DE2720097A1 - Mit einer mikroschaltung versehene elementarscheibe mit elektrolytisch gezuechteten metallknollen sowie verfahren zum herstellen einer derartigen scheibe - Google Patents
Mit einer mikroschaltung versehene elementarscheibe mit elektrolytisch gezuechteten metallknollen sowie verfahren zum herstellen einer derartigen scheibeInfo
- Publication number
- DE2720097A1 DE2720097A1 DE19772720097 DE2720097A DE2720097A1 DE 2720097 A1 DE2720097 A1 DE 2720097A1 DE 19772720097 DE19772720097 DE 19772720097 DE 2720097 A DE2720097 A DE 2720097A DE 2720097 A1 DE2720097 A1 DE 2720097A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- contact points
- elementary
- disc
- disk
- attached
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 36
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 35
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 17
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 2
- 235000002767 Daucus carota Nutrition 0.000 claims 1
- 244000000626 Daucus carota Species 0.000 claims 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 26
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 229910003271 Ni-Fe Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- ZPDRQAVGXHVGTB-UHFFFAOYSA-N gallium;gadolinium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Gd+3] ZPDRQAVGXHVGTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 241001347978 Major minor Species 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/02—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
- G11C19/08—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/06—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by the coupling or physical contact with connecting or interacting conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
- H01L21/283—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
- H01L21/288—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition
- H01L21/2885—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition using an external electrical current, i.e. electro-deposition
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/77—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
- H01L21/78—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/05599—Material
- H01L2224/056—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/05638—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/05655—Nickel [Ni] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/061—Disposition
- H01L2224/0612—Layout
- H01L2224/0616—Random array, i.e. array with no symmetry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L2224/13—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/13001—Core members of the bump connector
- H01L2224/13099—Material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
- H01L2224/81801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L24/13—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L24/14—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of a plurality of bump connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01023—Vanadium [V]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01029—Copper [Cu]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01057—Lanthanum [La]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01064—Gadolinium [Gd]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/0132—Binary Alloys
- H01L2924/01322—Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/014—Solder alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12042—LASER
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0097—Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/24—Reinforcing the conductive pattern
- H05K3/241—Reinforcing the conductive pattern characterised by the electroplating method; means therefor, e.g. baths or apparatus
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Description
-1- PIDi S^i 1
KUPP/CB 1.4.1977
"-: r. P'T im ' ■?
V Philips- Gloeilu,..pfcnfQbriekee 2720097
Mit einer Mikroschaltung versehene Elementarscheibe
mit elektrolytisch gezüchteten Metallknollen sowie Verfahren zum Herstellen einer
derartigen Scheibe.
Diel Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer mit einer Mikroschaltung
versehenen Elementarscheibe mit einem System von Leiterspuren, das von der Mikroschaltung nach
mindestens einem der Ränder der Elementarscheibe
führt und dort mit einer Anzahl elektrischer Kontakte versehen ist, wobei eine Hauptscheibe
geschaffen wird, in der eine Anzahl in einem regelmässigen
Muster geordneter Elementarscheiben,
709848/0808
-ά- PHN 8411
1.4.1977
272U097
die längs künftige Trennungslinien aneinander
grenzen, gebildet sind, und wobei auf jeder Elementarscheibe nahe mindestens einer künftigen
Trennungslinie eine Anzahl Kontakte in Form an Kontaktstellen abgelagerter Metallknollen angebracht
wird.
Verfahren der eingangs erwähnten Art sind unter anderem von Interesse bei der
Herstellung mit Mikroschaltungen versehener Elementarscheiben (sogenannte "chips"), wobei in
diesem Zusammenhang unter Mikroschaltungen beispielsweise
Halbleiterschaltungen, Magnetblasenbehandlungssysteme
und Reihen von Dünnfilmmagnetköpfen verstanden seien, die mit elektrischen Kontakten für die Verbindung mit externen Schaltungen
versehen werden massen.
Um eine grosse Anzahl von Verbindungen in einem Male und auf möglichst stabile Weise
herzustellen, ist es aus der Halbleitertechnologie bekannt, eine sogenannte "Flip chip"-Technik
anzuwenden. Diese Technik besteht darin, dass auf einer Scheibe Metallknollen (sogenannte
"Solder bumps^Lötknollen-) abgelagert werden,
dass die Scheibe anschliessend umgekehrt und über die Metallknollen an ein auf einem Träger
709848/0808
PHN 8U11 1.4.1977
2720007
angebrachtes System von Leitern befestigt wird,
das für die Verbindung mit externen Schaltungen sorgt.
