DE2620590B2 - Verfahren zur Blendensetzung während der automatisierten Prüfstückdickenmessung und/oder zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mit Ultraschall - Google Patents

Verfahren zur Blendensetzung während der automatisierten Prüfstückdickenmessung und/oder zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mit Ultraschall

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Description

30
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Blendensetzung während der automatisierten Prüfstückdickenmessung und/oder zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mit Ultraschall nach dem Impuls-Echo-Verfahren, wobei Prüfstück und Prüfköpfe relativ zueinander bewegt und Impulsechosignale empfangen werden, deren Laufzeiten der Prüf stackdicke proportional sind.
Bei einem solchen Meßverfahren für insbesondere fortlaufend bewegtes Gut geht es um die selbsttätige Erkennung und die Unterscheidung zwischen diesen beiden Änderungen. Es wird hierbei mit einem oder mehreren Sender-Empfänger-Prüfköpfen gearbeitet Es ist zu berücksichtigen, daß die in der Prüfstück-Transportrichtung schwankenden Laufzeit-Meßwerte für die Prüfstückdicke und den Ankoppelspalt sich transportwegabhängig und damit zeitlich unterschiedlich verhalten.
Unter dem Ankoppelspalt versteht man die Schichtdicke des Ankoppelmediums, das den akustischen Kontakt zwischen der Austrittsfläche des Prüfkopfes bzw. seiner festen Vorlaufstrecke und der Prüfstückoberfläche herstellt.
Es ist bekannt, die Dicke von z. B. Blechen, Knüppeln usw. in einem Prüfzyklus mit demselben Sender-Empfänger-Prüfkopf zu messen, der auch für die Fehlerprüfung benutzt wird, um in beiden Messungen, also für die Prüfstückdicke und die Fehlerprüfung, denselben Ankoppelspalt zu haben. Mit den Werten der bo ermittelten Prüfstückdicke werden dann die sogenannten Fehlerblenden dimensioniert und positioniert, d. h. es wird pro Prüfkopf eine Blende (Meßtor) für den Fehlererwartungsbereich, der sich bis unmittelbar vor die reflektierende Rückwandfläche erstrecken soll, b5 gesetzt. Diese Fehlerblende ist erforderlich, um zur Fehlerbewertung nur Echos aus dem prüfbaren Bereich des Prüfstückes, jedoch ohne Echos der Rückwandfläche, bei Bedarf auch ohne Echos der Eintrittsfläche, zu erhalten.
Um die ungeprüften Zonen nahe den Oberflächen (Eintrittsfläche und Rückwandfläche des Prüfstückes) möglichst klein zu halten, ist eine Nachführung der Fehlerblende im dynamischen Prüfbetrieb bekannt und erforderlich (DE-OS 24 22 439). Der Ankoppelspalt und die Prüfkopfvorlaufstrecke werden aber in allen bekannten Ultraschall-Prüfverfahren für den oder die benutzten Sender-Empfänger-Prüfköpfe während der gesamten Justier- und Prüfphase als konstant vorausgesetzt Das erfolgt z. B. dadurch, daß die jedem Prüfkopf individuell zugeordneten Werte für die Prüfkopfvorlaufstrecke und die justierte Ankoppelspaltdicke in entsprechenden Speichern nach dem Justiervorgang abgespeichert und im jeweiligen Prüfbetrieb bzw. Prüftakt bei Multiplexbetrieb mehrerer Prüfköpfe für jeden Prüfkopf als konstante Korrekturgröße aus den Speichern zur Ermittlung der individuellen Materialdikkenwerte bzw. Fehlerblendenwerte abgerufen werden.
