DE2648223C2 - Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirmung eines elektrischen oder elektronischen Systems - Google Patents
Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirmung eines elektrischen oder elektronischen SystemsInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
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Description
55
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirmung
eines elektrischen oder elektronischen Systems, das wenigstens aus zwei jeweils einen Arbeitswiderstand aufweisenden
Netzwerken sowie einem dazwischengeschalteten Syslemkabel besteht und das durch einen Außenleiterkreis
abgeschirmt ist, in welchen mittels einer äußeren Störquelle ein Störstrom eingeprägt wird, wobei diese
Messung auf eine Messung des Kopplungswiderstands zurückgeführt wird, der durch den Quotienten einer in
das System eindringenden, mittels eines Meßverstärkers und eines diesem nachgeschalteten ersten Meßempiangers
gemessenen Störspannung und aus dem über den Außenleiterkreis eingeprägten, mittels eines zweiten
Meßempiangers gemessenen Störstrom gebildet wird.
Ein derartiges Verfahren ist z. B. für Antennenanlagen aus dem Aufsatz von W. Wild »Der Kopplungswiderstand
für Antennenanlagen« in Heft 5 der VDE-Schriftenreihe, Wuppertal und Berlin 1956, bekannt.
Die Messung der elektromagnetischen Beeinflussung und der Schirmung bereiten insofern Schwierigkeiten, als
derzeit kein optimales Systemmeßverfahren zur Verfügung steht. Die bekannten Meßverfahren liefern zwar
weitgehend einwandfreie Meßergebnisse, sie haben jedoch den Nachteil, daß Eingriffe in das System vorgenommen
werden müssen, die den Systemablauf stören oder ihn unmöglich machen. Eingriffe VL 1 ^//24.3.83
in das System bergen zusätzlich die Gefahr der Beschädigung in sich und nehmen oft auch erheblich viel Zeit in
Anspruch. Außerdem ist es in vielen Fällen nicht möglich, die Eingangswiderslände der Meßempfänger an die
Arbeitswiderstände des Systems anzupassen. Dadurch können aber die wirksamen Störspannungen im System
nicht richtig oder nur durch schwierige Umrechnungen erfaßt werden. Als Beispiel seien hier nur die vom logischen
Zustand abhängigen Arbeitswiderstände digitaler Schaltungen erwähnt.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Meßverfahren zu entwickeln, das ohne
wesentliche Eingriffe in ein System und bei vergleichsweise geringem Zeit- und Kostenaufwand eine weitgehend
optimale und quantitative Erfassung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirniung von Systemen gestattet.
Ausgehend von einem Meßverfahren der eingangs genannten Art wird diese Aufgabe in vorteilhafter Weise
dadurch gelöst, daß der im zweiten Meßemplanger zu messende, eingeprägte Störstrom mittels eines diesem
Meßempfänger vorgeschalteten Stromwandlers ausgekoppelt wird, daß der Meßverstärker zur Messung des
Wertes der am Arbeitswiderstand eines der Netzwerke auftretenden Störspannung parallel zu diesem Arbeitswiderstand
galvanisch oder kapazitiv ausgekoppelt wird, und daß der resultierende Kopplungswiderstand für dieses
Netzwerk nach der an sich bekannten Beziehung RKR = USTIJST ermittelt wird. Der wesentliche Vorteil
dieses erfindungsgemäßen Verfahrens besteht dabei vor allem darin, daß die Messungen während des Betriebes
eines Systems vorgenommen werden können, ohne daß dessen Schirmung und spezielle Eigenschaften merklich
beeinflußt werden.
Vorteilhafte Weiterbildungen des Erfindungsgedankens
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigen
Es zeigen
Fig. 1 den prinzipiellen Aufbau eines einfachen Systems
mit angeschlossener Meßeinrichtung,
Fig. 2 eine Einrichtung zur Messung des Kopplungswiderstandes
koaxialer Leitungen nach H. Ochem,
Fig. 3 das Ersatzschaltbild für das Systemmodell gemäß
Fig. 1.
Die Fig. 1 zeigt den prinzipiellen Aufbau eines einfachen Systems mit den für die Durchführung des Meßverfahrens
notwendigen Meßgeräten. Im einzelnen besteht dieses erdunsymmetrische System aus zwei über ein Systemkabel
SK miteinander verbundenen Netzwerken ΛΊ. N 2 mit jeweils zugehörigen Arbeitswiderständen
RA 1, RA2. Eine elektromagnetische Beeinflussung des Systems liegt vor, wenn in den Systemkreis über eine
äußere Störquelle , z. B. durch elektrische oder magneti-
sehe Störfelder oder Potentialunterschiede durch galvanisch
gekoppelte benachbarte Stromkreise, ein Störstroin eingekoppelt wird. In Fig. 1 ist diese Störquelle als
ein im Zuge des SchuUdeiters eingeschalteter Störsender SE dargestellt. Dieser Störsender SE mit dem Störstrom
/Xl bewirkt an dem vereinfacht durch ein konzentriertes
Bauelement dargestellten Kopplungswiderstand RKS des
Systems eine Störspannung USl0, die in das System eingekoppelt
wird und von der ein Teil als Störspannung USll
an dem Arbeitswiderstand RA 1 anliegt, so daß das Netzwerk ΛΊ störenü beeinflußt wird. Die Höhe der Störspannung
Usn ist ein Maß für die elektromagnetische Beeinflussung des jeweiligen Systems.
Für die Einspeisung des Störstromes kann in vorteilhafter Weise auch ein ///-"-Stromwandler verwendet werden
(Transformatorprinzip). Diese Art der Einspeisung ermöglicht eine einwandfreie galvanische Trennung zwischen
Störsender und dem zu störenden Kreis. Außerdem läßt sich im tieferen Frequenzbereich eine bessere
Anpassung zwischen Störsender und dem zu störenden Kreis erzielen.
Während bei bisher üblichen Meßverfahren meist eine Abschaltung des Systems notwendig war und der Meßempfänger
derart angeschaltet wurde, daß sein Eingangswiderstand von ca. 60 Ω parallel zum Arbeitswiderstand
des zu vermessenden Systems lag oder direkt an dessen Stelle trat — was zu einer schaltungsmäßigen Veränderung
des Systems führte — erfolgt die Störspannungsmessung beim erfindungsgemäßen Meßverfahren mit
Hilfe eines galvanisch oder über eine Kapazität C am Arbeitswiderstand RAi (Anschlußpunkt A) des Netzwerkes
ΛΊ angekoppelten Meßverstärkers MV sowie eines
diesem nachgeschalteten Meßempfängers ME, an dem die Störspannung C511 zur Anzeige gebracht wird. Der
über eine breitflächige Verbindung am Schirmgehäuse des Netzwerkes N\ befestigte Meßverstärker MV, für
dessen Innenleiteranschluß ein Bohrloch von nur 1 cm Durchmesser zulässig ist, besitzt einerseits einen hohen
Eingangswiderstand bei geringer Eingangskapazität und andererseits einen niedrigen Ausgangswiderstand.
Zur Bestimmung des für die Beurteilung der Schirmeigenschaften des Systems maßgeblichen Kopplungswiderstandes
RKS bzw. des resultierenden Kopplungswiderstandes
RKR ist es außerdem erforderlich, den Störstrom
/s, zu messen. Dies geschieht, wie aus Fig. 1 ersichtlich,
mit Hilfe eines Stromwandlers SWund des Meßempfängers
ME, der mittels der Umschalteinrichtung UMS wahlweise mit dem Stromwandler SW bzw. mit dem
Meßverstärker MV verbunden werden kann.
Gemäß der in Fig. 2 dargestellten Prinzip-Meßschaltung
und der von H. Ochem: »Der Kopplungswiderstand koaxialer Leitungen«, Hochfrequenztechnik und Elektroakustik,
Leipzig 48,1936, Seiten 182-191 angegebenen Definition ergibt sich für den Kopplungswiderstand
folgende Beziehung:
Il
~ Il
'St
In Anlehnung an diese Definition kann auch RKS gemessen
werden. RKS setzt sich jedoch im Unterschied zu
RK aus dem Kopplungswiderstand des Schirmgehäuses
des Netzwerkes ΛΊ, des (der) Systemkabels und des
Schirmgehäuses des Netzwerkes N2 zusammen. Er stellt also die Summe der Widerstände der einzelnen Teile des
Systems dar. Die Zahl der Summanden hängt in der Praxis von der Komplexität des jeweiligen Systems ab.
Außerdem muß USl0 anhand der Arbeitswiderstände RA ,
und RA2 nach folgender Gleichung berechnet werden.
Ra
Daraus erreichnet sich dann
• R*2»R>is- (2)
: zu (siehe Fig. 3):
(3)
Da jedoch die Widerstände RAi und RA2, wie bereits
angedeutet, nicht in jedem Fall, z.B. bei logischen Schaltungen,
bekannt sind, ist es zweckmäßig, mit Hilfe von Usn den resultierenden Kopplungswiderstand RKR für
das Netzwerk N1 zu bestimmen. Es wird wie folgt definiert
:
Usn
Usn ist dabei die Störspannung am Arbeitswiderstand
RA] des Systems. Die Störspannung t/Sll und der Störstrom
/s, werden nach den bereits beschriebenen Meßmethoden mit Hilfe des Meßempfängers ME ermittelt, so
daß durch Einsetzen der entsprechenden Werte in die Gleichung (4) der resultierenden Kopplungswiderstand
berechnet werden kann. In der Praxis ist er als Funktion der Frequenz zu ermitteln. Entsprechende Überlegungen
gelten auch für das Netzwerk N 2.
