DE2639210A1 - Einrichtung zur nullpunkt-einstellung bei nichtdispersiven infrarot-gasanalysatoren mit doppelschicht-empfaengerkammern - Google Patents

Einrichtung zur nullpunkt-einstellung bei nichtdispersiven infrarot-gasanalysatoren mit doppelschicht-empfaengerkammern

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DE2639210A1 DE19762639210 DE2639210A DE2639210A1 DE 2639210 A1 DE2639210 A1 DE 2639210A1 DE 19762639210 DE19762639210 DE 19762639210 DE 2639210 A DE2639210 A DE 2639210A DE 2639210 A1 DE2639210 A1 DE 2639210A1
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Description

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT Unser Zeichen:
Berlin und München VPA 76 P 3 5 4 3 BRD
Einrichtung zur Nullpunkt-Einstellung bei nichtdispersiven Infrarot-Gasanalysatoren mit Doppelschicht-Empfängerkammern
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Nullpunkt-Einstellung bei nichtdispersiven Infrarot-Gasanalysatoren nach dem Zweistrahlverfahren mit Doppelschicht-Empfängerkammern, in denen eine vom Strahler her gesehen erste Gasschicht durch eine IR-durchlässige Wand von einer zweiten Gasschicht getrennt ist.
Bei Infrarot-Gasanalysatoren sowohl nach dem Einstrahl-, wie auch nach dem Zweistrahlverfahren ist es bekannt, verschiedene Mittel zur Nullpunkt-Einstellung vorzusehen, beispielsweise Ver-Stelleinrichtungen für den Strahler, einstellbare Blenden vor den Analysen- oder Vergleichsküvetten und zwischen den ersten und zweiten Schichten der Empfängerkammern, siehe z. B. DT-AS 1 109 418.
Gerade bei Geräten nach dem Zweistrahlverfahren mit Doppelschicht-Empfängerkammern ist es mit den bekannten Mitteln nicht
immer möglich, den Nullpunkt genau einzustellen. Dies ist auf die nicht vermeidbaren Unsymmetrien in den räumlichen Abmessungen der die Empfängerschichten enthaltenden Volumina zurückzuführen.
Zur Behebung dieses Nachteils wird daher vorgeschlagen, die auf die zweite Schicht folgende rückwärtige Stirnwand der Empfängerkammern strahlungsdurchlässig auszubilden und hinter der rückwärtigen Stirnwand mechanisch verstellbare Mittel zur Reflexion eines Teils der durchgetretenen Strahlung in die zweite Schicht vorzusehen.
809809/0508
Sp 23 Sei, 26. 8. 1976
- ? τ 7βρ 3543 BRD
Im Verein mit den anderer» Γϋΐοπίπ .zur Jj ul Tp-mkt einst ellung ist es so möglich, auch bei Geräten mit Doppelschicht-JAnpfängerkammern, insbcsonclez'e solchen, die nach dem ZweistraMverfahren arbeiten, eine völlige Symmetrierung der MeßsignaDe im Nullpunkt zu erreichen.
Zur Erläuterung der Erfindung ist in der Figur ein Ausführungsbeispiel sche.natisch dargestellt und im folgenden beschrieben,
Der IR-Gasanalysator mit Meß- und Vergleichs strahlengang ist v/ie üblich aufgebaut aus IR-Strahlern 1, einer die Strahlung modulierenden umlaufenden Blende 2, einer vom Meßgas durchströmten Analysenküvette 3 und einer entsprechenden, mit '/ergleichsgas gefüllten Küvette 4 sowie den beiden Doppelschicht-L'mpfängerkammem 5 und 5f. Sie bestehen hier jeweils aus einem die erste Gasschicht enthältenden Volumen 6 und 6' bzw. einem jeweils die zweite Gasschicht enthaltenden Volumen 7 und 7'. Die den absorbierten Energien in den Kammern entsprechenden elektrischen Signale werden in bekannter und hier nicht weiter dargestellter Vie is.e in einer Detektorschaltung 8 verarbeitet. Zum optischen Abgleich der Strahlengänge bei der Nullpunkteinstellung sind verschiedene Mittel bekannt, beispielsweise eine, den Querschnitt eines Strahlengangs beeinflussende verschiebbare Blende 9 zwischen IR-Strahler 1 und Analysenküvette 3 und/oder entsprechende, verstellbare Blenden 10 zwischen den ersten Volumen 6 und 6' und den zweiten Volumen 7 und 7' der Doppelschicht-Empfängerkammern 5 und 5'.
Um auch noch Abweichungen korrigieren zu können, die auf unvermeidliche bauliche Toleranzen der zweiten Volumen 7 und 7' zurückzuführen sind, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, die rückwärtigen Stirnwände 11 und 11' der Doppelschicht-Empfängerkammern 5 und 5' aus strahlungsdurchlässigem Material herzustellen und parallel zu dieser rückwärtigen Stirnwand verschiebbar eine Platte 12 mit reflektierender Oberfläche 13 anzubringen, die einen Teil der durch die rückwärtige Stirnwand 11 und 11' durchtretenden Strahlung in die zweiten Volumen 7 respektive 71 reflektiert. *.
Es kann für jede Empfängerkammer eine für sich einstellbare Platte 12 vorgesehen werden, oder, wie in der Figur dargestellt, eine
809809/0508
BAD ORIGINAL
für beide Empfängerkammern 5 und 5' wirksame und differentiell einstellbare Platte 12 vorgesehen werden. Die von der Oberfläche 13 der Platte 12 reflektierte Strahlung wirkt entsprechend dem Lambert-Beer'sehen Gesetz, vorzugsweise in den zv/eiten Volumen 7, 71 der Empfängerkammern 5 und 5r, so daß sich damit eine ausreichende Symmetrierung zum Nullpunktabgleich erreichen läßt.
3 Patentansprüche
1 Figur
809809/0508

