DE3307133A1 - Infrarotstrahlungs-gasanalyseverfahren und-gasanalysator - Google Patents
Infrarotstrahlungs-gasanalyseverfahren und-gasanalysatorInfo
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Description
TER meer · möller ·: STEirüMfeifeT^R " '. .' ' Horiba - HO-IO3/HO-IO6
- 5 Bes chrelbung
Die Erfindung betrifft ein· Infrarotstrahlungs-Gasanalyseverfahren
und einen Gasanalysator zum Durchführen des Verfahrens
.
Herkömmliche Verfahren zum Bestimmen von Gaskonzentrationen beruhen auf dem Lambert-Beerschen Gesetz. Mit einem nicht
dispersiven Infrarot-Absorptionsanalysator wird die konzentrationsabhängige Absorption eines Probengases gemessen.
Ein solcher Analysator benötigt eine Infrarotlichtquelle und eine stabilisierte Spannungsquelle zum Stabilisieren der
Lichtquelle. Aufgrund einer komplizierten Schaltung ist ein solcher Analysator auch teuer. Darüber hinaus muß eine
optische Ausrichtung erfolgen, um die Lichtmenge, die auf
eine Bezugszelle und die Lichtmenge, die auf die Probengaszelle fällt, einzustellen. Die Bezugszelle ist erforderlich,
um eine Drift der Lichtquelle und der Meßzelle, also der Probengaszelle, auszugleichen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Infrarotstrahlungs-Gasanalyseverfahren
anzugeben, das einfach durchzuführen ist. Der Erfindung liegt weiterhin die Aufgabe zugründe,
einen Infrarotstrahlungs-Gasanalysator anzugeben, der einfach aufgebaut ist.
Gemäß der erfindungsgemäßen Lösung wird nicht mehr die Absorption,
sondern vielmehr die Emission eines erhitzten Probengases gemessen. Dadurch entfällt die bisher erforderliche
Lichtquelle und die zugehörige Stabilisierung. Die Emission des Probengases wird in zwei Wellenlängenbereichen
gemessen, und zwar zum einen im Strahlungsbereich des Probengases, wozu ein erstes Filter verwendet
wird, das nur in diesem Strahlungsbereich durchlässig ist,
JO und zum anderen in einem zum Strahlungsbereich be-
TER MEER. MÜLLER .lStEir^MfelSTfeR - . iiOriDa -
nachbarten Wellenlängenbereich, der dem Durchlaßbereich
eines zweiten Filters entspricht. Beide Filter weisen in Bezug auf Halbwertsbreite und Höhe im wesentlichen gleiche
Durchlaßcharakteristik auf. Die ermittelten Meßwerte werden dann entweder voneinander abgezogen oder durcheinander
geteilt.
Zum Durchführen des erfindungsgemäßen Verfahrens wird erfindungsgemäß
entweder ein Detektor mit zwei Einzeldetektoren verwendet, vor denen jeweils die genannten Filter
stehen. Oder es wird in besonders vorteilhafter Weise nur
ein Detektor verwendet, an dem die sich um eine gemeinsame Achse drehenden beiden Filter vorbeigedreht werden. Dadurch
ist zugleich ohne Verwendung eines zusätzlichen Zerhackers eine Zerhackerwirkung erzielt.
Die Erfindung sowie Weiterbildungen derselben werden im folgenden anhand von durch Figuren veranschaulichten Ausführungsbeispielen
näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Schnittansicht einer ersten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Infra-
rotstrahlungs-Gasanalysators mit zwei von einer geschlossenen Meßzelle aus bestrahlten Einzeldetektoren;
Fig. 2a dan Kmissionnspektrain einen"1 7,n hnntiinmonden Gaskornponente;
Fig. 2b die Durchlaßbereiche eines ersten und eines
zweiten Filters gemäß der Ausführungsform von
Fig. 1;
TER meer · Müller * stEi&MEföTfeR * "* · Horiba - HO-103/HO-l
Pig. 3 einen Analysator ähnlich dem von Pig. 1, jedoch
mit einem Rohr als Meßzelle;
Pig. 4 einen Gasanalysator gemäß Pig. I, jedoch mit
nur einem Detektor und mit auf einer Zerhackerscheibe befestigten Filtern;
Fig. 5 eine Frontansicht der Zerhackerscheibe der Ausführungsform gemäß Flg. 4; und
Fig. 6 einen Gasanalysator gemäß Fig. 4, jedoch mit einem Rohr als Meßzelle.