Bei der in der Praxis allgemein üblichen Spaltankopplung der Sender-Empfänger-Prüfköpfe an das Prüfstück über Fließ- oder Druckwasser wird ein Spalt von einigen '/to mm Dicke mit Wasser gefüllt Wegen unterschiedlicher Schallgeschwindigkeiten von Ankopplungsmedium — z. B. Wasser — und dem zu prüfenden Material — z. B. Stahl — werden allerdings Spaltänderungen als Meßfehler eingehen; so ist z. B. die Schallgeschwindigkeit im Wasser nur 1U so groß wie die in Stahl, so daß der Ankoppelspalt bezüglich der Schallaufzeit mit dem Faktor 4 in die Messung eingeht Änderungen des Ankoppelspaltes treten vornehmlich im dynamischen und kontinuierlichen Prüfbetrieb dort auf, wo z. B. durch Ungeradheiten, Welligkeiten, rhythmische Bewegungen des zu prüfenden Gutes oder auf dem Transportrollgang oder der beweglichen Prüfkopfhalterung kurzzeitige Bewegungen der Prüfköpfe relativ zur Prüfstückoberfläche die Folge sind.
Es ist auch bekannt z. B. Bleche, Bänder oder Großrohre auf dem Rohrscheitel mit oszillierend bzw. umlaufend angeordneten Prüfköpfen zu prüfen, um möglichst einen großen geprüften Flächenanteil zu erhalten. Hier können, insbesondere in der Umlenkphase des Oszillierhubes, die Prüfköpfe mit ihrer Halterung infolge der Trägheit eine solche kurzzeitige Bewegung ausführen, daß eine Spaltvergrößerung eine scheinbar andere Lage der Prüfstückrückwand ergibt (im allgemeinen um den 4fachen Betrag), so daß die Prüfstückdicke um diesen Betrag zu groß ermittelt wird, wodurch in nachteiliger Weise ein nicht durch die Blende erfaßter Bereich vor der Rückwand entsteht.
Da durch die Konzeption der mechanischen Prüfkopfhalterungen ein justierter Minimalabstand zur Prüfstückoberfläche regelmäßig nicht unterschritten werden kann, denn dieser Abstand ist durch Führungssohlen oder -rollen eingestellt (Langzeitverschleiß ausgenommen), bedeuten dynamische Auslenkungen der Prüfköpfe mit ihren Halterungen meist nur kurzzeitige Spaltvergrößerungen.
Bei einem speziellen Problem der Reaktorprüfung, dem Nachweis von sogenannten Unterplattierungsrissen im z. B. austenitischen Gefüge der Platte, unter Einsatz von Winkelprüfköpfen und bei Einsatz eines, eine Mehrzahl von Prüfköpfen aufweisenden Prüfkopfsystems, werden Meßdaten auf ein Magnetband gespeichert und gedruckt. Das Band dient zur späteren Auswertung auf einem Rechner. Hier wird aber nicht das Problem angesprochen, wie die kurzzeitigen
Ankoppelspaltänderungen aus- bzw. zu bewerten sied oder wie auszuschließen wäre bzw. wie man vermeidet, daß ein ungeprüfter Bereich vor der Rückwand verbleibt (vgL »Werkstoffprüfung mit Ultraschall«, 3. Auflg. Springer-Verlag 1975, S. 528, J. Krautkrämer und H. Krautkrämer).
Es ist die Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren anzugeben, welches einfacher und sicherer als bisher die kurzzeitigen Ankoppelspaltänderungen von den langsamen Prüfstückdickenänderungen unterscheidet, eine exaktere vollautomatische Prüfstückdickenangabe ermöglicht und mit Hilfe der daraus abgeleiteten Laufzeitwerte für die Positionierung der Fehlerblende eine Materialprüfung auch oberflächennaher Bereiche erreicht Damit wird ein ungeprüfter Bereich vor der Rückwand vermieden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Laufzeiten von zwei aufeinanderfolgenden Impulssignalen in einem programmierbaren Rechner verglichen, die Differenzen dieser Laufzeiten zur JmpulsfoJgezeit und damit zu dem dieser Zeit proportionalen Prüfstückvorschub in Relation gesetzt werden,
dann die schnelleren Änderungen der Impulslaufzeit pro Impulsfolge den Schwankungen des Ankoppelspaltes, die langsameren Änderungen der Impulslaufzeit pro Impulsfolge den Änderungen der Materialdicke zugeordnet werden,
und durch den der Prüfstückdickenänderung zugeordneten Größenwert die Fehlerblendenbreite, aus der die Prüfstückdicke abgeleitet wird, bestimmt
und durch den der Ankoppelspaltschwankung zugeordneten Größenwert die Lage der Fehlerblende bestimmt bzw. nachgestellt wird.
