DE2726986A1 - Verfahren zur pruefung elektrischer baugruppen, insbesondere verdrahtungsbaugruppen, sowie schaltungseinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens - Google Patents

Verfahren zur pruefung elektrischer baugruppen, insbesondere verdrahtungsbaugruppen, sowie schaltungseinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens

Info

Publication number
DE2726986A1
DE2726986A1 DE19772726986 DE2726986A DE2726986A1 DE 2726986 A1 DE2726986 A1 DE 2726986A1 DE 19772726986 DE19772726986 DE 19772726986 DE 2726986 A DE2726986 A DE 2726986A DE 2726986 A1 DE2726986 A1 DE 2726986A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
inputs
test
input
outputs
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19772726986
Other languages
English (en)
Inventor
Wilfried Asbach
Horst Ing Grad Loose
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kiepe Bahn Elektrik GmbH
Original Assignee
Kiepe Bahn Elektrik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kiepe Bahn Elektrik GmbH filed Critical Kiepe Bahn Elektrik GmbH
Priority to DE19772726986 priority Critical patent/DE2726986A1/de
Publication of DE2726986A1 publication Critical patent/DE2726986A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

  • Verfahren zur Prüfung elektrischer Bau-
  • gruppen, insbesondere Verdrahtungsbaugruppen, sowie Schaltungseinrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Prüfung elektrischer Baugruppen, insbesondere Verdrahtungsbaugruppen, sowie eine Schaltungseinrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
  • Zur Prüfung von elektrischen Seriengeräten gibt es aufwendig konstruierte Prüfcomputer, die sich jedoch nur bei entsprechend großer Stückzahl einheitlicher Fertigung lohnen.
  • Es ist weiterhin ein Prüfverfahren bekannt, bei dem Prüfspannungen jeweils gleichzeitig auf einen Eingang des zu prüfenden Gerätes und den entsprechenden Eingang eines Vergleichsgerätes gegeben werden und die an einem anderen Eingang oder Ausgang des zu prüfenden Gerätes und dem entsprechenden Eingang oder Ausgang des Vergleichsgerätes auftretenden Spannungen miteinander verglichen werden.
  • Dieses bekannte Verfahren wird mit Vorrichtungen durchgeführt, bei denen mit Hilfe eines Zufallsgenerators alle möglichen Eingangskombinationen an dem zu prüfenden Gerät und dem Vergleichsgerät mit Spannungssignalen beaufschlagt werden und mit Hilfe von Komparatoren, die an den Ausgängen des zu prüfenden Gerätes und des Vergleichsgerätes auftretenden Spannungen miteinander verglichen werden. Dieses Verfahren und diesgorrichtung eignen sich in erster Linie zum Prüfen von digitalen Schaltkreisen und Baugruppen. Die Prüfung von Verdrahtungsbaugruppen ist hiermit nicht ohne weiteres möglich, da infolge der Verwendung eines Zufallgenerators zur Erzeugung der Prüfspannungskombinationen mit sehr hohen Änderungsfrequenzen (z.B. 250 kHz) dieser Prüfspannungskombinationen gearbeitet werden muß, um innerhalb der kurzen Prüfzeit mit hoher Wahrscheinlichkeit alle möglichen Eingangskombinationen zu erreichen.
  • Dies führt aber bei Geräten von größeren räumlichen Abmessungen, zum Beispiel bei Verdrahtungsbaugruppen, zu erheblichen Störbeeinflussungen.
  • Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht darin, ein Prüfverfahren, sowie eine Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens zu schaffen, die vor allem zur Prüfung kleiner und mittlerer Serien von Verdrahtungsbaugruppen geeignet sind. Die Prüfung sollte in einfacher Weise ohne jeglichen Programmieraufwand möglich sein und auftretende Differenzen sollten gemeldet und geortet werden. Auch die Überprüfung der Abwicklung von Schaltern sollte möglich sein. Darüberhinaus sollten auch Widerstände, Kapazitäten und Induktivitäten im bestimmten Rahmen mitprüfbar sein.
  • Ausgehend von dem eingangs erwähnten bekannten Verfahren erfolgt die Lösung dieser Aufgabe erfindungsgemäß durch ein Verfahren mit den im Kennzeichen des Patentanspruches 1 angegebenen Merkmalen.