Die Meßzelle 1 von Fig. 4 weist einen Gaseinlaß 2 und
einen Gasauslaß 3 auf. Die Innenfläche der Meßzelle ist verspiegelt. An ihren beiden Enden ist die rohrförmige
Meßzelle mit Fenstern la und Ib aus infrarotdurchlässigem Material verschlossen, wodurch Hintergrundstrahlung vermindert
wird. Durch einen Heizer 4 wird das Probengas in der Meßzelle auf mindestens 100 0C erhitzt, so daß es
Infrarotstrahlung abgibt. Dadurch wird der Anteil der Strahlung des Probengases gegenüber dem Anteil der Hintergrundstrahlung
erhöht. Die Meßzelle 1 ist durch isolierendes Material 5 wärmeisoliert.
Vor dem vorderen Fenster la der Meßzelle 1 ist ein Detektor 7 mit zwei Einzelelementen 7a und 7b angeordnet. Im
Strahlengang zwischen dem Fenster la und dem Detektor 7 befindet sich eine drehend angeordnete Zerhackerscheibe
Vor dem ersten Einzeldetektor 7a ist ein erstes Filter 8
und vor dem zweiten Einzeldetektor 7b ist ein zweites Filter 9 angeordnet. Das erste Filter 8 ist im wesentlichen
nur im Strahlungsbereich W (Flg. 2a, 2b) desjenigen
TER MEER. MÜLLER ·: S-FEiraMElfeTER : .... Horlba - Hü-lUy ttU-
Gases durchlässig, das im Probengas nachgewiesen werden
soll. Zum Bestimmen der Konzentration von zum Beispiel COp liegt die Durchlässigkeit im 4,j5 um-Band. Das zweite
Filter 9 weist im wesentlichen einen Durchlaßbereich W1 auf, der neben dem Strahlungsbereich W aber vorzugsweise
nahe bei diesem liegt. Beide Filter 8 und 9 weisen im wesentlichen dieselbe Durchlässigkeit und dieselbe
Halbwertsbreite auf.
Durch diese Anordnung der Filter und Einzeldetektoren und durch die angegebene Auswahl der Filter ist es möglich, den
Anteil von Hintergrundstrahlung zu eliminieren, wie weiter unten ausgeführt wird. Der Infrarotdetektor 7 ermittelt
daher letztendlich nur die Infrarot-Strahlungsstärke, die von dem zu bestimmenden Gas in der Gasprobe herrührt. Der
Detektor 7 gibt aufgrund der Wirkung des Zerhackers 6 ein Wechselspannungssignal ab, das der Konzentration des zu
bestimmenden Gases entspricht.
Die vom Detektor 7 abgegebenen Signale werden durch einen Verstärker 10 verstärkt und durch eine Ausgabe- oder Anzeigeeinheit
14 dargestellt, wodurch die Konzentration des zu bestimmenden Gases angegeben wird.
Beim angegebenen Gasanalysator wird von der Meßzelle 1 also Infrarotstrahlung des bei einem bestimmten Druck vorliegenden
zu bestimmenden Gases und Hintergrundstrahlung abgegeben.
Ist das Gas, dessen Konzentration zu bestimmen ist, zum Beispiel COp, so läßt das erste Filter 8 eine Strahlungsmenge
(A + B) durch, wobei A derjenige Infrarot-Strahlungsanteil ist, der ausschließlich vom COp herrührt,
d.er also die Wellenlängen im Strahlungsbereich V/
JO gemäß Fig. 2a aufweist. Der Strahlungsanteil B rührt von
Strahlung im Durohlaßbereich WT gemäß Fig. 2b her und
TER MEER -MÜLLER -STE^MEI^TER./ ' r,.*\.,: Horlba - H0-103/H0-106
entspricht der Infrarot-Hintergrundstrahlung. Das zweite Filter 9 läßt dagegen nur Hintergrundstrahlung der Strahlungsmenge
B1 durch. Diese Hintergrundstrahlung liegt in einem Wellenlängenbereich W1 nahe dem S trahlungsbereich
W. Wegen der angegebenen Durchlaßcharakteristik der beiden Filter sind die Bereiche der durchgelassenen Wellenlängen
im wesentlichen gleich, wie dies in Fig. 2b dargestellt ist und damit ist B in etwa gleich B*.