Bei dieser aus der Halbleitertechnologie bekannten Technik ist es üblich, zunächst die
erforderlichen Leiterspuren auf einer Hauptscheibe ("slice") anzubringen, sodann eine Deckschicht
aus Quarz aufzusputtern, in dieser Schicht
Löcher an Positionen (Kontaktstellen) anzubringen, an denen Kontakte gewünscht werden, anschliessend
auf die Quarzschicht eine leitende Hilfsschicht aufzudampfen, die über die Löcher mit den Kontaktstellen
in Verbindung steht, eine Photolackschichtmaske mit Öffnungen über den Kontaktstellen oxizubringen
und danach in einer Metallsalze haltenden Lösung an den Kontaktstellen Metallknollen abzulagern.
Nach dem Ablauf muss dann die Leitschicht, die beim Ablagern für die Verbindung zwischen
den Kontaktstellen sorgte, durch einen Ätzvorgang entfernt werden, um die Kontaktstellen elektrisch
voneinander zutrennen, wonach die Hauptscheibe in Elementarscheiben verteilt wird. Beim bekannten
Verfahren ist die Anzahl der Verfahrensschritte somit gross.
709848/0808
-V-
PHN 8411
1.4.1977
• . 2720U97
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Herstellen von Elementarscheiben
mit Metallknollen zu schaffen, bei dem die Anzahl der Verfahrensschritte möglichst gering
ist und wobei insbesondere der Ätzvorgang vermieden wird, der bei der bekannten Technik zum
Entfernen der leitenden Hilfsschicht erforderlich ist. Der herkömmliche Ätzvorgang wird als unvorteilhaft
erfahren, weil er die bereits gebildeten Mikroschaltungen nachteilig beeinflussen könnte.
Das erfindungsgemässe Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass auf jeder Elementarscheibe
ein leitender Streifen angebracht wird, der nahe einer gleichen Trennungslinie liegende
Kontaktstellen in Serie verbindet und diese Trennungslinie zwischen jeden zwei aufeinanderfolgende
Kontaktstellen mindestens zweimal passiert und frei von Schnittpunkten ist, wobei mindestens eine
der Kontaktstellen mit einer Spannungsquelle verbindbar ist; dass die Seite der Hauptscheibe, an
der die Kontaktstellen angeordnet sind, mittels einer Isolationsschicht, die die Kontaktstellen
freilässt, maskiert wird; das an den Kontaktstellen Metallknollen abgelagert werden und dass
die Hauptscheibe längs der Trennungslinien in
709848/0808
PIIN 8411 1.4.1977
eine Anzahl von Elementarscheiben unter Unterbrechung der elektrischen Verbindungen zwischen
den Kontaktstellen verteilt wird.
Der Vorteil des erfindungsgemässen Verfahrens besteht darin, dass das Aufdampfen
einer die ganze Oberfläche bedeckenden leitenden Hilfsschicht für das . elektrolytische Züchten der
Metallknollen nicht nötig ist, weil ein spezielles Leitermuster, das aus ("im Zick-Zack" angebrachten)
leitenden Streifen besteht, angebracht wird, die die Kontaktstellen elektrisch miteinander
verbinden. Dieses Muster kann gleichzeitig mit den Kontaktstellen und den Leiterspuren auf
der Hauptscheibe gebildet werden und braucht nicht mit Hilfe eines "Ätzvorganges entfernt zu
werden, denn da der leitende Streifen im "Zick-Zack" über die Trennungslinien verläuft, \*erden beim
Verteilen der Hauptscheibe in Elementarscheiben über die Trennungslinien die elektrische Verbindüngen
zwischen den Kontaktstellen automatisch unterbrochen, (in diesem Zusammenhang sei unter
"in Zick-Zack" insbesondere ein Muster verstanden, das jede Kontaktstelle auf einer bestimmten Elementarscheibe
mit zwei angrenzenden Kontaktstel- len auf einer benachbarten Elementarscheibe verbindet)
.
709848/0808
PHN 8411
1.4.1977
272009
Um eine einfache Verbindung der Kontaktstellen der in der Hauptscheibe gebildeten
Elementarscheiben mit einer Spannungsquelle zu ermöglichen, ist eine Ausführungsform des erfindungsgemässen
Verfahrens dadurch gekennzeichnet, dass die Elementarscheiben in Zeilen und Spalten geordnet sind, während zeilenweise bzw.
spaltenweise die Kontaktstellen angrenzender Elementarscheiben fluchtend angebracht werden und
die sie verbindenden, leitenden Streifen miteinander verbunden werden.