Diese Klassifizierung ist einfach, da sich die zeitlichen Differenzenquotienten der Materialdickenänderung und der Ankoppelspaltänderung um mehr als den Faktor Zehn unterscheiden. Es ist vorteilhaft, hier freiprogrammierbare Rechner einzusetzen, da dann sehr leicht empirisch erhaltene Werte, die praxis- und problemspezifisch sind, berücksichtigt werden können.
Die Erfindung ermöglicht eine Bestimmung der Ankoppelspaltänderungen während der kontinuierlichen und automatischen Ultraschallprüfung im dynamischen Betrieb, somit exaktere Prüfstückdickenmessungen. Ein evtl. im Material vorhandener Fehler stört nicht, da er als eine plötzliche, zumindest aber in dem Zeitverhalten abnorme Dickenänderung eindeutig feststellbar ist Untrr dem Ankoppelspalt versteht man die Schichtdicke des Ankoppelmediums, das den akustisehen Kontakt zwischen der Austrittsfläche des Prüfkopfes bzw. seiner festen Vorlaufstrecke und der Prüfstückoberfläche herstellt.
Eine Ausführungsform der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 einen Sender-Empfänger-Prüfkopf in Schnittansicht in Arbeitsposition,
F i g. 2 in grafischer Darstellung das Echobild eines Werkstückes ohne Fehler, bo
F i g. 3 in grafischer Darstellung zu dem im dynamischen Betrieb unter einem Prüfkopf hindurchlaufenden Prüfstück die überlagerte, unperiodische Ankopplungsspaltänderung,
F i g. 4 wie F i g. 3; überlagert ist aber eine periodische Ankoppelspaltänderung,
F i g. 5 ein Blockschaltbild zur Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Nach F i g. 1 befindet sich ein Sender-Empfänger-Prüfkopf 1 in einer Prüfkopfhalterung 2 und steht über einem mit z. B. Wasser gefüllten Ankopplungsspalt 4 mit einem Prüfstück 3 in akustischem Kontakt Die von einem Senderschwinger 9, z. B. einem Quarzkristall, über eine feste Prüfkopfvorlaufstrecke 6 ausgesendeten Ultraschallimpulse gelangen über den Wasserspalt 4 durch das Material des Prüfstückes 3 zur Prüfstückrückwand 11, werden dort reflektiert ur.d gelangen in umgekehrter Richtung über den Wasserspalt 4 und die Vorlaufstrecke 5 zum Empfangsschwinger 8.
Der Schallstrahlverlauf 10 ist durch Pfeile angezeigt Eine Trennfläche 7 verhindert im Prüfkopf eine direkte akustische oder elektrische Verkopplung des Sende- und Empfangsteils. Auf dem Schirmbild eines Ultraschall-Impulsgerätes zeigt sich dann ein Echobild nach F i g. 2, wobei im allgemeinen der Sendeimpuls 12 nicht sichtbar ist Mehr oder weniger kleine akustische Oberkoppelechos 13 können an der Prüfstückoberfläche durch Mehrfachreflexionen im Ankopplungsspalt entstehen. Der an der Prüfstück-Rückwand reflektierte Echo-Impuls 14 ist in F i g. 2 ebenfalls dargestellt Die Strecke y entspricht schalkufzeitmäßig der Summe der Prüfkoppelvorlaufstrecken 5 und 6 und wird zwischen zwei Justiervorgängen als konstant betrachtet da es sich hier um eine Prüfkopfkonstante handelt Die Strecke X entspricht dem Wasserspalt 4 (Ankopplungsspalt). Dieser ist seinem Wesen nach ein Minimalwert und wird bei der Justage festgestellt Er kann sich im dynamischen Betrieb infolge der Eigenbewegungen der Prüfkopfhalterung nur vergrößern. Ein Langzeitverschleiß ist hier uninteressant Erfindungsgemäß werden nun die relativ schnellen mit AX in Fig.3 und 4 bezeichneten Änderungen der Größe X von der langsamen Prüfstückdickenänderung — mit AS bezeichnet —, wenn S die Materialdicke bedeutet getrennt Diese Figuren beziehen sich jeweils auf eine Prüfkopfspur.
