DE2725833A1 - Gasentladungslaser und wiedergabevorrichtung zum auslesen von information, die mit einem derartigen gasentladungslaser versehen ist - Google Patents
Gasentladungslaser und wiedergabevorrichtung zum auslesen von information, die mit einem derartigen gasentladungslaser versehen istInfo
- Publication number
- DE2725833A1 DE2725833A1 DE19772725833 DE2725833A DE2725833A1 DE 2725833 A1 DE2725833 A1 DE 2725833A1 DE 19772725833 DE19772725833 DE 19772725833 DE 2725833 A DE2725833 A DE 2725833A DE 2725833 A1 DE2725833 A1 DE 2725833A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- gas discharge
- laser
- discharge laser
- radiation
- layers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 17
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 102000017795 Perilipin-1 Human genes 0.000 description 1
- 108010067162 Perilipin-1 Proteins 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 239000011195 cermet Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000011896 sensitive detection Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/05—Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
- H01S3/08—Construction or shape of optical resonators or components thereof
- H01S3/08059—Constructional details of the reflector, e.g. shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/02—Constructional details
- H01S3/03—Constructional details of gas laser discharge tubes
- H01S3/034—Optical devices within, or forming part of, the tube, e.g. windows, mirrors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
- H01S3/22—Gases
- H01S3/2222—Neon, e.g. in helium-neon (He-Ne) systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lasers (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Description
PHN. 8*4 2?. 12.2.1977.
VVÄ2?5833
Gasentladungslaser und Wiedergabevorrichtung zum Auslesen von Information, die mit einem derartigen Gasentladungslaser
versehen ist
Die Erfindung bezieht sich auf einen Gasentladungslaser mit einem Laserrohr mit einer an beiden Enden abgedichteten
longitudinalen Bohrung, wobei dieses Rohr mit einem Gas gefüllt ist, in dem ein aktives Lasermedium
aufgenommen ist, das in einem optischen Resonator, der durch mindestens zwei Mehrschichtenspiegel gebildet wird,
aktiviert wird, wobei diese Mehrschichtenspiegel aus einer Anzahl Schichten mit einer hohen und einer niedrigen
709852/0797
PIiN. 8Ί27. 12.2.77.
komplexen Brechungszahl zusammengesetzt sind, die auf
einem Substrat angebracht sind.
Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf eine Vorrichtung zum Auslesen eines Aufzeichnungsträgers, auf
den Information, z.B. Bild- und/oder Toninf orination, in
einer optisch auslesbaren Informationsstruktur aufgezeichnet
ist, wobei diese Vorrichtung einen Gasentladungslaser der im ersten Absatz genannten Art und ein Objektivsystem
enthält, mit dessen Hilfe der Laserstrahl über den Aufzeichnungsträger einem strahlungsempfindlichen Detektionssystera
zugeführt wird.
Ein Gasentladungslaser der im ersten Absatz genannten Art ist aus der offengelegten niederländischen
Patentanmeldung 7 ^02 6°-1 bekannt, in der ein He-Ne-Gaslaser
beschrieben ist, bei dem die Mehrschichtenspiegel unmittelbar auf den Enden des Laserrohres befestigt sind, so dass
sie zugleich die Vakuumabdichtung des Entladungsraumes bilden. Das Laserrohr ist durch Querrohre mit Elektrodenräumen
ausserhalb des Laserrohres verbunden. In dem Laserrohr wird eine Entladung zwischen den Elektroden durch
das Anlegen eines Potentialunterschiedes zwischen den Elektroden eingeleitet, wobei durch stimulierte Emission
ein Laserstrahl erzeugt wird.
Gasentladungslaser haben einen grossen Anwendungsbereich. Sie werden häufig in Messvorrichtungen, wie
709852/0797
PHN. 8*427. 12.2.77.
Interferometern, u.dgl., verwendet. Auch finden sie
Anwendung in Vorrichtungen zum Auslesen von Aufzeichnungsträgern,
auf die Information, z.B. Bild- und/oder Toninformation, in einer optisch auslesbaren Informationsstruktur,
aufgezeichnet ist. Sie bilden darin eine monochromatische
Strahlungsquelle, die ein Lichtbündel emittiert, das auf den Aufzeichnungsträger fällt und von diesem in einem
Detektionssystem reflektiert wird. Eine derartige Vorrichtung ist u.a. in "Philips Technische Rundschau" 33, Nr. 7,
S. 198-202 beschrieben. Darin wird u.a. bemerkt, dass es notwendig ist, dafür zu sorgen, dass nicht eine zu grosse
Menge des an der Plattenoberfläche reflektierten und
modulierten Lichtes in den Laser zurückkehren kann. Diese Rückkopplung würde nämlich unerwünschte Schwankungen
in der Ausgangsleistung des Lasers herbeiführen.
Falsches Licht, das an Einzeiteilen der Vorrichtung,
wie dem Auskopplungsspiegel, reflektiert wird, kann an der Stelle des Detektors mit dem primären Bündel
interferieren und dabei zu sehr tiefer Modulation des
Detektorsignals führen.
Derartige Schwankungen der Ausgangsleistung und eine derartige Modulation sind in vielen Fällen auch bei
anderen Anwendungen, wie in Interferometern, unerwünscht.
In der DT-OS 26 22 56Ο ist beschrieben, dass,
indem in dem Strahlungsweg des Auslesebündels einer
709852/0797
PIlN.
12.2.77.
Auslesevorrichtung der im zweiten Absatz beschriebenen Art ein Strahlungsschwächendes Element angeordnet wird, die
zufälligen Intensitätsmodulationen in dem Auslesebündel, die auf unerwünschte Reflexionen in dem Strahlungsweg
zurückzuführen sind, erheblich herabgesetzt werden können. Das Strahlungsschwächende Element ist vorzugsweise auf dem
Substrat des Auskopplungsspiegels in Form eines Absorptionsfilters angebracht. Es stellt sich aber heraus, dass diese
Massnahme nicht optimal ist, während ausserdem die Verlustleistung
gross ist.
Die Erfindung bezweckt denn auch, einen Gasentladungslaser anzugeben, bei dem unerwünschte Schwankungen
in der Ausgangsleistung und unerwünschte Modulationen nahezu vermieden werden und der Auskopplungsspiegel auf
der Aussenseite eine sehr geringe Reflexion falschen Lichtes aufweist, während die Reflexion auf der Innenseite
des Auskopplungsspiegels im allgemeinen sogar noch etwas zunimmt und .die Verlustleistung minimal ist.
Der Gasentladungslaser nach der Erfindung ist dazu dadurch gekennzeichnet, dass der Mehrschichtenspiegel,
durch den der von dem Gasentladungslaser erzeugte Laserstrahl den Laser verlässt, (der sogenannte Auskopplungsspiegel)
mit einem Strahlungsschwächenden Film versehen ist, die zwischen den Schichten angeordnet ist, wobei zwischen
dem Strahlungsschwächenden Film und dem Substrat mindestens
709852/0797
PIIN. 8427.
12.2.77.
12.2.77.
eine Schicht und höchstens fünf Schichten liegen.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde,
dass in dem Mehrschichtenspiegel auf diese Weise ein Hohlraumresonator
gebildet wird, in dem das falsche reflektierte Licht eingefangen und von dem s tralilungsschwächenden Film
geschwächt wird.
Eine bevorzugte Ausführungsform eines derartigen Gasentladungslasers nach der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet,
dass auf das Substrat des Auskopplungsspiegels
nacheinander eine Schicht mit einer hohen komplexen
Brechungszahl, eine Schicht mit einer niedrigen komplexen Brecliungszahl, der Strahlungsschwächende Film, eine Schicht
mit einer niedrigen komplexen Brechungszahl und eine
Anzahl von Schichten mit abwechselnd einer hohen und
Anzahl von Schichten mit abwechselnd einer hohen und
einer niedrigen komplexen Brechungszahl aufgebracht sind.
Der iitrahlungsschwächende Film ist vorzugsweise
ein Metallfilm mit einer optischen Dicke zwischen 0,017\
und 0,03 7\ » wobei Λ die Wellenlänge des erzeugten Laserlichts darstellt. Dieser Film kann aber auch aus einem
und 0,03 7\ » wobei Λ die Wellenlänge des erzeugten Laserlichts darstellt. Dieser Film kann aber auch aus einem
Cermet bestehen. Bei einem Metallfilm mit einer optischen Dicke von 0,02 X wurden optimale Ergebnisse erzielt.
Ein derartiger Metallfilm kann vorzugsweise aus einem oder mehreren Metallen zusammengesetzt werden, die
aus der durch Ti, Ag, Cr, Al, Mg und Ni gebildeten Gruppe gewählt sind.
aus der durch Ti, Ag, Cr, Al, Mg und Ni gebildeten Gruppe gewählt sind.
709852/0797
PlIN. 12.2.77.
Ein Gasentladungslaser dei" beschriebenen Art
eignet sich besonders gut zur Anwendung in einer Vorrichtung
zum Auslesen eines Aufzeichnungsträgers der im zweiten
Absatz beschriebenen Art, weil dabei die genannten Schwankungen und Modulationen, die ohne die Anwendung der
Erfindung auftreten, die Wirkung beeinträchtigen würden.
Die Erfindung wird nunmehr beispielsweise an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
■ϊ Fig. 1 schematisch einen Gasentladungslaser nach
der Erfindung,
Fig. 2 ein Diagramm eines bekannten 21-Schichtenspiegels,
Fig. 3 eine bevorzugte Ausführungsform eines
Auskopplungsspiegels nach der Erfindung, und Fig. k eine Anwendung des Gasentladungslasers in
einer Vorrichtung zum Auslesen eines Aufzeichnungsträgers.
In Fig. 1 ist schematisch ein Gasentladungslaser nach der Erfindung dargestellt. Unmittelbar auf dem
vorzugsweise zylindrischen Teil der Gasentladungsröhre, der das Laserrrohr 1 bildet, sind Mehrschichtenspiegel 2
und 3 mit Hilfe eines Zweikomponentenkitts 26 befestigt.
Diese Mehrschichtenspiegel 2 und 3 bestehen aus Substraten k
und 5» auf die Mehrschichtenpakete 6 und 7 z.B. durch Aufdampfen angebracht sind. Mit Hilfe der in Seitenrohren
liegenden Elektroden 2k und 25 wird eine Entladung in dem
709852/0797
PHN. 8427. 12.2.77.
Laserrohr erzeugt. Durch stimulierte Emission wird ein
Laserstrahl erhalten, der über den Auskopplungsspiegel 3 den Laser verlässt. Der beschriebene Laser weist folgende
Laserparameter auf:
Länge Laserrohr etwa 250 mm
Länge der aktiven Entladung etwa 205 mm
Strom durch die Entladung 6,k mA
Innendurchmesser Laserrohr _+ 1»8 mm Gasfüllung 15 # Ne, 85 % He
Gasdruck 2,3 Torr
Resonatorkonfiguration nahezu hemisphärisch
ο Ausgangsleistung 1-2 mV bei 6328 A.
Es versteht sich, dass sich die Erfindung nicht auf He-Ne-Laser vom obenbeschriebenen Seitenrohrtyp beschränkt,
sondern auch bei sogenannten koaxialen Lasern und bei bekannten Lasern angewandt werden kann, bei denen
die Mehrschichtenspiegel des Resonators sich in einiger Entfernung von dem mit Brewsterfenstern verschlossenen
Laserrohr befinden.
Fig. 2 zeigt schematisch ein Diagramm eines bekannten 21-Schichtenspiegels. Die erste Schicht -9 auf
dem Glassubstrat (s)8 ist im allgemeinen eine Schicht mit einer hohen komplexen Brechungszahl (h). Die nächstfolgenden
Schichten weisen abwechselnd eine niedrige (l) und eine hohe (h) komplexe Brechungszahl auf. Da die
709852/0797
PHN. 8427. 12.2.77.
letzte Schicht auch meistens eine hohe komplexe Brechungszahl aufweist, ergibt sich, dass derartige Reflektoren
oft aus einer ungeraden Anzahl von Schichten bestehen. In der Regel werden Glas- oder Quarzsubstrate verwendet.
Wenn zwei parallele Oberflächen 10 und 11 betrachtet werden und wenn es erforderlich ist, dass die an diesen Oberflächen
reflektierten Lichtstrahlen gleichphasig sind, um einander
durch Interferenz zu verstärken, muss die optische Dicke der Schicht 12 vorzugsweise ein Viertel der Wellenlänge
in der betreffenden Schicht sein. Bei Anwendung einer Vielzahl von Schichten werden die aufeinanderfolgenden Oberflächen
Licht reflektieren und je die erste Reflexion verstärken. Die Höchstanzahl von Schichten wird durch die
Absorption und die Streuung in dem Material der Schichten bestimmt. Ein derartiger 21-Schichtenspiegel kann kurz
wie folgt bezeichnet werden: S(HL) H, wobei S das Substrat, H die Schichten mit einer hohen komplexen Brechungszahl
und L die Schichten mit einer niedrigen komplexen Brechungszahl darstellen. In diesem Falle bestehen die Schichten
mit einer hohen komplexen Brechungszahl aus TiOp und die Schichten mit einer niedrigen komplexen Brechungszahl aus
SiOp und weisen die Schichten eine optische Dicke auf, die gleich einem Viertel der Wellenlänge des Lichtes eines
He-Ne-Lasers ist, und zwar n.d = ^.6328 A, wobei η die
Brechungszahl des Materials der betreffenden Schicht und d die mechanische Dicke darstellt.
709852/0797
PHN. 8427.
12.2.77.
In Fig. 3 ist eine bevorzugte Ausführungsforin
eines Auskopplungsspiegels für einen Gasentladungslaser nach der Erfindung dargestellt. Auf ein Glassubstrat (S)8
ist eine Schicht mit einer hohen komplexen Brechungszahl (h) aus TiOp aufgebracht, auf der zwei durch einen Ti-FiIm
voneinander getrennte Schichten mit einer niedrigen komplexen Brechungszahl aus SiO„ (L M L) und anschliessend
ein Schichtenpaket der üblichen Zusammensetzung angebracht sind. Die TiOp- und SiOp-Schichten in der Nähe des Ti-Filmes
weisen eine derartige optische Dicke auf, dass die optische Impedanz, von der Substratseite her gesehen, angepasst ist,
so dass von der Substratseite her eine minimale Reflexion auftritt. Der Ti-FiIm weist eine optische Dicke von 0,02%
auf, wobei 7\ wieder die Wellenlänge des Laserlichtes darstellt. Die komplexen Brechungszahlen der genannten
für den Metallfilm geeigneten Metalle sind derart verschieden voneinander, dass zur Anpassung der optischen
Impedanz in der Nähe des Metallfilms die Schichten, die in der Nähe des Metallfilms liegen, eine optische Dicke
aufweisen, die in Abhängigkeit von der komplexen Brechungszahl des verwendeten Metalls sehr verschieden ist. Die
zwei durch den Ti-FiIm voneinander getrennten SiO2-Schichten
bilden zusammen einen Hohlraumresonator, in dem das über das Substrat zurückgekehrte Licht eingefangen
und geschwächt wird. Dadurch nimmt die Reflexion des
709852/0797
PHN. 8427.
12.2.77.
1λ
Auskopplungsspiegels auf der Aussenseite erheblich (z.B. um einen Faktor 1θ) ab, während die Durchstrahlung durch
den Mehrschichtenspiegel nur wenig (weniger als 20$) abnimmt
und die Reflexion auf der Innenseite, wie Berechnungen zeigen, sogar noch etwas zunimmt.
Das Strahlungsschwächende Element nach der genannten DT-OS 26 22 560 ist ein Absorptionsfilter, das
z.B. bis zu 30 ^a schwächt. Eine Modulations tief e m wird
also auf 0,3 m geschwächt. Die Leistung V wird proportional auf 0,3 V geschwächt. Die Schwächung mit dem Auskopplungsspiegel
nach der Erfindung ist proportional zu (β)2, wobei R der Intensitätsreflexionskoeffizient ist. Dieser
ist im vorliegenden Beispiel etwa 10 $. Die Reflexion
ist ohne Anwendung der Erfindung nahezu 100 $ und nimmt von der Substratseite her durch Anwendung der Erfindung um
einen Faktor 10 ab. Eine Modulationstiefe m wird also
auf etwa 0,3 m geschwächt, während die Leistung V um 20 $
abnimmt und also gleich 0,8 V wird. Mit einem Auskopplungsspiegel nach der Erfindung wird also eine geringe Reflexion
von der Substratseite her bei einer verhältnismässig niedrigen Verlustleistung erhalten.
In Fig. h ist schematisch eine Vorrichtung zum
Auslesen eines Aufzeichnungsträgers dargestellt, auf den
Information, z.B. Bild- und/oder Toninformation, in einer optisch auslesbaren Informationsstruktur aufgezeichnet ist,
709852/0797
PHN. 8427.
12.2.77.
wobei in dieser Vorrichtung die Anwendung eines Gasentladungslasers
der obenbeschriebenen Art grosse Vorteile bietet. In dieser Figur ist ein runder scheibenförmiger
Aufzeichnungsträger lh, der mit Informationsspuren 15
versehen ist, im Schnitt dargestellt. Der Aufzeichnungsträger
wird mit Strahlung beleuchtet, die von einem He-Ne-Laser 16 herrührt. Das Auslesebündel 17 wird vom
Objektiv 18 auf die Fläche der Informationsspuren zu einem
kleinen Strahlungsfleck 20 in der Grössenordnung der Informationsdetails in der Inforniationsstruktur fokussiert.
Die Hilfslinse 10 sorgt dafür, dass die Pupille des Objektivs gefüllt wird. Das Auslesebündel wird von der
Informationsstruktur reflektiert und durchläuft zum zweiten
Mal das Objektiv 18 und wird auf dem Detektor 21 abgebildet, Ein transversales Magnetfeld in dem Laser bewirkt, dass
der austretende Laserstrahl parallel zu diesem Magnetfeld polarisiert ist. Dadurch kann mit einer -ς }[ -Platte 22 und
einem polarisierenden Spiegel 23 eine Trennung zwischen
dem einfallenden und dem reflektierten Licht erhalten
werden. Diese Trennung ist jedoch nicht völlig effektiv; es kehrt doch noch Licht in den Laser zurück. Wie bereits
angegeben ist, ist es erforderlich, dafür zu sorgen,
dass nicht eine zu grosse Menge des an den optischen Elementen und an der Oberfläche des Informationsträgers
reflektierten und somit modulierten Lichtes in den Laser
709852/0797
PHN. 8427-12.2.77.
zurückkehren und von dem Auskopplungsspiegel wieder in der Vorrichtung reflektiert werden kann. Dies kann durch
Anwendung eines "Gasentladungslasers nach der Erfindung erzielt werden. Derartige Gasentladungslaser eignen sich auch
besonders gut zur Anwendung in Interferometern, weil auch
dort Schwankungen und Modulationen in dem Laserstrahl nicht erwünscht sind.
709852/0797
Claims (1)
- PHN.8427. 12.2.77.PATENTANSPRÜCHE :1. Gasentladungslaser mit einem Laserrohr mit einer an beiden Enden abgedichteten longitudinalen Bohrung, wobei dieses Rohr mit einem Gas gefüllt ist, in dem ein aktives Lasermedium aufgenommen ist, das in einem optischen Resonator, der durch mindestens zwei Mehrschichtenspiegel gebildet wird, aktiviert wird, wobei diese Mehrschichtenspiegel aus einer Anzahl von Schichten mit einer hohen und einer niedrigen Brechungszahl zusammengesetzt sind, die auf dem Substrat angebracht sind, dadurch gekennzeichnet, dass der Mehrschichtenspiegel, durch den der von dem Gasentladungslaser erzeugte Laserstrahl den Laser verlässt, (der sogenante Auskopplungsspiegel) mit einem strahlungsschwächenden Film versehen ist, der zwischen den Schichten angeordnet ist, wobei zwischen den Strahlungsschwächenden Film und dem Substrat mindestens eine Schicht und höchstens fünf Schichten liegen.2. Gasentladungslaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass auf das Substrat des Auskopplungsspiegels nacheinander eine Schicht mit einer hohen komplexen Brechungszahl, eine Schicht mit einer niedrigen komplexen Brechungszahl, der Strahlungsschwächende Film, eine Schicht mit einer niedrigen komplexen Brechungszahl und eine Anzahl von Schichten mit abwchselnd einer hohen und einer niedrigen komplexen Brechungszahl aufgebracht sind.709852/0797ORIGINAL INSPECTEDPHN. 8427. 12.2.77.3· Gasentladungslaser nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlungsschwächende Film ein Metallfilm mit einer optischen Dicke zwischen 0,01 ?· und 0,03 Λ ist, wobei Ά die Wellenlänge des erzeugten Laserlichtes ist.k. Gesantladungslaser nach Anspruch 3> dadurch gekennzeichnet, dass der Metallfilm eine optische Dicke von 0,02 >s aufweist.5. Gasentladungslaser nach Anspruch 3 oder k, dadurch gekennzeichnet, dass der Metallfilm aus einem oder mehreren Metallen aus der durch Ti, Ag, Cr, Al, Mg und Ni gebildeten Gruppe zusammengesetzt ist.6. Auskopplungsspiegel zur Anwendung in einem Gasentladungslaser nach einem der vorstehenden Ansprüche.7. Vorrichtung zum Auslesen eines Aufzeichnungsträgers, auf den Information, z.B. Bild- und/oder Toninformation, in einer optisch auslesbaren Informationsstruktur aufgezeichnet ist, wobei diese Vorrichtung einen Gasentladungslaser nach einem der Ansprüche 1 bis 5 und ein Objektivsystem enthält, mit dessen Hilfe das Auslesebündel über den Aufzeichnungsträger einem strahlungsempfindlichen Detektionssystem zugeführt wird.709852/0797
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL7606693A NL7606693A (nl) | 1976-06-21 | 1976-06-21 | Gasontladingslaser en weergmefinrichting voor het uitlezen van informatie voorzien van een dergelijke gasontladingslaser. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2725833A1 true DE2725833A1 (de) | 1977-12-29 |
| DE2725833C2 DE2725833C2 (de) | 1985-04-18 |
Family
ID=19826412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2725833A Expired DE2725833C2 (de) | 1976-06-21 | 1977-06-08 | Auskopplungsspiegel eines Gasentladungslasers |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4132959A (de) |
| JP (1) | JPS5316596A (de) |
| AT (1) | AT370918B (de) |
| AU (1) | AU506554B2 (de) |
| BE (1) | BE855887A (de) |
| CA (1) | CA1081352A (de) |
| CH (1) | CH616029A5 (de) |
| DE (1) | DE2725833C2 (de) |
| ES (1) | ES459907A1 (de) |
| FR (1) | FR2356295A1 (de) |
| GB (1) | GB1557362A (de) |
| IT (1) | IT1085238B (de) |
| NL (1) | NL7606693A (de) |
| NZ (1) | NZ184421A (de) |
| SE (1) | SE422128B (de) |
| ZA (1) | ZA772910B (de) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5390316A (en) * | 1977-01-20 | 1978-08-09 | Nippon Chemical Ind | Reflectionnproof film |
| US4187475A (en) * | 1978-01-05 | 1980-02-05 | Analytical Radiation Corp. | Continuously variable laser output coupler |
| NL7802454A (nl) * | 1978-03-07 | 1979-09-11 | Philips Nv | Gasontladingslaser voor het opwekken van lineair gepolariseerde straling. |
| JPS57134981A (en) * | 1981-02-16 | 1982-08-20 | Toshiba Corp | Helium neon laser device |
| JPS6037631B2 (ja) * | 1981-06-08 | 1985-08-27 | 株式会社東芝 | アルゴン・イオン・レ−ザ装置 |
| JPS5981297A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-10 | Niigata Eng Co Ltd | 船舶の操縦装置 |
| US4672625A (en) * | 1984-03-30 | 1987-06-09 | Spectra-Physics, Inc. | Methods and apparatus for maximizing the power output of a gas laser |
| US4615034A (en) * | 1984-03-30 | 1986-09-30 | Spectra-Physics, Inc. | Ultra-narrow bandwidth optical thin film interference coatings for single wavelength lasers |
| JP2629693B2 (ja) * | 1987-02-26 | 1997-07-09 | 松下電器産業株式会社 | エキシマレーザ用ミラー |
| US5127018A (en) * | 1989-08-08 | 1992-06-30 | Nec Corporation | Helium-neon laser tube with multilayer dielectric coating mirrors |
| US5274661A (en) * | 1992-12-07 | 1993-12-28 | Spectra Physics Lasers, Inc. | Thin film dielectric coating for laser resonator |
| US5600487A (en) * | 1994-04-14 | 1997-02-04 | Omron Corporation | Dichroic mirror for separating/synthesizing light with a plurality of wavelengths and optical apparatus and detecting method using the same |
| GB2352050A (en) * | 1999-07-13 | 2001-01-17 | Coherent Optics | Interference filters |
| US7065109B2 (en) * | 2002-05-08 | 2006-06-20 | Melles Griot Inc. | Laser with narrow bandwidth antireflection filter for frequency selection |
| US8175126B2 (en) * | 2008-10-08 | 2012-05-08 | Telaris, Inc. | Arbitrary optical waveform generation utilizing optical phase-locked loops |
| CN102782964B (zh) | 2010-02-19 | 2014-08-27 | 加州理工学院 | 耦合到微制造生物分子传感器的扫频半导体激光器及与其相关的方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL156273B (nl) * | 1967-06-01 | 1978-03-15 | Philips Nv | Inrichting voor het opwekken van gestimuleerde infraroodemissie, iraser. |
| US3649359A (en) * | 1969-10-27 | 1972-03-14 | Optical Coating Laboratory Inc | Multilayer filter with metal dielectric period |
| GB1529813A (en) * | 1974-10-16 | 1978-10-25 | Siemens Ag | Narrow-band interference filter |
| US4233568A (en) * | 1975-02-24 | 1980-11-11 | Xerox Corporation | Laser tube mirror assembly |
-
1976
- 1976-06-21 NL NL7606693A patent/NL7606693A/xx not_active Application Discontinuation
- 1976-08-11 US US05/713,515 patent/US4132959A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-05-16 ZA ZA00772910A patent/ZA772910B/xx unknown
- 1977-06-08 DE DE2725833A patent/DE2725833C2/de not_active Expired
- 1977-06-14 CA CA280,519A patent/CA1081352A/en not_active Expired
- 1977-06-15 AU AU26100/77A patent/AU506554B2/en not_active Expired
- 1977-06-17 GB GB25430/77A patent/GB1557362A/en not_active Expired
- 1977-06-17 IT IT24822/77A patent/IT1085238B/it active