Es ist dabei insbesondere möglich, nach einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgemässen
Verfahrens die Kontaktstellen zeilenweise bzw. spaltenweise mit einem am Rande der
Hauptscheibe angebrachten, mit einer Spannung· quelle verbindbaren Leiter zu verbinden. Dieser
Leiter kann gegebenenfalls auch durch einen Teil der Klemmenanordnung gebildet werden, mit der die
Hauptscheibe beim Eintauchen in ein elektrolytisches
Bad festgehalten wird.
Um beim elektrolytischen Wachstumsverfahren dafür zu sorgen, dass die Stromvertei
lung über die Hauptscheibe möglichst einheitlich
ist und dadurch die gebildeten Metallknollen eine
709848/0808
PHN 8411
1.4.1977
272ÜÜ97
einheitliche Höhe haben, ist eine weitere Ausführungsform des erfindungsgemassen Verfahrens
dadurch gekennzeichnet, dass an definierten Stellen der Hauptscheibe mit den Kontaktstellen verbundene
Kontaktflächen zum direkten Verbinden mit einer Spannungsquelle angebracht werden.
Beim Verteilen der Hauptscheibe in Elementarscheiben (was beispielsweise durch
Kratzen und Brechen, Sägen, Ätzen oder mit Hilfe eines Laserstrahls erfolgen kann) ist es vorteilhaft,
wenn die trennende Bearbeitung nicht von der Seite zu erfolgen braucht, an der das Leitstreifenmuster
angebracht ist, sondern an der gegenüberliegenden Seite beginnen kann. Eine weitere Ausführungsform
des erfindungsgemassen Verfahrens
ist dadurch gekennzeichnet, dass die Hauptscheibe aus durchsichtigem Werkstoff gebildet ist und dass
die Verteilung in Eleinentarscheiben über Trennungslinien an der Seite der Hauptscheibe gegenüber der
. Seite erfolgt, an der die Kontaktstellen angebracht werden.
Insbesondere.äind bei der Herstellung von Blasendomänensystemen Hauptscheiben
aus durchsichtigem Werkstoff in Form von Substraten aus synthetischem Granatmaterial, wie bei-
709848/0808
-ε-
PHN8411
1.4.1977
272ÜU97
spielsweise Gadolinium-Gallium-Granat verfügbar.
Obschon das erfindingsgemässe Verfahren und die verschiedenen Ausführungsformen
bei der Herstellung verschiedener Mikroschaltungs-
chipsarten angewandt werden können, liegt die wesentlichste Anwendung im Bereich der Herstellung
von Elementarscheiben mit Magnetblasenbehandlungssystemen
("magnetic bubble chips").
Besonders hier ist es möglich, nicht nur die
Leiterspuren, die Leitstreifen und die Kontaktstellen, sondern auch die Blasenbehandlungsysterne
aus dem gleichen Material zu bilden, das in einem einzigen'Verfahrensschritt angebracht
wird.
Eine weitere Ausführungsform des
erfindungsgemässen Verfahrens bezieht sich daher
auf die Herstellung einer Magnetblasenelementarscheibe, mit einer Magnetblasenbehandlungsstruktur
und mit einem nach mindestens einem Rand
der Scheibe gehenden System von Leiterspuren, das nahe diesem Rand mit einer Anzahl elektrischer
Kontakte für die Verbindung mit externen Schaltungen versehen ist, wobei ein nicht magnetisches
Substrat geschaffen wird, auf dem eine
709848/0808
F- PHN 8411
ι .^.1977
45
anisotrope magnetische Schicht, in der Magnetblasen aufrechterhalten werden können, gezüchtet
wird, und wobei auf der magnetische Schicht eine Schicht aus Weichmagneti; chem elektrisch
leitendem, Material angebracht wird, welches Verfahren dadurch gekennzeichnet ist, dass aus der
weichmagnetischen, elektrisch leitenden Schicht durch Ätzen Magnetblasenbehandlungsstruktureirlfür
eine Anzahl Magnetblasenelementarscheiben, die längs künftiger Trennungslinien aneinander grenzen,
zusammen mit Leiterspuren und Kontaktstellen gebildet werden, wobei auf jeder elementaren Magnetblasenscheibe
nahe mindestens einer künftigen Trennungslinie eine Anzahl von Kontaktstellen gebildet wird, die in Serie mittels eines leitenden
Streifens verbunden werden, der die erwähnte Trennungslinie mindestens zweimal zwischen zwei
aufeinanderfolgenden Kontaktstellen passiert und frei von Schnittpunkten ist, wobei mindestens
eine der Kontaktstellen mit einer Spannungsquelle
verbindbar ist, dass weiter die elektrisch leitende Schicht mit Hilfe einer elektrisch isolierenden Schicht, die die Kontaktstellen freilässt,
maskiert wird; dass an den Kontaktstellen Metall knollen abgelagert werden und dass die Verteilung
709848/0808
PHN 8411
1.4.1977
Ab
in eine Anzahl elementarer Magnetblasenscheiben unter Unterbrechung der elektrischen Verbindungen
zwischen den Kontaktstellen erfolgt.
Die Erfindung bezieht sich weiter auf eine unter Verwendung des erfindungsgemässen
Verfahrens hergestellte Hauptscheibe und eine daraus erhaltene Elementarscheibe sowie auf
eine Hybridschaltung, bei der eine derartige Elementarscheibe über Metallknollen direkt an
ein auf einem Träger angebrachtes Leitersystem befestigt ist.
Die Erfindung wird beispielsweise an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine Draufsicht einer in eine Anzahl von Elementarscheiben zu verteilende Haupt
scheibe in einer bestimmten Phase des erfindungsgemässen Verfahrens,
Fig. 2 schematisch eine Draufsicht einer Elementarscheibe mit einem Magnetblasenspeichersystem ("bubble memory chip").
Fig. 1 zeigt eine Draufsicht einer Hauptscheibe 1, in der eine Anzahl von Elementarscheiben 2, 3, 4, 5 usw. gebildet sind. Die
Elementarscheiben sind mit Mikroschaltungen versehen, von denen eine beispielsweise mit der
709848/0808
PHN 8Ή1 1.4.1977
Bezugsziffer 6 bezeichnet wird. Die Erfindung wird nachstehend an Hand Magnetblasenscheiben
erläutert, aber gilt genau so für Scheiben mit Halbleiterschaltungen und Scheiben mit
Reihen von Dünnfilmköpfen d.h. in Fig. 1 kann die
Mikroschaltung 6 sowohl ein Magnetblasenbehandlungssystem
als eine Halbleiterschaltung als auch eine Reihe von Dünnfilmköpfen darstellen.
Die Herstellung elementarer Magnetblasenscheiben ist.an sich bekannt, siehe beispielsweise
IEEE Transactions on Magnetics, Vol. Mag. -11, No. 5i September 1975, S. 1157...1159t aber
als kennzeichnendes Beispiel'werden nachstehend die bedeutendsten Schritte angegeben.
Eine Hauptscheibe 1 wird durch eine mit Hilfe von Epitaxy aus der flüssigen Phase auf
der (ill) Fläche eines Gadolinium-Gallium-Granatsubstrats
mit einem Querschnitt von 0,5 mm gezüchtete Magnetblasenschicht gebildet (Dicke :
6/um, Zusammensetzung (YSm)„(GaFe)_0 ?), wobei
auf der Magnetblasenschicht eine Quarzzwischen-
schicht von 8000 A aufgesputtert wird. Zur Bildung einer Magnetblasenbehandlungsstruktur
wird auf der mit Quarz bedeckten Magnetblasenschicht eine Schicht von 80$ Ni-20# Fe mit einer
709848/0808
PHN841 1 1.4.1977
272Ü097
Dicke von 4OOO A aufgesputtert (Gegebenenfalls
wird zunächst eine Haftschicht vr>n 100 bis
200 A dick TiO auf der Quarzsbhicht aufgesputters). Über eine Photolackschichtmaske wird in
der Ni-Fe-Schicht ein Muster gebildet (mittels Sputterätzung), das pro Elementarscheibe sowohl
eine Magnetblasenbehandlungsstruktur als auch Leiterspuren sowie Kontaktstellen enthält.(Nachstehend
wird dieser Vorgang an Hand der Fig. 2 erläutert). Im Rahmen der Erfindung wird nunmehr
dafür gesorgt, dass ausserdem ein "im Zick-Zack" verlaufender leitender Streifen 7 die Kontaktstellen
8, 9, 10, 11, 12, 13 und H, 15, 16, 17,
18, 19 zweier angrenzender Elementarscheiben 20 und 21 sowohl gegenseitig als auch miteinander
verbindet. Gleichartige "im Zick-Zack" verlaufende leitende Streifen werden über alle Trennungslinien zwischen benachbarten Elementarscheiben angebracht,
längs denen man Kontakte herstellen möchte. Deutlichkeitshalber sind sie jedoch nicht
alle in der Figur dargestellt. Mit Hilfe der leitenden Streifen werden die Kontaktstellen
spaltenweise miteinander verbunden, wie auch in Fig. 1 dargestellt. (Verbindung pro Zeile ist auch
möglich, und wenn man Kontakte längs aller vier
709848/0808
-1/- PHN
1.4.1977
fa
272ÜU97
Seiten einer Elementarscheibe herstellen möchte, ist es möglich, die Streifen sowohl spaltenweise
als auch Zeilenweise miteinander zu verbinden). Am Rande der Hauptscheibe 1 können spezielle
Kontaktflächen (wie mit der Bezugsziffer 22 bezeichnet) für die Verbindung mit einer externen Spannungsquelle
beim elektrischen Züchten von Metallknollen an den Kontaktstellen gebildet werden.
Auch können derartige spezielle Kontaktflächen (beispielsweise die Kontaktflächen 23, 2k, 25 und
26) in der Mitte der Hauptscheibe 1 gebildet werden, um eine einheitliche Stromverteilung beim
elektrolytischen Wachstumsverfahren zu gewährleisten, übrigens ist es möglich, einen über die
Trennungslinie zweier benachbarter Elementarscheiben "im Zick-Zack" verlaufenden leitenden
Streifen nur die Kontaktstellen auf einer der Elementarscheiben verbinden zu lassen. Siehe
beispielsweise den~Streifen 27 auf der Elementarscheibe
5.
Über die Ni-Fe Schicht wird anschlies- send eine Photolackschichtmaske angebracht, die die
Kontaktstellen 8, 9, 10, 11, 12, 13 und 14, 15,
16, 17, 18, 19 usw. freilässt. Dabei wird die Hauptscheibe 1 in eine Klemme gebracht und in
709848/0808
PHN 8411
1.4.1977
ein elektrolytisches Bad eingetaucht, um Züchten von Metallknollen an den Kontaktstellen zu ermöglichen.
Für das elektrolytische Bad kann ein eutektisches Pb. -Sn^ -Bad benutzt werden.
Gegebenenfalls werden zunächst eine oder mehrere Zwischenschichten aufgebracht.
Schliesslichwird die Photolackschichtmaske entfernt und die Hauptscheibe 1 wird in
Elementarscheiben 2, 3» 4, 5 usw. verteilt, beispielsweise indem an der Rückseite an den gewünschten
Stellen Kratzer gemacht werden, die die Trennungslinien 28, 29, 30 usw. angeben (dabei
ist wichtig, dass das benutzte Gadolinium-Gallium-Granat-Substrat durchsichtig ist) und
dann die Teilung durchzuführen.
Fig. 2 zeigt als Beispiel eine auf oben beschriebene Weise erhaltene Elementarscheibe
31 mit einem aus zwei identischen Untersystemen bestehenden Magnetblasenbehand lux}gsystem, das für die Mikroschaltung 6 nach
Fig. 1 kennzeichnend 1st. In diesem Falle zeigen die Magnetblasenbehandlungs-Untersysteme eine
sogenannte Ober-/Unterschleifen-Organisation ("major-minor loop") mit einer Oberschleife 32»
709848/0808
-1^- PHN 8411
1.4.1977
Si
34, einem Detektor 35 und einem Generator/
Vernichter 36. Für die Verbindung des Untersystems
mit externen Schaltungen sind an den Kontaktstellen 37, 38, 39, 4O, 41, 42 Metallknollen
gezüchtet.
Es-sei bemerkt, dass an den Stellen, an denen in der obigen Beschreibung von Magnetblasenbehandlungsstrukturen
die Rede ist, Strukturen gemäss Fig. 2 gemeint werden, also Kombinationen von Fortpflanzungsschleifen (Ober-/
Unterschleifen), Stromweichen, Generatoren/ Vernichter u. dgl. Bekanntlich werden Fortpflanzungsschleifen
beispielsweise«durch Muster von Ni-Fe in Form sogenannter T-Balken ("T-bars")
und I-Balken (MI"-bars) gebildet. Im betreffenden
Fall sind also auch die kurzen Leiterspuren 43» 44, 45, 46, 47, 48, die zu den Kontaktstellen
37» 38, 39, 40, 41 und 42 führen, in Ni-Fe ausgeführt.
4 8/0808
Claims (1)
- PHN 8k11 l.4.197727200Π7PATENTANSPRUECHEVerfahren.zum Herstellen einer mit einer Mikroschaltung versehenen Elementarscheibe mit einem System von Leiterspuren, das von der Mikroschaltung nach mindestens einem der Ränder der Elementarscheibe führt und dort mit einer Anzahl elektrischer Kontakte versehen ist, wobei eine Hauptscheibe geschaffen wird, in der eine Anzahl in einem regelmässigen Muster geordneterElementarscheiben, die längs künftige Trennungslinien aneinander grenzen, gebildet sind, und wobei auf jeder Elementarscheibe nahe mindestens einer künftigen Trennungslinie eine Anzahl Kontakte in Form an Kontaktstellen abgelagerter Metallknollen angebracht wird, dadurch gekennzeichnet, dass auf jeder Elementarscheibe ein leitender Streifen angebracht wird, der nahe einer gleichen Trennungslinie liegende Kontaktstellen in Serie verbindet und diese Trennungslinie zwisehen jeden zwei aufeinanderfolgende Kontaktstellen mindestens zweimal passiert und frei von Schnittpunkten ist, wobei mindestens eine der Kontaktstellen mit einerSpannungsquelle verbindbar ist ; dass die Seite der Hauptscheibe, an der die Kontaktstellen angeordnet sind, mittels einer7098Α8/08Π8PHN8411 1.4.1977Isolationsschicht, die die Kontaktstellen freilässt, maskiert wird; dass an den Kontaktstellen Metallknollen abgelagert werden und dass die Hauptscheibe längs der Trennungslinien in eine Anzahl von ElemBntarscheiben unter Unterbrechung der elektrischen Verbindungen zwischen den Kontaktstellen verteilt wird.2. . Verfahren; nach Anspruch 1, wobei die Elementarscheiben in Zeilen und Spalten geordnet sind, dadurch gekennzeichnet, dass zeilenweise bzw. spaltenweise die Kontaktstellen benachbarter Elementarscheiben: fluchtend angebracht und die sie verbindenden leitenden Streifen miteinander verbunden werden.3· Verfahren^nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,dass je Zeilenpaar bzw. je Spaltenpaar auf jeden zwei angrenzendem Blementarscheiben nahe ihrer künftigen Trennungslinie eine Reihe von Kontaktstellen angebracht wird, die derart von einem leitenden Streifen verbunden werden, dass im Prinzip jede Kontaktstelle auf einer Scheibe mit zwei angrenzenden Kontaktstellen auf der anderen Scheibe verbunden ist.k. Verfahren nach Anspruch 2 oder 31 dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktstellen709848/0808FHN 84 11 1.4.1977zeilenweise bzw. spaltenweise mit einem am Rand der Hauptscheibe angebrachten, mit einer Spannungsquelle verbindbaren Leiter verbunden werden.
5· Verfahren! nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass an definierten Stellen der Hauptscheibe mit den Kontaktstellen verbundene Kontaktflächen für direkte Verbindung mit einer Spannungsquelle, angebracht werden.6. Verfahren nach Anspruch 1, 2, 3» 4 oder 5» dadurch gekennzeichnet, dass die Hauptscheibe aus durchsichtigem Werkstoff gebildet wird, und dass die Verteilung in Elementarscheiben über Trennungslinien an der Seite der Hauptscheibe gegenüber der Seite erfolgt, an der die Kontaktsteilem angebracht werden.7. Verfahren nach Anspruch 1, 2, 3ι 4, oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterspuren, die leitenden Streifen und die Kontaktstellen aus gleichem elektrisch leitendem Werkstoff bestehen, der in einem einzigen Verfahrenschritt angebracht wird.8. Verfahren zum Herstellen einer Magnetblasenelementarscheibe mit einer Magnetblasenbehandlungsstruktur und mit einem nach mindestens709848/0808PHN 8*H1 1.4.1977einem Rand der Scheibe gehenden System von Leiterspuren, das nahe diesem Rand mit einer Anzahl elektrischer Kontakte für die Verbindung mit aternen Schaltungen versehen ist, wobei ein nicht magnetisches Substrat geschaffen wird, auf dem eine anisotrope magnetische Schicht, in der Magnetblasen aufrechterhalten werden können, gezüchtet wird, und wobei auf der magnetische Schicht eine Schicht aus Weichmagnetischem, elektrischleitendem, Material angebracht wird, dadurch gekennzeichnet, dass aus der wecfimagnetischen,elektrisch leitenden Schicht durch Ätzen Magnetblasenbehandlungsstrukturen für eine Anzahl elementarer Magnetblasenelementarscheiben, die längs künftiger Trennungslinien aneinander grenzen, zusammen mit Leiterspuren und Kontaktstellen gebildet werden, wobei auf jeder Magnetblaseneletnentarscheibe nahe mindestens einer künftigen Trennungslinie eine Anzahl von Kontaktstellen.