  • Durch die systematische Ansteuerung jedes Einganges der zu prüfenden Baugruppe und der Vergleichsbaugruppe ist es möglich, den Prüfvorgang so langsam durchzuführen, daß Störbeeinflussungen eliminiert werden können, beispielsweise durch die Einschaltung spezieller Filter. Andererseits bleibt der Prüfvorgang schnell genug, um wirtschaftlich zu sein. So ist es bei einer praktischen Ausführungsform des Verfahrens möglich, z.B. bei 120 Eingängen, einen Durchlauf in einer Zeit von ca. 1,5 Sekunden durchzuführen.
  • Die Durchführung des erfindungsgemäße Verfahrens kann gemäß der weiteren Erfindung mit einer Schaltungseinrichtung erfolgen, deren prinzipielleg Merkmale im kennzeichnenden Teil des Patentanspruches 3 angegeben sind.
  • Vorteilhafte Ausführungsformen dieser Schaltungseinrichtung sind Gegenstand der weiteren Unteransprüche.
  • Im folgenden wird anhand der beigefügten Zeichnungen ein Ausführungsbeispiel für das erfindungsgemäße Verfahren und eine Schaltungseinrichtung zur Durchführung des Verfahrens näher erläutert.
  • Fig. 1 zeigt in einem Prinzipschaltbild eine Schaltungsein richtung zur Überprüfung eines Gerätes mit n Eingängen.
  • Fig. 2 zeigt im Einzelschaltbild einen Teil der Schaltungseinrichtung nach Fig. 1.
  • Mit der in Fig. 1 dargestellten Schaltungseinrichtung wird ein zu prüfendes Gerät A verglichen mit einem Vergleichsgerät B. Beide Geräte besitzen n Eingänge, die in irgendeiner nicht besonders dargestellten Weise, gegebenenfalls über elektrische Baueinheiten, jeweils miteinander verbunden sind. Die eigentliche Prüfvorrichtung weist insgesamt 2n Prüf-Ein/Ausgänge auf. Jeder Eingang des Gerätes A ist mit einem der Prüf-Ein/Ausgänge la, 2a, 3a. . na verbunden und jeder Eingang des Gerätes B mit einem der Prüf-Esn/ Ausgänge Ib, 2b, .... .nu.
  • Weiterhin weist die Prüfvorrichtung n Signaleingänge lc, 2c, 3c...nc auf, von denen jeder mit einem Ausgang eines Ringzählers 8 verbunden ist, der von einem Generator 9 aus angesteuert wird. Schließlich besitzt die Prüfvorrichtung n Signalausgänge ld, 2d, 3d...nd, die über ein Filter 34 zu einer Anzeigeeinrichtung 10 führen, welche mit optischen und/oder akustischen Anzeigeelementen, wie weiter unten näher beschrieben, ausgerüstet ist. Die Anzeigeeinrichtung 10 ist weiterhin mit einem Stopeingang 9a des Generators 9 verbunden.
  • Die jeweils einander zugeordneten Prüf-Ein/Ausgänge la und lb bzw. 2a und 2b usw. sind über eine Schaltung miteinander verbunden, die aus zwei gegeneinander geschalteten Gleichstromgabelschaltungen besteht, wobei im Ausgangszweig 4a und 4b der Gabelschaltungen eine mit einem der Signaleingänge c, 2c, .... .nc verbundene komplementäre Spannungsverteilerstufe 61, 62, 63...6n angeordnet ist, während im Eingangszweig 5a und 5b der Gabelschaltungen ein Komparator 71, 72, 73...7n angecrdnet ist. Die bidirektionalen Zweige der Gabelschaltungen sind jeweils mit den Prüf-Ein/Ausgängen 1a bis na und Ib bis nb verbunden. Die komplementären Spannungsverteilerstufen 61 bis 6n sind nun mit den Signaleingängen lc bis nc so verbunden, daß beim Ansteuern eines dieser Signaleingänge vom Ringzähler 8 aus das entsprechende Paar von Prüf- Ein/Ausgängen in weiter unten beschriebener Weise symmetrisch mit einer Prüfspannung beaufschlagt wird. Beim Weiterschalten des Ringzählers 9 wird diese Prüf spannung von dem Prüf-Ein/Ausgangspaar la, Ib weiter auf das Paar 2a, 2b usw. geschaltet. Wenn beispielsweise dem Prüf-Ein/Ausgangspaar la-lb die Prüfspannung zugeführt wird, werden die gleichzeitig an den übrigen Prüf-Ein/ Ausgangspaaren 2a-2b, 3a-3b usw. auftretenden Spannungen den Komparatoren 72, 73 usw. in weiter unten näher beschriebener Weise zugeführt. Sobald sich die zwei einem der Komparatoren zugeführten Spannungswerte voneinander unterscheiden bzw. die Differenz oberhalb einer vorgegebenen Toleranzgrenze liegt, wird über einen der Signalausgänge 2d, 3d usw. ein Signal auf die Anzeigeeinrichtung 10 gegeben und über den Stopeingang 9a des Generators 9 gleichzeitig der Vorgang des Weiterschaltens der Prüfspannung unterbrochen.