Die Ankoppelspaltvergrößerung AX wird sich also der Summe aus Gesamtprüfstückdicke S plus oder minus AS und dem minimalen Ankopplungsspalt X als Laufzeitvergrößerung addieren. Die gemessene Laufzeit r ist dann
" tv7
S±AS
X' + Δ JP
Der Faktor 2 ist erforderlich, da die Zeit für Hin- und Rückweg gemessen wird. Hierin bedeuten Vv die Schallgeschwindigkeit in der Vorlaufstrecke, V* die Schallgeschwindigkeit im Ankoppelspalt und Vp die Schallgeschwindigkeit im Prüfstück.
AX kann nur positive Werte annehmen, da der Verschleiß am Prüfkopf und der Prüfkopfhalterung unberücksichtigt bleibt Dieser Wert kann aber unperiodisch schwanken, wie z. B. P\ und P2 in F i g. 3 oder periodisch schwanken wie Pin F i g. 4.
Gemäß Fig.5 ist der Sender-Empfänger-Prüfkopf 1 mit seiner Prüfkopfhalterung 2 über den Ankoppelspalt 4 an den Prüfling 3 akustisch angekoppelt Der Sendeschwinger 9 wird über seinen Anschluß von einem Impulsgenerator 22 (z. B. einem an sich bekannten Thyristorsender SD 4 des Ultraschall-Elektroniksystems KS 3000 der Anmelderin) im Takt der Impulsfolgefrequenz von der Triggerstufe 27 (z. B. TG 1 aus Gerät KS 3000) angeregt. Der Empfangsschwinger 8 gibt die empfangenen Echosignale aus der gesamten Prüfstrecke über seinen Anschluß an einen Vorverstär-
ker 23 (ζ. B. Stufe ANS 70 im Gerät KS 3000) weiter. Dieser Vorverstärker wird im gleichen Prüftakt wie der Generator 22 von der Triggerstufe 27 freigegeben. Die vorverstärkten Signale werden in einem Hauptverstärker 24 (z. B. Stufe AM 8 im Gerät KS 3000) verstärkt. Dieser Hauptverstärker kann ein linearer oder logarithmischer Verstärker sein. Die verstärkten Signale werden für die weitere Bewertung und Auswertung der Pegel einem Analog-Digitalwandler 25 zugeführt Im Einzelfall kann auch eine analoge Weiterverarbeitung des Signals erfolgen. Die normierten und aufbereiteten Signale können dann einem Rechner 36 oder anderen Bewertungsschaltungen zugeführt werden. Dieser Zweig ist für die Ankoppelspalterfassung nicht erfindungswesentlich.
Für die Berechnung^ bzw. Erfassung des Ankoppelspaltes und seiner Änderungen muß die gesamte Laufzeit t pro Prüftakt ermittelt werden. Der Impulsbeginn ίο wird von der Triggerstufe 27 der Stufe 32, die zur Meßtorbildung dient (z. B. ANS 69 aus KS 3000) und 2<> dem Laufzeitzihler 30 (ist z. B. im Gerät KS 3000 mit dem Baustein ANS 69 kombiniert) zugeführt Der Laufzeitzähler 30 wird somit gestartet und zählt entsprechend der gewünschten Genauigkeit mit dem kleinsten Zählschritt (z. B. 16 ns entsprechend 0,1 mm Stahl) mittels einer ihm vom Oszillator 28 (z. B. ANS 21 aus KS 3000) eingespeisten Zählfrequenz bis zu seinem Stop-Signal 29 die gesamte Laufzeit L Das Stopsignal wird durch das Echo der Rückwandfläche 11 erzeugt
Die Meßtorbildung in Stufe 32, d. h. das Setzen der jo Blende, soll mit Hilfe der aus einem Speicher oder Rechner abgerufenen Laufzeitwerte 33 für die Vorlaufstrecke Y der Prüfstückdicke S sowie zusätzlich der vorgewählten zulässigen oder möglichen Toleranzgrenzen den »Echo-Erwartungsbereich« fixieren. Innerhalb r> dieses Echoerwartungsbereiches (entspricht der gesetzten Blende bzw. Meßtor) gibt die Stufe 32 zur Meßtorbildung sowohl die Stufe für die weitere Prüfdatenbewertung, hier AD-Wandler 25, als auch die Stufe 26 (z, B. TO 1 aus KS 3000) frei. Die Stufe 26 dient 4< > der Echobewertung für die Laufzeitmessung, d. h. sie legt den Bezugspunkt h fest, bis wohin der Laufzeitzähler 30 geöffnet bleibt Solche Echobewertungen können nach bekannten Verfahren, wie z. B. Echo-Maximum, Triggerpunkt an vorgewähltem PegeL einem speziellen « Flankendiskriminator oder Mittelwertbildung über der Fußpunktbreite des Echos, vorgenommen werden. Sie ist nicht Gegenstand der Erfindung.