-.gebildet wird, die in Serie mittels eines leitenden Streifens verbunden werden, der die erwähnte Trennungslinie mindestens zweimal zwischen zwei aufeinanderfolgenden Kontaktstellen passiert und frei von Schnittpunkten ist, wobei mindestens eine der Kontaktstellen mit einer709848/0808PHN 8411 1.4-1977272ÜÜ97Spannungsquelle verbindbar ist, dass weiter die elektrisch leitende Schicht mit Hilfe einer elektrisch isolierenden Schicht, die die Kontaktstellen freilässt, maskiert wird; dass an den Kontaktstellen Metallknollen abgelagert werden, und dass Verteilung in eine Anzahl Magnetblasenelementarscheiben unter Unterbrechung der elektrischen Verbindungen zwischen den Kontaktstellen.erfolgt.9· Elementarscheibe die unter Verwendung eines der Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 7 hergestellt ist.10. Hauptscheibe, in der eine Aazahl nach einem regelnlässigen Muster geordneter EIementarscheiben, die längs künftiger Trennungslinien aneinander grenzen, gebildet sind und wobei jede Elementarscheibe mit einem System vun Leiterspuren versehen ist, das von einer auf der betreffenden Scheibe angebrachten Mikroschaltung nach mindestens einem von den erwähnten Trennungslinien definierten Rand führt und dort mit einer Anzahl elektrischer Kontakte versehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass auf jeder Elementarscheibe ein leitender Streifen angebracht ist, der nahe dem gleichen Rand liegende Kontaktstellen in Serie709848/0808PHN 8411 1.4.1977verbindet und der die den erwähnten Rand definierende" Trennungslinie zwischen jeden zwei aufeinanderfolgenden Kontaktstellen mindestens zweimal passiert und frei von Schnittpunkten ist, und dass an den Kontaktstellen Metallknollen abgelagert worden sind. 11. Elementarscheibe, die durch Verteilung längs der Trennungslinien aus einer Hauptscheibe nach Anspruch 10 hergestellt ist. 12. Hybridschaltung, bei der eine Elementarscheibe nach Anspruch 11 über die Metallknollen direkt an einem auf einem Träger angebrachten Leitersystenu befestigt ist.709848/0808
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7605233A NL7605233A (nl) | 1976-05-17 | 1976-05-17 | Van een micro circuit voorziene elementaire schijf met electrolytisch aangegroeide soldeerbollen alsmede werkwijze voor het vervaardigen daarvan. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2720097A1 true DE2720097A1 (de) | 1977-12-01 |
Family
ID=19826203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19772720097 Ceased DE2720097A1 (de) | 1976-05-17 | 1977-05-05 | Mit einer mikroschaltung versehene elementarscheibe mit elektrolytisch gezuechteten metallknollen sowie verfahren zum herstellen einer derartigen scheibe |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS52140277A (de) |
AU (1) | AU2514777A (de) |
BE (1) | BE854701A (de) |
BR (1) | BR7703144A (de) |
DE (1) | DE2720097A1 (de) |
ES (1) | ES458814A1 (de) |
FR (1) | FR2352468A1 (de) |
GB (1) | GB1577226A (de) |
IT (1) | IT1074890B (de) |
NL (1) | NL7605233A (de) |
SE (1) | SE7705615L (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3414961A1 (de) * | 1983-04-21 | 1984-10-25 | Sharp K.K., Osaka | Verfahren zum bonden von lsi-chips auf einen anschlusssockel |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3484341A (en) * | 1966-09-07 | 1969-12-16 | Itt | Electroplated contacts for semiconductor devices |
CA929675A (en) * | 1972-02-16 | 1973-07-03 | A. Hamer Colin | Fabrication of beam leads |
US3926746A (en) * | 1973-10-04 | 1975-12-16 | Minnesota Mining & Mfg | Electrical interconnection for metallized ceramic arrays |
JPS5441181B2 (de) * | 1973-11-08 | 1979-12-07 | ||
FR2263577B1 (de) * | 1974-03-08 | 1978-07-07 | Tecsi Tech Systemes Inf | |
JPS5548390B2 (de) * | 1974-03-11 | 1980-12-05 |