  • Die Einzelheiten des Prüfvorganges werden im folgenden anhand von Fig. 2 näher erläutert.
  • In Fig. 2 sind zwei der Vergleichs stufen der Prüfvorrichtung, nämlich die aus der Verteilerstufe 62 und dem Komparator 72 und die aus der Verteilerstufe 63 und dem Komparator 73 bestehenden Stufen in Einzelheiten dargestellt. Der Prüf-Ein/ Ausgang 2b sei dabei innerhalb des Vergleichsgerätes B über einen Widerstand RB mit dem Prüf-Ein/Ausgang 3b verbunden, während der Prüf-Ein/Ausgang 2a innerhalb des zu prüfenden Gerätes A über einen Widerstand RA mit dem Prüf-Ein/Ausgang 3a verbunden ist.
  • Die Spannungsverteilerstufen 62 bzw. 63 bestehen im wesentlichen aus einem vom Signaleingang 2c bzw. 3c her ansteuerbaren Schalttransistor 30 bzw. 50, der in einem zwischen die Spannungszuführungen 11 und 12 geschalteten Spannungsteiler 27, 28, 29 bzw. 47, 48, 49 liegt, sowie einem zweiten dem ersten Spannungsteiler parallel geschalteten Spannungsteiler, der außer den beiden Widerständen 24, 25 bzw. 44, 45 zwei komplementär zueinander geschaltete Schalttransistoren 31, 32 bzw. 51, 52 enthält. Die Prüf-Ein/ Ausgänge 2b, 2a bzw. 3b, 3a sind jeweils mit diesem zweiten Spannungsteiler symmetrisch zu dessen Mittelpunkt 26 bzw.
  • 46 verbunden.
  • Der Komparator 72 bzw. 73 besteht im wesentlichen aus zwei Spannungsteilern 15, 16 und 17, 18 bzw. 35, 36 und 37, 38, die zwischen die Spannungszuführungsleitungen 11 und -12 parallel zueinander geschaltet sind, wobei der Mittelpunkt 19 bzw. 39 des einen Spannungsteilers einerseits mit einem Eingang eines Operationsverstärkers 21 bzw. 41 und andererseits über eine Diode 22 bzw. 42 mit dem Mittelpunkt 26 bzw. 46 des Spannungsteilers 24, 25 bzw. 44 45 verbunden ist, während der Mittelpunkt 20 bzw. 40 des anderen Spannungsteilers einerseits mit dem anderen Eingang des Operationsverstärkers 21 bzw. 41 und andererseits über eine Diode 23 bzw. 43 ebenfalls mit dem Mittelpunkt 26 bzw. 46 des Spannungsteilers 24, 25 bzw. 44, 45 verbunden ist. Die Dioden 22 und 23 bzw. 42 und 43 sind dabei in die entsprechenden Zweige in entgegengesetzther Polarität geschaltet. Der Ausgang des Operationsverstärkers 21 bzw. 41 entspricht dem Signalausgang 2d bzw. 3cl dieser Stufe und ist über eine Leuchtdiode 33 bzw. 53 mit einer Sammelleitung 13 verbunden, die zu einer nicht dargestellten akustischen Anzeigevorrichtung führt und außerdem in nicht dargestellter Weise mit dem Stopeingang 9a des Generators 9 (s. Fig. 1) verbunden ist.