Vom Einzeldetektor 7a wird also die Strahlungsmenge (A + B) und vom Einzeldetektor 7b die Strahlungsmenge B* gemessen.
Die beiden Meßwerte werden voneinander abgezogen, wodurch sich der Anteil der Hintergrundstrahlung heraushebt.(A +
B - B1 = A, da B = B1). Daher wird letztendlich die Strahlungsmenge
A der Infrarotstrahlung gemessen, die von dem zu bestimmenden Gas abgestrahlt wird. Diese Messung ist
sehr genau, da kein Anteil von Hintergrundstrahlung mehr überlagert ist. An dieser genauen Bestimmung ändert sich
auch dann nichts, wenn sich der Anteil der Hintergrundstrahlung ändert, zum Beispiel durch Verschmutzen der Zelle
oder des Fensters la oder andere Effekte. Bei der Messung wird immer nur die vom zu bestimmenden Gas emittierte
Strahlung gemessen.
Statt in einer Meßzelle . kann
das Gas auch außerhalb der Zelle erhitzt werden und dann mit durch ein Thermometer vorbestimmter Temperatur in die
Meßzelle 1 eingeführt werden. So kann statt der Meßzelle gemäß Fig. 1 auch ein mit einem Fenster la versehenes
Rohr verwendet werden, wie dies in Fig. 3 dargestellt ist. Das Rohr ist zum Beispiel ein Abgasrohr einer Verbrennungs-
J)O maschine oder einer Fabrik. Der prinzipielle Aufbau des
Analysators bleibt von der genauen Ausführungsform der Meßzelle unberührt.
TER MEER - MÜLLER - STEINMfelSTER . - ·._■■__- Horiba - HO-I03/HO-l06
Beim Gasanalysator gemäß Pig. 4 ist die Meßzelle 1 genau
gleich aufgebaut wie bei der Ausführungsform gemäß Fig. Vor dem Fenster la 1st jedoch nur ein einziger Detektor 7,
ohne Einzeldetektoren, angeordnet. Im Körper 11 einer Zerhackerscheibe
6 sind symmetrisch zur Drehachse der Zerhackerscheibe die Filter 8 und 9 angeordnet, deren Durchlaßcharakteristiken
gewählt sind, wie dies anhand des AusfUhrungsbeispieles der Fig. 1 erläutert worden ist.
Der Zerhacker 6 und die in seinem Körper 11 befestigten Filter 8 und 9 sind so angeordnet, daß sich beim Drehen
des Zerhackers 6 abwechselnd das Filter 8 und das Filter im Strahlengang zwischen dem Fenster la und dem Detektor
befinden. Vor dem Detektor 7 ist eine schlitzförmige Blende 12 angeordnet, deren Schlitz bei der dargestellten
Anordnung vertikal steht.
Der Infrarotdetektor 7 mißt aufeinanderfolgend die Strahlung,
die einmal durch das erste Filter 8 und dann durch das zweite Filter 9 auf ihn trifft. Er erzeugt dadurch
ein Wechselspannungssignal, dessen Amplitude den jeweiligen Strahlungsstärken entspricht. Der Detektor in den beschriebenen
Ausführungsbeispielen kann ein Festkörperdetektor, ζ. B. ein pyroelektrischer Detektor, sein. Das
Wechselspannungssignal vom Infrarotdetektor 11 wird durch einen Verstärker 12 verstärkt und durch einen Vergleichsrechner
Ij5 ausgewertet, der die Differenz oder das Verhältnis
der verstärkten Meßwerte bildet und auf einem Konzentrationsanzeigegerät 14 anzeigt, das die Konzentration der
zu bestimmenden Gaskomponente aufgrund des Ausgangssignals
des Vergleichsrechners IJ> bestimmt.
j50 Wie anhand der Ausführungsform der Fig. 1 beschrieben,
wird wiederum entweder die Differenz der Meßwerte (A + B) und BT oder der Quotient*gebildet. Es ergibt sich dann
*aus den Größen AxB und B1
3JU / I JJ
»I* 9 * a # · * # β« ν -t m m
TER meer -Möller j siEliJjjvTEföTfeR,""·_' ·..· Horiba - HO-I02/H0-106
- 11 -
der Wert (A + B - BT = A, da B = B1) oder (A x B)/B! = A,
da B = B1. Die Messung ist damit wieder unabhängig
von einer Verschmutzung der Meßzelle 1, insbesondere ihres Fensters la oder von Temperaturschwankungen.
Entsprechend der Ausführungsform der Fig. 3 mit einem Rohr
als Meßzelle 1 kann auch bei der Ausführungsform gemäß Fig. 4 ein Rohr als Meßzelle verwendet werden, wie dies
in Fig. 6 dargestellt ist. Das Rohr kann wiederum das Abgasrohr einer Fabrik oder einer Verbrennungsmaschine sein.
Das Infrarotdurchlässige Fenster la ist in der Wand dieses Rohres statt am Ende der Meßzelle gemäß der Ausführungsform
von Fig. 4 angebracht. Der übrige Aufbau ist unverändert.
Bei allen Ausführungsformen anmeldegemäßer Ga.sana.lysatoren
können unterschiedliche Gaskomponenten mit unterschiedlichen E;missionswellenlängen auf einfache Art und Weise
gemessen werden, indem die Filter 8 und 9 entsprechend
ausgewählt werden, d. h. das Filter 8 jeweils so, daß gerade die Emissionswellenlängen durchstrahlen können,
während das Filter 9 gleiche Durchlässigkeit und Halbwertsbreite aufweist wie das Filter 8, jedoch in einem benachbarten
Wellenlängenbereich- Die Zahl der in einer Gasprobe bestimmbaren Gaskomponenten ist somit unbegrenzt. Die konkrete
Ausbildung der Filter und der Detektoren ist für den Anmeldegegenstand unerheblich.
Ein anmeldegemäßer Gasanalysator erfordert also keine stabilisierte Lichtquelle und eine dazugehörige Spannungsquelle wie herkömmliche nicht dispersive Infrarot-Absorptionsanalysatoren.
Weiterhin sind eine Bezugszelle zum Eliminieren von aufgrund der Drift der Lichtquelle entstehenden
Fehlern und der zugehörige optische Justier-
TER MEER . MÜLLER * ,STEIIXMEf^THR. ■ .. - ΗθΓlba - HO-1 Oj/HO-1 06
mechanismus nicht erforderlich. Anmelaegemäße Gasanalysatoren
sind daher einfach aufgebaut und billig herstellbar. Konzentrationsmessungen für Gaskomponenten sind daher so
schwierig, da die von der Meßzelle emittierte Infrarot-Hintergrundstrahlung
normalerweise mehrfach oder zigfach größer ist als die von der zu bestimmenden Gaskomponente
abgestrahlte Strahlungsmenge. Bei geringen Änderungen der Temperatur ändert sich daher der Nullpunkt der Messung.
Auch bei einer Änderung der Zelle, des Zellfensters, z. B.
in Bezug auf den Strahlungskoeffizienten oder dergleichen, ändert sich der Nullpunkt, was erheblichen Einfluß auf
Fehler bei der Messung der Konzentration nimmt. Beim anmeldegemäßen Verfahren und mit anmeldegemäßen Gasanalysatoren
kann jedoch die zu bestimmende Gaskomponente in ihrer Konzentration dadurch genau festgelegt werden, daß
der Einfluß der Hintergrundstrahlung ausgeschaltet wird. Es wird also nur die Strahlungsmenge der von der Gaskomponente
emittierten Infrarotstrahlung bestimmt, indem der für sich gemessene Wert der Hintergrundstrahlung B* von
einem Meßwert A+ B abgezogen wird oder das Verhältnis ,(A χ B)/B1 gebildet wird, wobei A die Strahlungsmenge ist,
die von der Gaskomponente herrührt und B ein Hintergrund-Strahlungsanteil ist, der im wesentlichen dem Anteil B1
entspricht.
Leerseite
Claims (1)
- TER MEER-MULLER-STEINMEISTERPATENTANWÄLTE — EUROPEAN PATENT ATTORNEYSDipl.-Ghem, Dr. N. tar Meer Dipl.-Ing. H. Steinmeister SSi""" Artur-Ladebeck-Strasse 5,D-8OOO MÜNCHEN 22 D-48OO BIELEFELD 1Mü/J/Ho
ΗΟ-103/ΗΟ-Ιθβ-1. März 1983HORIBA, LTD.2 Miyanohigashi-machi,Kissyoin, Minaml-ku, Kyoto, JapanInfrarotstrahlungs-Gasanalyseverfahren und GasanalysatorPrioritäten:9. März 1982, Japan, GbM-Anm. 57-33702/82 9. März 1982, Japan, GbM-Anm. 57-33703/8210Ansprüche( Iy Infrarotstrahlungs-Gasanalyseverfahren, dadurch gekennzeichnet, daßa) heißes Probengas verwendet wird,b) mit der IR - strahlung des Probengases ein Detektor (7) durch ein erstes Filter (8) und ein zweites Filter (9) hindurch bestrahlt wird, wobei ba) das erste Filter so gewählt wird, daß es imwesentlichen nur im Strahlungsbereich (W) der zu bestimmenden Gaskomponente durchlässig ist undTER MEER. MÖLLER ^Si LINMfefeTER · Horlba - HO-10^/HO-IOObb) das zweite Filter so gewählt wird, daß es im wesentlichen einen Durchlaßbereich (W1) gleicher Halbwertsbreite und Höhe aufweist wie das erste Filter, jedoch zu solchen Wellenlängen verschoben, daß es im Strahlungsbereichder zu bestimmenden Gaskomponente nicht durchlässig ist, undel) der zweite Meßwert der Strahlung durch das zweite Filter vom ersten Meßwert der Strahlung durch das erste Filter abgezogen wird, welcher Differenzmeßwert der Komponenten-Gasmenge entspricht.2. Infrarotstrahlungs-Gasanalyseverfahren gemäß den Merkmalen a - bb des Anspruchs 1, dadurch gekennzeichnet, daßc2) der erste Meßwert der Strahlung durch das erste Filter durch den zweiten Meßwert der Strahlung durch das zweite Filter geteilt wird, welcher Quotient der Komponenten-Gasmenge entspricht.3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Durchlaßbereich (W1) des zweiten Filters (9) dicht neben demS trahlungsbereich (W) der Gaskomponente liegend gewählt wird.4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-3, d a ρ,-durch gekennzeichnet, daß dererste und der zweite Meßwert gleichzeitig mit einem ersten Einzeldetektor (7a) bzw. einem zweiten Einzeldetektor (7b) gemessen werden.TER meer · Müller * stEitäMfefeTER / ' °„/ "· Horiba - HO-IO3/HO-IO65. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Meßwert und der zweite Meßwert nacheinander durch abwechselndes Einbringen des ersten Filters (8) bzw. des zweiten Filters (9) vor den Detektor (7) ermittelt werden.6. Infrarotstrahlungs-Gasanalysator zum Durchführen des Verfahrens nach Anspruch k, gekennzeichnet durch- eine ein infrarotdurchlässiges Fenster (^aufweisende Meßzelle (1), in der sich Probengas befindet,- einen Detektor (7) mit einem ersten Einzeldetektor (7a)' und einem-zweiten Einzeldetektor (7b),- ein erstes Filter (8) im Strahlengang vor dem ersten Einzeldetektor (7a), mit der gemäß dem Merkmal ba von Anspruch 1 gewählten Eigenschaft,- ein zweites Filter (9) mit der gemäß dem Merkmal bb von Anspruch 1 gewählten Eigenschaft und- eine Schaltung (10, Ij5) zur verfahrensgemäßen Verarbeitung der beiden Meßwerte von den beiden Einzeldetektoren.7· Analysator nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang zwischen dem Fenster (la) und dem Detektor (7) ein Zerhacker (6) angeordnet ist.8. Infrarotstrahlungs-Gasanalysator zum Durchführen des Verfahrens nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch- eine ein infrarotdurchlässiges Fenster (la) aufweisende Meßzelle (1), in der sich Probengas befindet,- einen Detektor (7),TER meer · Müller : SiEiliiMfeföTER Horiba - HO-IO^/HO-l06- einen drehend im Strahlengang zwischen dem Fenster (la) und dem Detektor (7) angeordneten Zerhacker, der ein erstes Filter (8) und ein zweites Filter (9) symmetrisch zu seiner Drehachse aufweist, wobei -- das erste Filter die gemäß dem Merkmal ba von Anspruch 1 gewählte Eigenschaft aufweist, und -- das zweite Filter die gemäß dem Merkmal bb von Anspruch 1 gewählte Eigenschaft aufweist, und- eine Schaltung (10, 1;5) zur verfahrensgemäßen Verarbeitung der beiden Meßwerte von den beiden Einzeldetektoren.9. Analysator nach einem der Ansprüche 6-8, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßzelle (1) bis auf einen Gaseinlaß (2) und einen Gasauslaß (3) geschlossen ist und eine Heizung (4) aufweist. (Fig. 1, 4).10. Analysator nach einem der Ansprüche 6-8, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßzelle (1) ein Rohr 1st, durch das heißes Proben- PQ gas strömt (Fig. ~5, 6).
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GB (1) | GB2116316B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0333017B1 (de) * | 1988-03-17 | 1992-01-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur optischen Konzentrationsmessung |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4124116A1 (de) * | 1991-07-17 | 1993-01-21 | Iris Gmbh Infrared & Intellige | Spektraler pyroelektrischer infrarotmotorsensor |
US5984998A (en) * | 1997-11-14 | 1999-11-16 | American Iron And Steel Institute | Method and apparatus for off-gas composition sensing |
GB9806555D0 (en) * | 1998-03-27 | 1998-05-27 | Secr Defence | Flame photometer detector |
JP2005345146A (ja) * | 2004-05-31 | 2005-12-15 | Tdk Corp | 炭酸ガス濃度測定装置、炭酸ガス濃度測定方法、ならびに燃焼機器 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4100412A (en) * | 1976-10-29 | 1978-07-11 | Hausdorff Harry H | Selective multichannel optical time-shared detector for chromatography |
US4110618A (en) * | 1965-06-08 | 1978-08-29 | American Standard Inc. | Adiabatic compression infrared emission vapor detector |
GB1578549A (en) * | 1977-02-15 | 1980-11-05 | Security Patrols Co | Flame sensing apparatus |
-
1983
- 1983-03-01 DE DE19833307133 patent/DE3307133C2/de not_active Expired
- 1983-03-07 GB GB08306203A patent/GB2116316B/en not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4110618A (en) * | 1965-06-08 | 1978-08-29 | American Standard Inc. | Adiabatic compression infrared emission vapor detector |
US4100412A (en) * | 1976-10-29 | 1978-07-11 | Hausdorff Harry H | Selective multichannel optical time-shared detector for chromatography |
GB1578549A (en) * | 1977-02-15 | 1980-11-05 | Security Patrols Co | Flame sensing apparatus |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
H.H. Belz: CO¶2¶-Laser-angeregte Infrarot- Emissionsspektroskopie von Gasen mit einem Fourier-Transform-Spektrometer, Dissertation, Essen 1981, S. 1-5 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0333017B1 (de) * | 1988-03-17 | 1992-01-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur optischen Konzentrationsmessung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3307133C2 (de) | 1986-04-24 |
GB8306203D0 (en) | 1983-04-13 |
GB2116316A (en) | 1983-09-21 |
GB2116316B (en) | 1985-11-06 |
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D2 | Grant after examination | ||
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