Dem Rechner 36 werden über seine Kopplungen folgende Signale bzw. Daten zugeführt: >o
a) wegproportionale Impulse für den Materialvorschub über einen Wegimpulsgeber 35,
b) die vorstehend angegebenen ermittelten Laufzeitwerte f über den Eingang 31,
c) die Prüftaktsignale 34 von der Triggerstufe 27,
d) vom Ein-Ausgabe-Gerät 38 die im Justiervorgang manuell vorgegebenen Daten der zulässigen Toleranzgrenzen der Materialänderung AS, der Ankoppelspaltänderung AX sowie der Vorgaben für theoretisch oder empirisch ermittelte Größen der typischen Änderungsraten und deren Grenzen pro Zeit- und Materiaivorschubeinheit von AX und AS,
e) Eingabe weiterer für die Echobewertung und Auswertung wesentlicher Grenzwerte und Parameter, die jedoch für die Ankoppelspalterfassung nicht von Bedeutung sind.
Vom Rechner 36 können die für die Auswertung und Bewertung der Prüfergebnisse relevanten Daten auf entsprechende Peripheriegeräte 39, wie z. B. Schreiber, Drucker usw. ausgegeben werden. Zusätzlich ist eine alphanumerische Anzeigeeinheit im Ein-Ausgabe-Gerät 38 vorgesehen. Im Rechner 36 oder einem äquivalenten Datenbeurteilungsgerät werden die eingegebenen Signale wie folgt nutzbar gemacht:
Pro Prüftakt wird die gemessene Laufzeit / gespeichert und mit der Laufzeit des vorausgegangenen Prüftaktes verglichen. Die Differenz At der beiden Laufzeitwerte t wird ebenfalls abgespeichert. Es gilt, da Keine konstante Größe ist:
"-(■3—4B-J
Der Unterschied beider Laufzeitwerte At setzt sich also zusammen aus der Prüfstückdickenänderung AS und der Ankoppelspaltänderung AX unter Berücksichtigung der entsprechenden Schallgeschwindigkeiten. Der
A ^
Differenzenquotient ——, also die Materialdickenänderung über mehrere Prüftakte ermittelt wird wesentlich
AX
kleiner sein als der Differenzenquotient —:—, also die
Ankoppelspaltänderung, ermittelt über die gleiche Anzahl der Prüftakte, es ist also
AS
Al
AX
Al
In einem Rechner können folglich die langsamen Änderungen AS von den schnellen Änderungen AX getrennt werden. Die relativ langsamen Änderungen werden als Änderungen der Prüfstückdicke identifiziert, und die schnelleren Änderungen als Änderungen des Ankoppelspaltes.
Die Gesamt-Laufzeitänderung bestimmt unmittelbar die Lage des Fehlerblendenendes, so daß bis auf einen unwesentlichen Sicherheitsabstand kein ungeprüfter Bereich vor der Rückwand auftritt
Bei Vorliegen der Rechnerentscheidung, daß eine schnelle Laufzeitänderung vorliegt, wird die Lage des Fehlerblendenanfanges korrigiert Bei der Feststellung langsamer Laufzeitänderungen bleibt der Fehlerblendenanfang unkorrigiert Damit bleibt die Fehlerblendenbreite in jedem Fall das korrekte Maß für die Wanddicke.
