinden.

An dem äußeren Ende 23 des Einschubteiles 21 ist dann noch ein Gehäuse 24 befestigt, welches zur Aufnahme der Antriebselemente für die Schiebelinse 4, 2> beispielsweise zweier Motoren und der entsprechenden Gestänge, dient. Da die Ausbildung dieser Antriebsteile nahezu beliebig ist, erscheint es nicht erforderlich, hier nähere Ausführungen zu machen. Es ist nur wesentlich darauf hinzuweisen, daß an der Oberseite des Gehäuses to 24 , wie die F i g. 4 erkennen läßt, eine Anzeigeeinrichtung 25 vorgesehen ist, welche dazu dient, die jeweilige Position der Schiebelinse 4 anzuzeigen. Die Anzeigeeinrichtung 25 umfaßt bei dem gezeigten Ausführungsbeispiel eine Rasterplatte, welche mit entsprechenden js Koordinaten-Linien 26 versehen ist. Auf der Rasterplatte wird dann durch einen optisch oder mechanisch erzeugten Punkt 27 die Position der Schiebelinse angedeutet.

Der Antrieb der Schiebelinse 4 kann in unterschied- mi lichster Weise erfolgen. Beispielsweise wäre es möglich, die Schiebelinse 4 weitgehend automalisierl über einen oder mehrere Schritt-Motoren zu bewegen. Besonders günstig ist es jedoch, wenn eine Bewegung der Schiebelinse 4 derart möglich ist, daß ζ. B. eine J Abtastung entlang der Linie 18 in F i g. 2 erfolgen kann. Dies läßt sich in einfacher Weise beispielsweise durch Verwendung zweier Gleichstrom-Motoren bewerkstelligen, die die Bewegung der Schiebelinse in X- und y-Richtung bewirken, wobei die Drehzahl dieser w Motoren veränderlich ist

In den F i g. 5 und 6 ist nun eine Einrichtung gezeigt, die zur Ansteuerung zweier solcher Gleichstrom-Motoren verwendet werden kann. Diese Einrichtung umfaßt einen in einer kreisförmigen Öffnung 28 einer Abdeckplatte 29 allseits schwenkbar gelagerten Steuerknüppel 30. Die Bewegungen des Steuerknüppels 30 werden, wie nachstehend anhand der F i g. 6 noch näher erläutert werden soll, entsprechend seiner Auslenkung auf zwei Potentiometer 31,32 oder ähnliche Steuerglieder übertragen, wobei die Potentiometer 31, 32 ihrerseits zur Ansteuerung jeweils eines zugeordneten Stellmotors dienen.

Aus F i g. 6 ist ersichtlich, daß der Steuerknüppel 30 an einem Träger 33 befestigt ist, der gegenüber einem Zwischenträger 34 um die von dem Träger 33 gebildete Achse schwenkbar ist. Der Zwischenträger 34 ist andererseits um eine Achse 35 schwenkbar an einer Grundplatte 36 gelagert.

Die Achse 35 ist mit dem Abgriff des Potentiometers 32 bzw. einem Stellglied dieses Potentiometers 32 wirkungsmäßig verbunden, so daß bei Verschwenkung des Zwischenträgers 34 um die Achse 35 das Potentiometer 32 entsprechend verstellt wird. In entsprechender Weise wirkt der gleichzeitig als Achse dienende Träger 33 auf das Stellglied des Potentiometers 31 ein, welches seinerseits mit dem Zwischenträger 34 verbunden ist. Bei Verschwenken des Steuerknüppels 30 um die von dem Träger 33 gebildete Achse gegenüber dem Zwischenträger 34 wird also das Potentiometer 31 entsprechend verstellt.

Auf diese Weise erhält man eine Einrichtung, bei der durch entsprechendes Schwenken des Steuerknüppels 30 in dem erforderlichen Umfange die beiden Potentiometer 31, 32 gekoppelt verstellt werden und somit eine entsprechende Veränderung der Drehzahl der beiden von den Potentiometern 31, 32 angesteuerten Motoren erfolgt.