  • Die Funktion der beschriebenen beiden Prüfstufen ist folgende: Es wird beispielsweise von dem nicht dargestellten Ringzähler 8 aus dem Signaleingang 2c ein Spannungssignal zugeführt und damit der Transistor 30 angesteuert. Dieser steuert die beiden komplementär arbeitenden Transistoren 31 und 32 an, woraufhin der Prüf-Ein/Ausgang 2b an das hohe Spannungsniveau der Leitung 11 und der Prüf-Ein/Ausgang 2a an das niedrige Spannungsniveau der Leitung 12 gelegt wird. Wenn nun infolge eines Fertigungsfehlers sich die Widerstände RA und RB um einen vorgebenen Mindestwert unterscheiden, beispielsweise der Wert des Widerstandes RB 1 kOhm beträgt, während der Widerstand RA nur 100 Ohm beträgt, entsteht am Mittelpunkt 46 des Spannungsteilers 44, 45 eine starke Unsymmetrie. Diese Unsymmetrie bewirkt, daß vom Operationsverstärker 41 ein Signal abgegeben wird und die Leuchtdiode 46 Differenz anzeigt. Gleichzeitig werden über die Sammelleitung 13 weitere Schaltvorgänge, beispielsweise das Anhalten des Ringzählers 8, über den Generator 9 veranlaßt.
  • Sind die beiden Widerstände RA und RD in ihrem Wert identisch, so wird die Symmetrie am Punkt 46 nicht gestört und keine Differenz angezeigt. Wenn gleichzeitig an keinem der anderen Komparatoren eine Differenz angezeigt wird, kann nunmehr vom Ringzähler 8 aus das Spannungssignal auf den Signaleingang 3c gelegt werden und der gleiche Prüfvorgang wiederholt sich an den jeweils anderen Komparatoren.
  • Damit nicht bereits sehr kleine Differenzen, die innerhalb der zulässigen Fertigungstoleranzen liegen, zu den entsprechenden Fehiersignalen führen, sind die einzelnen Komparatoren 71,71, 72, 73 usw. mit Einrichtungen zur Einstellung der Ansprechempfindlichkeit ausgerüstet. Zu diesem Zweck ist jeweils in einem der beiden Spannungsteiler 17, 18 bzw.
  • 37, 38 in einem Zweig der Widerstand 18 bzw. 38 als Potentiometer ausgebildet. Dadurch ist eine Verschiebung der an den Mittelpunkten 19, 20 bzw. 39, 40 der beiden Spannungsteiler auftretenden Spannungswerte möglich, und es kann eine bestimmte vorgebene Spannungsdifferenz eingestellt werden.
  • Liegt nun die augrund von Verschiedenheiten in den Werten der beiden Widerstände RA und RB auftretende Spannungsdifferenz innerhalb dieser eingestellten Spannungsdifferenz so erfolgt keine Fehleranzeige. Die beiden Dioden 22, 23 bzw. 42, 43 bewirken, daß Unsymmetrien in beiden Richtungen der möglichen Niveauverschiebung von der Prüfvorrichtung erkannt und angezeigt werden.
  • Befinden sich in den beiden Geräten A und B anstelle der Ohm'schen Widerstände RA und RB induktive oder kapazitive Bauelemente in den entsprechenden Stromkreisen, so wird der gleichartige zeitliche Spannungsverlauf zur Erkennung von Differenzen herangezogen. In diesem Falle führen die Laufzeitunterschiede bei Überschreitung vorgegebener Differenzen zu einem kurzen Anhalten des Durchlaufs, wobei gleichzeitig eine akustische Meldung gegeben werden kann.
  • Da die Differenz in diesem Falle nur vorübergehender Natur ist, kommt es zu einem Durchlauf mit kleinen Unterbrechungen, aber ohne ein völliges Abstoppen der Weiterschaltung des Ringzählers 8. Auf diese Weise können die auf Unterschieden in der Induktivität oder Kapazität der Bauelemente gemeldeten Differenzen deutlich von anderen Fehlern unterschieden werden. Durch spezielle Filter 34 (Fig. 1), die beispielsweise in die Sammelleitung 13 eingeschaltet sein können, kann dafür gesorgt werden, daß kleine Laufzeitunterschiede und vor allem durch Netzstörung bedingte Unterschiede eliminiert werden. Auf diese Weise können auch weit verzweigte Geräte mit unterschiedlichen Leitungsführungen überprüft werden.
  • Bei der Überprüfung von Steuerschaltern müssen Prüfling und Muster in alle Schaltstellungen,die möglich sind gebracht werden. Nur wenn sich Prüfling und Muster in der gleichen Schaltstellung befinden, wird bei einwandfreiem Prüfling keine Differenz gemeldet.