Claims (1)

  1. ^ 76 P 3 5 4 3 BRD
    Patentansprüche
    /i.!Einrichtung zur Nullpunkt-Einstellung bei nichtdispersiven Infrarot-Gasanalysatoren nach dem Zweistrahlverfahren mit Doppelschicht-Empfängerkammern,"ΐίϊ"denen -eine vom Strahler her gesehene erste Gasschicht durch eine Infrarot-durchlässige Wand von einer zweiten Gasschicht getrennt ist, dadurch gekennzeichnet, daß die'rückwärtige Stirnwand (11, 11') der Empfängerkammern (5, 5') strahlungsdurchlassig ist und daß hinter der rückwärtigen Stirnwand (11, 11') mechanisch verstellbare Mittel zur Reflexion eines Teils der durchgetretenen Strahlung in die zweiten Gasschichten in den Volumen (7, 7') vorgesehen sind.
    2, Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine parallel zur rückwärtigen Stirnwand (11, 11') verschiebbare Platte (12) mit reflektierender Oberfläche (13) in den Meß- und/oder Vergleichsstrahlengang einbringbar ist.
    3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine parallel zu den rückwärtigen Stirnwänden (11, 11') verschiebbare Platte (12) mit reflektierender Oberfläche (13) vorgesehen ist, derart, daß Strahlung differentiell in beide Strahlengänge reflektiert wird.
    809809/0508
    ORIGINAL INSPECTED
DE19762639210 1976-08-31 1976-08-31 Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator nach dem Zweistrahlverfahren Expired DE2639210C2 (de)

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JP10149277A JPS5330378A (en) 1976-08-31 1977-08-24 Infrared gas analyzer
IT2694377A IT1085015B (it) 1976-08-31 1977-08-25 Dispositivo per l'impostazione del punto zero negli analizzatori di gas non dispersivi a raggi infrarossi con camere ricevitrici a strato doppio
FR7726446A FR2363795A1 (fr) 1976-08-31 1977-08-31 Dispositif pour regler le zero dans des analyseurs de gaz non dispersifs a infrarouge comportant des chambres de reception a deux couches

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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2836394A1 (de) * 1978-08-19 1980-02-28 Hartmann & Braun Ag Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
DE2910188A1 (de) * 1979-03-15 1980-09-25 Hartmann & Braun Ag Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
EP0022246A1 (de) * 1979-07-02 1981-01-14 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator
DE2924843A1 (de) * 1979-06-20 1981-01-22 Hartmann & Braun Ag Nichtdisperisives infrarot-gasanalysegeraet
DE3035413A1 (de) * 1980-06-13 1982-01-07 Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt Strahlungsempfangseinrichtung fuer einen nichtdispersiven infrarotgasanalysator
EP0053677A1 (de) * 1980-12-08 1982-06-16 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator
DE3321360A1 (de) * 1983-06-14 1984-12-20 Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
EP0780681A3 (de) * 1995-12-20 1998-05-06 Siemens Aktiengesellschaft Zweistrahl-Gasanalysator und Verfahren zu seiner Kalibrierung
DE102012216210A1 (de) 2012-09-12 2014-01-30 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator nach dem Zweistrahlverfahren

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS601618Y2 (ja) * 1980-03-14 1985-01-17 晟圭 野口 筆記具ケ−ス
DE8518894U1 (de) * 1985-06-28 1985-08-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Pneumatischer Detektor für NDIR-Gasanalysatoren
JPH0429399Y2 (de) * 1987-01-13 1992-07-16
JP5483161B2 (ja) * 2009-06-11 2014-05-07 横河電機株式会社 レーザ式ガス分析装置のゼロ・スパン調整方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1109418B (de) * 1956-01-18 1961-06-22 Beckman Instruments Inc Nichtdispersiver Infrarot-Analysator mit positiver Filterung
DE2116849B2 (de) * 1971-04-06 1972-07-06 Siemens AG, 1000 Berlin u. 8000 München Vorrichtung zur einstellung der beiden strahlenbuendel eines optischen zweistrahlgeraetes auf gleiche intensitaet, vorzugsweise zur nullpunkteinstellung eines infrarot-gasanalysegeraets
DE2333664A1 (de) * 1973-07-02 1975-01-23 Maihak Ag Nichtdispersives infrarot-gasanalysengeraet

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1109418B (de) * 1956-01-18 1961-06-22 Beckman Instruments Inc Nichtdispersiver Infrarot-Analysator mit positiver Filterung
DE2116849B2 (de) * 1971-04-06 1972-07-06 Siemens AG, 1000 Berlin u. 8000 München Vorrichtung zur einstellung der beiden strahlenbuendel eines optischen zweistrahlgeraetes auf gleiche intensitaet, vorzugsweise zur nullpunkteinstellung eines infrarot-gasanalysegeraets
DE2333664A1 (de) * 1973-07-02 1975-01-23 Maihak Ag Nichtdispersives infrarot-gasanalysengeraet

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2836394A1 (de) * 1978-08-19 1980-02-28 Hartmann & Braun Ag Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
DE2910188A1 (de) * 1979-03-15 1980-09-25 Hartmann & Braun Ag Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
DE2924843A1 (de) * 1979-06-20 1981-01-22 Hartmann & Braun Ag Nichtdisperisives infrarot-gasanalysegeraet
EP0022246A1 (de) * 1979-07-02 1981-01-14 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator
DE3035413A1 (de) * 1980-06-13 1982-01-07 Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt Strahlungsempfangseinrichtung fuer einen nichtdispersiven infrarotgasanalysator
EP0053677A1 (de) * 1980-12-08 1982-06-16 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator
DE3321360A1 (de) * 1983-06-14 1984-12-20 Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
EP0780681A3 (de) * 1995-12-20 1998-05-06 Siemens Aktiengesellschaft Zweistrahl-Gasanalysator und Verfahren zu seiner Kalibrierung
DE102012216210A1 (de) 2012-09-12 2014-01-30 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator nach dem Zweistrahlverfahren

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