Die Ausbildung gemäß F i g. 5, nämlich die Unterbringung des Steuerknüppels 30 in einer im wesentlichen kreisförmigen Öffnung 28, die einen Anschlag für den Steuerknüppel 30 bildet, bringt den Vorteil, daß bei Auslenkung des Steuerknüppels 30 bis zum Anschlag am Rand der Öffnung 28 sich jeweils eine gleiche resultierende Bewegungsgeschwindigkeit für die Schiebelinse 4 ergibt, unabhängig davon, mit welcher Geschwindigkeit nun die einzelnen der beiden Motoren arbeiten. Die mit dem Mikroskop arbeitende Person hat also die Möglichkeit, entsprechend dem Maß der Auslenkung des Steuerknüppels 30 die Bewegungsgeschwindigkeit der Schiebelinse 4 und damit die scheinbare Bewegungsgeschwindigkeit des von ihr beobachteten Bildes zu variieren und gleichzeitig auch entsprechend die Bewegungsrichtung zu wählen, wobei die Richtungen dann auf der Abdeckplatte 29 des Gerätes gemäß Fig.5 entsprechend angedeutet sein könnten.

Hierzu 3 Blatt Zeichnungen

Claims (11)

Patentansprüche:

1. Photometermikroskop bei einer Einrichtung zur mikrophotometrischen Abtastung feiner Objektstrukturen, welches im Strahlengang zwischen dem Objektiv und dem Photometerteil eine motorisch in einer zur optischen Achse senkrechten Ebene verschiebliche Schiebelinse aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang vor bzw. nach der Schiebelinse (4) eine ortsfeste Kompensationslinse (5) angeordnet ist, deren Brechkraft gleich, jedoch entgegengesetzt zu der der Schiebelinse ist

2. Photometermikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schiebelinse (4) und die Kompensationslinse (5) im Strahlengang zwischen dem Objektiv (3) und einem gegebenenfalls ausrückbaren, eine Aufteilung des ankommenden Lichtes in einen Strahl zum Photometerteil (10,11) und/oder Okular (7) vornehmenden Strahlenteiler (6) angeordnet sind.

3. Photometermikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zum motorischen Antrieb der Schiebelinse (4) zwei Motoren dienen, die entsprechend die Schiebelinse in zueinander 2s senkrechten Richtungen bewegen.

4. Photometermikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Drehzahl der beiden Motoren zumindest nahezu kontinuierlich einstellbar und die Motoren mittels eines gemeinsamen Steuergliedes (30) derart ansteuerbar sind, daß die maximale, aus den Bewegungen mittels der einzelnen Motoren resultierende Bewegungsgeschwindigkeit der Schiebelinse (4) in allen Bewegungsrichtungen etwa gleich ist

5. Photometermikroskop nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Steuerglied für die beiden Motoren ein allseits schwenkbarer, das Drehzahl-Verhältnis der beiden Motoren regelnder Steuerknüppel (30) dient.

6. Photometermikroskop nach Anspruch 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Steuerknüppel (30) zentrisch in einer etwa kreisförmigen Aussparung (28) einer seine maximale Auslenkung begrenzenden Anschlagplatte (29) gelagert ist. 4

7. Photometermikroskop nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Steuerknüppel (30) an einem kardanisch gelagerten Tragglied (33) angeordnet ist, welches zwei Potentiometer (31,32) od. dgl. in Abhängigkeit von der jeweiligen Kippstel- w lung gegenüber zwei zueinander senkrechten, etwa in Bewegungsrichtung der beiden Motoren verlaufenden Achsen (33,35) verstellt.

8. Photometermikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- v> net, daß zur Ansteuerung des motorischen Antriebes für die Schiebelinse (4) ein gleichzeitig die Auswertung der photometrischen Meßsignale vornehmender Rechner dient.

9. PhotometermikrosKop nach einem der vorher- w> gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Schiebelinse (4) und die Kompensationslinse (5) in einem Einschubteil (21) angeordnet sind, welches in einen Schlitz od. dgl. öffnung des Mikroskop-Tubus seitlich einschiebbar ist. ·>">

10. Photometermikroskop nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß an dem Einschubteil (21) ein die Motoren und sonstigen Antriebsteile zur Bewegung der Schiebelinse (4) aufnehmendes Gehäuse (24) befestigt ist

11. Photometermikroskop nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet daß das Gehäuse (24) oberseitig eine Anzeigeeinrichtung (25) für die Position der Schiebelinse (4) aufweist