  • Wenn eine offene Verdrahtung überprüft werden soll, wie sie bei Kabelbäumen oder bei Verdrahtungsbaugruppen für Elektroniksteckkarten vorkommt, müssen zusätzliche Hilfsmittel angewandt werden. Alle offenen Anschlüsse müssen dann durch Drahtbrücken oder über Widerstände abgeschlossen werden. Selbstverständlich müssen dabei das zu prüfende Gerät und das Vergleichsgerät gleich behandelt werden.
  • Wenn in den zu prüfenden Geräten Dioden angeordnet sind, muß das Vergleichsgerät insofern speziell präpariert werden als dessen Dioden mit umgekehrter Polarität eingesetzt werden müssen.
  • Die Handhabung der Prüfvorrichtung kann sehr einfach gestaltet werden. Es kann vorgesehen sein, daß in einer bestimmten Schalterstellung "Test" ein Probelauf in Gang gesetzt wird, bei dem durch kurzes Aufleuchten der Leuchtdioden 33, 53 usw. alle Prüf-Ein/Ausgänge la bis na bzw.
  • Ib bis nb auf die Fähigkeit, eine Differenz zu melden, überprüft werden. Dann werden das zu prüfende Gerät und das Vergleichsgerät angeschlossen und der Prüfvorgang gestartet. Überschreitet während des Durchlaufes eine der gemessenen Differenzen irgendwann eine vorgegebene Größe, so wird der Fortschaltvorgang unterbrochen und die dem betreffenden Eingang des zu prüfenden Gerätes zugeordnete Leuchtdiode leuchtet auf, gleichzeitig wird ein akustisches Signal abgegeben. Nun kann beispielsweise durch Betätigung einer Taste "Quittierung" eine Fortschaltung erfolgen, bis beim nächsten differenzbehafteten Eingang wieder ein Signal erfolgt. Der Prüfende hat auf diese Weise die Möglichkeit, sämtliche fehlerbehafteten Anschlüsse zu registrieren.
  • Es kann auch die Möglichkeit geschaffen werden, daß in einer Schalterstellung "Suchlauf" die Unterbrechung des Fortschaltvorganges verhindert und alle differenzbehafteten Eingänge durch Aufblinken der entsprechenden Leuchtdioden nacheinander angezeigt werden.
  • Weiterhin kann die Einrichtung in der Weise betrieben werden, daß nach jedem Durchlauf ein kurzes akustisches Signal abgegeben und selbsttätig ein neuer Durchlauf gestartet wird.
  • Das zweimalige Ertönen des akustischen Signals zeigt also mindestens einen vollen störungsfreien Durchlauf an, worauf ein neues Gerät der Überprüfung zugeführt werden kann. Auf diese Weise kann in sehr einfacher Art eine "Schwarz-Weiß-Prüfung" auch von unausgebildeten Hilfskräften vorgenommen werden. Fachkenntnisse sind erst bei der konkreten Fehlersuche erforderlich, bei der das Gerät Hilfestellungen geben kann.

Claims (9)

  1. Patentansprüche Verfahren zur Prüfung elektrischer Baugruppen, insbesondere von Verdrahtungsbaugruppen, bei dem Prüfspannungen jeweils gleichzeitig auf einen Eingang der zu prüfenden Baugruppe und den entsprechenden Eingang einer Vergleichsbaugruppe gegeben werden und die an einem anderen Eingang oder Ausgang der zu prüfenden Baugruppe und dem entsprechenden Eingang oder Ausgang der Vergleichsbaugruppe auftretenden Spannungen miteinander verglichen werden, dadurch gekennzeichnet, daß eine vorgegebene Prüfspannung automatisch in einer vorbestimmten Reihenfolge je einmal auf jeden der Eingänge der zu prüfenden Baugruppe und der Vergleichsbaugruppe gegeben wird und jedesmal gleichzeitig die an allen übrigen Eingängen der zu prüfenden Baugruppe auftretenden Spannungswerte mit den jeweils an den entsprechenden Eingängen der Vergleichsbaugruppe auftretenden Spannungswerten verglichen werden, wobei beim Auftreten von Spannungsdifferenzen automatisch entsprechende Fehleranzeigevorrichtungen angesteuert werden.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei Ansteuerung einer der Fehleranzeigevorrichtungen die Weiterschaltung der Prüfspannung unterbrochen wird.