-
1976
- 1976-05-17 NL NL7605233A patent/NL7605233A/xx not_active Application Discontinuation
-
1977
- 1977-05-05 DE DE19772720097 patent/DE2720097A1/de not_active Ceased
- 1977-05-13 IT IT23577/77A patent/IT1074890B/it active
- 1977-05-13 GB GB20197/77A patent/GB1577226A/en not_active Expired
- 1977-05-13 SE SE7705615A patent/SE7705615L/xx unknown
- 1977-05-14 ES ES458814A patent/ES458814A1/es not_active Expired
- 1977-05-16 BR BR3144/77A patent/BR7703144A/pt unknown
- 1977-05-16 AU AU25147/77A patent/AU2514777A/en not_active Expired
- 1977-05-16 BE BE177630A patent/BE854701A/xx unknown
- 1977-05-16 JP JP5555177A patent/JPS52140277A/ja active Pending
- 1977-05-17 FR FR7715056A patent/FR2352468A1/fr active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3414961A1 (de) * | 1983-04-21 | 1984-10-25 | Sharp K.K., Osaka | Verfahren zum bonden von lsi-chips auf einen anschlusssockel |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT1074890B (it) | 1985-04-20 |
BR7703144A (pt) | 1978-02-08 |
NL7605233A (nl) | 1977-11-21 |
JPS52140277A (en) | 1977-11-22 |
SE7705615L (sv) | 1977-11-18 |
BE854701A (fr) | 1977-11-16 |
AU2514777A (en) | 1978-11-23 |
FR2352468A1 (fr) | 1977-12-16 |
ES458814A1 (es) | 1978-08-01 |
GB1577226A (en) | 1980-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2459532C2 (de) | Anordnung mit mehreren, parallel angeordneten mikroelektronischen Bauelementen scheibenförmiger Gestalt und Verfahren zur Herstellung der Kontaktbereiche einer solchen Anordnung | |
DE1298630C2 (de) | Integrierte schaltungsanordnung | |
DE2843144C2 (de) | ||
DE2945533A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines verdrahtungssystems und mit einem derartigen verdrahtungssystem versehene halbleiteranordnung | |
DE3117950A1 (de) | Planare duennfilmtransistoren, transistoranordnungen und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE2752438A1 (de) | Anordnung fuer das packen von monolithisch integrierten halbleiterschaltungen | |
DE69627562T2 (de) | Dünnfilmmagnetkernwicklung | |
DE2553754A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines magnetischen einzelwanddomaenensystems mit hoher domaenenpackungsdichte | |
DE2950943A1 (de) | Mehrkanal-magnetwandlerkopf und verfahren zu dessen herstellung | |
DE3817600A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE2636971C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer isolierenden Schicht mit ebener Oberfläche auf einer unebenen Oberfläche eines Substrats | |
DE3603039C2 (de) | ||
DE2713532A1 (de) | Verfahren zur herstellung von ober- und unterhalb einer erdungsebene, die sich auf einer seite eines substrats befindet, verlaufenden verdrahtungen | |
DE1764378C3 (de) | Integrierte Randschichtdiodenmatrix und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
EP0167732B1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Basismaterials für eine Hybridschaltung | |
DE1564066B2 (de) | Verfahren zur Herstellung von elektrischen Verbindungen zu Kontaktschichten an der Oberfläche des Halbleiterkörpers von Halbleiteranordnungen | |
DE2720097A1 (de) | Mit einer mikroschaltung versehene elementarscheibe mit elektrolytisch gezuechteten metallknollen sowie verfahren zum herstellen einer derartigen scheibe | |
DE3445690A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines substrates mit einem oder mehreren durchgehenden loechern | |
US4134801A (en) | Terminal connections on microcircuit chips | |
DE3530578A1 (de) | Struktur zur qualitaetspruefung einer substratscheibe aus halbleitermaterial | |
DE3007046A1 (de) | Mehrspuren-duennfilmmagnetkopf | |
DE2522861C3 (de) | Verfahren zum Herstellen eines magnetischen Wiedergabekopfes | |
DE3522168C2 (de) | Verfahren zum Masseverbinden von planaren Bauelementen und integrierten Schaltkreisen | |
DE3622223A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines elektronischen netzwerkbausteins | |
DE19755961A1 (de) | Gekoppelte Leitung und Verfahren zum Herstellen derselben |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
8131 | Rejection |