- 1977-06-17 NZ NZ184421A patent/NZ184421A/xx unknown
- 1977-06-17 SE SE7707040A patent/SE422128B/xx not_active Application Discontinuation
- 1977-06-18 ES ES459907A patent/ES459907A1/es not_active Expired
- 1977-06-18 JP JP7274777A patent/JPS5316596A/ja active Granted
- 1977-06-20 BE BE178597A patent/BE855887A/xx not_active IP Right Cessation
- 1977-06-20 AT AT0433077A patent/AT370918B/de not_active IP Right Cessation
- 1977-06-20 CH CH754177A patent/CH616029A5/de not_active IP Right Cessation
- 1977-06-21 FR FR7718959A patent/FR2356295A1/fr active Granted
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| H. Weber und G. Herziger: Laser, Grundlagen und Anwendungen, Weinheim 1972, S. 230-232 * |
| Philips Technische Rundschau, Vol. 33, Nr. 7, 1973/74, S. 198-201 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2725833C2 (de) | 1985-04-18 |
| JPS5424276B2 (de) | 1979-08-20 |
| SE7707040L (sv) | 1977-12-22 |
| GB1557362A (en) | 1979-12-05 |
| JPS5316596A (en) | 1978-02-15 |
| NL7606693A (nl) | 1977-12-23 |
| ATA433077A (de) | 1982-09-15 |
| FR2356295A1 (fr) | 1978-01-20 |
| CA1081352A (en) | 1980-07-08 |
| ZA772910B (en) | 1978-12-27 |
| FR2356295B1 (de) | 1980-06-13 |
| AU2610077A (en) | 1978-12-21 |
| NZ184421A (en) | 1980-05-27 |
| IT1085238B (it) | 1985-05-28 |
| BE855887A (fr) | 1977-12-20 |
| ES459907A1 (es) | 1978-05-16 |
| AT370918B (de) | 1983-05-10 |
| AU506554B2 (en) | 1980-01-10 |
| CH616029A5 (de) | 1980-02-29 |
| SE422128B (sv) | 1982-02-15 |
| US4132959A (en) | 1979-01-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2725833A1 (de) | Gasentladungslaser und wiedergabevorrichtung zum auslesen von information, die mit einem derartigen gasentladungslaser versehen ist | |
| DE2429551C3 (de) | Optische Vorrichtung zur Formung optischer Impulse | |
| DE3039500A1 (de) | Silberhalidhaltiger film zur optischen datenspeicherung | |
| EP0087101A1 (de) | Reflexionsfreier optischer Polarisator mit einem Prisma | |
| DE1187732B (de) | Optischer Resonator fuer einen optischen Sender oder Verstaerker | |
| DE3018212A1 (de) | Hf-spektralanalysator | |
| DE2105752A1 (de) | Vorrichtung zur Verbesserung der opti sehen Eigenschaften eines Laserstrahls | |
| DE3305675C2 (de) | ||
| DE1564223A1 (de) | Elektrooptische Anordnung zur Lichtsteuerung | |
| DE19517753A1 (de) | Schmalbandige, abstimmbare Quelle kohärenter Strahlung | |
| DE4331389C2 (de) | Festkörperlaser | |
| DE2606526A1 (de) | Optische parametrische einrichtung | |
| CH497019A (de) | Vorrichtung zum Transformieren eines Lichtstrahls | |
| DE2020104C3 (de) | Verstärkerkettenstufe für Laserlichtimpulse | |
| DE2531648A1 (de) | Laser mit einem laserresonator | |
| DE4438283A1 (de) | Laser zur Erzeugung schmalbandiger Strahlung | |
| DE1489637B2 (de) | Bistabiler optischer Schalter | |
| DE3214562A1 (de) | Ultraschall-mikroskop | |
| DE102019132393B4 (de) | Bereitstellen eines transienten Gitters | |
| DE2821330A1 (de) | Ring-laser-gyroskop | |
| DE2943322C2 (de) | Instabiler Laserresonator | |
| DE2445150C2 (de) | ||
| DE2900899C2 (de) | Lasereinrichtung zum Erzeugen von ultrakurzen Laserstrahlungsimpulsen | |
| DE2039952A1 (de) | Festkoerper-Ringlaser mit einem Ring | |
| EP0071007B1 (de) | Laser-Drehgeschwindigkeitsmesser |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |