DE2701200C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen piezoelektrischen
Schwinger nach dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Auf den wichtigsten Anwendungsgebieten der
Schwinger ist es erwünscht, einen Schwinger zu ver
wenden, dessen Frequenz ausreichend nahe an einem
"runden" Wert liegt (beispielsweise 5 MHz, 25 MHz, 100
MHz...). Man ist daher bestrebt, bei der Herstellung
des Schwingers eine Frequenzeinstellung vornehmen zu
können, um die Frequenz auf einen vorgegebenen Wert
zu bringen. Dieser Vorgang wird als "Frequenzeinstel
lung" bezeichnet. Bisher verfährt man so: Man bringt
zunächst die Elektroden durch Metallauftrag auf dem
Quarz auf; dann befestigt man den Kristall und schließ
lich trägt man, im allgemeinen durch Aufdampfen im
Vakuum, einen zusätzlichen Metallauftrag auf, der eine
Frequenzeinstellung bewirkt; die Frequenz nimmt in
gleichem Maße ab wie die Menge des aufgetragenen
Metalls zunimmt. Dieser Vorgang der Frequenzeinstel
lung ist aus folgenden Gründen mit Schwierigkeiten
verbunden:
Man ist bestrebt, den Schwinger auf eine Frequenz einzustellen, die für seine Inversionstemperatur gege ben ist, die nicht die Temperatur des Kristalls während der Frequenzeinstellung ist (diese letztere Temperatur ist außerdem unzureichend bekannt), es ist sehr schwie rig, den Metallauftrag zu kontrollieren.
Man ist bestrebt, den Schwinger auf eine Frequenz einzustellen, die für seine Inversionstemperatur gege ben ist, die nicht die Temperatur des Kristalls während der Frequenzeinstellung ist (diese letztere Temperatur ist außerdem unzureichend bekannt), es ist sehr schwie rig, den Metallauftrag zu kontrollieren.
Diese Gründe führen dazu, daß es sehr schwierig ist,
eine Frequenzeinstellung besser als ± 10-6 durchzufüh
ren, beispielsweise 10 Hz für eine Frequenz von 5 MHz.
Es ist heute aber erwünscht, eine noch genauere Fre
quenzeinstellung durchführen zu können. Neben dem
Verfahren des zusätzlichen Aufdampfens von Metall im
Vakuum ist es möglich, eine Frequenzeinstellung bei
spielsweise in einem elektrolytischen Bad oder durch
kathodische Pulverisierung zu erreichen, wobei das letz
tere Verfahren im eingebauten oder nicht eingebauten
Zustand durchgeführt werden kann. Diese Verfahren
ermöglichen jedoch keine Frequenzeinstellung besser
als ± 10-6. Ein anderes Verfahren zur Frequenzeinstel
lung besteht darin, die Frequenz eines Schwingers da
durch zu erhöhen, daß man etwas Metall der Elektrode
mittels einer Laserstrahlung verdampft, die auf die Elek
trode fokussiert wird. Dieses genaue Verfahren ist je
doch nur bei nicht geglätteten Quarzkristallen anwend
bar und kann nicht bei Schwingern mit Metallgehäusen
angewendet werden. Außerdem wird die Langzeitstabi
lität durch eine derartige Bearbeitung beeinträchtigt,
weil die Atmosphäre des Schwingers die aus der Elek
trode herausgerissenen Teilchen enthält und weil der
Quarzkristall örtlich beschädigt werden kann. Man er
kennt, daß alle Verfahren zur Frequenzeinstellung ab
hängig von dem Aufbau des Schwingers mit am Quarz
angebrachten Elektroden entweder im eingebauten Zu
stand durchgeführt werden müssen, was zu einer Alte
rung führt, oder unter Zuständen durchgeführt werden
müssen, die schwierig in bezug auf die Arbeitsbedingun
gen des Schwingers auszurichten sind, was die Genauig
keit der Frequenzeinstellung beeinträchtigt.
Seit der Entwicklung des ersten Quarzschwingers von
W. G. LADY im Jahre 1921 wurden Systeme mit nicht
anhängenden Elektroden oft verwendet. Die erhaltenen
Eigenschaften waren jedoch viel schlechter als die Ei
genschaften von Schwingern mit anhängenden Elektro
den, wie sie heute praktisch ausschließlich verwendet
werden.
Eine Ausführungsform eines Schwingers mit nicht an
hängenden Elektroden ist in einem Artikel von A. G.
SMAGIN beschrieben, erschienen in der Zeitschrift
"Pribory i Technika EKSPERIMENTA" Nr. 6, Seiten
143-145 von Nov./Dez. 1974. Dieser Schwinger mit
nicht anhängenden Elektroden, der für Forschungen bei
niedrigen Temperaturen verwendet wurde, macht Ge
brauch von ungeteilten Kristallen und hat einen erheb
lich verbesserten Gütegrad. Dieses Ergebnis dürfte je
doch mit den im allgemeinen verfügbaren Kristallen
nicht zu erreichen sein. Außerdem weist der in der ge
nannten Zeitschrift beschriebene Schwinger eine
Quarzlinse von 1,82 mm Dicke auf, die an vier annä
hernd sphärischen Berührungsflächen getragen wird
und zwischen zwei im Abstand von 6 mm angeordneten
ebenen Elektroden angeordnet ist, die von zwei dielek
trischen Platten getragen werden, die durch eine um
diese Platten angeordnete Krone zusammengehalten
werden. Da der Abstand zwischen den Elektroden ver
hältnismäßig wichtig ist, ist der Bewegungswiderstand
groß; die Kapazität Cg entsprechend dem Spalt zwi
schen dem Kristall und den Elektroden liegt in der Grö
ßenordnung von Picofarad, was eine elektrische Fre
quenzeinstellung durch Reihenschaltung eines Konden
sators sehr schwierig macht. Außerdem besteht bei ei
nem Schwinger mit nicht am Kristall anhängenden Elek
troden der oben beschriebenen Bauart im Gegensatz zu
bekannten Schwingern mit am Kristall anhängenden
Elektroden keine Möglichkeit einer bequemen Fre
quenzeinstellung.
In der US-PS 33 39 091 wird ein Quarzschwinger mit
nicht am Kristall anhängenden Elektroden beschrieben,
der ein Gehäuse aus Quarz aufweist, das aus zwei Plat
ten besteht, die die Elektroden tragen, wobei im Inneren
dieses Gehäuses ein Quarzkristall zwischen den beiden
Platten mittels eines kreisringförmigen Umfangsteils
gehalten wird, der mit dem aktiven Mittelteil des Kri
stalls über vier Brücken verbunden ist, die jeweils zu
zweit diametral entgegengesetzt angeordnet und in
zwei konzentrischen kreisförmigen Nuten vorgesehen
sind. Diese Ausführungsform hat dieselben Nachteile
wie der von A. G. SMAGIN beschriebene Schwinger,
und zwar in dem Maße, wie die Elektroden an den äuße
ren Flächen der Platten angeordnet sind, weil der Ab
stand zwischen den Elektroden außerordentlich wichtig
ist. Der Kristall hat daher eine sehr hohe Impedanz, die
seine Verwendung in einem Oszillator schwierig macht;
eine Frequenzeinstellung durch Hinzufügung einer äu
ßeren veränderbaren Kapazität mit niedrigem Wert in
Reihe mit dem Schwinger ist nicht möglich, weil die
Kapazität Cg zwischen den Elektroden des Schwingers
selbst sehr niedrig ist. Da der Abstand zwischen jeder
der Elektroden und der aktiven Fläche des Kristalls von
großem Einfluß ist, erweist sich eine Frequenzeinstel
lung durch Veränderung der geometrischen Parameter
des Schwingers besonders schwierig und wenig wirk
sam. Da die Tragplatten aus Quarz, die in dem Zwi
schenraum zwischen den Elektroden angeordnet sind,
ebenso an den Schwingungen des Schwingers teilneh
men, bewirken sie einen erheblichen Rauschpegel.
Schließlich ist eine Vorrichtung, wie sie oben beschrie
ben wurde, besonders anfällig für Änderungen des
Drucks des Mediums, in dem der Schwinger angebracht
ist.
Aufgabe der Erfindung ist es, die genannten Nachteile
zu beseitigen und insbesondere einen piezoelektrischen
Schwinger zu schaffen, der verbesserte Stabilitäten bei
mittleren und langen Zeiten aufweist sowie einen sehr
verbesserten Gütegrad, und der eine genaue und leichte
Frequenzeinstellung ermöglicht.
Die Aufgabe wird durch den Gegenstand des Anspru
ches 1 gelöst. Die Erfindung bringt den Vorteil, daß ihre
Kurzzeitstabilität (Zeitraum zwischen 1 und 10 sec.)
10-13 bis 10-12 erreicht, Langzeitstabilität (Zeitraum in
der Größenordnung eines Tages) 5×10-12 erreicht und
eine Beschleunigungsempfindlichkeit von 2×10-10/g
besitzt.
Durch diesen Aufbau erhält der Schwinger einen ver
besserten Gütegrad, insbesondere dadurch, daß die
Elektroden nicht am Kristall angebracht sind; außerdem
ist die Stabilität in Abhängigkeit von der Zeit verbes
sert; der Schwinger ermöglicht eine sehr genaue Fre
quenzeinstellung durch Veränderung des Abstands min
destens einer der Elektroden zu dem aktiven Teil des
Kristalls. Dies wird in einfacher Weise durch Schleifen
oder chemische Bearbeitung des dielektrischen Ringes
bewirkt, der das Abstandsteil zwischen den beiden di
elektrischen Scheiben bildet, an denen die Elektroden
angebracht sind, wodurch eine Frequenzeinstellung mit
einer Genauigkeit von besser als ± 10-7 möglich ist.
Dieses Verfahren zur Frequenzeinstellung, das bei den
bekannten Schwingern wegen ihrem Aufbau nicht mög
lich ist, und zwar sowohl bei der Anbringung der Elek
troden am Kristall oder nicht am Kristall, hat insbeson
dere den Vorteil, daß es bei der genau meßbaren Umge
bungstemperatur erfolgt. Außerdem gibt die Anwesen
heit eines Abstandsteils in Form des Ringes, der den
Abstand zwischen den beiden Scheiben bestimmt, eine
genaue Möglichkeit zur Anderung der Abmessungen
des Schwingeraufbaus ohne Berührung des aktiven
Teils des Kristalls.
Da die Höhe des Abstandsringes so ist, daß die freien
Spalten zwischen dem aktiven Teil des Kristalls und der
ersten bzw. zweiten Elektrode eine Breite von weniger
als einigen zehn Mikron und vorzugsweise weniger als
ein Mikron haben, hat der erfindungsgemäße Schwinger
einen niedrigen Bewegungswiderstand und eine große
Kapazität Cg entsprechend dem Spalt zwischen dem
Kristall und den Elektroden); eine wirksame Beeinflus
sung der Eigenschaften des Schwingers kann mittels des
Rings erreicht werden.
Die Flächen der ersten und zweiten Scheibe, auf de
nen die erste bzw. zweite Elektrode angebracht ist, kön
nen eben oder nichteben sein.
Der Krümmungsradius mindestens einer der Flächen
der ersten oder zweiten Scheibe, auf denen die erste
bzw. zweite Elektrode angebracht ist, kann unterschied
lich sein zu dem Krümmungsradius der entsprechenden
Fläche des gegenüber liegenden Kristalls.
Die beiden Scheiben bestehen vorzugsweise aus Sili
ziumdioxid.
Nach einer ersten Ausführungsform der Erfindung ist
vorgesehen, daß die Scheibe, an der der Kristall aufge
hängt ist, von zwei etwas konischen Löchern durch
bohrt ist, in denen zwei metallische Hohlkörper dersel
ben Konizität wie die Löcher und mit aufgerauhter Au
ßenfläche versehen angeordnet sind, und daß dünne me
tallische Bänder, die an der Umfangsfläche des Kristalls
befestigt sind, in den Hohlkörpern aufgenommen und an
diesen derart angeschweißt bzw. angelötet sind, daß die
Aufhängung des Kristalls in bezug auf die Scheibe si
chergestellt ist.
Die metallischen Hohlkörper bestehen vorzugsweise
aus Nickel. Die dünnen Metallbänder, vorzugsweise aus
Nickel, können an der Umfangsfläche des Kristalls
durch Thermokompression, mittels eines Klebstoffs, ei
nes elektrolytischen Auftrags oder durch Lötung befe
stigt sein. Die konischen Löcher entsprechen vorzugs
weise Kegeln mit einem Konuswinkel im Bereich von
1°.
Der Abstandsring kann vorzugsweise aus Silicium
dioxid bestehen. Der Ring kann ebenfalls piezoelek
trisch sein und mit Elektroden versehen sein, die durch
Metallauftrag auf seine beiden Frontflächen aufge
bracht sind, so daß die Dicke des Ringes leicht veränder
bar ist durch Anlegen einer elektrischen Spannung an
die Elektroden. Die Dicke des Abstandsringes kann
auch durch elastische Verformung leicht veränderbar
sein.
Nach einer besonderen Ausführungsform der Erfin
dung ist mindestens diejenige Scheibe, an der der
Quarzkristall aufgehängt ist, aus Quarz, und die Aufhän
gevorrichtung des Kristalls in bezug auf diese Scheibe
weist mehrere örtliche Thermokompressionen auf, die
an den Flächen des Kristalls und der Tragscheibe ausge
führt sind, die einander zugekehrt sind.
Diese Ausführungsform der Aufhängung des Kristalls
in bezug auf eine Tragscheibe, anwendbar im Rahmen
eines Schwingers mit unabhängigem Abstandsring, ist
besonders einfach und wirksam auszuführen. Man benö
tigt keinen metallischen Einsatz oder ein Aufhängeband.
Wenn die Scheibe, an der der Quarzkristall aufgehängt
ist, aus Quarz besteht, und zwar vorzugsweise derselben
Ausrichtung wie der Kristall, führen die Thermokom
pressionen nicht zu unzulässigen thermischen Spannun
gen.
Gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfin
dung wird der Abstandsring, der den aktiven Mittelteil
des Kristalls im Abstand umgibt und den Abstand zwi
schen der ersten und der zweiten Scheibe bestimmt,
durch ein Umfangsteil des Kristalls selbst gebildet, wo
bei der Zwischenteil des Kristalls, der zwischen dem
aktiven Mittelteil und dem Umfangsteil angeordnet ist
und den Ring bildet, mindestens auf einen Teil des Ab
stands zwischen dem aktiven Mittelteil und dem Um
fangsteil eine gegenüber der Dicke des Mittelteils und
des Umfangsteils verringerte Dicke aufweist; die Auf
hängevorrichtung für den Kristall wird durch den Zwi
schenteil und den Umfangsteil des Kristalls gebildet.
Vorzugsweise sind Ausnehmungen durch Ultraschall
bearbeitung in dem eingeschnürten Zwischenteil des
Kristalls derart vorgenommen, daß der Umfangsteil des
Kristalls mit dem Mittelteil des Kristalls durch eine be
grenzte Anzahl von Brücken verbunden ist, die durch
die nicht weggenommenen Teile des Zwischenteils ge
bildet werden.
Bei einer derartigen Ausführungsform, bei der der
Kristall selbsttragend ist, kann keine Metalldiffusion in
den Kristall erfolgen. Außerdem ist dieser Aufbau be
sonders vorteilhaft hinsichtlich des Gütegrades und hin
sichtlich des Alterns des Schwingers, weil einerseits der
Kristall durch ein Teil getragen wird, das sehr weit von
der Zone der Energieumsetzung entfernt ist, und weil
andererseits die Befestigung des Kristalls ohne Verwen
dung irgendeines gegenüber dem Kristall fremden Ele
ments erfolgt, das zwangsläufig eine Alterung bewirken
würde (beispielsweise eine Metalldiffusion). Außerdem
ist es mit einer derartigen Aufhängungsart des Kristalls
möglich, sehr kleine Kristalle zu verwenden mit sehr
hoher Frequenz, die beispielsweise durch Ionenbearbei
tung geformt werden.
Außerdem macht die selbsttragende Ausführung des
Kristalls Thermokompressionen oder irgendwelche Be
festigungen am Kristall, beispielsweise durch Klebung,
überflüssig.
Die Ausführung der Ausnehmungen und Einschnü
rungen im Zwischenteil des Kristalls ermöglicht eine
mechanische Anpassung zwischen dem unbeweglichen
Umfangsteil des Kristalls und dem aktiven Mittelteil,
das schwingen kann. Dieser Aufbau bewirkt auch eine
ausgezeichnete Stoßunempfindlichkeit.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgese
hen, daß die Vorrichtung, die die aus der ersten und
zweiten Scheibe gebildete Baugruppe in ihrer Stellung
im Inneren der Dose hält, mechanische Klemmorgane
aufweist, die auf diejenigen Flächen in Umfangszonen
der ersten und zweiten Scheibe wirken, die dem Kristall
nicht zugekehrt sind, so daß die jeweils auf den Kristall
ausgeübte Druckkraft sich auf diejenigen Zonen des
Umfangsteils des Kristalls auswirkt, die in Verlängerung
der Verbindungsbrücken zwischen dem Mittelteil und
dem Umfangsteil liegen.
So können die Abstützungen ferne von den Aufhän
gungspunkten vorgesehen werden, die durch die Kri
stallbrücken gebildet werden, die zwischen den Ausneh
mungen liegen. Die aufgebrachten Stützkräfte können
auch auf den Scheiben verlagert werden und die Bean
spruchungen, denen der Umfangsteil des Kristalls aus
gesetzt ist, können derart verändert werden, daß die
Spannungen, denen der aktive Teil des Kristalls ausge
setzt ist, wesentlich verringert werden.
Die in dem Zwischenteil liegenden Abschnitte des
Quarzkristalls können in beliebiger Weise schmaler ge
staltet, mit Ausnehmungen versehen oder eingeschnürt
werden, um eine mechanische Anpassung an die
Schwingbewegungen des Kristalls zu erreichen.
In Ausgestaltung des Erfindungsgedankens ist vorge
sehen, daß bei mindestens einer der ersten und zweiten
Scheibe der Flächenabschnitt, der die Elektrode trägt
und gegenüber dem Mittelteil und Zwischenteil des Kri
stalls angeordnet ist, in bezug auf den Umfangsteil die
ser Fläche zurückgesetzt ist, der in Berührung steht mit
dem Umfangsteil des Kristalls, und eine Vertiefung bil
det, deren Tiefe zwischen einigen Zehntel Mikron und
einigen zehn Mikron beträgt.
Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung besteht
darin, daß bei mindestens einer der Flächen des Kristalls
der Flächenabschnitt, der dem Mittelteil und dem Zwi
schenteil des Kristalls entspricht, in bezug auf den Ab
schnitt dieser Fläche zurückgesetzt ist, der dem Um
fangsteil entspricht und mit der ersten und der zweiten
Scheibe in Berührung steht, und eine Vertiefung bildet,
deren Tiefe zwischen einigen Zehntel Mikron und eini
gen zehn Mikron liegt.
Die vorstehend genannten Merkmale sind von Be
deutung für die Frequenzeinstellung, die vorzugsweise
durch Schleifen mindestens einer der Kristallflächen er
folgt, um den Abstand zwischen dem Kristall und min
destens einer der Elektroden zu verändern. Die Verän
derung der Dicke des Quarzkristalls kann allein an dem
Umfangsteil durch Schleifen erfolgen. Dies ermöglicht
eine Feineinstellung mit einer Genauigkeit der Fre
quenzeinstellung, die in der Größenordnung von 1 Hz/
Mikron liegt. In diesem Fall ist es natürlich erforderlich,
daß die geschliffene Kristallfläche eine Vertiefung in
ihrem mittleren Teil und ihrem Zwischenteil aufweist.
Die Veränderung der Dicke des Kristallquarzes kann
auch auf einer ganzen Fläche erfolgen, und zwar zu
gleich am Mittelteil, am Zwischenteil und am Umfangs
teil, beispielsweise durch chemische Bearbeitung oder
ebenfalls durch Schleifen. Dies ermöglicht eine schnelle
Grobeinstellung der Frequenz in der Größenordnung
von einigen tausend Hz pro Mikron. Die Frequenzein
stellung kann auch durch Einwirkung auf mindestens
eine der Scheibe erfolgen, insbesondere wenn diese eine
Vertiefung in ihrem Mittelteil aufweist. Die Frequenz
einstellung erfolgt durch Schleifen des Umfangsteils der
Scheibe, der dem Umfangsteil des Kristalls zugekehrt
ist. Man kann auch die Frequenz dadurch einstellen, daß
man eine Scheibe unter einer Gruppe von vorher vorbe
reiteten kalibrierten Scheiben auswählt, die in ihrem
Mittelteil mit Vertiefungen unterschiedlicher Abmes
sungen versehen sind.
Wenn der piezoelektrische Schwinger mit nicht am
Kristall angebrachten Elektroden einen Quarzkristall
aufweist, wie dies allgemein der Fall ist, kann erfin
dungsgemäß ebenfalls Quarz als Material gewählt wer
den für eine oder beide Platten, die den Kristall tragen,
ebenso ggf. auch für den Abstandsring, der das Ab
standsteil zwischen den Scheiben bildet, wenn dieser
vom Kristall unabhängig ist. Die weitere Beschreibung
bezieht sich systematisch auf den Fall, wo der piezoelek
trische Kristall ein Quarzkristall ist, jedoch erstreckt
sich die Erfindung auch auf Schwinger, bei denen der
Quarz durch ein geeignetes äquivalentes piezoelektri
sches Material ersetzt ist.
Die die Elektroden tragenden Scheiben oder Platten
können in sehr unterschiedlicher Weise hergestellt wer
den. Die Platten bestehen vorzugsweise aus einem di
elektrischen Material, wie beispielsweise Siliziumdioxid.
Im Rahmen besonderer Anwendungsfälle können die
eine oder die andere Platte ganz oder teilweise aus ei
nem mehr oder weniger leitenden Material hergestellt
sein, um ein Teil zu bilden, das erhitzt werden kann,
beispielsweise durch Induktionsströme.
In der Mehrzahl der Anwendungsfälle ist es jedoch
erwünscht, die thermischen Spannungen in dem Kristall
möglichst weitgehend zu verringern. Diese Spannungen
werden verursacht durch unterschiedliche Ausdeh
nungskoeffizienten des Kristalls und der die Elektroden
und den Kristall tragenden Scheiben. Indem man für
eine oder beide den Kristall tragenden Scheiben dassel
be Material wie für den Kristall verwendet, verringert
man die thermischen Spannungen in dem Kristall.
Um die thermischen Spannungen noch weiter herab
zusetzen, hat vorzugsweise die Scheibe oder haben die
Scheiben aus Quarz dieselbe kristallographische Aus
richtung wie der Quarzkristall, der zwischen der ersten
und der zweiten Scheibe angeordnet ist. Mit anderen
Worten, es ist vorteilhaft, um die thermischen Spannun
gen herabzusetzen und die Stabilität des Schwingers zu
erhöhen, wenn der Winkel α zwischen den Projektionen
der Achsen ZZ′ des Quarzkristalls und der Tragscheibe
aus Quarz Null ist. Dieser Zustand ist jedoch nicht unbe
dingt erforderlich.
Wenn der Kristall zugleich an der ersten und der
zweiten Scheibe aufgehängt ist, wie es der Fall ist, wenn
der Kristall an seinem Umfangsteil aufgehängt ist, ist es
besonders vorteilhaft, wenn auch nicht zwingend not
wendig, wenn die erste und die zweite Scheibe aus dem
selben Material bestehen wie der Kristall und vorzugs
weise dieselbe Kristallausrichtung haben wie der dazwi
schen liegende Kristall.
Um die Eigenschaften noch zu verbessern, kann man
die erste und die zweite Tragscheibe und den dazwi
schen liegenden Kristall aus demselben Ursprungskri
stall herstellen.
Bei einem Quarzschwinger mit nicht anhängenden
Elektroden der erfindungsgemäßen Bauart ist es vor
teilhaft, die Abstände Elektroden-Kristall, die sehr ge
ring sind, beispielsweise in der Größenordnung von ein
Mikron bis mehreren zehn Mikron zu wählen oder so
gar zwischen einigen Zehntel Mikron bis mehreren Mi
kron. Man verbessert dabei den Überspannungskoeffi
zient und verringert den Bewegungswiderstand. Wenn
der Kristall zwischen der ersten und zweiten Scheibe an
seinem Umfangsteil aufgehängt ist, sieht man vorzugs
weise in dem die Elektroden tragenden mittleren Be
reich der Siliziumscheiben eine Vertiefung in der Grö
ßenordnung von einem Mikron bis einigen zehn Mikron
vor, so daß die Elektrode, die durch Metallauftrag in der
Vertiefung der Scheibe hergestellt ist, in diesem Ab
stand zum Kristall angeordnet ist. Dieser Rücksprung
kann entweder so hergestellt werden, daß er parallel zur
Scheibenfläche verläuft, oder er kann durch Schleifen
der Scheibenfläche mit zwei unterschiedlichen Krüm
mungsradien für den Mittelteil und den Umfangsteil
hergestellt werden. In diesem Fall ist der Krümmungs
radius des Umfangsteils der Scheibe gleich dem Krüm
mungsradius der Quarzkristallfläche, die gegenüber
liegt, während der Krümmungsradius des Mittelteils der
Scheibe etwas kleiner ist.
Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung
kann ein sehr kleiner Abstand Elektrode-Kristall in ein
facher Weise und mit großer Genauigkeit erreicht wer
den, ohne daß die Fläche der Scheibe, auf der die Elek
trode angebracht ist, geschliffen werden müßte zur Er
zeugung einer Vertiefung. Dies wird erfindungsgemäß
dadurch erreicht, daß die dem Kristall zugekehrte Flä
che mindestens einer der Scheiben auf mindestens ei
nem Teil ihres Umfangs, der dem Umfangsteil des Kri
stalls zugekehrt ist, eine dünne Metallschicht aufweist
mit einer dünnen Nickelschicht.
Die dünne Metallschicht kann durch Aufdampfen auf
die entsprechende Scheibe aufgebracht werden, wäh
rend die dunne Nickelschicht durch Elektrolyse auf die
se dünne Metallschicht aufgetragen werden kann.
Es ist festzustellen, daß die Anwesenheit einer derar
tigen Beschichtung des Umfangs der Flächen der einen
oder der beiden Scheiben, die dem Umfangsteil des Kri
stalls zugekehrt sind, in einfacher und bequemer Weise
die Herstellung eines sehr kleinen Spalts zwischen der
Elektrode und dem Kristall ermöglicht, ohne daß eine
weitere mechanische oder chemische Bearbeitung der
Fläche des Kristalls oder der Scheiben nötig ist, wobei
diese Beschichtung zugleich eine Rolle als Dämpfer für
mögliche Stöße spielt.
In weiterer Ausgestaltung des Erfindungsgedankens
können die Restspannungen an den Aufhängungspunk
ten des Kristalls beseitigt und der Gütegrad sowie die
Stabilität in Abhängigkeit von der Zeit noch erheblich
verbessert werden, wenn der Quarzkristall vor der
Montage einer Wärmebehandlung unterworfen wird,
die bei einer Temperatur deutlich unter dem α-β-
Transformationspunkt des Quarzes (573°C) erfolgt, bei
spielsweise ungefähr bei 480°C, mit einer anschließen
den sehr leichten Oberflächenbearbeitung mit Bifluorid.
Weitere Vorteile der Erfindung ergeben sich noch
deutlicher aus der nachfolgenden Beschreibung mehre
rer Ausführungsformen der Erfindung, die nur als Bei
spiele angeführt werden, mit Bezug auf die Zeichnun
gen. Es zeigt
Fig. 1 einen Schnitt durch einen Quarzschwinger nach
einer ersten Ausführungsform der Erfindung, in der
Ebene I-I in Fig. 3,
Fig. 2 einen Teilschnitt des Quarzschwingers nach der
Fig. 1 in der Ebene Il-II der Fig. 3,
Fig. 3 eine Draufsicht auf einen Teil des Quarzschwin
gers nach den Fig. 1 und 2,
Fig. 4 und 5 Draufsichten auf die beiden dielektri
schen Scheiben, die die Elektroden tragen, wie sie in den
Schwinger nach den Fig. 1 bis 3 eingesetzt sind,
Fig. 6 eine schematische Darstellung eines Axial
schnitts einer anderen Ausführungsform eines Schwin
gers nach der Erfindung, der gegen Erschütterungen
besonders widerstandsfähig ist,
Fig. 7 und 8 Axialschnitte eines Teils eines erfindungs
gemäßen Schwingers nach zwei verschiedenen Varian
ten,
Fig. 9 und 10 Schnitte eines Teils eines Quarzschwin
gers nach einer anderen Ausführungsform der Erfin
dung, nach den Ebenen IX-IX und X-X in Fig. 11,
Fig. 11 eine Draufsicht auf einen Teil des in den Fig. 9
und 10 dargestellten Schwingers,
Fig. 12 und 13 Draufsichten auf zwei Quarzkristalle,
die in den in den Fig. 9 bis 11 dargestellten Schwinger
eingebaut werden können,
Fig. 14 ein Beispiel der Kurven der Frequenzände
rung eines erfindungsgemäßen Schwingers in Abhän
gigkeit von der Temperatur für Kristalle mit AT-
Schnitt,
Fig. 15 eine Ansicht eines Quarzschwingers nach ei
ner Ausführungsform der Erfindung, wobei ein Teil
weggebrochen wurde,
Fig. 16 eine Draufsicht auf eines der in Fig. 15 gezeig
ten Teile,
Fig. 17 einen Axialschnitt eines Quarzschwingers in
Kompaktbauweise,
Fig. 18 einen Axialschnitt eines Quarzkristalls, der in
einen erfindungsgemäßen Schwinger eingebaut werden
kann,
Fig. 19 bis 21 Abschnitte in einer die Schnittachse
enthaltenden Ebene verschiedener Ausführungsformen
der Brücken, die die Teile am Umfang und in der Mitte
eines Quarzkristalls verbinden, der bei einem erfin
dungsgemäßen Schwinger verwendbar ist, und
Fig. 22 und 23 Draufsichten auf zwei Quarzkristalle,
die in einem Quarzschwinger nach der Erfindung einge
baut sein können.
Der in Fig. 1 dargestellte Quarzschwinger weist einen
Quarzkristall 1 auf, der in einem Kondensator einge
schlossen ist, der von zwei dielektrischen Scheiben 3 und
4 gebildet wird, die Elektroden tragen und durch einen
dielektrischen Ring 2 getrennt sind. Der Kristall 1 wird
in seiner Stellung in bezug auf die untere Scheibe 4
mittels Aufhängevorrichtung 5, 6 festgehalten. Die
Scheiben 3 und 4 und der Ring 2 bestehen beispielsweise
aus Siliziumdioxid.
Die Baugruppe, bestehend aus den dielektrischen
Scheiben 3 und 4, den Ring 2 und dem Kristall 1, ist in
einer Dose angeordnet, die durch einen Körper 7 und
einen Deckel 8 gebildet wird. Die Dose 7, 8 besteht aus
Metall, beispielsweise vernickeltem vergoldetem Mes
sing, und ist mittels Kaltschweißung verschlossen; die
Dose ist vorgesehen, damit die Entgasung minimal ist
und um ein starkes Vakuum oder eine Restatmosphäre
(Wasserstoff, Helium, Stickstoff...) aufrechtzuerhalten.
Bei der Vorrichtung nach Fig. 1 erfolgt der Verschluß
mittels Kaltschweißung an einem Stutzen 9, während
der Deckel 8 mit der Dose mittels einer Naht 10 einer
Schweißung Sverschweißt ist. Die Dose 7, 8 kann natür
lich auch durch eine Kaltschweißung im Bereich des
Deckels verschlossen werden, was zur Folge hätte, daß
nicht nur die Schweißung 10 an der Dose verschwindet,
sondern auch der Stutzen 9, und daß sich die Gesamtlän
ge des Schwingers damit verringert.
Die untere Scheibe 4, die den Ring 2 und die obere
Scheibe 3 trägt, ruht auf einer Schulter, die an der Wand
der Dose 7 ausgebildet ist. Ein metallischer Ring 1 1 ist in
die Dose 7 über der oberen Scheibe 3 eingesetzt. Der
Ring 11 stellt mittels einer Schraube 12 und ggf. der
Zwischenfügung von (nicht dargestellten) Federn die
mechanische Verblockung des Siliziumdioxidkondensa
tors sicher, der durch die Teile 2, 3 und 4 gebildet wird.
Beispielsweise können drei Schrauben 12 um 120° ge
geneinander versetzt angeordnet sein, die sich am Um
fang der Scheibe 3 im Bereich des auf dem Ring 2 liegen
den Teils abstützen.
Ein Massenanschluß 13 ist an der Dose 7 befestigt.
Ausgangsleitungen 14, 15 sind beispielsweise durch
Thermokompression T mit vorangegangenem Nieder
schlag von Gold mit den Elektroden verbunden, die je
weils an den Scheiben 3, 4 ausgebildet sind, und führen
durch Öffnungen 16 bzw. 17 im Deckel 8 nach außen, die
mit Isolationen 18, 19 versehen sind (Fig. 1 und 2).
Der Kristall 1 kann in unterschiedlicher Form ausge
führt sein, abhängig von den vorgesehenen Anwen
dungsfällen. Man kann beispielsweise plankonvexe, bi
konvexe, biplane Kristalle verwenden. Fig. 1 zeigt bei
spielsweise einen kreisförmigen plankonvexen Kristall,
der eine ebene Unterfläche 21 und eine konvexe Ober
fläche 20 aufweist.
Die Fläche des Kristalls 1 soll sorgfältig vorbereitet
sein und so wenig Fehler wie möglich aufweisen. Damit
die Eigenschaften der Teile des Kristalls in der Nachbar
schaft der Oberfläche so weit wie möglich den Eigen
schaften des Kristallinneren gleichen, verwendet man
alternativ Verfahren, die die Oberfläche geometrisch
formen (Schleifen, Polieren), und Verfahren, die die
Oberfläche reinigen und chemisch angreifen. In her
kommlicher Weise führt man die obigen Arbeitsgänge
zur Formung der Oberfläche zugleich mit einer Reini
gung und einer chemischen Bearbeitung durch. Schließ
lich wird der Kristall 1 nach den üblichen Verfahren
sorgfältig gespült und in Lösungsmitteln gereinigt, wie
destilliertem Wasser, reinem Aceton und reinem Alko
hol.
Gemäß einer ersten Ausführungsform der Aufhän
gung des Kristalls 1 in dem Siliziumdioxidkondensator
2, 3, 4 führt man eine Thermokompression von Nieten
aus Gold oder Silber an der Randfläche des Kristalls 1
an mindestens zwei diametral gegenüber liegenden
Punkten auf der Achse ZZ′ durch. Diese Nieten werden
mit dünnen metallischen Bändern 22, 23 vernietet, die
vorzugsweise aus geglühtem oder getempertem Metall
bestehen und an Trägern 24, 25 befestigt werden, die in
der unteren Scheibe 4 angeordnet sind. Die schmalen
Bänder 22, 23, beispielsweise aus Nickel oder aus Mes
sing, können auch an der Umfangsfläche des Kristalls
angeklebt werden. Die Thermokompression wird je
doch bevorzugt, um jede Entgasung zu vermeiden, die
bei der Verwendung eines Klebers auftritt. Statt der
Thermokompression kann man auch beispielsweise ein
Schweißverfahren mit elektrolytischem Nickelauftrag
verwenden (Nickel-Electrobonding).
Zwei diametral gegenüberliegende Löcher 30, 31
werden in der unteren Scheibe 4 vorgesehen (Fig. 1 und
3). Diese Löcher 30, 31 sind leicht konisch, wobei der
entsprechende Konuswinkel vorzugsweise weniger
oder gleich 1° ist. Zwei metallische Hohlkörper 24 und
25, die leicht konisch mit demselben Winkel wie die
Löcher 30 und 31 ausgeführt sind, sind jeweils in den
Löchern 30 und 31 angeordnet. Die Hohlkörper 24, 25
bestehen vorzugsweise aus Nickel, und ihre Außenflä
che ist aufgerauht. Eine aufgerauhte Fläche kann bei
spielsweise durch Sandstrahlen erhalten werden. Die
Hohlkörper 24 und 25, die beispielsweise vor der Mon
tage abgekühlt werden können, sind sicher an der unte
ren Scheibe 4 befestigt. Die Hohlkörper 24, 25 können
in ihrem oberen Teil einen größeren Durchmesser als an
ihrem unteren Teil aufweisen.
Der an seinen beiden Nickelbändern 22, 23 befestigte
Kristall 1 wird so in seine Stellung zwischen den beiden
Scheiben 3 und 4 gebracht, daß ein kleiner Spalt in der
Größenordnung von 20 Mikron, bestimmt beispielswei
se durch die Zwischenlage von dünnen Goldblättern,
zwischen der oberen Fläche der Scheibe 4 und der unte
ren Fläche 21 des Kristalls 1 gebildet wird. Die vorher
verzinnten kleinen Nickelbänder 22, 23 werden mit den
Trägern 24 bzw. 25 verschweißt, die ebenfalls vorher
verzinnt wurden.
Man wählt vorzugsweise eine Zinnschweißung S, die
im Vakuum sehr wenig entgast. Es können auch
Schmelzschweißverfahren bei höheren Temperaturen
verwendet werden. Die Aufhängevorrichtungen 5, 6 für
den Kristall, die die Hohlkörper 24, 25 und die schmalen
Nickelbänder, 22, 23 aufweisen, halten den Kristall 1
sicher in seiner Stellung in bezug auf die Scheibe 4. Man
kann selbstverständlich noch mehr Aufhängevorrich
tungen 5, 6 vorsehen, beispielsweise drei oder vier Auf
hängevorrichtungen, die an drei oder vier Punkten am
Umfang des Kristalls 1 angreifen.
Wie bereits ausgeführt, wird der Kondensator, in dem
der Kristall 1 eingeschlossen ist, von den beiden Silizi
umdioxidscheiben 3 und 4 gebildet, die durch den Ring 2
getrennt sind. Die obere Scheibe 3 ist plan geschliffen, es
ist jedoch möglich, ihren Mittelteil mit demselben Radi
us zu schleifen wie die obere Fläche 20 des Kristalls 1.
Die obere Scheibe 3 wird in einem geringen Abstand
von der oberen Fläche 20 des Kristalls 1 gehalten (der
Abstand wird zwischen ungefähr 10 und 100 Mikron
gewählt), und zwar durch den Ring 2, der den Abstand
zwischen den beiden Scheiben 3 und 4 bestimmt.
Man erkennt, daß es nicht notwendig ist, daß die Plan
fläche 21 des Kristalls parallel zu den Flächen der Silizi
umdioxidscheiben 3 und 4 ist. Andererseits hat eine ge
ringe vertikale Verlagerung des Kristalls 1 (beispiels
weise hervorgerufen durch die Dehnung der Aufhän
gung 5, 6) keine Bedeutung; der Abstand zwischen den
beiden Scheiben 3 und 4 wird auch weiterhin nur durch
den Ring 2 bestimmt.
Elektroden 26 und 27 des den Kristall 1 umgebenden
Kondensators sind in den Fig. 4 und 5 jeweils durch
Schraffur dargestellt. Die Elektrode 26 ist an der unte
ren Fläche der oberen Scheibe 3 ausgebildet, während
die Elektrode 27 an der oberen Fläche der unteren
Scheibe 4 ausgebildet ist. Die Elektroden 26 und 27 sind
unter Vakuum aufgedampft und können andere Gestalt
haben als die Darstellung in den Fig. 4 und 5. Der Teil
des Kristalls 1, der zwischen den beiden Elektroden 26
und 27 liegt, bildet den aktiven Teil des Kristalls. Die im
mittleren Abschnitt der Scheiben 3 und 4 liegenden
Elektroden 26 und 27 haben Verlängerungen bis zu Flä
chen 28 und 29, die auf den oberen Flächen der Scheiben
3 und 4 liegen und an denen die jeweiligen Anschlüsse
der Ausgangsdrähte 14 und 15 ausgeführt sind (Fig. 1
und 2). Der mit der Fläche 29 der Elektrode 27 beispiels
weise durch Thermokompression verbundene Aus
gangsdraht 15 führt durch eine Öffnung 33, die in dem
Ring 2 vorgesehen ist, und ein Loch 32, das in der oberen
Scheibe 3 vorgesehen ist, und führt aus der Dose 9 durch
die Öffnung 17 hinaus. Um die Störkapazitäten zwi
schen der Dose und den Elektroden zu verringern, ist
die die Elektrode 26 tragende obere Scheibe 3 in dem
Bereich eingeschnürt, der die Verbindungsrinns zwi
schen der Elektrode 26 und dem Flächenstück 29 trägt.
Der Ring 2 ist das einzige Element, das den Abstand
zwischen den Scheiben 3 und 4 bestimmt. Dieser Ring 2
kann aus Siliziumdioxid bestehen, er kann jedoch eben
so auch aus einem Material bestehen, das eine veränder
bare Dicke infolge elastischer Verformung aufweist.
Der Ring 2 kann auch piezoelektrisch sein und eine
Dicke haben, die geringfügig veränderbar ist, wenn man
eine elektrische Spannung an zwei Elektroden legt, die
vorher an der oberen Fläche und der unteren Fläche des
Rings aufgetragen wurden. Die Verwendung eines pie
zoelektrischen Ringes 2 gibt die Möglichkeit, die Fre
quenz des Schwingers zu modulieren, ohne ein zusätzli
ches Bauteil außerhalb des Schwingers zu verwenden,
wie einen Hilfskondensator, dessen Gütegrad immer
verhältnismäßig gering ist.
So bilden die Dicke und das Material des Rings 2, der
den Plattenabstand des Kondensators bestimmt, zusätz
liche Parameter des Schwingers, die eine Modifikation
der Eigenschaften des Schwingers ermöglichen, ohne
den Aufbau des aktiven Teils des Quarzkristalls 1 zu
verändern.
Die Verwendung eines unbeweglichen und einstücki
gen Ringes 2 ist außerdem deshalb besonders interes
sant, weil er eine genaue und leichte Beeinflussung der
Frequenz ermöglicht. Die Beeinflussung der Frequenz
kann bei der Umgebungstemperatur Ta (die genau meß
bar ist) und unter atmosphärischem Druck geschehen,
wenn der Schwinger in seinem Siliziumdioxidkondensa
tor angeordnet ist. Um die Frequenz des Schwingers
einzustellen, genügt es, den aus den Teilen 2, 3 und 4
gebildeten Kondensator zu demontieren und den Ring
durch Schleifen zu überarbeiten oder durch chemischen
Angriff dünner zu machen. Man kann auch einen Ring
aus einer vorbereiteten Gruppe von kalibrierten Ringen
auswählen. Eine Verringerung der Ringdicke um ein
Mikron entspricht einer Verringerung der Frequenz
von ungefähr ein Hz (für einen Schwinger der Frequenz
mit 5 MHz bei der 5. Harmonischen schwingend), was
eine sehr genaue Einstellung ermöglicht.
In der Praxis mißt man vorher die Inversionstempera
tur TI (und die entsprechende Frequenzdifferenz Δ f9
und mittels eines kleinen Versuchs-Vakuumabschlusses
die mögliche Frequenzänderung, wenn man von Atmo
sphärendruck auf Vakuum übergeht. Wenn der Fre
quenzunterschied zwischen den Regelzuständen und
den tatsächlichen Arbeitszuständen bestimmt ist, kann
die Einstellung der Schwingerfrequenz mit großer Ge
nauigkeit durch Veränderung der Dicke des Rings bei
einer Umgebungstemperatur Ta und unter Atmosphä
rendruck erfolgen. Man kann auf diese Weise eine Ge
nauigkeit erreichen, die besser ist als ± 10-7.
Es ist festzustellen, daß die Kurven, die die Verände
rungen der Frequenz eines erfindungsgemäßen Schwin
gers in Abhängigkeit von der Temperatur darstellen, im
wesentlichen identisch sind mit den bekannten Kurven,
die man für einen herkömmlichen Schwinger mit am
Kristall angebrachten Elektroden erhält. Ein Beispiel
derartiger Kurvenbezogen auf AT-Schnitte ist in Fig.
14 dargestellt.
Fig. 6 zeigt eine abgewandelte Ausführungsform des
Schwingers nach den Fig. 1 und 2, die durch ihren Auf
bau gegen Stöße besonders unempfindlich ist. Die Bau
teile des Schwingers nach Fig. 6 ähneln den Bauteilen
des Schwingers nach den Fig. 1 und 2 und tragen diesel
ben Bezugszeichen. Eine metallische Dose 7 weist einen
Deckel 8 auf, der mit dem Körper der Dose 7 mittels
einer Schweißnaht 10 verschweißt ist; die Dose ist durch
Kaltschweißung im Bereich eines Stutzens 9 verschlos
sen. Die Dose 7, 8 bildet somit einen dichten Behälter, in
dessen Innerem ein mehr oder weniger starkes Vakuum
hergestellt werden kann oder in den ein Restgas einge
führt werden kann. Die Dose 7 weist eine besonders
einfach herzustellende zylindrische Form auf, die der
Form der aktiven Elemente des Schwingers entspricht,
sie kann aber auch andere geometrische Formen haben.
Im Inneren des dichten Behälters 7, 8 sind die beiden
Scheiben oder Platten 3 und 4 angeordnet, die die Elek
troden, den zwischen die Platten 3 und 4 eingelegten
Quarzkristall 1 und den Ring 2 tragen, der ein Abstands
teil zwischen den Scheiben 3 und 4 bildet. Die Elemente
1, 2, 3 und 4 sind in Fig. 6 schematisch dargestellt und
bilden einen Aufbau, der der vorher beschriebenen Aus
führungsform entsprechen kann. Die Platten 3 und 4 und
der Ring 2 können eine kreisförmige Gestalt haben und
drehsymmetrisch um die Längsachse des Schwingers
ausgeführt sein. Die Tragplatten 3 und 4 in der Form
von Scheiben und der Ring 2 in Form eines Kreisrings
sind sehr einfach herzustellen, so daß die Fehlermöglich
keiten begrenzt sind, die bei sehr asymmetrischen Teilen
auftreten können. Auf jeden Fall kann eine gute Ar
beitsweise des Schwingers mittels der Scheiben 3 und 4
und des Ringes 2 erreicht werden, deren Umfangsteile
sehr unterschiedliche geometrische Formen aufweisen
können.
Um die Unempfindlichkeit gegenüber Stößen zu ver
bessern, wird die mechanische Verblockung des durch
die Teile 2, 3 und 4 gebildeten Kondensators nur durch
Federn 112 bewirkt. Zwei Teile 11, die miteinander ver
bunden und zueinander im Abstand gehalten werden
durch Verbindungsteile 12, sind an einem Ansatzteil 8 a
des Deckels 8 befestigt. Die aus den Teilen 2, 3 und 4
bestehende Baugruppe wird in ihrer Stellung zwischen
den Platten 11 durch die Federn 112 gehalten, die zwi
schen eine der Scheiben 3, 4 und die entsprechende
Platte eingesetzt sind. Die Aufhängevorrichtungen für
den Kristall 1 im Inneren des Kondensators 3, 4 sind in
Fig. 6 nicht dargestellt.
Zwei Ausgangs-Leitungsdrähte 14 und 15 führen aus
dem Deckel8 durch Öffnungen 16 und 17 hinaus, die mit
einem Isoliermaterial 18 bzw. 19 gefüllt sind. Die Drähte
14 und 15 sind mit (nicht dargestellten) Elektroden ver
bunden, die auf den Scheiben 3 bzw. 4 angebracht sind.
Der den Abstand zwischen den Scheiben 3 und 4
bewirkende Ring 2 besteht vorzugsweise aus Silizium
dioxid. Der Ring 2 kann ebenso auch aus Quarz beste
hen. Wenn jedoch eine Veränderung der Schwingerfre
quenz beabsichtigt ist durch eine Einwirkung auf den
Ring 2, wird vorzugsweise ein Ring 2 aus piezoelektri
schem Material verwendet, das eine feste Verbindung
darstellt, beispielsweise ein keramisches piezoelektri
sches Material.
Die Scheiben 3 und 4 bestehen vorzugsweise aus di
elektrischem Material, wie beispielsweise Siliziumdio
xid. In diesem letzten Fall kommt es jedoch zu bestimm
ten Wärmespannungen in dem Kristall 1 infolge unter
schiedlicher Ausdehnungskoeffizienten des Kristalls 1
und der Tragplatten 3 und 4. Aus diesem Grund hat der
in Fig. 6 dargestellte Schwinger bessere Eigenschaften,
wenn die Scheiben 3 und 4 aus Quarz bestehen. Da eine
ungünstige Ausrichtung möglich ist, d. h. ein bestimmter
von Null abweichender Winkel zwischen der kristallo
graphischen Ausrichtung des Kristalls 1 und der Aus
richtung der Quarzscheiben 3 und 4, ist es bedeutsam,
daß beide Quarzscheiben dieselbe Ausrichtung haben
wie der Quarzkristall.
Wenn die Scheiben 3 und 4 durch einen Ring 2 unab
hängig vom Kristall 1 im Abstand zueinander gehalten
werden oder wenn der Kristall 1 an einer einzigen
Scheibe aufgehängt ist, beispielsweise an der Scheibe 4
(Fig. 7 und 8), kann es ausreichen, nur die Scheibe 4 aus
Quarz auszuführen, an der der Kristall aufgehängt ist.
Die Fig. 7 und 8 zeigen zwei abgewandelte Ausfüh
rungsformen der Baugruppe, die einen Kondensator 3,
4, einen Ring 2 und einen Kristall 1 aufweist und zum
Einbau in einen Schwinger bestimmt ist, wie er bei
spielsweise in Fig. 6 dargestellt ist. Der Kristall 1 ist
zwischen zwei Scheiben 3 und 4 angeordnet. Die beiden
Scheiben 3 und 4 sind im Abstand zueinander durch
einen unabhängigen Ring 2 gehalten. Die untere Schei
be 4, die den Kristall 1 trägt, besteht aus Quarz dersel
ben Ausrichtung wie der Kristall 1. Der Kristall 1, der in
dem durch den Ring 2 und die Scheiben 3 und 4 gebilde
ten Hohlraum angeordnet ist, ist an der Scheibe 4 mit
tels Thermokompression an mehreren Punkten ange
bracht, wobei die Thermokompression an den metalli
schen Niederschlägen 5, 6 von Gold oder Silber ausge
führt wird, die vorher an dem Kristall 1 und den entspre
chenden Abschnitten der unteren Tragscheibe 4 vorge
nommen wurden. Die Thermokompressionen sind am
Umfang der Fläche 21 des Kristalls 1 ausgeführt, die der
Fläche 44 der Scheibe 4 zugekehrt ist. Die mit der Schei
be 4 verbundene, nicht dargestellte Elektrode ist an der
Fläche 44 im Abstand zu den Thermokompressionen 5
und 6 und gegenüber dem zentralen Teil der Fläche 21
des Kristalls 1 angebracht. Der Abstand e zwischen ei
nerseits der auf der Fläche 44 der Scheibe 4 angebrach
ten Elektrode und andererseits der Fläche 21 der Schei
be 1 hängt nur von der Dicke der Thermokompressio
nen 5,6 ab und kann zwischen ungefähr 0,5 µ und 50 µ
betragen. Da die Dicke e verhältnismäßig groß ist
(15-50 µ), ist es möglich, ein dünnes zusätzliches Gold
plättchen zwischen die beiden im Vakuum aufgebrach
ten Goldniederschläge vor der Ausführung der Thermo
kompressionen 5, 6 einzuführen. Es ist festzustellen, daß
die Art der Aufhängung des Kristalls 1, wie sie in den
Fig. 2 und 3 dargestellt ist, weder irgendeine Bohrung an
der Scheibe 4 noch die Verwendung irgendeines metalli
schen Einsatzes oder metallischen Aufhängungsbandes
notwendig macht. Da der Kristall 1 und die Scheibe 4
beide aus Quarz derselben Ausrichtung bestehen, treten
keine wesentlichen Wärmespannungen im Kristall im
Bereich der Aufhängungszonen auf.
Die der oberen Fläche 20 des Kristalls 1 zugekehrte
Fläche 43 der Scheibe 3 kann eben sein (Fig. 8) oder
einen Krümmungsradius aufweisen, der in der Nähe des
Krümmungsradius der oberen Fläche 20 des Kristalls
liegt (Fig. 7).
Außer der Befestigungsart des Kristalls 1 durch direk
te Thermokompression an der Quarzscheibe 4 kann der
in den Fig. 7 und 8 dargestellte Aufbau der Teile auch in
der vorher anhand der Fig. 3 bis 5 beschriebenen Weise
ausgeführt werden.
Eine andere Ausführungsform eines erfindungsgemä
ßen Schwingers ist in den Fig. 9 bis 13 dargestellt. Bei
dieser Ausführungsform ersetzt man in einer Dose 7, 8,
die mit der in den Fig. 1 oder 6 dargestellten identisch
ist, die Baugruppe, die aus den die Elektroden tragenden
Scheiben 3, 4, dem Ring 2, dem Kristall 1 und den Auf
hängevorrichtungen 5 und 6 für den Kristall besteht,
durch eine Baugruppe, die zwei Scheiben 3 a und 4 a
aufweist, die die Elektroden tragen, ähnlich den Schei
ben 3 und 4 der Fig. 1 bis 8, und einen Kristall la, 2a, der
zwischen die beiden Scheiben 3 a und 4 a eingesetzt ist
und dem Kristall 1 und dem Ring 2 der Fig. 1 bis 8
entspricht Bei dieser Ausführungsform wird das den
Ring für den Abstand zwischen Scheiben 3 a und 4 a
bildende Element 2 a durch einen Umfangsteil des Kri
stalls selbst gebildet, wobei dieser Umfangsteil über
Zwischenteile 34, 35 mit einem Kristallmittelteil la ver
bunden ist, der dem Kristall 1 der Fig. 1 bis 8 entspricht.
Auf diese Weise trägt sich der Kristall selbst, weil kein
zusätzliches Element mit den Tragscheiben 3 a und 4 a
verbunden ist.
Der verwendete Kristall kann wie bei den ersten Aus
führungsbeispielen der Erfindung verschiedene Formen
aufweisen. Der in den Fig. 9 bis 13 dargestellte Kristall
ist plankonvex, wobei seine ebene Fläche die Unterflä
che ist.
Der Kristall 1 a, 2 a ist in der oben für den Kristall 1
beschriebenen Weise bearbeitet. Wie man insbesondere
aus Fig. 9 erkennt, weist der dargestellte Kristall eine
Einschnürung 34, 35 in seinem Zwischenteil auf, der zwi
schen seinem aktiven zentralen Teil la und seinem Um
fangsteil 2 a angeordnet ist, der den Abstandsring bildet.
Die Einschnürung 34, 35, die durch Schleifen erzeugt
wird, kann kreisförmig sein, sie kann aber auch andere
Gestaltungen aufweisen, abhängig insbesondere von
der Ausführung der Elektroden. Nach einer Grobein
stellung der Frequenz werden Ausnehmungen 36, 37
(Fig. 1 bis 12) beispielsweise durch Ultraschallbearbei
tung in einem Abschnitt der kreisringförmigen Ein
schnürung vorgenommen, die den Mittelteil 1 a und den
Umfangsteil 2 a des Kristalls trennt. Der Kristall wird
auf diese Weise an zwei Kristallbrücken 34, 35 aufge
hängt, die den Teil 1 a mit dem Teil 2 a verbinden. Der
Kristall kann jedoch auch mehr als zwei Brücken 34, 35
aufweisen. So ist in Fig. 13 ein Kristall dargestellt, der
drei eingeschnürte Teile 36 a, 36 b und 37 und drei aus
Kristall bestehende Brücken 34, 35 und 42 aufweist. Der
Zwischenteil zwischen dem Zentralteil la und dem Um
fangsteil 2 a des Kristalls, der mindestens einen schmäle
ren Abschnitt aufweist, kann eine unterschiedliche An
zahl von Brücken aufweisen, je nach der gewünschten
mechanischen Eigenschaft.
Der Kristall wird zwischen den beiden Kondensator
platten 3 a und 4 a durch seinen Umfangsteil 2 a gehalten,
der das Abstandsteil zwischen den Scheiben 3 a und 4 a
bildet. Die Elemente 11, 12 (siehe Fig. 1), die die Schei
ben 3 a und 4 a in ihrer Stellung halten, üben vorzugswei
se in den Umfangszonen der Scheibe 3 a eine Wirkung
aus, die den verlängerten Zonen der aus Kristall beste
henden Brucken 34, 35 des Teils 2 a des Kristalls entspre
chen.
Die geometrischen Formen der aus Siliziumoxid be
stehenden Scheiben 3 a und 4 a erhält man durch Schlei
fen und chemische Bearbeitung des Siliziumdioxids. Die
Flächen der Scheiben 3 a und 4 a können eben sein. Je
doch haben die Flächen 43, 44 der Scheiben 3 a und 4 a
vorzugsweise ein Profil, das den gegenüberliegenden
Flächen 40 und 41 des Kristalls entspricht. Vertiefungen
38 und 39, deren Tiefe größer ist als die Breite des freien
Spalts zwischen dem Mittelteil 1 a und jeder der jeweils
auf die Fläche 43 bzw. 44 aufgetragenen Elektroden,
sind vorzugsweise in den Flächenteilen 43 bzw. 44 der
Scheiben 3 a und 4 a gegenüber dem Zwischenteil 34, 35,
36, 37 des Kristalls ausgebildet. Die Flächen 43 und 44
der Scheiben 3 a und 4 a, die in ihrem Umfangsbereich an
die Form der Umfangsteile 2 a des Kristalls angepaßt
sind, sind in ihrem die Elektrode tragenden Mittelteil
gegenüber der entsprechenden Fläche 40 bzw. 41 des
Kristalls derart zurückgesetzt, daß der Spalt zwischen
dem Kristall und jeder der Elektroden sehr gering ist
(einige Zehntel Mikron bis einige zehn Mikron).
Die genaue Frequenzeinstellung des Schwingers wird
durch Feinschleifen der ebenen Fläche des Kristalls 1 a,
2 a und eine anschließende chemische Bearbeitung er
reicht, beispielsweise mit einer stark verdünnten Lösung
von Bifluorat. Gemäß einer vorteilhaften Ausführungs
form der Erfindung ist der Mittelteil 1 a der Unterfläche
41 des Kristalls gegenüber dem Umfangsteil 2 a dersel
ben Unterfläche 41 des Kristalls zurückgesetzt. Die Tie
fe dieser Zurücksetzung soll gering bleiben, in der Grö
ßenordnung von 10 bis 20 Mikron. Diese Ausführungs
form ermöglicht es, bei der Einstellung der Frequenz
nur den Teil 2 a der Fläche 41 zu schleifen, analog wie
das Schleifen des Ringes 2 der Fig. 1 bis 3. Man erhält so
eine sehr große Genauigkeit bei der Frequenzeinstel
lung. Statt dessen kann die Frequenzeinstellung auch
durch eine Bearbeitung einer der Scheiben 3 a und 4 a
erfolgen. Die Scheibe 3 a kann beispielsweise auf ihrer
Fläche 44 einen Rücksprung geringer Tiefe in ihrem
mittleren Teil aufweisen (siehe Fig. 9 und 10) und am
Umfangsteil dieser Fläche 44 abgeschliffen werden, die
dem Umfangsteil 2 a des Kristalls zugekehrt ist, um die
genaue Einstellung der Frequenz durch eine Verände
rung des Abstands zwischen der Elektrode 27, die auf
der Fläche 44 der Scheibe 3 a getragen wird, und der
Fläche 41 des Kristalls la zu erreichen. Um die Fre
quenzeinstellung durchzuführen, ist es ebenso möglich,
eine Scheibe 3 a aus einer Gruppe von im voraus vorbe
reiteten kalibrierten Scheiben zu wählen, die jeweils im
mittleren Teil ihrer Fläche 44 mit einem Rücksprung
oder einer Vertiefung genau vorgegebener Abmessung
versehensind.
Die Elektroden werden durch einen im Vakuum auf
die Scheiben 3 a und 4 a aufgedampften Goldfilm gebil
det, ebenso wie bei der ersten Ausführungsform der
Erfindung. Die Elektroden sind mit Ausgangsleitungen
verbunden, beispielsweise mittels Thermokompressio
nen T. Jedoch kann nach einer Variante der Erfindung
die untere Elektrode mit einem hohlen Anschlußstück
45 aus Nickel in Berührung stehen, dessen unteres koni
sches Ende in einem konischen Loch der unteren Schei
be 4 a kalt justiert ist, ähnlich wie die Befestigung der
Teile 24, 25 in Fig. 1. Dieses Anschlußstück 45 aus Nik
kel ist durch Punktschweißung mit der entsprechenden
Ausgangsleitung 15 a verbunden.
Fig. 14 zeigt als Beispiel drei Kurven, die den Fre
quenzverlauf Δ f des Schwingers in Abhängigkeit von
seiner Betriebstemperatur in Abhängigkeit von einer
Bezugstemperatur zeigen, die der Umgebungstempera
turentspricht.
Die drei Kurven entsprechen Quarzkristallen in AT-
Schnitt, die verschiedene Schnittwinkel haben.
Fig. 15 zeigt eine aus den Teilen 1 a, 2 a, 3 a und 4 a
bestehende Baugruppe, die der in den Fig. 2 und 3 dar
gestellten Baugruppe ähnelt, bei der jedoch der Ab
standsring 2 a durch einen Randteil des Kristalls selbst
gebildet wird, der durch einen kontinuierlichen oder dis
kontinuierlichen Zwischenteil 34, 35 mit einem aktiven
Mittelteil 1 a des Kristalls verbunden ist. Der Abstand
zwischen der auf eine der Scheiben aufgetragenen Elek
trode und der entsprechenden Fläche des Kristalls 1
kann sehr gering sein und vorzugsweise zwischen einem
Mikron oder mehreren Zehntel Mikron und einigen
zehn Mikron betragen. Der Gütegrad des Schwingers
wird verbessert und der Bewegungswiderstand verrin
gert, wenn der Abstand Elektrode-Kristall verringert
wird, ohne daß die Elektrode jedoch den Kristall be
rührt. Es ist möglich, im Mittelteil der Scheiben 3 und 4,
die beispielsweise aus Siliziumdioxid oder Quarz beste
hen, einen Rücksprung von geringer Tiefe vorzusehen,
der es ermöglicht, daß die Elektrode um diesen Abstand
vom Kristall zurückgesetzt ist. Eine derartige Zurück
versetzung kann parallel zur Quarzkristallfläche ausge
führt sein oder dadurch, daß für die Fläche der einen
Scheibe 3 oder 4 und die entsprechende Fläche des Kri
stalls 1 zwei Schleifvorgänge mit unterschiedlichen
Krümmungsradien ausgeführt werden. Eine andere Lö
sung, um auf bequeme Weise einen geringen Abstand
Elektrode-Kristall zu erhalten, besteht - wie in Fig. 15
dargestellt - darin, auf der Scheibe 3 a und der Scheibe
4 a eine dünne Nickelschicht 46, 47 bzw. 48, 49 mittels
Elektrolyse aufzutragen, und zwar auf eine dünne me
tallische Schicht, die vorher auf den Rand der Flächen 43
und 44 der Scheiben 3 a und 4 a auf einer oder mehreren
Teilen dieses Umfangs aufgedampft wurde, die dem
Randteil 2 a des Kristalls zugekehrt sind. Die auf die
Fläche 43 der Scheibe 3 a aufgetragene Nickelschicht 46,
47 und die auf die Fläche 44 der Scheibe 3 a aufgetrage
ne Nickelschicht 48,49 bestimmen die Spalte e zwischen
der auf die Fläche 43 der Scheibe 3 a aufgetragenen
Elektrode und der Fläche 40 des Kristalls oder zwischen
der Elektrode, die auf der Fläche 44 der Scheibe 4 a
aufgetragen ist, und der Fläche 41 des Kristalls, wobei
die Spalte e sehr klein sein können, beispielsweise in der
Größenordnung von 0,5 bis 50 µ. Die Elektroden sind in
den Fig. 15 und 16 nicht dargestellt.
Die Nickelschicht 46, 47, 48, 49 spielt eine Rolle als
Dämpfer für mögliche Stöße und macht jede zusätzliche
Schleifbearbeitung oder chemische Bearbeitung der
Flächen 43 und 44 der Scheiben 3 a und 4 a unnötig. Die
Nickelschicht kann - wie in Fig. 16 bei der Scheibe 4 a
zu erkennen - so ausgeführt sein, daß sie nur eine oder
mehrere Teile 48 oder 49 des Umfangs der Fläche der
entsprechenden Scheibe bedeckt.
Fig. 17 zeigt eine Ausführungsform in Komptaktbau
weise eines Quarzschwingers mit nicht mit dem Kristall
verbundenen Elektroden. Bei einer derartigen Ausfüh
rungsform wird die dichte Dose durch den Kondensator
3 a, 4 a selbst gebildet und der Teil 2 a des Kristalls bildet
den Abstandsring. Der selbsttragende Kristall 1 a, 2 a
und die Scheiben 3 a, 4 a sind in der Weise ausgeführt, wie
sie für den Fall eines Quarzschwingers mit getrennter
Dose beschrieben wurden. Die Scheiben 3 a, 4 a sind vor
zugsweise aus Quarz derselben Ausrichtung wie der
Kristall ausgeführt. Außerdem sind die Nickelschichten
46, 47 und 48, 49 vorzugsweise auf die Flächen 43 und 44
der Scheiben 3 a bzw. 4 a so aufgetragen, wie es mit
Bezug auf Fig. 15 und 16 beschrieben wurde. Die dichte
Dose ist beim Beispiel nach Fig. 17 durch die Außenflä
che 51 und 52 der Scheiben 3 a und 4 a, die Seitenflächen
53 und 54 derselben Scheiben 3 a und 4 a und die Um
fangsfläche 55 des Randteils 2 a des Kristalls gebildet.
Die aus den Teilen 1 a, 2 a, 3a, 4a gebildete kompakte
Baugruppe ist mit einer Kunstharzumhüllung 50 umge
ben, die zur Stoßabsorption vorgesehen ist. Zwei Aus
gangsleitungen 14 a, 15 a, die mit den auf den inneren
Flächen 43 und 44 der Scheiben 3 a und 4 a aufgetrage
nen Elektroden 26 bzw. 27 verbunden sind, führen durch
die Umhüllung 50 nach außen.
Die den Kristall 1 a umgebenden Scheiben 3 a und 4 a
sind mit dem Randteil 2 a des Kristalls im Vakuum bei
erhöhter Temperatur von ungefähr 480°C versiegelt, so
daß eine ringförmige Thermokompression in den Um
fangsbereichen 53, 54 bzw. 55 der Scheiben 3 a und 4 a
und des Umfangsteils 2 a gebildet wird, die nahe bei dem
Zusammenschluß 56 zwischen dem Randteil 2 a und der
Scheibe 3 a und dem Zusammenschluß 57 zwischen dem
Umfangsteil 2 a und der Scheibe 4 a liegen. Die Thermo
kompression wird vorzugsweise auf einer dünnen Gold
oder Silberschicht ausgeführt, die vorher aufgetragen
wurde. Die Elektroden 26 und 27 sind mit Metall ver
bunden, das die Thermokompression an dem Zusam
menschluß 56 bzw. an dem Zusammenschluß 57 bildet.
Die Ausgangsleitungen 14 a und 15 a sind selbst wieder
mit dem Metall der Zusammenschlüsse 56 bzw. 57 ver
bunden. Es ist festzustellen, daß in Fig. 15 und in Fig. 17
die Nickelschichten der deutlicheren Darstellung halber
mit stark vergrößerter Dicke dargestellt sind..
Ein Schwinger, wie der in Fig. 17 dargestellt ist, kann
eine sehr geringe Masse und sehr geringe Abmessungen
aufweisen (beispielsweise wurde ein Schwinger von 50
MHz in Form einer Scheibe von 24 mm Durchmesser
und 8 mm Höhe ausgeführt). Außerdem tritt bei sehr
niedrigen Temperaturen und sogar bei der Temperatur
flüssigen Heliums keine wesentliche Spannung im Kri
stall 1 a, 2 a auf, wenn die Scheiben 3 a und 4 a selbst
ebenfalls aus Quarz derselben Ausrichtung wie der Kri
stall 1 a, 2 a ausgeführt sind.
Der Quarzkristall 1 a, 2 a, der bei einem Quarzschwin
ger verwendet werden kann, wie er beispielsweise in
Fig. 17 dargestellt ist, unterscheidet sich nicht von den
selbsttragenden Quarzkristallen, die bei den Schwin
gern verwendet werden können, wie sie beispielsweise
in Fig. 1 dargestellt sind. So kann der Zwischenteil 34,
der zwischen dem den Ring bildenden Randteil 2 a und
dem aktiven Mittelteil 1 a angeordnet ist, eingeschnürt
sein und kann Ausnehmungen aufweisen, so daß die
nicht mit Ausnehmungen versehenen Bereiche 34, 35
des Zwischenteils mehrere schmale Brücken zwischen
dem Randteil 2 a des Kristalls und dem Mittelteil 1 a
bilden. Die kompakte Ausführung eines Quarzschwin
gers mit nicht am Kristall angebrachten Elektroden ist
ebenfalls in dem Fall möglich, wo ein Kristall in der
Ausführungsform nach den Fig. 7 und 8 aufgehängt ist.
In diesem Fall spielt der Ring 2 die Rolle des Randteils
2 a nach Fig. 17, und eine kompakte Baugruppe 1, 2, 3, 4
kann in einer Weise ähnlich wie die kompakte Baugrup
pe 1 a, 2 a, 3 a, 4 a nach Fig. 17 gebildet werden.
Um die Restspannungen an den Aufhängungspunk
ten des Kristalls an seinen Umfangsteilen und Zwi
schenteilen zu verringern, ist es allgemein möglich, den
Kristall 1 a, 2 a einer Vorbehandlung vor seiner Montage
zu unterwerfen. Es ist beispielsweise vorteilhaft, den
Kristall einer Wärmebehandlung bei ungefähr 480°C zu
unterwerfen und anschließend eine sehr leichte Bearbei
tung mit Bifluorid durchzuführen.
Wenn keine Ausnehmung im eingeschnürten Zwi
schenteil ausgeführt wird, und daher eine einzige dünne
Brücke 34 sich über einen Winkel von 360° um den
gesamten aktiven Teil 1 a erstreckt, was die einfachste
Gestalt ergibt (siehe Fig. 18), ist die Bearbeitung des
Kristalls außerordentlich einfach. Eine Drehbearbei
tung ohne zusätzliche Ultraschallbearbeitung kann aus
reichend sein, und die Ringnut 58, die in dem Zwischen
teil des Kristalls gebildet ist, um einen dünneren Teil 34
zu bilden, kann mit einer Schleifbearbeitung auf nur
einer Seite hergestellt werden (beispielsweise auf der
Seite der Fläche 14 des Kristalls in Fig. 18). Selbstver
ständlich kann - wie schon früher ausgeführt - die
Anordnung und Höhe der Brücken 34, 35, die Höhe
dieser Brücken in bezug auf die Umfangsfläche des Kri
stalls, die Breite dieser Brücke ebenso wie die azimutale
Anordnung dieser Brücken je nach den vorgesehenen
Anwendungsfällen verändert werden.
Wenn man den Fall eines AT-Schnitts betrachtet (z. B.
einen in der 5. Harmonischen schwingenden 5-MHz-
Kristall), weist der Zwischenteil des Kristalls vorzugs
weise zwei dünne Brücken 34, 35 auf, die entsprechend
der Achse ZZ′ (Projektion der Achse 2) des Kristalls in
bezug auf den aktiven Mittelteil 1 a angeordnet sind. Bei
einer Herstellung durch Ultraschallbearbeitung ist es
möglich, die Brücken 34, 35, deren Achse mit der Achse
ZZ′ zusammenfällt, mit einer Winkelspanne von minde
stens 30 Winkelminuten auszuführen. Auch eine größe
re Anzahl von Brücken kann ausgeführt werden. So
kann der Zwischenteil des Kristalls außer den beiden
Brücken in der Achse ZZ′ auch noch mindestens eine
Brücke 42 in der Achse X aufweisen (Fig. 13). Man kann
die Aufhängungsbrücken vorzugsweise symmetrisch
anordnen, und zwar sowohl hinsichtlich ihrer Form als
auch hinsichtlich ihrer Azimutstellung. So erhält man
beispielsweise gute Eigenschaften, wenn man vier Brük
ken vorsieht, beispielsweise zwei Brücken in der Achse
ZZ′ und zwei Brücken in der Achse X. Eine andere
mögliche azimutale Verteilung der Brücken unter Be
rücksichtigung der Symmetrie eines Quarzkristalls in
AT-Schnitt besteht darin, zwei Brücken in der Achse
ZZ′ und eine Brücke in einer Richtung anzuordnen, die
einen Winkel von 60° mit der Achse ZZ′ hat.
Die Anordnung der Brücken wie beispielsweise der
Brücken 34, 35, 42 in bezug auf die Umfangsfläche des
Kristalls kann je nach den vorgesehenen Anwendungs
fällen verändert werden. Im allgemeinen ist es vorteil
haft, wenn die Mitte der Brücken mit der Knotenebene
des Bezugspunktes P des piezoelektrischen Körpers la,
2a zusammenfällt, die in halber Höhe des Kristallkör
pers 1 a, 2 a angeordnet ist, d. h. in der Mitte der Dicke
des Kristalls, wie es in den Fig. 19 bis 21 dargestellt ist,
die Teilschnitte eines Kristalls 1 a, 2 a in Ebenen sind, die
die Schnittachse des Kristalls enthalten; die Figuren zei
gen verschiedene mögliche Formen der Brücken 60, 63,
66, die den Umfangsteil 2 a des Kristalls mit dem aktiven
Mittelteil 1 a verbinden. Wenn man die Fig. 19 betrach
tet, sieht man beispielsweise eine Brücke 60 mit einer
oberen Fläche 71 und einer unteren Fläche 72, die zuein
ander parallel und senkrecht zum oberen Abschnitt 61
und unteren Abschnitt 62 der Umfangsfläche des akti
ven Teils 1 a des Kristalls verlaufen und jeweils mit den
Teilen 61 und 62 der Umfangsfläche des Kristalls durch
einen kleinen konkav abgerundeten Abschnitt 70 mit
dem Krümmungsradius R verbunden sind. Die Brücke
60 kann auch mit der inneren Umfangsfläche des Rand
teils 2 a des Kristalls über kleine, konkav abgerundete
Abschnitte entsprechend den Abschnitten 70 verbunden
sein. Der Radius R der abgerundeten Abschnitte 70
kann kleiner als 1 mm sein.
In Fig. 20 erkennt man beispielsweise eine Brücke 63,
die eine obere Fläche 74 und eine untere Fläche 75
aufweist, die zum aktiven Mittelteil la hin konvergieren,
vorzugsweise in der Höhe der Hauptknotenebene mit
dem Bezugspunkt P des Kristalls 1 a, 2 a; sie sind in einem
Winkel α von ungefähr 80° zu der Umfangsfläche 64, 65
des aktiven Teils la des Kristalls geneigt, wobei diese
Umfangsfläche 64, 65 selbst senkrecht zur Ebene 8 ver
läuft. Die Flächen 74 und 75 der Brücke 63 sind jeweils
mit dem oberen Teil 64 und dem unteren Teil 65 der
Umfangsfläche des aktiven Teils la des Kristalls über
einen kleinen, konkav gerundeten Abschnitt 73 verbun
den.
Fig. 21 zeigt noch ein anderes Ausführungsbeispiel
einer Brücke 66, die dazu bestimmt ist, eine leichte Ela
stizität in der Ebene P des Kristallschnitts zu ergeben,
indem die Brücke verlängert wird, ohne die Breite der
Nut zu vergrößern, die zwischen dem Mittelteil 1 a und
dem Umfangsteil 2 a eingeschnitten ist. Die Brücke 66
weist eine obere Fläche 77 und eine untere Fläche 78
auf, die im wesentlichen parallel sind und in der Schnitt
ebene der Fig. 21 (diese Ebene enthält die Schnittachse
des Kristalls) ungefähr ein Sinusprofil haben.
Allgemein bestimmen die seitlichen Wände 59 (Fig.
18), 61, 62 (Fig. 19), 64, 65 (Fig. 20), 67, 68 (Fig. 21) der
Nuten 81, 82, 84, 85, 87 bzw. 88 den eingeschnürten
Zwischenabschnitt; außerdem sind die die Umfangsflä
che des aktiven Teils 1 a bildenden Wände senkrecht zur
Hauptebene des Bezugspunktes P des Kristalls und ha
ben eine Konizität nach unten von ungefähr 30 Winkel
minuten.
In Fig. 22 erkennt man, daß die Brücken 34, 35, die
zwischen den Ausnehmungen 36 und 37 belassen wur
den und den aktiven Mittelteil 1 a mit dem festen Um
fangsteil 2 a des Kristalls verbinden, radial verlaufen.
Fig. 23 zeigt aber eine Ausführungsform, bei der das
Ende 34 b bzw. 35 b der Brücke 34 bzw. 35, das dem
Umfangsteil 2 a zugekehrt ist, um einen bestimmten
Winkel β um die Schnittachse in bezug auf das Ende 34 a
bzw. 35 a versetzt ist, das dem aktiven Mittelteil 1 a zuge
kehrt ist, wobei die Seitenflächen 34 c und 34 d bzw. 35 c
und 35d jeder der Brücken 34 und 35 gekrümmt sind und
dieselbe Krümmungsrichtung aufweisen.
Bei den Ausführungsformen des Schwingers nach der
Erfindung und insbesondere bei den Ausführungsfor
men nach den Fig. 9 bis 13, 15 und 17 bis 23 ist es wichtig,
daß die Umfangsfläche des aktiven Mittelteils 1 a des
Kristalls nicht nur senkrecht zur Bezugsebene des Kri
stalls 1 a verläuft und nur eine möglichst geringe Konizi
tät hat, sondern vorteilhafterweise ist auch die für die
Endbearbeitung verwendete Schleifkorngröße, die den
Endzustand der Umfangsfläche des Kristalls 1 a be
stimmt, sehr fein, und zwar in der Größenordnung von
einigen Mikron. Die Brücken 34, 35, 42, 60, 63, 66 kön
nen selbst eine geringe Dicke von weniger als einigen
hundert Mikron aufweisen (beispielsweise weniger als
200 Mikron), wodurch es möglich wird, einen aktiven
Mittelteil zu erhalten, der selbst eine geringe Dicke hat.
Durch Ionenbearbeitung ist es möglich, einen aktiven
Teil des Kristalls mit einer Dicke von weniger als 100
Mikron zu erhalten, was die Verwendung von erfin
dungsgemäßen Schwingern mit nicht am Kristall ange
brachten Elektroden im VHF-Bereich gestattet. Die
Breite des eingeschnürten Mittelteils, der zwischen dem
Mittelteil la und dem Umfangsteil 2 a angeordnet ist,
kann unterschiedliche Werte je nach den gewünschten
Anwendungsbereichen annehmen. Bei Kristallen im
AT-Schnitt (in der 5. Harmonischen schwingender
5-MHz-Kristall) liegen die Brückenbreiten d (Fig. 19,
20) in der Größenordnung von 2 bis 3 mm und es hat
sich gezeigt, daß man dadurch sehr gute Eigenschaften
erhält.
Bei der Ausführung nach den Fig. 9 und 10 sind die
Nuten 38, 39, die jeweils aus den dem Zwischenteil 34,
35, 36 des Kristalls 1 a, 2 a zugekehrten Zonen der Flä
chen 43, 44 der Tragscheiben 3 a und 4 a herausgearbei
tet sind, vorzugsweise mit Schleifkörnern bearbeitet, die
jeweils eine Umlaufbahn beschreiben, die in einer Ebe
ne liegt, die durch die Achse des Kristalls 1 a, 2 a geht.
Damit die auf die Flächen 43, 44 der Scheiben 3 und 4
aufmetallisierten Elektroden 26, 27 einen sicheren elek
trischen Durchgang haben, soll außerdem die Oberflä
chengüte der Flächen 43 und 44 in der Größenordnung
von 0,2 Mikron liegen.
Erfindungsgemäße piezoelektrische Schwinger, die
aus einem natürlichen Quarzkristall hergestellt sind,
dessen Überspannungskoeffizient Q in der Größenord
nung von 3×106 liegt, die bei einer Frequenz von 5
MHz in der 5. Harmonischen schwingen, haben eine
Eigenstabilität in der Größenordnung von 4×10-13 für
Zeiten in der Gegend von einer Sekunde, während Os
zillatoren, die mit diesen Schwingern aufgebaut werden,
eine Stabilität von 10-12 über eine Sekunde, 3×10-12
über hundert Sekunden und eine Stabilität von weniger
als 10-11 über einen Tag haben nach einer Betriebsdau
er von mehreren Wochen.
Durch die Verwendung eines einstückigen dielektri
schen Ringes zur Bestimmung des Abstands zwischen
zwei Scheiben, die auf ihren inneren Flächen die Elek
troden tragen, und durch die Verwendung von Aufhän
gevorrichtungen, die den aktiven Teil des Kristalls in
bezug auf eine der Tragplatten oder Tragscheiben oder
in bezug auf den einzigen Abstandsring tragen, ohne
daß größere Spannungen eingeführt werden, ohne daß
es zu einer Berührung des Kristalls mit den Elektroden
kommt, wobei sehr kleine freie Spalten zwischen dem
aktiven Kristall und der Elektrode aufrechterhalten
werden, haben die Schwinger nach der Erfindung eine
wesentlich verbesserte Stabilität in Abhängigkeit von
der Zeit und ermöglichen eine bequeme und genaue
Frequenzeinstellung.
Verschiedene Abwandlungen und Ergänzungen der
nur als Beispiele beschriebenen und die Erfindung nicht
einschränkenden Ausführungsformen sind möglich, oh
ne den Rahmen der Erfindung zu verlassen.
Es wurde ein Quarzschwinger beschrieben mit Elek
troden, die nicht mit dem Kristall verbunden sind. Der
Quarzschwinger weist eine Stabilität auf, die im Mittel
und über längere Zeit verbessert ist und eine leichtere
Frequenzeinstellung ermöglicht. Der Schwinger weist
im Inneren einer dichten Dose einen Kondensator auf,
der von zwei Scheiben 3, 4 aus dielektrischem Material
gebildet wird, die durch einen unbeweglichen Ring 2
getrennt sind, der den Abstand zwischen den Scheiben 3
und 4 bestimmt. Die Elektroden sind durch Metallnie
derschlag auf den Flächen der Scheiben 3 und 4 gebildet,
die einem Quarzkristall 1 zugekehrt sind, der in dem
Kondensator eingeschlossen ist. Die Spalte zwischen
dem Kristall 1 und den Scheiben 3 und 4 sind wesentlich
geringer als ein Millimeter. Anwendungsbereiche des
erfindungsgemäßen Schwingers sind beispielsweise
Fernmeldeeinrichtungen und Radargeräte.
Claims (40)
1. Piezoelektrischer Schwinger, bei dem ein piezo
elektrischer Kristall in einem Hohlraum gehalten
ist, der von einer ersten dielektrischen Scheibe, ei
ner zweiten, gegenüberliegenden, dielektrischen
Scheibe und einem dielektrischen Ring gebildet ist,
wobei zwischen einer dem Kristall zugewandten
ersten Fläche der ersten Scheibe sowie einer dem
Kristall zugewandten zweiten Fläche der zweiten
Scheibe jeweils Abstand eingehalten ist und die er
ste sowie die zweite Scheibe mit je einer mit einem
elektrischen Leiter verbundenen Elektrode verse
hen sind,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Fläche eine erste, dem Kristall (1, 1 a)
gegenüberliegende Metallbeschichtung (26) und
die zweite Fläche eine zweite, dem Kristall gegen
überliegende Metallbeschichtung (27) aufweisen,
wobei die erste und die zweite Metallbeschichtung
mit der zugehörigen Elektrode (28, 29) elektrisch
verbunden sind und der Abstand kleiner als einige
zehn Micrometer ist.
2. Schwinger nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Kristall auf die zweite Scheibe (4)
aufgesetzt ist (Fig. 7, 8).
3. Schwinger nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß mindestens eine der beiden
Scheiben aus Siliziumdioxid besteht.
4. Schwinger nach einem der vorstehenden Ansprü
che, dadurch gekennzeichnet, daß der piezoelektri
sche Kristall ein Quarzkristall ist.
5. Schwinger nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß der Abstandsring (2)
aus Siliziumdioxid besteht.
6. Schwinger nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß der Abstandsring (2)
aus einem piezoelektrischen Material besteht und
mit Elektroden zu einer Dicken-Veränderung ver
sehen ist.
7. Schwinger nach einem der vorstehenden Ansprü
che, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke des
Abstandsrings (2) durch elastische Verformung
veränderbar ist (Fig. 6).
8. Schwinger nach einem der vorstehenden Ansprü
che, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstandsring
von einem Umfangsteil (2 a) des Kristalls gebildet
ist, der über einen Abstand (34, 35) verringerter
Dicke in den aktivierbaren Mittelteil (40, 41) des
Kristalls übergeht (Fig. 9).
9. Schwinger nach Anspruch 4 oder 8, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Quarzkristall vor der Monta
ge eine Wärmebehandlung bei ungefähr 480°C und
danach einer sehr leichten Oberflächenbearbeitung
mit Bifluorid unterworfen ist.
10. Schwinger nach einem der vorstehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die erste
und/oder die zweite Fläche einen Krümmungsradi
us aufweist, der sich von dem Krümmungsradius
der entsprechenden, gegenüberliegenden Fläche
des Kristalls unterscheidet.
11. Schwinger nach einem der Ansprüche 2 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, daß zur Befestigung des
Kristalls die Scheibe (4) zwei etwas konische Lö
cher (30, 31) aufweist, in denen zwei metallische
Hohlkörper (24, 25) der selben Konizität wie die
Löcher und mit aufgerauter Außenfläche versehen
angeordnet sind, und daß dünne metallische Bänder
(22, 23) , die an der Umfangsfläche des Kristalls be
festigt sind, in den Hohlkörpern aufgenommen und
an diese angeschweißt oder angelötet sind.
12. Schwinger nach Anspruch 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß die dünnen metallischen Bänder aus
Nickel bestehen.
13. Schwinger nach Anspruch 11 oder 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die metallischen Hohlkörper
aus Nickel bestehen.
14. Schwinger nach einem der Ansprüche 11 bis 13,
dadurch gekennzeichnet, daß die dünnen metalli
schen Bänder an der Umfangsfläche des Kristalls
durch Thermokompression befestigt sind.
15. Schwinger nach einem der Ansprüche 11 bis 13,
dadurch gekennzeichnet, daß die dünnen metalli
schen Bänder an der Umfangsfläche des Kristalls
mittels eines Klebstoffes befestigt sind.
16. Schwinger nach einem der Ansprüche 1 1 bis 14,
dadurch gekennzeichnet, daß die konischen Löcher
einen Konuswinkel von ungefähr 1 Grad aufwei
sen.
17. Schwinger nach einem der vorstehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die den Kri
stall haltende Scheibe (4) aus dem gleichen Material
besteht wie der Kristall, und daß der Kristall auf die
Scheibe (4) an mehreren Punkten (5, 6, Fig. 7, 8)
mittels Thermokompression aufgesetzt ist.
18. Schwinger nach einem der vorstehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Kristall
(1 a, 2 a) radial außerhalb seines den Metallbeschich
tungen (26, 27) gegenüberliegenden zentralen Be
reichs (1 a) eine Einschnürung (34, 35) seiner Dicke
und einen Umfangsteil (2 a) aufweist, in welchem
der Kristall zwischen den Scheiben (3 a, 4 a) gehal
ten ist.
19. Schwinger nach Anspruch 18, dadurch gekenn
zeichnet, daß der zentrale Teil (1 a) über mehrere
Brücken (36, 37, 42) in den Umfangsteil (2 a) über
geht.
20. Schwinger nach Anspruch 19, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Mitte der Brücken (60, 63, 66) mit
der Knotenebene (P) des zentralen Teils (1 a) zu
sammenfällt (Fig. 19-21).
21. Schwinger nach Anspruch 19 oder 20, dadurch
gekennzeichnet, daß die Brücken sich nach außen
gekrümmt erstrecken (Fig. 23).
22. Schwinger nach einem der Ansprüche 18-21,
dadurch gekennzeichnet, daß die Scheiben (3 a, 4 a)
gegenüber der Einschnürung (34, 35) an ihren dem
Kristall (1 a, 2 a) zuweisenden Flächen (23, 44) Ver
tiefungen (38, 39) aufweisen (Fig. 9, 10), deren Tiefe
größer ist als die Breite des freien Spaltes, zwischen
dem zentralen Teil (1 a) und der benachbarten Me
tallbeschichtung.
23. Schwinger nach einem der Ansprüche 18-22,
dadurch gekennzeichnet, daß die auf eine der
Scheiben (3 a, 4 a) zuweisende Fläche (41) des zen
tralen Teils (1 a) relativ zu der auf die gleiche Schei
be zuweisenden Fläche des Umfangsteils (2 a) zu
ruckversetzt ist.
24. Schwinger nach einem der Ansprüche 18-23,
dadurch gekennzeichnet, daß der mit der Metallbe
schichtung versehene mittlere Flächenabschnitt
(43, 44) einer der Scheiben (3 a, 4 a) relativ zu einer
radial außerhalb der Metallbeschichtung liegenden
Umfangsfläche der Scheibe zurückversetzt ist.
25. Schwinger nach einem der Ansprüche 18-24,
dadurch gekennzeichnet, daß auf eine radial außer
halb der Metallbeschichtung liegende Umfangsflä
che der Scheibe(n) (3 a, 4 a) eine dünne Metallschicht
(46, 47, 48, 49) aufgebracht ist (Fig. 15, 16, 17).
26. Schwinger nach Anspruch 25, dadurch gekenn
zeichnet, daß auf die Metallschicht eine dünne Nik
kelschicht aufgebracht ist.
27. Schwinger nach einem der Ansprüche 18-26,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einschnürung (34,
35) durch eine Nut (58) gebildet ist.
28. Schwinger nach einem der vorstehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Kristall
mit den Scheiben im Inneren einer Dose ( 7, 8)
gehalten ist, welche auf den äußeren Rand der
Scheiben einwirkende mechanische Klemmorgane
(11, 12) aufweist.
29. Schwinger nach einem der Ansprüche 19-28,
dadurch gekennzeichnet, daß der Kristall im AT-
Schnitt geschnitten ist und daß der zentrale Teil
über zwei Brücken mit dem Umfangsteil verbun
den ist, die beiderseits des zentralen Teils in der
Achse ZZ′ angeordnet sind.
30. Schwinger nach Anspruch 29, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine weitere, in der X-Achse angeord
nete Brücke (42) vorgesehen ist.
31. Schwinger nach Anspruch 30, dadurch gekenn
zeichnet, daß zwei Brücken vorgesehen sind, die
beiderseits des zentralen Teils sich in der X-Achse
erstrecken.
32. Schwinger nach einem der Ansprüche 29-31,
dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine
Brücke vorgesehen ist, die in eine um einen Winkel
von 60° in bezug auf die Achse ZZ verlaufende
Richtung ausgebildet ist.
33. Schwinger nach einem der Ansprüche 19-32,
dadurch gekennzeichnet, daß die Brücken in einer
die Schnittachse des Kristalls enthaltenden Schnitt
ebene zueinander parallele obere und untere Be
grenzungen aufweisen, die senkrecht zur Umfangs
fläche des Kristalls verlaufen und mit dieser über
einen konkav gerundeten Abschnitt (70, 73) ver
bunden sind.
34. Schwinger nach einem der Ansprüche 19-33,
dadurch gekennzeichnet, daß die Brücken in einer
die Schnittachse des Kristalls enthaltenden Schnitt
ebene obere und untere Begrenzungen aufweisen,
die zum zentralen Teil des Kristalls hin konvergie
ren und in einem Winkel von ungefähr 80° in bezug
auf die Umfangsfläche des Kristalls geneigt sind.
35. Schwinger nach einem der Ansprüche 19-34,
dadurch gekennzeichnet, daß die Brücken in einer
die Schnittachse des Kristalls enthaltenden Schnitt
ebene obere und untere Begrenzungen aufweisen,
die parallel zueinander verlaufen und im wesentli
chen ein sinusförmiges Profil haben.
36. Schwinger nach einem der Ansprüche 19-35,
dadurch gekennzeichnet, daß die Brücken radial
gerichtet sind.
37. Schwinger nach einem der Ansprüche 30-36,
dadurch gekennzeichnet, daß eine der unteren bzw.
oberen Begrenzungen der Brücken gegenüber der
ihr benachbarten Fläche des zentralen Teils zurück
versetzt ist und die andere in deren Verlängerung
der ihr benachbarten Fläche des zentralen Teils
liegt.
38. Schwinger nach einem der Ansprüche 19-37,
dadurch gekennzeichnet, daß die Seitenwände der
Einschnürungen, die jeweils die inneren bzw. äuße
ren Umfangsfläche des Umfangsteils und des zen
tralen Teils bilden, senkrecht zur Hauptbezugsebe
ne des Kristalls verlaufen und eine Konizität von
weniger als ungefähr 30 Winkelminuten aufweisen.
39. Schwinger nach einem der vorstehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Metall
beschichtungen durch eine Thermokompression
mit vorhergehendem Goldniederschlag mit elektri
schen Anschlußleitungen (14, 15) verbunden sind.
40. Schwinger nach einem der Ansprüche 1-38,
dadurch gekennzeichnet, daß die Metallbeschich
tungen mittels eines Nickelkontaktes mit elektri
schen Anschlußleitungen (14, 15) verbunden sind,
dessen eines Ende mit der jeweiligen Anschlußlei
tung verschweißt oder verlötet ist und dessen ande
res, konisches Ende in einem konischen Loch der
Scheibe ausgerichtet ist, welche die der Anschluß
leitung zugeordnete Metallbeschichtung trägt.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7601035A FR2338607A1 (fr) | 1976-01-16 | 1976-01-16 | Resonateur a quartz a electrodes non adherentes au cristal |
FR7616289A FR2353997A2 (fr) | 1976-01-16 | 1976-05-31 | Resonateur a quartz a electrodes non adherentes au cristal |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2701200A1 DE2701200A1 (de) | 1977-07-21 |
DE2701200C2 true DE2701200C2 (de) | 1987-11-26 |
Family
ID=26219245
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19772701200 Granted DE2701200A1 (de) | 1976-01-16 | 1977-01-13 | Piezoelektrischer schwinger |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4135108A (de) |
CA (1) | CA1078954A (de) |
DE (1) | DE2701200A1 (de) |
FR (2) | FR2338607A1 (de) |
NL (1) | NL183689C (de) |
Families Citing this family (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5478694A (en) * | 1977-12-05 | 1979-06-22 | Matsushima Kogyo Co Ltd | Crystal vibrator |
FR2415914A1 (fr) * | 1978-01-27 | 1979-08-24 | France Etat | Resonateur piezoelectrique a cristal autosuspendu |
US4221986A (en) * | 1978-06-30 | 1980-09-09 | Laboratoires De Physicochimie Appliquees Issec | Piezoelectric resonator with improved suspension |
US4213104A (en) * | 1978-09-25 | 1980-07-15 | United Technologies Corporation | Vacuum encapsulation for surface acoustic wave (SAW) devices |
FR2438939A1 (fr) * | 1978-10-09 | 1980-05-09 | France Etat | Bi-resonateur piezoelectrique |
FR2441960A1 (fr) * | 1978-11-16 | 1980-06-13 | Suisse Horlogerie | Resonateur piezoelectrique travaillant en cisaillement d'epaisseur |
FR2445029A1 (fr) * | 1978-12-19 | 1980-07-18 | France Etat | Resonateur piezoelectrique a tiroir |
FR2462055A1 (fr) * | 1979-07-18 | 1981-02-06 | France Etat | Oscillateur haute frequence autothermostate |
DE3263495D1 (en) * | 1981-02-28 | 1985-06-20 | Kinseki Ltd | Piezoelectric oscillator device |
CA1201579A (en) * | 1981-03-05 | 1986-03-11 | Yoshiaki Nagaura | Lens-shaped article or the like and a method and apparatus for the manufacture of the same |
US4381471A (en) * | 1981-03-23 | 1983-04-26 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | SC-Cut quartz resonators with suppressed b-mode |
US4720651A (en) * | 1982-06-10 | 1988-01-19 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Resonator insensitive to paraxial accelerations |
FR2531532A1 (fr) * | 1982-08-05 | 1984-02-10 | Flopetrol | Capteur piezo-electrique, notamment pour la mesure de pressions |
FR2545669B1 (fr) * | 1983-05-03 | 1985-08-09 | France Etat Armement | Oscillateur a quartz compense en temperature |
FR2552950B1 (fr) * | 1983-09-30 | 1985-11-08 | Cepe | Resonateur de faible sensibilite |
FR2552952B1 (fr) * | 1983-09-30 | 1985-11-08 | Cepe | Resonateur auto-suspendu de haute surtension |
FR2558999A1 (fr) * | 1984-01-27 | 1985-08-02 | Cepe | Procede de fabrication d'un resonateur autosuspendu |
JPS6141215A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-27 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶振動子 |
US4631437A (en) * | 1985-01-10 | 1986-12-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Stress compensated piezoelectric crystal device |
FR2577362B1 (fr) * | 1985-02-13 | 1987-04-17 | Ebauchesfabrik Eta Ag | Procede de fabrication de resonateurs a quartz a haute frequence |
FR2583578B1 (fr) * | 1985-06-14 | 1987-08-14 | France Etat Armement | Resonateur piezo-electrique a extremum de sensibilite vis-a-vis des contraintes exterieures de pression |
DE3761731D1 (de) * | 1986-11-04 | 1990-03-29 | Siemens Ag | Ultraschall-sensor. |
KR920700481A (ko) * | 1989-02-27 | 1992-02-19 | 빈센트 죠셉 로너 | 수정 발진 공진기 |
US4999819A (en) * | 1990-04-18 | 1991-03-12 | The Pennsylvania Research Corporation | Transformed stress direction acoustic transducer |
US5668057A (en) * | 1991-03-13 | 1997-09-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Methods of manufacture for electronic components having high-frequency elements |
US5747857A (en) * | 1991-03-13 | 1998-05-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electronic components having high-frequency elements and methods of manufacture therefor |
GB2260642B (en) * | 1991-10-19 | 1995-02-08 | Northern Telecom Ltd | Crystal resonator device |
US5198716A (en) * | 1991-12-09 | 1993-03-30 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Micro-machined resonator |
US5250870A (en) * | 1992-03-25 | 1993-10-05 | Motorola, Inc. | Ultra-thin surface mount crystal package |
JPH06291587A (ja) * | 1992-07-08 | 1994-10-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 圧電振動子 |
JPH06350376A (ja) * | 1993-01-25 | 1994-12-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 気密封止された圧電デバイスおよび気密封止パッケージ |
JPH07193294A (ja) * | 1993-11-01 | 1995-07-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品およびその製造方法 |
EP0657900B1 (de) * | 1993-12-06 | 1998-03-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Hybrid Magnetstruktur und deren Herstellungsverfahren |
US5686779A (en) * | 1995-03-01 | 1997-11-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | High sensitivity temperature sensor and sensor array |
US5744902A (en) * | 1995-05-16 | 1998-04-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Chemical and biological sensor based on microresonators |
FR2734964B1 (fr) * | 1995-06-02 | 1997-08-22 | Ecole Nale Sup Artes Metiers | Resonateur piezoelectrique a ondes de volume. |
US6016025A (en) * | 1997-05-15 | 2000-01-18 | M-Tron Industries, Inc. | Selected overtone resonator with channels |
FR2776143A1 (fr) * | 1998-03-10 | 1999-09-17 | Bva Ind | Dispositif de fixation d'un resonateur a quartz a electrodes non adherentes |
JP3731348B2 (ja) * | 1998-06-09 | 2006-01-05 | 松下電器産業株式会社 | 圧電振動子 |
US6411013B1 (en) * | 1999-12-30 | 2002-06-25 | Honeywell International Inc. | Microactuator array with integrally formed package |
US6646364B1 (en) * | 2000-07-11 | 2003-11-11 | Honeywell International Inc. | MEMS actuator with lower power consumption and lower cost simplified fabrication |
US6628048B2 (en) * | 2000-11-29 | 2003-09-30 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Crystal oscillator with improved shock resistance |
JP2002365123A (ja) * | 2001-06-11 | 2002-12-18 | Yamato Scale Co Ltd | 水晶振動子を用いた荷重センサ |
JP2004080221A (ja) * | 2002-08-13 | 2004-03-11 | Fujitsu Media Device Kk | 弾性波デバイス及びその製造方法 |
JP4997780B2 (ja) * | 2005-05-16 | 2012-08-08 | セイコーエプソン株式会社 | 圧電振動片の製造方法 |
FR2962614B1 (fr) | 2010-07-06 | 2012-07-27 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Module de decouplage mecanique d'un resonateur a grand coefficient de qualite |
RU2444122C1 (ru) * | 2010-09-20 | 2012-02-27 | Юрий Сергеевич Иванченко | Кварцевый резонатор |
US20130235001A1 (en) * | 2012-03-06 | 2013-09-12 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Piezoelectric resonator with airgap |
WO2016121466A1 (ja) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 株式会社村田製作所 | 水晶振動子及びその製造方法並びに水晶振動デバイス |
WO2017011872A1 (en) * | 2015-07-20 | 2017-01-26 | The University Of Queensland | Tunable optical device |
US10931284B2 (en) | 2019-05-07 | 2021-02-23 | Fox Enterprises, Inc. | Resonators and devices with pixel based electrodes operating across a gap |
US11005446B2 (en) | 2019-05-07 | 2021-05-11 | Fox Enterprises, Inc. | Resonators and devices with a pixel electrode operating across a gap |
CN110836871A (zh) * | 2019-11-08 | 2020-02-25 | 江苏科技大学 | 一种生物分子检测的测量池 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1908320A (en) * | 1929-12-09 | 1933-05-09 | Rca Corp | Piezo-electric crystal holder |
US2076060A (en) * | 1934-11-06 | 1937-04-06 | Telefunken Gmbh | Piezoelectric crystal holder |
US2542651A (en) * | 1949-03-08 | 1951-02-20 | Rca Corp | Temperature compensated piezoelectric crystal holder |
US2677775A (en) * | 1951-12-26 | 1954-05-04 | Premier Res Lab Inc | Retaining frame piezoelectric crystal mounting |
US2807731A (en) * | 1954-01-27 | 1957-09-24 | Standard Electronics Corp | Crystal assembly and mounting means therefor |
US3339091A (en) * | 1964-05-25 | 1967-08-29 | Hewlett Packard Co | Crystal resonators |
-
1976
- 1976-01-16 FR FR7601035A patent/FR2338607A1/fr active Granted
- 1976-05-31 FR FR7616289A patent/FR2353997A2/fr active Granted
-
1977
- 1977-01-06 CA CA269,228A patent/CA1078954A/fr not_active Expired
- 1977-01-13 NL NLAANVRAGE7700305,A patent/NL183689C/xx not_active IP Right Cessation
- 1977-01-13 DE DE19772701200 patent/DE2701200A1/de active Granted
- 1977-01-14 US US05/759,488 patent/US4135108A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7700305A (nl) | 1977-07-19 |
NL183689C (nl) | 1988-12-16 |
DE2701200A1 (de) | 1977-07-21 |
US4135108A (en) | 1979-01-16 |
FR2353997B2 (de) | 1980-08-08 |
FR2353997A2 (fr) | 1977-12-30 |
FR2338607B1 (de) | 1980-05-23 |
FR2338607A1 (fr) | 1977-08-12 |
CA1078954A (fr) | 1980-06-03 |
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---|---|---|
DE2701200C2 (de) | ||
DE69923667T2 (de) | Anordnung mit akustischen wellen geleitet in einer piezoelektrischen dünnschicht, geklebt auf einem trägersubstrat und verfahren zur herstellung | |
DE69330499T2 (de) | Piezoelektrischer Resonator und Herstellungsverfahren derselben | |
EP0445382B1 (de) | Drucksensor und dessen Herstellverfahren | |
DE69413751T2 (de) | Piezoelektrischer Resonator und Verfahren zur Herstellung | |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
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