  3. 3. Schaltungseinrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Prüfvorrichtung autweist mit n Signaleingängen (1c, 2c, 3c...nc), 2n paarweise einander zugeordneten Prüf-Ein/Ausgängen (1a, 2a, 3a...na bzw. 1b, 2b, 3b...nb) und n Signalausgängen (1d, 2d, 3d...nd)lund daß jeweils zwei einander zugeordnete prüf-Ein/Ausgänge (la-1b; 2a-2b; 2a-2b; 3a-3b;...na-nb) über zwei gegeneinander geschaltete Gleichstromgabelschaltungen (4a, 5a und 5b, 4b) miteinwander verbunden sind, wobei im Ausgangszweig (4a, 4b) der Gabel schaltungen eine mit einem der Signaleingänge (lc, 2c, 3c...nc) verbundene über diesen auf eine Spannungsquelle schaltbare komplementäre Spannungsverteilerstufe (61, 62, 63...6n) und im Eingangszweig (5a, 5b) der Gabel schaltungen ein mit einem der Signal ausgänge (Id, 2d, 3d.. .nd)verbundener Komparator (71, 72, 73.. .7n) angeordnet ist, und daß jeder Signaleingang (lc, 2c, 3c...nc) mit mit einem Ausgang eines durch einen Steuergenerator (9) fortschaltbaren Ringzählers (8) und jeder Signalausgang (1d, 2d, 3d. . .nd) mit einer Anzeigevorrichtung (10), sowie einem Stopeingang (9a) des Steuergenerators (9) verbunden ist.
  4. 4. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Komparator (71, 72, 73...7n) ein Filter (34) zur Eliminierung von Kurzzeitstörungen nachgeschaltet ist.
  5. 5. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 4, daduekennzeichnet, daß die Sisralausgänge (1d, 2d, 3d...nd) mit einer Sammelleitung (13) verbunden sind, zie zu einer gemeinsamen Anzeigevorrichtung (10) führt und mit dem Stopeingang (9a) des Steuergenerators (9) verbunden ist und in die ein Filter (34) eingeschaltet ist.
  6. 6. Schaltung nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Komparator (71, 72, 73 ...7n) zwei zwischen die Klemmen (11, 12) der Spannungsquelle und parallel zueinander geschaltete Spannungsteiler (15, 16, 17, 18 bzw. 35, 36 und 37, 38) aufweist, und der Mittelpunkt (19, 20 bzw. 39, 40) jedes dieser Spannungsteiler einerseits mit einem der Eingänge eines Operationsverstärkers (21, 41) und andererseits über eine Diode (22, 23 bzw. 42, 43) mit dem Mittelpunkt (26, 46) eines Dritten zwischen die einander zugeordneten Prüfungs-Ein/Ausgänge (la-lb; 2a-2b; 3a-3b...na-nb) geschalteten,symmetrischen Spannungsteilers (24, 25 bzw. 44, 45) verbunden ist, wobei die beiden Dioden (22, 23 bzw. 42, 43) in entgegengesetzter Polarität geschaltet schaltet sind.
  7. 7. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens einer der beiden ersten Spannungsteiler (15, 16 und 17, 18 bzw. 35, 36 und 37, 38) in einem Zweig einen einstellbaren, variablen Widerstand (18, 38) aufweist.
  8. 8. Schaltungseinrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Signalausgang (1d, 2d, 3d, nd) jedes Komparators mit einer Leuchtdiode (33, 53) verbunden ist.
  9. 9. Schaltungseinrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß jede komplementäre Spannungsverteilerstufe (61, 62, 63 bis 6n) zwei zwischen die Klemmen (11, 12) der Spannungsquelle und parallel zueinander geschaltete Spannungsteiler (27, 28, 29 und 24, 25 bzw.
    47, 48, 49 und 44, 45) aufweist, wobei im ersten Spannungsteiler ein Schalttransistor (30 bzw. 50) liegt, dessen Basis mit dem Signaleingang (2c bzw. 3c) verbunden ist und im zweiten Spannungsteiler zwei Schalttransistoren (31, 32 bzw. 51, 52) liegen, deren Basen jeweils komplementär zueinander mit einem Punkt des ersten Spannungsteiler verbunden sind, wobei die einander zugeordneten Prüf-Ein/Ausgänge (2b-2a bzw. 3b-3a) mit symmetrisch zum Mittelpunkt (26 bzw. 46) des zweiten Spannungsteilers zwischen den beiden Schalttransistoren (31, 32 bzw. 51, 52) dieses Spannungsteilers liegenden Punkten verbunden sind.