1st der resultierende Kopplungswiderstand RKR eines
Systems als Funktion der Frequenz bekannt, so kann die Störspannung Us, in den Geräten des Systems bei einem
zu erwartenden Störstrom /Sl im voraus mit Hilfe der
umgestellten Gleichung (4) wie folgt berechnet werden.
Us, = Rkr " 'si ·
Zeigt sich nach dieser Rechnung, daß die Störspannung USl zu groß wird, so können rechtzeitig Maßnahmen
zu deren Verringerung ergriffen werden. Anders herum betrachtet, kann bei gegebener zulässiger Störspannung
tySll der dann noch zulässige Störstrom /Sl
errechnet werden.
Für den Fall, daß RA , und RA 2 bekannt sind, errechnet
sich RKR in Anlehnung an die Gleichung (2) und (4) wie
folgt:
oder
_ '-1SiO
'"Tr
Ra
In diesem einfachen Fall und auch in einfachen Fällen
der Praxis kann dann RKS auch aus RKR nach folgender
Gleichung errechnet werden
Es besteht selbstverständlich die Möglichkeit, entsprechende Messungen auch an einem erdsymmetrischen System
durchzuführen, wobei der gleiche Meßaufbau verwendet werden kann. Die gemessene Störspannung i/s„
die dann an einer der beiden symmetrischen Leitungen gegen den Schirm gemessen wird, ist jedoch nicht identisch
mit der Störspannung USli an den Arbeitswiderständen.
Sie ist vielmehr um die Symmetriedämpfung α des Systems geringer und beträgt demnach
Us,*-
Claims (4)
1. Verfahren zur M essung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirmung eines elektrischen oder
elektronischen Systems, das wenigstens aus zwei jeweils einen Arbeitswiderstand aufweisenden Netzwerken
sowie einem dazwischen geschalteten Systemkabel besteht und das durch einen Außenleiterkreis
abgeschirmt ist, in welchem mittels einer äußeren Störquelle ein Störstrom eingeprägt wird, wobei diese
Messung auf eine Messung des Kopplungswiderstands zurückgeführt wird, der durch den Quotienten
einer in das System eindringenden, mittels eines Meßverstärkers und eines diesem nachgeschalteten ersten
Meßempiangers gemessenen Störspannung und aus dem über den Außenleiterkreis eingeprägten, mittels
eines zweiten Meßempfängers gemessenen Störstrom gebildet wird, dadurch gekennzeichnet,daß der
im zweiten Meßempfänger (ME) zu messende, eingeprägte Störstrom (IST) mittels eines diesem Meßempfänger
vorgeschalteten Stromwandlers (SW) ausgekoppelt wird, daß der Meßverstärker (MV) zur Messung
des Wertes der am Arbeitswiderstand (A^1) eines
der Netzwerke (ΛΊ) auftretenden Störspannung
(UST) parallel zu diesem Arbeitswiderstand galvanisch
oder kapazitiv ausgekoppelt wird, und daß der resultierende Kopplungswiderstand (RKR) für dieses
Netzwerk (NI) nach der an sich bekannten Beziehung Rkr = Ust/Jst ermittelt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß für das Einprägen des Störstromes in
den Außenleiterkreis des Systems ein weiterer Stromwandler verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß für die Störspannungs- und
Störstrommessung anstelle zweier getrennter Meßempfänger ein gemeinsamer Meßempfänger (ME)
verwendet wird, der mittels einer Umschalteeinrichtung (UMS) wahlweise entweder zur Störstrommessung
an den Stromwandler (SW) oder zur Störspannungsmessung an den Meßverstärker (MV) angeschaltet
wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als Meßverstärker
(M V) ein Breitbandverstärker mit einem Frequenzbereich zwischen ca. 1 kHz und 130MHz mit
einem hohen Eingangswiderstand bei niedriger Eingangskapazität sowie mit einem niedrigen Ausgangswiderstand
verwendet wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762648223 DE2648223C2 (de) | 1976-10-25 | 1976-10-25 | Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirmung eines elektrischen oder elektronischen Systems |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
DE19762648223 DE2648223C2 (de) | 1976-10-25 | 1976-10-25 | Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirmung eines elektrischen oder elektronischen Systems |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2648223A1 DE2648223A1 (de) | 1978-04-27 |
DE2648223C2 true DE2648223C2 (de) | 1983-12-08 |
Family
ID=5991325
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762648223 Expired DE2648223C2 (de) | 1976-10-25 | 1976-10-25 | Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Beeinflussung und Schirmung eines elektrischen oder elektronischen Systems |
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Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2648223C2 (de) |
-
1976
- 1976-10-25 DE DE19762648223 patent/DE2648223C2/de not_active Expired
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Publication number | Publication date |
---|---|
DE2648223A1 (de) | 1978-04-27 |
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