Beispiel
An einem Blech von 20 mm Dicke wird ein Prüfkopf über einen Ankoppelspalt von 0,5 mm Wasser als Mittelwert angekoppelt Da die relativ große Vorschubgeschwindigkeit von 1 m/s des Bleches (entsprechend 1 mm/ms) bei den üblichen Welligkeiten von Blechen, z. B. 25 mm Wellenhöhe von Spitze zu Spitze, auf 1 m Blechlänge die Prüfkopfhalterung trotz Andruckes durch eine Federkraft auf dem oberen Scheitelpunkt der Unebenheit um einen geringen Betrag kurzzeitig dem Trägheitsgesetz folgend abheben läßt soll sich der Ankoppelspalt um 0,2 mm auf 0,7 mm für eine Dauer von 16 ms vergrößern. Die produktionsbedingte Blechdickenänderung in Vorschubrichtung sei AS=0,\ mm während 100 mm Blechvorschub. Da die Schallgeschwindigkeit im Stahl ca. 4fach höher ist als im Wasser des Ankoppelmediums, entspricht die Ankoppelspaltänderung von 0,2 mm Wasserstrecke einem Schallaufweg,
auf Stahl bezogen, von 0,8 mm. Diese Änderung ΔΧ von 0,8 mm (Stahlwert) erfolgt in einer Zeit von 16 ms, was einem Blechvorschub von 16 mm entspricht, d. h. also, ΔΧ=0,\ mm pro 2 mm Blechvorschub, und die Blechdicke ändert sich dagegen mit 0,1mm pro 100 mm Blechvorschub, so daß bei einer Impulsfolgefrequenz der Triggerstufe 27 von 1 kHz (also pro 1 mm Blechvorschub jeweils 1 Prüfimpuls) der Rechner den Änderungswert der Impulslaufzeit, also die Größe At von Impuls zu Impuls, also hier im Abstand von 1 ms ermitteln kann. Da im Beispiel diese Änderung 0,1 mm pro 2 Prüfimpulsen, nämlich 2 mm Blechvorschub entspricht, kann diese Laufzeitänderung nur von einer Ankoppelspaltänderung herrühren. Nach den angenommenen 16 ms wird die Prüfkopfhalterung wieder ganz angedrückt sein, so daß der minimale Ankoppelspalt von 0,5 mm wiederhergestellt ist Der Rechner kann also innerhalb der Zykluszeit von 2 χ 16 ms, also innerhalb von 32 ms, entsprechend 32 mm Blechvorschub, sicher entscheiden, ob die Schwankung von einer Ankoppelspaltänderung oder Prüfstückdickenänderung herrührt Bei der Prüfstückdickenänderung würde in diesem Beispiel ein um den Faktor 50 geringere Laufzeitänderungswert entstehen. Die vom Rechner in 2 Klassen bestimmten Änderungen werden zur Fehlerblendenkorrektur benutzt. Dadurch wird erreicht, daß durch dieses Korrekturverfahren stets ein richtiger Wanddickenwert aus der Fehlerblende abgeleitet werden kann und andererseits die Position der Fehlerblende sich unmittelbar den Lageverschiebungen des Rückwandechos anpaßt. Zusätzlich liegt damit die korrekte laufzeitgemäße Lage der Schalleintrittsfläche für den Rechner fest. Dies ist z. B. von Bedeutung für die
ίο tiefenabhängige Fehlerechoamplitudenkorrektur nach der DE-OS 24 22 439.
Die Grenzwerte der möglichen Änderungswerte von t, X und 5 pro Millimeter Blechvorschub bzw. pro Prüftakt, sind im Einzelfall von unterschiedlichen
π system- und produktionsbedingten Faktoren abhängig. Es ist daher notwendig, diese vorher abzuschätzen und die entsprechenden Daten als Programm in den Rechner einzugeben. Eine Abwandlung schlägt hier vor, nach einer Vorjustage während des Produktionsanlaufes die Grenzdaten empirisch genauer zu überprüfen bzw. endgültig zu ermitteln. Hierbei ist es dann besonders vorteilhaft, einen freiprogrammierbaren Rechner einzusetzen. Dieser erleichtert dann auch die Programmkorrekturen bei betrieblicher Umstellung.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Verfahren zur Blendensetzung während der automatisierten Prüfstückdickenmessung und/oder zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mit Ultraschall nach dem Impuls-Echo-Verfahren, wobei Prüfstück und Prüfköpfe relativ zueinander bewegt und Impulsechosignale empfangen werden, deren Laufzeiten der Prüfstückdicke proportional sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Laufzeiten von zwei aufeinanderfolgenden Impulssignalen in einem programmierbaren Rechner verglichen,
    die Differenzen dieser Laufzeiten zur Impulsfolgezeit und damit zu dem dieser Zeit proportionalen Prüfstückvorschub in Relation gesetzt werden,
    'dann die schnelleren Änderungen der Impulslaufzeit pro Impulsfolge den Schwankungen des Ajikoppelspaltes,
    die langsameren Änderungen der Impulslaufzeit pro Impulsfolge den Änderungen der Materialdicke zugeordnet werden, und durch den der Prüfstückdikkenänderung zugeordneten Größenwert die Fehlerblendenbreite, aus der die Prüfstückdicke abgeleitet wird, bestimmt und durch den der Ankoppelspaltschwankung zugeordneten Größenwert die Lage der Fehlerblende bestimmt bzw. nachgestellt wird.
DE2620590A 1976-05-10 1976-05-10 Verfahren zur Blendensetzung während der automatisierten Prüfstückdickenmessung und/oder zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mit Ultraschall Expired DE2620590C3 (de)

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FR7629922A FR2351420A1 (fr) 1976-05-10 1976-10-05 Procede pour etablir un creneau de surveillance durant la mesure automatique d'epaisseurs de pieces et/ou le controle non destructif de materiaux par ultrasons
GB43499/76A GB1560407A (en) 1976-05-10 1976-10-20 Apparatus for testing a continuously moving sheet of material
JP15520276A JPS52136685A (en) 1976-05-10 1976-12-24 Apparatus for and method of testing continuously moving sheet material
US05/776,000 US4088028A (en) 1976-05-10 1977-03-09 Method and apparatus for adjusting defect signal gate in ultrasonic test circuit

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Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4137776A (en) * 1978-05-08 1979-02-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Transportation Automatic base gate positioning circuit
US4297876A (en) * 1979-08-29 1981-11-03 Amf Incorporated Ultrasonic tire testing apparatus
DE2945202C2 (de) * 1979-11-09 1982-12-23 Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln Tragbares Ultraschall-Prüfgerät für die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
DE2945200C2 (de) * 1979-11-09 1983-05-26 Krautkrämer GmbH, 5000 Köln Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur Erzeugung von Sägezahnimpulsen sowie Verwendung derartiger Schaltungsvorrichtungen in Ultraschall-Meßgeräten
DE2945201C2 (de) * 1979-11-09 1983-02-24 Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln Schaltungsvorrichtung zur Erzeugung eines Signalerwartungsbereiches auf dem Bildschirm einer Kathodenstrahlröhre eines tragbaren Ultraschallprüfgerätes für die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
GB2090412B (en) * 1979-11-09 1984-07-18 Krautkraemer Gmbh Ultrasonic testing
JPS5892811A (ja) * 1980-12-08 1983-06-02 Teitsuu Denshi Kenkyusho:Kk 超音波式厚さ測定方法
JPS57136107A (en) * 1981-02-17 1982-08-23 Teitsuu Denshi Kenkyusho:Kk Ultrasonic thickness measuring method and apparatus
FR2518751A1 (fr) * 1981-12-22 1983-06-24 Euratom Systeme de surveillance d'une pluralite de conteneurs utilisant des sceaux ultrasonores
US4470304A (en) * 1982-06-01 1984-09-11 Bethlehem Steel Corp. Ultrasonic inspection system
GB2128739B (en) * 1982-09-15 1986-05-21 Schlumberger Electronics Ultrasonic inspection devices
GB2140561A (en) * 1983-05-27 1984-11-28 Fulmer Res Inst Ltd Ultrasonic testing apparatus and a method of ultrasonic testing
US4545248A (en) * 1983-06-16 1985-10-08 Kabushiki Kaisha Tokyo Keiki Ultrasonic thickness gauge
US4799177A (en) * 1985-12-31 1989-01-17 The Boeing Company Ultrasonic instrumentation for examination of variable-thickness objects
US4799168A (en) * 1985-12-31 1989-01-17 The Boeing Company Data recording apparatus for an ultrasonic inspection system
GB8603010D0 (en) * 1986-02-06 1986-03-12 Britoil Plc Ultrasonic thickness meter
FR2654508B1 (fr) * 1989-11-14 1992-02-21 Aerospatiale Ste Nat Indle Dispositif et sonde pour mesurer la variation de distance separant les deux faces d'une couche de matiere au moyen d'ultrasons.
US5088327A (en) * 1990-05-17 1992-02-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Phase cancellation enhancement of ultrasonic evaluation of metal-to-elastomer bonding
JPH0894344A (ja) * 1994-07-26 1996-04-12 Shinko Kensa Service Kk 超音波の横波を利用した層厚測定装置
US5814731A (en) * 1997-01-28 1998-09-29 Alexander; Alton Michel Ultrasonic scanning apparatus for nondestructive site characterization of structures using a planar based acoustic transmitter and receiver in a rolling pond
US6304090B1 (en) 1999-10-22 2001-10-16 Arnold A. Weiss High voltage tire testing apparatus
US6907777B2 (en) * 2002-04-04 2005-06-21 Arnold A. Weiss Apparatus and method for electronic tire testing
US6832513B2 (en) * 2002-04-05 2004-12-21 Arnold A. Weiss Apparatus and method for tire testing
US6837102B2 (en) * 2002-04-05 2005-01-04 Arnold A. Weiss Method and apparatus for tire flaw detection
US7415880B2 (en) * 2002-07-17 2008-08-26 Agfa Ntd Gmbh Method for determining the sound velocity in a basic material, particularly for measuring the thickness of a wall
US7278289B2 (en) * 2003-04-28 2007-10-09 Sonora Medical Systems, Inc. Apparatus and methods for testing acoustic systems
JP3864180B2 (ja) * 2004-11-15 2006-12-27 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構 超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置
US7637163B2 (en) * 2006-02-02 2009-12-29 The Boeing Company Thin-film ultrasonic probe
EP1826559A1 (de) * 2006-02-22 2007-08-29 M. Frédéric Renard Laufwagen zum Halten eines Ultraschallsensors
US8286488B2 (en) * 2009-05-01 2012-10-16 General Electric Company Apparatus and system for measuring material thickness
GB2512835A (en) * 2013-04-08 2014-10-15 Permasense Ltd Ultrasonic detection of a change in a surface of a wall
US10833609B2 (en) * 2014-01-02 2020-11-10 Elio Battista Porcelli Induction of force performed by the piezoelectric materials
EP3382386B1 (de) 2017-03-29 2020-10-14 Fujitsu Limited Fehlererkennung unter verwendung von ultraschallabtastdaten

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3646805A (en) * 1969-10-03 1972-03-07 Amf Inc Ultrasonic flaw detection circuit
GB1307310A (en) * 1970-08-28 1973-02-21 Smiths Industries Ltd Sonar apparatus
DE2226172C3 (de) * 1972-05-30 1975-12-04 Thyssen Niederrhein Ag Huetten- Und Walzwerke, 4200 Oberhausen Verfahren zur Messung und Auswertung von Ultraschall-Prütimpulsen einer gewählten Impulsfolgefrequenz bei der Ultraschallprüfung von Blechen und ähnlichen Prüflingen nach dem Impuls-Echo-Verfahren
JPS5243596B2 (de) * 1972-10-13 1977-10-31
DE2422439C2 (de) * 1974-05-09 1983-12-08 Krautkrämer GmbH, 5000 Köln Verfahren zur Fehlerblendeneinstellung bei einem Ultraschallprüfverfahren
US3986389A (en) * 1975-11-03 1976-10-19 Jones & Laughlin Steel Corporation Gating control system in ultrasonic inspection apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
FR2351420A1 (fr) 1977-12-09
JPS52136685A (en) 1977-11-15
DE2620590A1 (de) 1977-12-01
US4088028A (en) 1978-05-09
DE2620590C3 (de) 1981-11-12
FR2351420B1 (de) 1983-02-04
GB1560407A (en) 1980-02-06
JPS5645102B2 (de) 1981-10-23

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