    0. Schaltungseinrichtung nach den Ansprüchen 6 und 9, dadurch gekennzeichnet, daß der dritte Spannungsteiler jedes Komparators gleichzeitig der zweite Spannungsteiler (24, 25 bzw. 44, 45) der Spannungsverteilerstufe ist.
DE19772726986 1977-06-15 1977-06-15 Verfahren zur pruefung elektrischer baugruppen, insbesondere verdrahtungsbaugruppen, sowie schaltungseinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens Withdrawn DE2726986A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19772726986 DE2726986A1 (de) 1977-06-15 1977-06-15 Verfahren zur pruefung elektrischer baugruppen, insbesondere verdrahtungsbaugruppen, sowie schaltungseinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19772726986 DE2726986A1 (de) 1977-06-15 1977-06-15 Verfahren zur pruefung elektrischer baugruppen, insbesondere verdrahtungsbaugruppen, sowie schaltungseinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2726986A1 true DE2726986A1 (de) 1979-01-04

Family

ID=6011591

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19772726986 Withdrawn DE2726986A1 (de) 1977-06-15 1977-06-15 Verfahren zur pruefung elektrischer baugruppen, insbesondere verdrahtungsbaugruppen, sowie schaltungseinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2726986A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0188013A1 (de) * 1984-10-22 1986-07-23 Advanced Micro Devices, Inc. Kurzschlussdetektor für durchbrennbare Schaltbrücken mit einer Anordnung von Referenzschaltbrücken

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0188013A1 (de) * 1984-10-22 1986-07-23 Advanced Micro Devices, Inc. Kurzschlussdetektor für durchbrennbare Schaltbrücken mit einer Anordnung von Referenzschaltbrücken

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2012900A1 (de) Selbsttätig arbeitende Prüfvorrichtung für mehradrige elektrische Kabel
DE3130242C2 (de) Elektronische Steuerschaltung zur Erzeugung eines monostabilen Schaltverhaltens bei einem bistabilen Relais
DE102020128701A1 (de) Stromverteileinheit umfassend eine Lastdetektionseinheit zum Messen einer Detektionsspannung
DE2723536C3 (de) Vorrichtung zum Prüfen verschiedenartiger Kabelsätze
DE2917126C2 (de) Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE2338882A1 (de) Verfahren und fernwirksystem zum einund ausschalten von elektrischen verbrauchern
DE3131151A1 (de) Schaltvorrichtung fuer messgeraet
DE2228825A1 (de) Pruefvorrichtung fuer elektronische schaltkreiseinheiten
AT518762B1 (de) Prüfvorrichtung
DE19604624C2 (de) Prüfeinrichtung für mehradrige Kabelverbindungen
DE2726986A1 (de) Verfahren zur pruefung elektrischer baugruppen, insbesondere verdrahtungsbaugruppen, sowie schaltungseinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE4328932C2 (de) Verfahren und Einrichtung für die Fernabfrage von Meßstellen
DE3924763C2 (de) Prüfeinrichtung für mehradrige elektrische Kabel
EP3422027A1 (de) Vorrichtung, verfahren, herstellverfahren
DE1900298A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen von elektronische Bauteile aufweisenden gedruckten Schaltungen
DE4033234A1 (de) Sicherheitslichtgitter
DE2826097C3 (de) Einrichtung zur elektrischen Funktionsüberprüfung von Vielfachaderkabeln
DE2854301C2 (de)
DE3008262C2 (de) Elektronische Schaltungsanordnung
DE2025124C3 (de) Unterbrechungsfreies Stromversorgungssystem
DE2921680A1 (de) Schaltungsanordnung insbesondere zum pruefen von elektrischen schaltungen
DE2811154C2 (de) Einrichtung zur manuellen Herstellung und elektrischen Prüfung von Schaltverbindungen
DE2511923C3 (de) Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen
DE2640929C2 (de) Anordnung zur Prüfung der Kabelverdrahtungen von Förderanlagen mit peripheren Einrichtungen
DE1566782B1 (de) Verfahren zum Pruefen von impulsbetriebenen Schaltungen und Schaltungsanordnung zu seiner Durchfuehrung

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee